Schüler besuchten Infineon im Rahmen des Projektes „Zeitung in ...

Regensburg edition
eMag Newsletter by Internal Communications Regensburg
KW 03
http://intranet.infineon.com/emag/regensburg/de/ Januar 2011
Schüler besuchten Infineon im Rahmen des Projektes „Zeitung
in der Schule“
Eine Schulklasse des Johann-Andreas-Schmeller Gymnasiums aus Nabburg
besuchte am 19.1.2011 das Zuverlässigkeitslabor am Standort. Die Schülerinnen
und Schüler bekamen in kleinen Gruppen Einblicke in die verschiedenen
Testbereiche und staunten über die ausgefeilten Methoden.
Unter dem Motto „Was muss ein Mikrochip aushalten und wie kann man das testen?“
besuchte eine Gruppe fiktiver Reporter am vergangenen Mittwoch den Standort.Seit 2005
unterstützt Infineon „Zeitung in der Schule" und lädt Schulklassen ein, die als potentielle
Berichterstatter wechselnde Unternehmensbereiche kennenlernen können. Ziel ist, die
Medienkompetenz bei jungen Menschen zu stärken und ihnen zugleich einen Einblick in
die spannende Welt der Technik zu geben.
Zunächst wurden die Schülerinnen und Schüler von Georg Forster mit einer Vorstellung
des Standortes auf ihre anstehende Entdeckungstour eingestimmt, bevor Dr. Stefan
Gallus einen Überblick über die Tätigkeitsbereiche im Zuverlässigkeitslabor gab.
Anschließend wurde die Klasse in drei Gruppen aufgeteilt und von den jeweiligen
Gruppenleitern zu den Testanlagen geführt.
Josef Heitzer und Thomas Seidl zeigten den
aufmerksamen Zuschauern zunächst, wie die
Kontakte und Leiterbahnen auf den Chipkarten
aussehen und warum diese äußerst stabil und
trotzdem flexibel sein müssen. Als EC- oder
Krankenkassenkarte werden sie beim Tragen
im Geldbeutel immer wieder gebogen und
zusammengedrückt. Die Schüler duften auch
selbst Hand anlegen und einige Karten auf den
Versuchsapparaten testen.
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Eine andere Gruppe bekam die Funktionsweise
der Salznebeltests von Gisela Wurdack,
anhand von Testchips erklärt. Da elektronische
Bauteile beim täglichen Gebrauch in
erheblichem Maße Staub, Dreck und Schweiß
ausgesetzt sind, ist es wichtig, die
Auswirkungen von Verunreinigungen zu
erkennen und auszuwerten. Auch hier wurden
die Schülerinnen und Schüler eingebunden und
durften selbst einige Testabläufe durchführen.
Die dritte Gruppe betätigte sich unter Leitung
von Christian Birzer bei den Drop-Tests. Hier
wurde anschaulich dargestellt, was mit Chips in
Handys passiert, die auf den Boden fallen und
was sie aushalten müssen. Dazu wurden Drop-
Tests durchgeführt und die Ergebnisse
anschließend unter dem Mikroskop
begutachtet. Daraus kann man wiederum
Schlüsse ziehen, wie die Stabilität der Chips
verbessert werden kann.
In der abschließenden „Pressekonferenz“ stellten sich die jeweiligen Gruppenleiter
zusammen mit Stefan Gallus und Georg Forster den Fragen der Jungreporter. Die
Bandbreite reichte dabei von Fragen zur Größe des Werksgeländes und Fertigungsdauer
eines Chips, bis hin zum Interesse daran, was passiert, wenn ein Mitarbeiter einen Fehler
macht. Stefan Gallus versicherte den Schülerinnen und Schülern darauf, dass es keinen
Bestrafungskatalog für Fehler gebe, sondern, dass es vielmehr wichtig sei, Probleme zu
erkennen und diese auch offen anzusprechen, damit sie in Zukunft vermieden werden
können.
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