Produktionsmesstechnik für die Praxis Neue Wege gehen - Werte ...
Produktionsmesstechnik für die Praxis Neue Wege gehen - Werte ...
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Institut für <strong>Produktionsmesstechnik</strong>, Werkstoffe und Optik (PWO)<br />
NEU<br />
mit Zusatz-Event<br />
à la carte am<br />
4. September 2013<br />
<strong>Produktionsmesstechnik</strong> für <strong>die</strong> <strong>Praxis</strong><br />
<strong>Neue</strong> <strong>Wege</strong> <strong>gehen</strong> - <strong>Werte</strong> schaffen<br />
Erfolg ist messbar - modernste Geräte und<br />
Methoden helfen Ihnen dabei.<br />
www.ntb.ch
Sehr geehrte Damen und Herren,<br />
liebe Interessierte der Messtechnik<br />
Unsere unabhängige und internationale Fachtagung<br />
„<strong>Produktionsmesstechnik</strong> für <strong>die</strong> <strong>Praxis</strong>“ hat schon<br />
Tradition. Sie findet seit 2005 regelmässig alle<br />
zwei Jahre an der NTB statt.<br />
Sich neues Wissen in 15 unabhängigen Vorträgen aneignen, 50 weltweit führende<br />
Hersteller aus der Messtechnikbranche direkt ansprechen und noch dazu<br />
mit kompetenten Spezialisten über EU- bzw. nationale Fördermöglichkeiten<br />
Ihrer Projekte vertraulich zu sprechen – das alles können Sie hier bei uns an<br />
der NTB am 3. bzw. 4. September 2013.<br />
An der kommenden Fachtagung im September 2013 wollen wir mit drei<br />
weiteren innovativen Ideen um Ihre Aufmerksamkeit bitten:<br />
• Mit dem Motto „<strong>Neue</strong> <strong>Wege</strong> <strong>gehen</strong> – <strong>Werte</strong> schaffen“ werden wir neben<br />
den bekannten Themenschwerpunkten Koordinaten- und Oberflächenmesstechnik<br />
auch <strong>die</strong> Beschichtungsmesstechnik und Prozessoptimierung<br />
zu Wort kommen lassen.<br />
• Wir haben unser Angebot noch praxisgerechter gestaltet. Neu bieten wir<br />
Ihnen an, ohne weitere Eintrittsgebühren einen weiteren Halbtag mit unseren<br />
50 Ausstellern hier an der NTB Kontakt aufzunehmen. Am 4. September<br />
2013 bleibt <strong>die</strong> NTB für Sie und <strong>die</strong> Aussteller geöffnet. Die Mehrzahl der<br />
Aussteller wird selber Vorträge halten, Usermeetings durchführen und ihre<br />
Produkte präsentieren. Eine genaue Auflistung der Vorträge ist auf unserer<br />
Homepage veröffentlicht.<br />
• Ebenfalls am 4. September 2013 haben wir Vertreter von Euresearch<br />
und der Schweizer Kommission für Technologie und Innovation (KTI) eingeladen,<br />
<strong>die</strong> Sie über Fördermöglichkeiten innovativer messtechnischer<br />
Projekte informieren werden. Anschliessend können Sie ihre Projektideen<br />
in separaten Räumen ganz individuell auf eine mögliche Förderung<br />
prüfen lassen.<br />
Ich wünsche uns allen eine spannende Zeit an der NTB.<br />
Mit freundlichem Gruss<br />
Prof. Dr.-Ing. Claus P. Keferstein<br />
Instituts- und Veranstaltungsleiter<br />
Buchs, im April 2013
Tagungskonzept<br />
Zielpublikum<br />
Teilnahmebedingungen<br />
Sprache<br />
Tagungsort<br />
Leitung<br />
Ansprechpartner<br />
Praktiker/innen, Techniker und Ingenieure<br />
aus der Qualitätssicherung, Fertigung und<br />
Montage, Arbeitsvorbereitung, Konstruktion &<br />
Entwicklung. Leiter/innen von Messräumen,<br />
Qualitätsverantwortliche, Messtechniker/<br />
innen aus Entwicklung und Produktion,<br />
Qualitätsfachleute und Stu<strong>die</strong>rende mit<br />
Stu<strong>die</strong>nrichtung Maschinenbau, Mechatronik,<br />
Optik und Systemtechnik.<br />
Die Zahl der Teilnehmer ist beschränkt.<br />
Anmeldungen werden in der Reihenfolge ihres<br />
Eingangs berücksichtigt.<br />
deutsch<br />
NTB, Campus Buchs SG, Schweiz<br />
Prof. Dr.-Ing. Claus P. Keferstein<br />
Volker Anton, volker.anton@ntb.ch,<br />
+41 (0)81 755 33 71.<br />
Weitere Informationen, das aktuelle Programm für beide Tage sowie das<br />
Anmeldeformular finden Sie auf unserer Homepage<br />
www.ntb.ch/pwo/fachtagung.<br />
Unsere Hauptsponsoren
Tagesablauf - Dienstag, 3. September 2013<br />
Plenary-Session<br />
Ort:<br />
Sessionleiter:<br />
Hörsaal G1<br />
Prof. Dr.-Ing. Claus P. Keferstein<br />
Ab 08.00<br />
Registrierung, Empfang, Kaffee,<br />
Gebäck, Ausstellung<br />
09.00 - 09.10 Begrüssung durch den Rektor der NTB<br />
Prof. Lothar Ritter<br />
09.10 - 09.35 <strong>Neue</strong> <strong>Wege</strong> in der Präzisions- und<br />
Prozessmesstechnik<br />
Schnell, genau, preiswert und prozessnah<br />
– Widersprüche, Ergänzungen oder<br />
neues Denken?<br />
Prof. Dr.-Ing. Claus P. Keferstein, Institutsleiter<br />
und Professor an der NTB,<br />
Buchs (CH)<br />
09.35 - 10.10 Aufgaben eines nationalen Metrologieinstituts<br />
heute und morgen<br />
Das METAS als Aufsichtsbehörde,<br />
Dienstleister für <strong>die</strong> Industrie und in der<br />
internationalen Spitzenforschung<br />
Dr. Christian Bock, Direktor des Eidgenössischen<br />
Instituts für Metrologie,<br />
Bern (CH)
10.10 - 10.45 Forschung und Entwicklung<br />
„Precision Engineering & Metrology“<br />
Überblick über weltweite F&E-Aktivitäten<br />
aus Sicht der CIRP, der „Internationalen<br />
Akademie für Produktionstechnik“<br />
Dr. sc. techn., Dipl.-Ing. ETH Wolfgang<br />
Knapp, Leiter Messtechnik IWF,<br />
ETH Zürich (CH)<br />
10.45 - 11.30 Pause mit Kaffee und Gebäck,<br />
Ausstellung<br />
11.30 - 12.05 Stand und Tendenzen in der<br />
Oberflächenmesstechnik<br />
Oberfläche und Funktionsbezug, profiloder<br />
flächenhaft, optisch oder taktil<br />
messen? Philosophie der ISO-Normung<br />
Dipl.-Ing. Tobias Hercke, Verantwortlicher<br />
für <strong>die</strong> Oberflächenmesstechnik<br />
bei der Daimler AG, Stuttgart (D)<br />
12.05 - 12.40 Beschichtungsmesstechnik heute<br />
und morgen<br />
Zielgrössen, Randbedingungen<br />
und dazu passende Messverfahren –<br />
ein Überblick<br />
Prof. Dr. Nikolaus Herres, Leiter des<br />
Kompetenzfeldes Werkstoffe und<br />
Professor an der NTB, Buchs (CH)<br />
12.40 - 14.25 Stehlunch, Ausstellung
Session 1<br />
Oberflächen- und Beschichtungsmesstechnik<br />
Ort:<br />
Sessionleiter:<br />
Hörsaal G1<br />
Prof. Dr. Nikolaus Herres<br />
14.25 - 14.50 Qualitätssicherung bei der Oberflächen-<br />
/ Rauheitsmesstechnik<br />
Messunsicherheit, Ringvergleiche und<br />
Auswirkungen der Oberflächenrauheit<br />
bei der Koordinatenmesstechnik<br />
Dipl.-Ing. (FH) Michael Dudler, wissenschaftlicher<br />
Mitarbeiter an der NTB,<br />
Buchs (CH)<br />
14.50 - 15.15 Defekterkennung an spiegelnden<br />
Oberflächen mit Bildverarbeitung<br />
Es werden Methoden zur Inspektion spiegelnder<br />
Oberflächen vorgestellt, <strong>die</strong> auf<br />
deflektometrischen Verfahren und der<br />
Wavelet-Theorie aufbauen<br />
Dr. Mathias Ziebarth, wissenschaftlicher<br />
Mitarbeiter am Karlsruher Institut<br />
für Technologie, Karlsruhe (D)<br />
15.15 - 15.40 Messmethoden und Qualitätswerkzeuge<br />
bei der PVD-Beschichtung<br />
Es werden <strong>die</strong> Messmethoden und<br />
Qualitätswerkzeuge vorgestellt, <strong>die</strong> bei<br />
der PVD-Beschichtung von Serienbauteilen<br />
in der Automobilindustrie<br />
zum Einsatz kommen<br />
Dr. tech. Johann Karner, Projektmanager<br />
Coating Development Automotive<br />
OC Oerlikon Balzers AG, Balzers (LI)
Session 2<br />
Koordinaten- und In-Prozessmesstechnik<br />
Ort:<br />
Sessionleiter:<br />
Hörsaal G2<br />
Prof. Dr. Carlo Bach<br />
14.25 - 14.50 Multisensorik – Messgerät prüft<br />
Mikroteile aus Feinkeramik<br />
<strong>Praxis</strong>beispiel: wie anspruchsvollste<br />
Messaufgaben an schwierigen Materialien<br />
gelöst werden<br />
Microtechnic Ing. FH Herbert Augustiny,<br />
Project Engineer SPT Roth AG, Lyss (CH)<br />
14.50 - 15.15 Lasertracer-Technologie und messtechnische<br />
Anwendungen<br />
Mobile 3D-Volumenkompensation und<br />
Abnahme von Werkzeugmaschinen und<br />
Koordinatenmessgeräten<br />
Dipl.-Ing. (FH) Wolfram Meyer, Geschäftsführer<br />
der AfM Technology<br />
GmbH, Aalen (D)<br />
15.15 - 15.40 Optische Koordinatenmesstechnik in<br />
der Automobilindustrie<br />
Integration, Rückführung und Einbindung<br />
optischer KMG und Gelenkarme in Produktion<br />
und QM<br />
Dipl.-Wirtsch.-Ing. Christian Neukirch,<br />
Fachreferent bei der Volkswagen AG<br />
und Leiter des DKD-Labors für den<br />
Bereich „Länge“, Wolfsburg (D)
Session 3<br />
Integrierte Prozesskette<br />
Ort:<br />
Sessionleiter:<br />
Hörsaal H4<br />
Prof. Dr.-Ing. Andreas Ettemeyer<br />
14.25 - 14.50 Berührungslos optische In-Prozess-<br />
Messtechnik im industriellen Einsatz<br />
Beispiele, wie bei widrigen Umgebungsbedingungen<br />
schnelle und genaue Messtechnik<br />
z.B. an glühenden Werkstücken in<br />
den Prozess integriert werden kann<br />
Prof. Dr. Silvano Balemi, Leiter Technik<br />
der Zumbach Electronic AG, Orpund (CH)<br />
14.50 - 15.15 Fertigungsmesstechnikwissen von<br />
der Produktentwicklung bis zur<br />
Serienfertigung<br />
Erfahrungen mit einem Schulungskonzept<br />
für Konstrukteure, Entwickler,<br />
Fertiger und Messtechniker<br />
Ing. (FH) & Msc. Daniel Seitz, Leiter Konstruktion<br />
Grosse Transferventile bei VAT<br />
Vakuumventile AG, Haag (CH)<br />
15.15 - 15.40 Was muss ich wie prüfen - Prüfstrategien<br />
zur Null-Fehler-Produktion<br />
Nachvollziehbare Regeln und Vor<strong>gehen</strong>sweisen<br />
zur effektiven Prüfplanung<br />
Dr.-Ing. Alexander Schloske, Senior<br />
Expert Quality Management, Leiter<br />
Stuttgarter Produktionsakademie, Mitglied<br />
des Führungskreises, Fraunhofer<br />
Institut IPA, Stuttgart (D)<br />
15.40 - 16.25 Pause mit Kaffee und Gebäck,<br />
Ausstellung
Schlussvortrag im Plenum und Schlusswort<br />
Ort:<br />
Sessionleiter:<br />
Hörsaal G1<br />
Prof. Dr.-Ing. Claus P. Keferstein<br />
16.25 - 17.00 Leistungsfähigkeit der Nanomess- und<br />
Nanopositioniertechnik<br />
Das Abbe-Komparatorprinzip und Planspiegelinterferometer<br />
als fundamentale<br />
Basis. Aufbau von Nanomessmaschinen<br />
Prof. Dr.-Ing. habil. Prof. h.c. Dr. h.c.<br />
mult. Gerd Jäger, Professor an der<br />
TU Ilmenau (D)<br />
17.00 - 17.10 Zusammenfassung, Schlusswort<br />
Prof. Dr.-Ing. Claus P. Keferstein,<br />
Institutsleiter und Professor an<br />
der NTB, Buchs (CH)<br />
Ab 17.10<br />
Apéro, Ausstellung<br />
gesponsert von<br />
Vorträge - Mittwoch, 4. September 2013,<br />
08.00 - 12.00 Uhr<br />
ELYT: Form grüsst Rauheit<br />
ELYT: Das neue CCI sieht<br />
blitzschnell, berührungslos<br />
den Picometer<br />
Compar: Flexible 3D-Masskontrolle<br />
in der Produktion<br />
Schaefer-Tec: Was Tisch-<br />
Elektronenmikroskope<br />
heute können<br />
ZOLLER: Die Zukunft<br />
des Messens<br />
WYLER: Neigungsmessgeräte<br />
in der Produktion: Effiziente<br />
Qualitätssteigerung<br />
NanoFocus: Konfokale<br />
Messsysteme für<br />
technische Oberflächen<br />
Duwe-3d: Hybride<br />
Koordinatenmesstechnik<br />
in PolyWorks<br />
OGP: Does Metrology<br />
Increase costs?<br />
Ryf: Computer Tomography<br />
in der Industrie<br />
Euresearch/KTI: Wie<br />
komme ich zu Fördergeldern<br />
(EU und national)?<br />
WZW: Super-Polierte<br />
Spiegelsubstrate für<br />
Laser Anwendungen<br />
WENZEL:<br />
Computertomographie<br />
WENZEL: Intuitive<br />
Benutzerführung<br />
der Messsoftware<br />
amtec: In-situ-Analyse<br />
von Beschichtungen<br />
Cyber Technologies: High<br />
accurate metrology on<br />
large surface areas<br />
Schaefer-Tec: Kontaktlose<br />
Rauheitsmessung<br />
und Formmessung<br />
Fraunhofer IFF: Inline<br />
3D-Messtechnik für <strong>die</strong><br />
Prozesssteuerung<br />
und Qualitätskontrolle<br />
SCHUNK Intec: Prozessoptimierung<br />
mit innovativer<br />
Werkstückspanntechnik<br />
NTB: Diskussionsforum:<br />
Die Zukunft der Messtechnikausbildung<br />
auf Hochschulniveau<br />
in der Schweiz<br />
Renishaw: Späne<br />
kosten Geld – Gutteile<br />
bringen Geld<br />
DRE: Messung der Oberflächenkontamination<br />
zur Vorbereitung einer<br />
verlässlichen Klebung<br />
NOVAMART: Aufbau eines<br />
Qualitätssicherungslabors<br />
in der Oberflächentechnik<br />
Aktuelle Informationen:<br />
www.ntb.ch/pwo/fachtagung<br />
Stand April 2013
Einige unserer Aussteller und Sponsoren
SCUTEC ®<br />
Quality Control Measurement Monitoring<br />
CM T RAIN
Warum Sie DIESE Tagung nicht<br />
verpassen dürfen<br />
99<br />
In Referaten und der integrierten Fachausstellung können Sie sich effizient<br />
über <strong>die</strong> neuesten Entwicklungen und Trends sowie Geräte und<br />
Technologien informieren.<br />
99<br />
In 15 firmenunabhängigen und produktneutralen Übersichts- und<br />
Vertiefungsvorträgen können Sie sich am 3. September 2013 fun<strong>die</strong>rtes<br />
und praxisorientiertes Verfahrens- und Anwendungswissen aneignen.<br />
99<br />
Am 4. September 2013 können Sie Spezialvorträge der Aussteller besuchen<br />
und in bilateralen, ausführlichen Gesprächen mit den Ausstellern<br />
Ihre Mess- und Prüfstrategien sowie Investitionswünsche besprechen.<br />
Tagungsgebühren / Anmeldung<br />
Tagungsgebühr<br />
CHF 240.- oder EUR 200.- inklusive MwSt.<br />
inklusive Tagungsunterlagen, Kaffee/Getränke, Mittagessen, Apéro und<br />
30% Rabatt auf ein Jahresabonnement der Zeitschrift Management<br />
und Qualität (MQ).<br />
Als Mitglied von SwissPhotonics oder weiterer Mitarbeiter einer<br />
Ausstellerfirma erhalten Sie 10% Rabatt.<br />
Studenten erhalten 50% Rabatt.<br />
Rabatte sind nicht kumulierbar.<br />
Die Anmeldefrist endet am 31. Juli 2013. Anmeldungen ab dem 1. August 2013<br />
werden mit CHF 280.- oder EUR 235.- in Rechnung gestellt.<br />
Ihr direkter Link zu weiteren Informationen und zur Online-Anmeldung<br />
www.ntb.ch/pwo/fachtagung.<br />
Übernachtungsmöglichkeiten in der Umgebung Buchs SG und den Lageplan<br />
der NTB finden Sie auf www.ntb.ch/pwo/lageplan-uebernachtung.<br />
Achtung: Die Teilnehmerzahl ist beschränkt.<br />
NTB Interstaatliche Hochschule für Technik<br />
Institut für <strong>Produktionsmesstechnik</strong>,<br />
Werkstoffe und Optik (PWO)<br />
Werdenbergstrasse 4<br />
CH-9471 Buchs SG<br />
pwo@ntb.ch<br />
Telefon: +41 (0)81 755 34 50<br />
Fax: +41 (0)81 755 33 08