Browse publication - Politechnika Warszawska
Browse publication - Politechnika Warszawska
Browse publication - Politechnika Warszawska
Create successful ePaper yourself
Turn your PDF publications into a flip-book with our unique Google optimized e-Paper software.
CHARAKTERYSTYKA DZIAŁALNOŚCI NAUKOWO-BADAWCZEJ Rozdział trzeci — DZIAŁALNOŚĆ NAUKOWO-BADAWCZA<br />
134<br />
agre sywne względem materiału NaCl, opracowano i wykonano około 26 różnych urządzeń<br />
— po cząwszy od specjalnej piły do rozcinania monokryształów aż do narzędzi i pomocy<br />
pomiarowych.<br />
Opis opracowanego procesu technologicznego został przedstawiony w 102-stronicowej<br />
księdze. Badania dotyczące defektów powierzchniowych na skutki oddziaływania wysoko -<br />
energetycznego promieniowania laserowego były przedmiotem 6 artykułów i 9 wystąpień<br />
konferencyjnych, a także kilkakrotnie były z nimi związane tematy prac dyplomowych. Prace<br />
te zostały uhonorowane nagrodą Ministra w 1976 roku.<br />
4. „Badania technologiczne materiałów akustooptycznych” w ramach problemu resortowego<br />
MN-1 (współudział, 1976–1981).<br />
5. „Opracowanie technologii elementów optycznych przeznaczonych dla zakresu promienio -<br />
wa nia l = 2,5–12 μm”, CPBR 8.14 cel. nr 30 (1986–1990). Zakres pracy obejmował: opraco -<br />
wa nie metodyki i programy projektowania układów optycznych, pracujących w podczerwieni,<br />
łącznie z katalogiem materiałów optycznych dla obszaru podczerwieni, adaptacja elipso met -<br />
rycznych i rozproszeniowych metod pomiaru warstwy wierzchniej, opracowanie technologii<br />
obróbki wybranych materiałów i części optycznych (Si, Ge, Cu, GaAs, ZnSe, KRS-5), katalogo -<br />
wy opis źródeł i detektorów promieniowania podczerwonego.<br />
Odrębna grupa prac (prowadzonych przez inż. S. Witka) była związana z technologią optycz -<br />
nych powłok cienkowarstwowych na powierzchniach elementów optycznych z NaCl o podobnym<br />
przeznaczeniu dla układów laserów CO 2 (1983–1986). Działanie tych powłok (ZnS/ZnSe)<br />
było dwojakie — zmniejszenie strat fresnelowskich oraz, przede wszystkim, zabezpieczenie po -<br />
wierzch ni przed wpływem wilgotnej atmosfery. Ich jakość została wysoko oceniona przez IFPiLM,<br />
a wyniki prezentowane na Polsko-Czechosłowackiej Konferencji Optycznej w 1984 roku.<br />
W latach 1976–1981 w ramach problemu resortowego MN-1 podjęto się opracowania i wyko -<br />
nania 12-stanowiskowego dydaktycznego laboratorium akustooptyki. Głównymi wykonawcami<br />
optycznych prac technologicznych byli Stanisław Witek i Janusz Kozłowski, którzy m.in. rozwią -<br />
za li trudności związane z uzyskiwaniem przetworników piezoelektrycznych. Ten sam zespół pro -<br />
wadził badania technologiczne i materiałowe niezbędne do wykonania akustooptycznego filtru<br />
przestrajalnego dla CBK PAN (1984).<br />
Prace Instytutu nad złączami światłowodowymi miały także swoje odzwierciedlenie w dzia -<br />
łal ności warsztatu optycznego. W latach 1986–1987 opracowano technologię szlifowania kulistych<br />
elementów optycznych z leukoszafiru (S.Witek).<br />
Jednym z głównych kierunków prac naukowo-badawczych, dominującym w okresie ponad<br />
pięćdziesięciu lat pracy Zespołu jest interferometria. Budowa nowych przyrządów o większej do -<br />
kładności i coraz szerszym zakresie pomiarowym wymagała wykonawstwa nowych elementów<br />
optycznych i te zadania były rozwiązywane także w ramach realizacji kilku dużych umów finan -<br />
so wanych centralnie. Poważnym wyzwaniem było zaprojektowanie i budowa w 1980 roku interferometru<br />
typu Fizeau o średnicy obszaru pomiarowego 200 mm, który następnie był<br />
wykonywany w kilku wersjach (IL-200, IL-201) na zamówienie innych instytucji. Zasadniczy prob -<br />
lem technologiczny sprowadzał się do wykonywania wzorców płaskiej powierzchni o tej śred ni -<br />
cy, zaopatrzonej w atest topografii powierzchni. Zatem trudności były dwie — wykonanie i pomiar.<br />
Wykonano kilka wzorców — ze szkła borowo-krzemionkowego, specjalnie odprężanego w Je le -<br />
niogórskich Zakładach Optycznych, oraz ze szkła kwarcowego, po adaptacji kinematyki ob ra biar -<br />
ki i z zastosowaniem specjalnego systemu prowadzenia obróbki w warunkach termostatowania<br />
medium polerskiego. Szczególnym wyzwaniem było wypolerowanie wzorca o średnicy 300 mm<br />
przeznaczonego do interferometru IPS 300 (1994), która to operacja trwała 600 godzin. Udos ko -<br />
nalony system polerowania wzorców płaskości zastosowano także przy wykonywaniu wzorców<br />
l = 100 mm do interferometru SAIKPO, projektowanego i wykonanego w ramach CPBR 12.3<br />
(1990). Wielkie zasługi w tej pracy miał polerownik Józef Matejko, emerytowany pracownik Pol -<br />
skich Zakładów Optycznych. Pomiary (z oczekiwaną dokładnością < l/20) prowadzono m.in.<br />
z użyciem wzorca cieczowego w jednym z ośrodków podwarszawskich, w warunkach stabili za -<br />
cji temperatury i izolacji drgań, a atest uzyskano w National Physical Laboratory w Teddington.