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TR-Scan Oberflächenanalysegerät - Studenroth Präzisionstechnik

TR-Scan Oberflächenanalysegerät - Studenroth Präzisionstechnik

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www.studenroth.com<br />

Längenmessgeräte Handmessgeräte <strong>TR</strong> <strong>Scan</strong> / <strong>TR</strong> <strong>Scan</strong> Premium Messuhre


<strong>TR</strong> <strong>Scan</strong><br />

Oberflächenstruktur-Messgerät<br />

Benutzerfreundlichkeit<br />

Das Trimos® <strong>TR</strong> <strong>Scan</strong> ist ein flexibles und universelles Oberflächenstruktur-Messsystem.<br />

Kein anderes Gerät kann sich mit<br />

seiner Bedienerfreundlichkeit und seiner Flexibilität vergleichen.<br />

Einfachste Abläufe garantieren sicheres und schnelles Messen mit<br />

einem Minimum an Schulung.<br />

Qualität<br />

Das <strong>TR</strong> <strong>Scan</strong> wird komplett nach höchsten Qualitätsstandards in<br />

der Schweiz entwickelt und hergestellt. Robustheit, Zuverlässigkeit<br />

und lange Betriebsdauer ist Tradition. Seit über 30 Jahren werden<br />

Trimos® Geräte weltweit in der Fertigung und im Messlabor<br />

eingesetzt.<br />

Flexibilität<br />

Das System kann mit unterschiedlichen Messköpfen<br />

ausgestattet werden, die schnell und<br />

einfach zu wechseln sind und vom Gerät<br />

automatisch erkannt werden. Diese Flexibilität<br />

erlaubt die Messung der Oberflächenbeschaffenheit<br />

in zahlreichen Anwendungsgebieten<br />

der industriellen Mechanik (alle Arten<br />

von bearbeiteten Oberflächen), in der Automobil-<br />

und Flugzeugindustrie sowie Photovoltaik,<br />

aber auch von Kunststoffen, Papieren,<br />

Druckmaterialien, Fasermatten, Holz,<br />

Schleifmitteln, Lackierungen, Kosmetik usw.<br />

• Messresultate 100% vergleichbar mit klassischen Systemen<br />

• Kompatibel mit internationalen Normen<br />

• Sehr intuitive Bedienoberfläche<br />

• Robustes Design, ideal für die Werkstatt<br />

• Automatisierbare Messungen<br />

• Kompaktes und modulares Konzept<br />

• Durchführung von Messungen und deren Analyse in wenigen<br />

Sekunden<br />

Prüfen eines Aluminium-Dichtungsringes,<br />

verwendet in der Luftfahrtindustrie (DHM S2)<br />

Klassische Innen-Rauheitsmessung<br />

(DIA P1)<br />

Messen der Materialdichte von Styropor®<br />

(CCM P1)<br />

Messung der Abnutzung (CCM P1)<br />

2


193<br />

119,5<br />

698<br />

505<br />

650<br />

Technische Daten<br />

<strong>TR</strong>-<strong>Scan</strong> 101 201 301<br />

Horizontaler Messbereich X (mm) - 100 100<br />

Horizontaler Messbereich Y (mm) - - 100<br />

Vertikaler Messbereich Z (mm) 240<br />

Auflösung des Messsystems XYZ (µm) 0.1<br />

Positionierfehler XYZ (µm) 1<br />

Geradheit der Linienführung XY (µm) 1.5<br />

Max. Gewicht des Teiles (kg) 20<br />

3


<strong>TR</strong> <strong>Scan</strong> PREMIUM<br />

Das Trimos® <strong>TR</strong> <strong>Scan</strong> PREMIUM erlaubt eine sehr rasche Messung<br />

der empfindlichsten Oberflächen. Es wurde mehrmals als Referenzgerät<br />

bei Hitech-Applikationen gewählt.<br />

Haupteinsatzgebiete sind Bereiche, wo Kontaktmessungen nicht<br />

mehr ausreichend sind: Medizinische Geräte, Prothesen, Wafers,<br />

MEMS, Halbleiter, Coatings, Dünnschichten, optische Komponenten,<br />

Forschung und Entwicklung sowie die Qualitätskontrolle.<br />

DHM® , das Holographie-Prinzip<br />

Das Herz des Systems, Trimos® DHM®<br />

(Digital Holographic Microscopy), ist eine<br />

Technologie, die im biomedizinischen Bereich<br />

eingesetzt wird. Das System selbst<br />

basiert auf den physikalischen Eigenschaften<br />

des Hologramms für die Erstellung der<br />

Topographie der analysierten Oberfläche.<br />

Diese Technologie für das Messen industrieller<br />

Oberflächen wird ausschließlich von<br />

Trimos® eingesetzt. Sie unterscheidet sich<br />

von den Konkurrenzprodukten insbesondere<br />

durch die Möglichkeit, extrem reflektierende,<br />

spiegelpolierte oder sehr kleine Oberflächen<br />

prüfen zu können.<br />

Eine äußerst hohe Messgeschwindigkeit verbunden mit einer Genauigkeit<br />

im Nanometerbereich bilden die Hauptvorteile der <strong>TR</strong><br />

<strong>Scan</strong> Geräte. Es werden nur einige Mikrosekunden für die Erfassung<br />

einer dreidimensionalen Abbildung benötigt. Diese außergewöhnliche<br />

Erfassungsgeschwindigkeit reduziert die Probleme<br />

durch Vibration, den traditionellen Feind der Mehrheit aller optischen<br />

Messsysteme, auf ein Minimum. Die genannten Vorteile<br />

ergeben eine erhöhte Produktivität und eine begrenzte Investition.<br />

• Außergewöhnliche Messgeschwindigkeit<br />

• Unempfindlich gegen Vibrationen<br />

• Vertikale Auflösung im Nanometerbereich<br />

• Extrem leichte Positionierung des Teils dank Laserausrichtung (DHM®)<br />

• Berührungsloses, nicht zerstörendes Messen<br />

Oberflächen-Studie eines Zahnimplantats<br />

(CCM P1 / WLI)<br />

Rauheitsanalyse eines Autozylinders<br />

(WLI / CCM P1)<br />

Analyse einer Silizium-Mikrostruktur<br />

(DHM S2)<br />

Verifizierung von Mikrospritzteilen<br />

(CCM P1)<br />

4


193<br />

119,5<br />

698<br />

505<br />

650<br />

Technische Daten<br />

<strong>TR</strong>-<strong>Scan</strong> Premium 101 301<br />

Horizontaler Messbereich X (mm) - 100<br />

Horizontaler Messbereich Y (mm) - 100<br />

Vertikaler Messbereich Z (mm)<br />

Auflösung des Messsystems XYZ (µm)<br />

Positionierfehler XYZ (µm)<br />

Geradheit der Linienführung XY (µm)<br />

Max. Gewicht des Teiles (kg)<br />

240<br />

0.1<br />

1<br />

0.3<br />

20<br />

5


Die DHM ® Technologie<br />

DHM® (Digital Holographic Microscopy) ist eine Technologie für berührungsloses<br />

Messen von Oberflächengüte, ursprünglich für den<br />

biotechnischen und medizinischen Industriezweig entwickelt. DHM®,<br />

das Holographie-Prinzip verwendend, generiert 3D Digitaldarstellungen<br />

mit höchster Auflösung von Teileabschnitten. Ein Hologramm, erzeugt<br />

durch Vereinen einer zusammenhängende Referenzwelle mit<br />

der von einem Musterteil, wird von einer CCD-Kamera aufgezeichnet<br />

und an einen Rechner für numerisches Konstruieren übertragen.<br />

Ein einziges Hologramm wird in wenigen Mikrosekunden erfasst.<br />

Die sehr kurze Messzeit verhindert eine Verfälschung des Messergebnisses<br />

durch Vibration. Die eingesetzten Software-Verfahren<br />

erlauben das Errechnen der kompletten Wellenfront. Dies gewährleistet:<br />

• Eine Abbildungsintensität mit dem gleichen Kontrast wie bei<br />

klassischer, optischer Mikroskopie,<br />

• Phasenabbildungen, die quantitative Daten definiert an einem<br />

Teilwellen-Längenbereich aufweisen - für genaue und stabile<br />

Messungen.<br />

Die Phasenabbildung zeigt die Oberflächentopographie<br />

mit einer subnanometrischen, vertikalen Auflösung.<br />

Diese digitale Annäherung an die Holographie<br />

erlaubt die Verwendung von Rechner basierenden<br />

Verfahren, deren Niveau bis heute in der optischen<br />

Mikroskopie nicht erreicht wurde. Im Besonderen<br />

weist das DHM® Prinzip Software-Kompensation<br />

für optische Aberration, digitale Abbildungsfokussierung,<br />

numerische Kompensation für Musterteilneigung<br />

und Umweltstörungen auf. Genannte Merkmale<br />

zeichnen die DHM®-Geräte aus, sie sind robust<br />

und einfach in der Bedienung bei Routineprüfungen<br />

im Nanometer- und Mikrometer-Bereich.<br />

Das DHM® Prinzip wird exklusiv von Trimos für das<br />

Prüfen von Oberflächenstrukturen verwendet. Diese<br />

Technologie hat zahlreiche Vorteile im Vergleich zu<br />

anderen Technologien der Kontakt- sowie der berührungslosen<br />

Messung:<br />

• Werte-Erfassung in wenigen Mikrosekunden<br />

• Unempfindlichkeit gegen Vibration<br />

• Hohe Abbildungsqualität<br />

• Subnanometrische Auflösung<br />

• Keine beweglichen Teile<br />

• Keine speziellen Umweltbedingungen erforderlich<br />

DHM® ist eine nach Norm ISO 25178-6 anerkannte Methode für<br />

das Prüfen von Oberflächenstrukturen.<br />

6


Messköpfe<br />

DHM S1 + S2<br />

DHM®-Technologie<br />

• Für glatte, geschliffene und polierte Oberflächen<br />

• Stahl, Aluminium, Titan, Silizium, Gold, Glas, Keramik<br />

• Hohe Messgenauigkeit und Geschwindigkeit, 2D/3D<br />

DHM<br />

S2<br />

CCM P1<br />

Konfokal-chromatische Technologie:<br />

• Raue Oberflächen, Mikro-Formen<br />

• Metalle, Kunststoffe, Schleifmittel, Papiere, Textilien, Kosmetik<br />

• Großer Vertikalmessbereich, alle Materialien, 2D/3D<br />

DIA P1<br />

Diamant Messtaster:<br />

• Oberflächen- und Rauheitsmessungen (Kontakt)<br />

• Klassische Profilmessungen (2D)<br />

• Innenmessungen<br />

DIA<br />

P1<br />

Messköpfe DHM S1 DHM S2 CCM P1 DIA P1<br />

Bestell-Nr. 7102-5201 7102-5203 7102-5205 7102-5207<br />

Auflösung vertikal (Z) (nm) 1 1 8 2) 10<br />

Auflösung lateral (XY) (µm) 0.6 0.6 0.9 2) 1<br />

Typischer max. Messbereich Ra 1) (µm) 0.4 1.6 > 200 2) 20<br />

Messbereich vertikal 1) (µm) 3 7 130 2) 350<br />

Fehlergrenzen (%) 1 1 1 ÷ 5 2) 5<br />

Wiederholbarkeit (Ra, 1s) (nm) < 0.1 < 0.1 < 5 2) 9<br />

Teile-Reflexionskraft (%) < 1 ÷ 100 < 1 ÷ 100 1 ÷ 100 -<br />

Visionsfeld (mm) 0.25 x 0.25 0.25 x 0.25 - -<br />

1)<br />

Werte können je nach Oberflächenstruktur abweichen, 2) Je nach verwendeter Optik<br />

7


W<br />

Die Software<br />

Ι<br />

λ M<br />

λ<br />

S<br />

P<br />

L<br />

λ 1<br />

O<br />

λ Μ<br />

Die konfokale Mikroskopie (CCM) ist weltweit als präzise und zuverlässige<br />

Oberflächenmessmethode anerkannt. Ein konfokales Objekt<br />

(L) generiert das Bild einer polychromen Punktquelle (W). Man erhält<br />

ein Kontinuum von monochromatischen, beugungsbegrenzten Bildern.<br />

Dieser konfokal chromatische Aufbau besteht in der spektralen<br />

Signalanalyse, die am Objekt (O) reflektiert wird. Zur Filterung des<br />

Lichts, welches von einer Objektebene kommt, wird ein achromatisches<br />

Objekt zusammen mit einem filternden Pinhole (P) verwendet.<br />

Dadurch wird nur die Wellenlänge lM, die auf das Prüfobjekt gerichtet<br />

ist, am Detektor des Spektrometers (S) abgebildet. Somit entspricht<br />

das übertragene Signal einer Intensitätsspitze bei der Wellenlänge<br />

lM, und die Z-Information wird als chromatische Information codiert.<br />

λ Ν<br />

• Hohe Auflösung<br />

• Funktioniert auf allen Materialtypen<br />

• Breites Spektrum an Messbereichen<br />

• Einsetzbar bei großen Neigungen<br />

• Koaxiale Geometrie (kein Schatten)<br />

• Anerkannte Messmethode gemäß ISO 25178<br />

CCM P1 Messkopf<br />

CCM-P1<br />

Aufnahme + Spektrometer<br />

TA-MI-701 ÷ 713<br />

Optische Stiftlampe<br />

1mm<br />

1µm<br />

1nm<br />

8<br />

CCM P1<br />

1µm DIA 1mm P1<br />

1m<br />

CCM P1<br />

CCM P1 DHM S2 DIA P1<br />

DIA P1<br />

DHM S2<br />

CCM Ergänzende P1 Technologien<br />

DIA P1<br />

Es gibt keine Universaltechnologie für Oberflächenmessungen.<br />

Dank der Modularität des <strong>TR</strong> <strong>Scan</strong>s kann der für jede Applikation<br />

beste Messkopf eingesetzt werden.<br />

DHM S2<br />

Auf dem Diagramm links wird der Applikationsbereich der verschiedenen<br />

Messköpfe aufgrund der Materialstruktur dargestellt.


Anzeige / Software<br />

Trimos NanoWare Measure<br />

Software zur Steuerung der Messung und Einstellen der Messparameter.<br />

Die Positionierung in X, Y und Z wird entweder automatisch<br />

durch vordefinierte Parameter oder über einen intuitiven Joystick<br />

mit integriertem Positionierlaser und Kamera (optional) ausgeführt.<br />

Ist die Positionierung ausgeführt werden die Messungen durch<br />

einen Klick automatisch oder über einen manuell eingestellten<br />

Parameter in wenigen Sekunden aktiviert und ausgeführt.<br />

• Intuitive Positionierung<br />

• Sofortiges Messen<br />

• Programmierbare Messungen mit Abbildungen<br />

Trimos NanoWare Analysis<br />

Diese Software ermöglicht die Analyse aller gemessener Oberflächen<br />

nach den aktuellen internationalen Normen wie ISO,<br />

DIN, JIS, ASME, CNOMO usw. behandelt, sowie auch nach der<br />

ISO 25178.<br />

Analysen werden automatisch mittels eines Modells ausgeführt<br />

oder durch direkten Zugriff auf die unbearbeiteten Daten. Die<br />

integrierte Analysen-Software wird durch Mountains®, die<br />

leistungsfähigste, anerkannteste 2D/3D Oberflächenanalyse-<br />

Software auf dem Markt, betrieben.<br />

Berichte werden automatisch während der Analyse erzeugt.<br />

Jeder Bericht kann in der Folge als Modell verwendet werden.<br />

• Leistungsfähige Analysen-Software<br />

• Professionelle Auswertung und Aufzeichnung<br />

• Passende Module für jede Applikation<br />

• Entspricht allen internationalen Normen<br />

9


<strong>TR</strong> <strong>Scan</strong> Pakete (Industrial Segment)<br />

<strong>TR</strong>S201CCM<br />

Lieferumfang<br />

• <strong>TR</strong> <strong>Scan</strong> mit 2 CNC-Achsen (Z/X)<br />

• Messkopf CCM P1 mit optischer Stiftlampe<br />

CL1 oder CL2<br />

• TFT-Bildschirm 19“<br />

• PC Dell mit Windows 7 (64 Bit)<br />

• 2D NanoWare Measurement und Analysis LT<br />

Bestell-Nr. Bezeichnung Anwendung Messkopf Achsen Software<br />

7101-5011 <strong>TR</strong>S201CCM<br />

7101-5014 <strong>TR</strong>S201DHM<br />

2D Kontaktlose<br />

Profilmessungen<br />

3D Erweiterte<br />

Profilmessungen,<br />

Metallische Teile<br />

7101-5017 <strong>TR</strong>S301DHM 3D-Messungen,<br />

Metallische Teile<br />

CCM P1<br />

DHM S2<br />

DHM S2<br />

- 1 Vertikal-Achse Z<br />

- 1 Horizontal-Achse X<br />

- 1 Vertikal-Achse Z<br />

- 1 Horizontal-Achse X<br />

- 1 Vertikal-Achse Z<br />

- 1 Horizontal-Achse X<br />

NanoWare LT<br />

(2D-Analyse)<br />

NanoWare STT<br />

(2D- und 3D-Analyse)<br />

NanoWare STT<br />

(2D- und 3D-Analyse)<br />

Anwendung: Rauheit in 2D (2D-Profil für alle Teile)<br />

10


<strong>TR</strong>S201DHM<br />

DHM Auflösung 1 nm<br />

Lieferumfang<br />

• <strong>TR</strong> <strong>Scan</strong> mit 2 CNC-Achsen (Z/X)<br />

• Messkopf DHMS1 oder DHMS2<br />

• TFT-Bildschirm 19“<br />

• PC Dell mit Windows 7 (64 Bit)<br />

• NanoWare Measurement und Analysis STT<br />

Anwendung: Rauheit in 3D, Mikrotopographie<br />

Visionsfeld 0.25 x 0.25 mm<br />

(nur auf reflektierenden Oberflächen)<br />

<strong>TR</strong>S201DHM<br />

DHM Auflösung 1 nm<br />

Lieferumfang<br />

• <strong>TR</strong> <strong>Scan</strong> mit 3 CNC-Achsen (Z/X/Y)<br />

• Messkopf DHMS1 oder DHMS2<br />

• TFT-Bildschirm 19“<br />

• PC Dell mit Windows 7 (64 Bit)<br />

• NanoWare Measurement und Analysis STT<br />

Anwendung: Rauheit in 3D und Mikrotopographie<br />

(nur auf reflektierenden Oberflächen)<br />

11


<strong>TR</strong> <strong>Scan</strong> Premium Pakete<br />

(Hi-tech Segment)<br />

<strong>TR</strong>SP101DHM<br />

DHM Auflösung 1 nm<br />

Lieferumfang<br />

• <strong>TR</strong> <strong>Scan</strong> Premium mit 1 CNC-Achsen (Z)<br />

• Messkopf DHMS1 oder DHMS2<br />

• TFT-Bildschirm 19“<br />

• PC Dell mit Windows 7 (64 Bit)<br />

• NanoWare Measurement und Analysis STT<br />

Bestell-Nr. Bezeichnung Anwendung Messkopf Achsen Software<br />

7101-5021 <strong>TR</strong>SP101DHM<br />

7101-5025 <strong>TR</strong>SP301DHM<br />

7101-5028 <strong>TR</strong>SP301CCM<br />

3D-Messungen von<br />

kleinen polierten Teilen<br />

3D-Messungen von<br />

metallischen Teilen<br />

Universal<br />

3D-Messungen<br />

DHM S2<br />

DHM S2<br />

CCM P1<br />

- 1 Vertikal-Achse Z<br />

- 1 Vertikal-Achse Z<br />

- 2 Horizontale Achsen X<br />

- 1 Vertikal-Achse Z<br />

- 2 Horizontale Achsen X<br />

NanoWare LT<br />

(2D-Analyse)<br />

NanoWare STT<br />

(2D- und 3D-Analyse)<br />

NanoWare STT<br />

(2D- und 3D-Analyse)<br />

Anwendung: Rauheit in 3D, Mikrotopographie<br />

Visionsfeld 0.25 x 0.25 mm (nur auf reflektierenden Oberflächen)<br />

12


<strong>TR</strong>SP301CCM<br />

Lieferumfang<br />

• <strong>TR</strong> <strong>Scan</strong> Premium mit 3 CNC-Achsen (Z/X/Y)<br />

• Messkopf CCM P1 mit optischer Stiftlampe<br />

CL1 oder CL2<br />

• TFT-Bildschirm 19“<br />

• PC Dell mit Windows 7 (64 Bit)<br />

• 2D NanoWare Measurement und Analysis LT<br />

Anwendung: Rauheit in 3D auf allen Teilen<br />

<strong>TR</strong>SP301DHM<br />

DHM Auflösung 1 nm<br />

Lieferumfang<br />

• <strong>TR</strong> <strong>Scan</strong> Premium mit 3 CNC-Achsen (Z/X/Y)<br />

• Messkopf DHMS1 oder DHMS2<br />

• TFT-Bildschirm 19“<br />

• PC Dell mit Windows 7 (64 Bit)<br />

• NanoWare Measurement und Analysis STT<br />

Anwendung: Rauheit in 3D und Mikrotopographie<br />

(nur auf reflektierenden Oberflächen)<br />

13


Zubehör<br />

Optische Stiftlampen,<br />

mit Faserkabel<br />

und Zertifikat<br />

Bestell-Nr. Bezeichnung <strong>TR</strong> <strong>Scan</strong><br />

7102-5001<br />

7102-5003<br />

7102-5005<br />

7102-5007<br />

7102-5009<br />

7102-5011<br />

<strong>TR</strong> <strong>Scan</strong><br />

Premium<br />

Messbereich= 130 \-Im,<br />

laterale Auflösung=0.9 \-Im<br />

• •<br />

Messbereich= 130 \-Im,<br />

laterale Auflösung=1.4 \-Im<br />

• •<br />

Messbereich=400 \-Im,<br />

laterale Auflösung= 1.2 \-Im<br />

• •<br />

Messbereich=400 \-Im,<br />

laterale Auflösung=1.7 \-Im<br />

• •<br />

Messbereich=400 \-Im,<br />

laterale Auflösung=3.5 \-Im<br />

• •<br />

Messbereich= 1400 \-Im,<br />

laterale Auflösung=2 \-Im<br />

•<br />

7102-5013<br />

7102-5015<br />

7102-5017<br />

7102-5019<br />

7102-5021<br />

7102-5023<br />

7102-5025<br />

Messbereich=1400 \-Im,<br />

laterale Auflösung=4 \-Im<br />

Messbereich=4000 \-Im,<br />

laterale Auflösung=4 \-Im<br />

Messbereich=4000 \-Im,<br />

laterale Auflösung=7 \-Im<br />

Messbereich= 12000 \-Im,<br />

laterale Auflösung=7 \-Im<br />

Messbereich= 12000 \-Im,<br />

laterale Auflösung=12.3 \-Im<br />

Messbereich=24000 \-Im,<br />

laterale Auflösung=8 \-Im<br />

Messbereich=24000 \-Im,<br />

laterale Auflösung=14 \-Im<br />

•<br />

•<br />

•<br />

•<br />

•<br />

•<br />

•<br />

Bestell-Nr. Bezeichnung <strong>TR</strong> <strong>Scan</strong><br />

<strong>TR</strong> <strong>Scan</strong><br />

Premium<br />

22<br />

7102-5027<br />

7102-5029<br />

7102-5031<br />

7102-5033<br />

7102-5035<br />

7102-5037<br />

7102-5039<br />

Achsen - und Schneidentaster,<br />

ohne Gleitkufe<br />

• •<br />

Bohrungstaster, ohne Gleitkufe,<br />

Bohrung > Ø 1.5 mm, Messtiefe < 12 mm<br />

• •<br />

Taster für kleine Bohrungen, ohne Gleitkufe,<br />

Bohrung > Ø 0.8 mm, Messtiefe < 12 mm<br />

• •<br />

Taster für Nuten, H=5 mm, ohne Gleitkufe,<br />

Nutentiefe < 5 mm, Nutenbreite > 1.0 mm<br />

• •<br />

Taster für Nuten, H=10 mm, ohne Gleitkufe,<br />

Nutentiefe < 10 mm, Nutenbreite > 1.0 mm<br />

• •<br />

Taster für Nuten, H=15 mm, ohne Gleitkufe,<br />

Nutentiefe < 15 mm, Nutenbreite > 1.5 mm<br />

• •<br />

Taster für Nuten, H=20 mm, ohne Gleitkufe,<br />

Nutentiefe < 20 mm, Nutenbreite > 1.5 mm<br />

• •<br />

7102-5041 Quertaster nach links, ohne Gleitkufe • •<br />

14<br />

15


Bestell-Nr. Bezeichnung <strong>TR</strong> <strong>Scan</strong><br />

<strong>TR</strong> <strong>Scan</strong><br />

Premium<br />

7102-5201 Messkopf DHM S1 • •<br />

7102-5203 Messkopf DHM S2 • •<br />

7102-5205 Messkopf CCM-P1 • •<br />

7102-5207 Messkopf DIA-P1 • •<br />

7111-5001 Schwenkbares Stativ mit Magnetbasis • •<br />

7111-5004 Präzisionsschraubstock 15 x 15 x 50 mm • •<br />

7111-5007 Präzisionsschraubstock 25 x 25 x 75 mm • •<br />

7111-5010 Präzisionsschraubstock 35 x 35 x 100 mm • •<br />

7111-5013 Aufnahmeplatte zu Schraubstock 7111-5004 • •<br />

7111-5016 Aufnahmeplatte zu Schraubstock 7111-5007 • •<br />

7111-5019 Aufnahmeplatte zu Schraubstock 7111-5010 • •<br />

7111-5022 Spann-Satz, 7111-5004, 7111-5007, 7111-5010 • •<br />

7111-5043 Rauheitsnormal, Ra=3.0 µm • •<br />

7111-5045 Rauheitsnormal, Ra=3.0 µm, mit SCS Zertifikat • •<br />

7111-5047 Rauheitsnormal, Ra=1.0 µm • •<br />

7111-5049 Rauheitsnormal, Ra=1.0 µm, mit SCS Zertifikat • •<br />

Bestell-Nr. Bezeichnung <strong>TR</strong> <strong>Scan</strong><br />

<strong>TR</strong> <strong>Scan</strong><br />

Premium<br />

7102-5051 Rauheitsnormal Ra=25 nm, mit DKD Zertifkat • •<br />

7102-5053 Rauheitsnormal Ra=50 nm, mit DKD Zertifkat • •<br />

7102-5055 Rauheitsnormal Ra=80 nm, mit DKD Zertifkat • •<br />

7102-5057 Rauheitsnormal Ra=0.2 µm, mit DKD Zertifkat • •<br />

7102-5059 Rauheitsnormal Ra=0.5 µm, mit DKD Zertifkat • •<br />

7102-5061 Rauheitsnormal Ra=1.5 µm, mit DKD Zertifkat • •<br />

7102-5063 Satz Rauheitsnormale Ra 25/50/80 nm, mit DKD Z. • •<br />

7102-5065 Satz Rauheitsnormale Ra 0.2/0.5/1.5 µm, mit DKD Z. • •<br />

7102-5067 Konturnormal • •<br />

7102-5069 Konturnormal mit SCS Zertifikat • •<br />

7102-5200 Joystick • •<br />

1102-1414 Laser-Drucker (USB) • •<br />

TA-EL 030 Tintenstrahl-Drucker (USB) • •<br />

TA-EL 001 Netzkabel, 2-polig, Europa • •<br />

TA-EL 002 Netzkabel, 2-polig, USA / Japan • •<br />

TA-EL 003 Netzkabel, 2-polig, Australien • •<br />

TA-EL 004 Netzkabel, 2-polig, UK • •<br />

TA-EL 005 Netzkabel, 2-polig, Korea • •<br />

7102-5231<br />

7102-5233<br />

7102-5235<br />

7102-5237<br />

7102-5239<br />

Modul für Profileanalyse NanoWare LT,<br />

Profilemessungen 2D - Basic<br />

Modul für Profileanalyse NanoWare XT,<br />

Profilemessungen 2D - Advanced<br />

Modul für Profile und Oberflächenanalysen,<br />

NanoWare STT, 3D Rauheitsmessung - Basic<br />

Modul für Profile und Oberflächenanalysen,<br />

NanoWare XTT, 3D Rauheitsmessung - Advanced<br />

Komplettes Modul für Profile + Oberflächen<br />

NanoWare Pro, Rauheit Software<br />

3D-Professional<br />

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Vertriebsprogramm<br />

• Höhenmessgeräte<br />

• Handmessmittel<br />

• Innenmessgeräte<br />

• Messuhren<br />

• Horizontale Längenmessgeräte<br />

• Längenmesssysteme<br />

• Optische Messgeräte<br />

• Werkzeugmess- und Voreinstellgeräte<br />

• Oberflächen Analyse<br />

• Tastersysteme<br />

• Lehren und Endmaße<br />

• PLASTIFORM®<br />

Dienstleistungen rund um die<br />

Messtechnik<br />

• Fachberatung vor Ort<br />

• Reparatur und Wartung<br />

• Vor-Ort Service<br />

• Technische Unterstützung<br />

• Schulung<br />

Kalibrierlabor<br />

• Werkskalibrierung<br />

• DAkkS - Kalibrierung<br />

• Express-Kalibrierung nach Absprache<br />

• Prüfmittelverwaltung<br />

• Beschaffung von Ersatzprüfmitteln<br />

<strong>Studenroth</strong> <strong>Präzisionstechnik</strong> GmbH<br />

Konrad-Zuse-Ring 22<br />

61137 Schöneck-Kilianstädten<br />

Telefon: 06187 - 90 59 3 - 0<br />

Telefax: 06187 - 90 59 3 - 50<br />

www.studenroth.com<br />

info@studenroth.com<br />

Technische Änderungen vorbehalten. Stand 05/2013

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