TR-Scan Oberflächenanalysegerät - Studenroth Präzisionstechnik
TR-Scan Oberflächenanalysegerät - Studenroth Präzisionstechnik
TR-Scan Oberflächenanalysegerät - Studenroth Präzisionstechnik
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www.studenroth.com<br />
Längenmessgeräte Handmessgeräte <strong>TR</strong> <strong>Scan</strong> / <strong>TR</strong> <strong>Scan</strong> Premium Messuhre
<strong>TR</strong> <strong>Scan</strong><br />
Oberflächenstruktur-Messgerät<br />
Benutzerfreundlichkeit<br />
Das Trimos® <strong>TR</strong> <strong>Scan</strong> ist ein flexibles und universelles Oberflächenstruktur-Messsystem.<br />
Kein anderes Gerät kann sich mit<br />
seiner Bedienerfreundlichkeit und seiner Flexibilität vergleichen.<br />
Einfachste Abläufe garantieren sicheres und schnelles Messen mit<br />
einem Minimum an Schulung.<br />
Qualität<br />
Das <strong>TR</strong> <strong>Scan</strong> wird komplett nach höchsten Qualitätsstandards in<br />
der Schweiz entwickelt und hergestellt. Robustheit, Zuverlässigkeit<br />
und lange Betriebsdauer ist Tradition. Seit über 30 Jahren werden<br />
Trimos® Geräte weltweit in der Fertigung und im Messlabor<br />
eingesetzt.<br />
Flexibilität<br />
Das System kann mit unterschiedlichen Messköpfen<br />
ausgestattet werden, die schnell und<br />
einfach zu wechseln sind und vom Gerät<br />
automatisch erkannt werden. Diese Flexibilität<br />
erlaubt die Messung der Oberflächenbeschaffenheit<br />
in zahlreichen Anwendungsgebieten<br />
der industriellen Mechanik (alle Arten<br />
von bearbeiteten Oberflächen), in der Automobil-<br />
und Flugzeugindustrie sowie Photovoltaik,<br />
aber auch von Kunststoffen, Papieren,<br />
Druckmaterialien, Fasermatten, Holz,<br />
Schleifmitteln, Lackierungen, Kosmetik usw.<br />
• Messresultate 100% vergleichbar mit klassischen Systemen<br />
• Kompatibel mit internationalen Normen<br />
• Sehr intuitive Bedienoberfläche<br />
• Robustes Design, ideal für die Werkstatt<br />
• Automatisierbare Messungen<br />
• Kompaktes und modulares Konzept<br />
• Durchführung von Messungen und deren Analyse in wenigen<br />
Sekunden<br />
Prüfen eines Aluminium-Dichtungsringes,<br />
verwendet in der Luftfahrtindustrie (DHM S2)<br />
Klassische Innen-Rauheitsmessung<br />
(DIA P1)<br />
Messen der Materialdichte von Styropor®<br />
(CCM P1)<br />
Messung der Abnutzung (CCM P1)<br />
2
193<br />
119,5<br />
698<br />
505<br />
650<br />
Technische Daten<br />
<strong>TR</strong>-<strong>Scan</strong> 101 201 301<br />
Horizontaler Messbereich X (mm) - 100 100<br />
Horizontaler Messbereich Y (mm) - - 100<br />
Vertikaler Messbereich Z (mm) 240<br />
Auflösung des Messsystems XYZ (µm) 0.1<br />
Positionierfehler XYZ (µm) 1<br />
Geradheit der Linienführung XY (µm) 1.5<br />
Max. Gewicht des Teiles (kg) 20<br />
3
<strong>TR</strong> <strong>Scan</strong> PREMIUM<br />
Das Trimos® <strong>TR</strong> <strong>Scan</strong> PREMIUM erlaubt eine sehr rasche Messung<br />
der empfindlichsten Oberflächen. Es wurde mehrmals als Referenzgerät<br />
bei Hitech-Applikationen gewählt.<br />
Haupteinsatzgebiete sind Bereiche, wo Kontaktmessungen nicht<br />
mehr ausreichend sind: Medizinische Geräte, Prothesen, Wafers,<br />
MEMS, Halbleiter, Coatings, Dünnschichten, optische Komponenten,<br />
Forschung und Entwicklung sowie die Qualitätskontrolle.<br />
DHM® , das Holographie-Prinzip<br />
Das Herz des Systems, Trimos® DHM®<br />
(Digital Holographic Microscopy), ist eine<br />
Technologie, die im biomedizinischen Bereich<br />
eingesetzt wird. Das System selbst<br />
basiert auf den physikalischen Eigenschaften<br />
des Hologramms für die Erstellung der<br />
Topographie der analysierten Oberfläche.<br />
Diese Technologie für das Messen industrieller<br />
Oberflächen wird ausschließlich von<br />
Trimos® eingesetzt. Sie unterscheidet sich<br />
von den Konkurrenzprodukten insbesondere<br />
durch die Möglichkeit, extrem reflektierende,<br />
spiegelpolierte oder sehr kleine Oberflächen<br />
prüfen zu können.<br />
Eine äußerst hohe Messgeschwindigkeit verbunden mit einer Genauigkeit<br />
im Nanometerbereich bilden die Hauptvorteile der <strong>TR</strong><br />
<strong>Scan</strong> Geräte. Es werden nur einige Mikrosekunden für die Erfassung<br />
einer dreidimensionalen Abbildung benötigt. Diese außergewöhnliche<br />
Erfassungsgeschwindigkeit reduziert die Probleme<br />
durch Vibration, den traditionellen Feind der Mehrheit aller optischen<br />
Messsysteme, auf ein Minimum. Die genannten Vorteile<br />
ergeben eine erhöhte Produktivität und eine begrenzte Investition.<br />
• Außergewöhnliche Messgeschwindigkeit<br />
• Unempfindlich gegen Vibrationen<br />
• Vertikale Auflösung im Nanometerbereich<br />
• Extrem leichte Positionierung des Teils dank Laserausrichtung (DHM®)<br />
• Berührungsloses, nicht zerstörendes Messen<br />
Oberflächen-Studie eines Zahnimplantats<br />
(CCM P1 / WLI)<br />
Rauheitsanalyse eines Autozylinders<br />
(WLI / CCM P1)<br />
Analyse einer Silizium-Mikrostruktur<br />
(DHM S2)<br />
Verifizierung von Mikrospritzteilen<br />
(CCM P1)<br />
4
193<br />
119,5<br />
698<br />
505<br />
650<br />
Technische Daten<br />
<strong>TR</strong>-<strong>Scan</strong> Premium 101 301<br />
Horizontaler Messbereich X (mm) - 100<br />
Horizontaler Messbereich Y (mm) - 100<br />
Vertikaler Messbereich Z (mm)<br />
Auflösung des Messsystems XYZ (µm)<br />
Positionierfehler XYZ (µm)<br />
Geradheit der Linienführung XY (µm)<br />
Max. Gewicht des Teiles (kg)<br />
240<br />
0.1<br />
1<br />
0.3<br />
20<br />
5
Die DHM ® Technologie<br />
DHM® (Digital Holographic Microscopy) ist eine Technologie für berührungsloses<br />
Messen von Oberflächengüte, ursprünglich für den<br />
biotechnischen und medizinischen Industriezweig entwickelt. DHM®,<br />
das Holographie-Prinzip verwendend, generiert 3D Digitaldarstellungen<br />
mit höchster Auflösung von Teileabschnitten. Ein Hologramm, erzeugt<br />
durch Vereinen einer zusammenhängende Referenzwelle mit<br />
der von einem Musterteil, wird von einer CCD-Kamera aufgezeichnet<br />
und an einen Rechner für numerisches Konstruieren übertragen.<br />
Ein einziges Hologramm wird in wenigen Mikrosekunden erfasst.<br />
Die sehr kurze Messzeit verhindert eine Verfälschung des Messergebnisses<br />
durch Vibration. Die eingesetzten Software-Verfahren<br />
erlauben das Errechnen der kompletten Wellenfront. Dies gewährleistet:<br />
• Eine Abbildungsintensität mit dem gleichen Kontrast wie bei<br />
klassischer, optischer Mikroskopie,<br />
• Phasenabbildungen, die quantitative Daten definiert an einem<br />
Teilwellen-Längenbereich aufweisen - für genaue und stabile<br />
Messungen.<br />
Die Phasenabbildung zeigt die Oberflächentopographie<br />
mit einer subnanometrischen, vertikalen Auflösung.<br />
Diese digitale Annäherung an die Holographie<br />
erlaubt die Verwendung von Rechner basierenden<br />
Verfahren, deren Niveau bis heute in der optischen<br />
Mikroskopie nicht erreicht wurde. Im Besonderen<br />
weist das DHM® Prinzip Software-Kompensation<br />
für optische Aberration, digitale Abbildungsfokussierung,<br />
numerische Kompensation für Musterteilneigung<br />
und Umweltstörungen auf. Genannte Merkmale<br />
zeichnen die DHM®-Geräte aus, sie sind robust<br />
und einfach in der Bedienung bei Routineprüfungen<br />
im Nanometer- und Mikrometer-Bereich.<br />
Das DHM® Prinzip wird exklusiv von Trimos für das<br />
Prüfen von Oberflächenstrukturen verwendet. Diese<br />
Technologie hat zahlreiche Vorteile im Vergleich zu<br />
anderen Technologien der Kontakt- sowie der berührungslosen<br />
Messung:<br />
• Werte-Erfassung in wenigen Mikrosekunden<br />
• Unempfindlichkeit gegen Vibration<br />
• Hohe Abbildungsqualität<br />
• Subnanometrische Auflösung<br />
• Keine beweglichen Teile<br />
• Keine speziellen Umweltbedingungen erforderlich<br />
DHM® ist eine nach Norm ISO 25178-6 anerkannte Methode für<br />
das Prüfen von Oberflächenstrukturen.<br />
6
Messköpfe<br />
DHM S1 + S2<br />
DHM®-Technologie<br />
• Für glatte, geschliffene und polierte Oberflächen<br />
• Stahl, Aluminium, Titan, Silizium, Gold, Glas, Keramik<br />
• Hohe Messgenauigkeit und Geschwindigkeit, 2D/3D<br />
DHM<br />
S2<br />
CCM P1<br />
Konfokal-chromatische Technologie:<br />
• Raue Oberflächen, Mikro-Formen<br />
• Metalle, Kunststoffe, Schleifmittel, Papiere, Textilien, Kosmetik<br />
• Großer Vertikalmessbereich, alle Materialien, 2D/3D<br />
DIA P1<br />
Diamant Messtaster:<br />
• Oberflächen- und Rauheitsmessungen (Kontakt)<br />
• Klassische Profilmessungen (2D)<br />
• Innenmessungen<br />
DIA<br />
P1<br />
Messköpfe DHM S1 DHM S2 CCM P1 DIA P1<br />
Bestell-Nr. 7102-5201 7102-5203 7102-5205 7102-5207<br />
Auflösung vertikal (Z) (nm) 1 1 8 2) 10<br />
Auflösung lateral (XY) (µm) 0.6 0.6 0.9 2) 1<br />
Typischer max. Messbereich Ra 1) (µm) 0.4 1.6 > 200 2) 20<br />
Messbereich vertikal 1) (µm) 3 7 130 2) 350<br />
Fehlergrenzen (%) 1 1 1 ÷ 5 2) 5<br />
Wiederholbarkeit (Ra, 1s) (nm) < 0.1 < 0.1 < 5 2) 9<br />
Teile-Reflexionskraft (%) < 1 ÷ 100 < 1 ÷ 100 1 ÷ 100 -<br />
Visionsfeld (mm) 0.25 x 0.25 0.25 x 0.25 - -<br />
1)<br />
Werte können je nach Oberflächenstruktur abweichen, 2) Je nach verwendeter Optik<br />
7
W<br />
Die Software<br />
Ι<br />
λ M<br />
λ<br />
S<br />
P<br />
L<br />
λ 1<br />
O<br />
λ Μ<br />
Die konfokale Mikroskopie (CCM) ist weltweit als präzise und zuverlässige<br />
Oberflächenmessmethode anerkannt. Ein konfokales Objekt<br />
(L) generiert das Bild einer polychromen Punktquelle (W). Man erhält<br />
ein Kontinuum von monochromatischen, beugungsbegrenzten Bildern.<br />
Dieser konfokal chromatische Aufbau besteht in der spektralen<br />
Signalanalyse, die am Objekt (O) reflektiert wird. Zur Filterung des<br />
Lichts, welches von einer Objektebene kommt, wird ein achromatisches<br />
Objekt zusammen mit einem filternden Pinhole (P) verwendet.<br />
Dadurch wird nur die Wellenlänge lM, die auf das Prüfobjekt gerichtet<br />
ist, am Detektor des Spektrometers (S) abgebildet. Somit entspricht<br />
das übertragene Signal einer Intensitätsspitze bei der Wellenlänge<br />
lM, und die Z-Information wird als chromatische Information codiert.<br />
λ Ν<br />
• Hohe Auflösung<br />
• Funktioniert auf allen Materialtypen<br />
• Breites Spektrum an Messbereichen<br />
• Einsetzbar bei großen Neigungen<br />
• Koaxiale Geometrie (kein Schatten)<br />
• Anerkannte Messmethode gemäß ISO 25178<br />
CCM P1 Messkopf<br />
CCM-P1<br />
Aufnahme + Spektrometer<br />
TA-MI-701 ÷ 713<br />
Optische Stiftlampe<br />
1mm<br />
1µm<br />
1nm<br />
8<br />
CCM P1<br />
1µm DIA 1mm P1<br />
1m<br />
CCM P1<br />
CCM P1 DHM S2 DIA P1<br />
DIA P1<br />
DHM S2<br />
CCM Ergänzende P1 Technologien<br />
DIA P1<br />
Es gibt keine Universaltechnologie für Oberflächenmessungen.<br />
Dank der Modularität des <strong>TR</strong> <strong>Scan</strong>s kann der für jede Applikation<br />
beste Messkopf eingesetzt werden.<br />
DHM S2<br />
Auf dem Diagramm links wird der Applikationsbereich der verschiedenen<br />
Messköpfe aufgrund der Materialstruktur dargestellt.
Anzeige / Software<br />
Trimos NanoWare Measure<br />
Software zur Steuerung der Messung und Einstellen der Messparameter.<br />
Die Positionierung in X, Y und Z wird entweder automatisch<br />
durch vordefinierte Parameter oder über einen intuitiven Joystick<br />
mit integriertem Positionierlaser und Kamera (optional) ausgeführt.<br />
Ist die Positionierung ausgeführt werden die Messungen durch<br />
einen Klick automatisch oder über einen manuell eingestellten<br />
Parameter in wenigen Sekunden aktiviert und ausgeführt.<br />
• Intuitive Positionierung<br />
• Sofortiges Messen<br />
• Programmierbare Messungen mit Abbildungen<br />
Trimos NanoWare Analysis<br />
Diese Software ermöglicht die Analyse aller gemessener Oberflächen<br />
nach den aktuellen internationalen Normen wie ISO,<br />
DIN, JIS, ASME, CNOMO usw. behandelt, sowie auch nach der<br />
ISO 25178.<br />
Analysen werden automatisch mittels eines Modells ausgeführt<br />
oder durch direkten Zugriff auf die unbearbeiteten Daten. Die<br />
integrierte Analysen-Software wird durch Mountains®, die<br />
leistungsfähigste, anerkannteste 2D/3D Oberflächenanalyse-<br />
Software auf dem Markt, betrieben.<br />
Berichte werden automatisch während der Analyse erzeugt.<br />
Jeder Bericht kann in der Folge als Modell verwendet werden.<br />
• Leistungsfähige Analysen-Software<br />
• Professionelle Auswertung und Aufzeichnung<br />
• Passende Module für jede Applikation<br />
• Entspricht allen internationalen Normen<br />
9
<strong>TR</strong> <strong>Scan</strong> Pakete (Industrial Segment)<br />
<strong>TR</strong>S201CCM<br />
Lieferumfang<br />
• <strong>TR</strong> <strong>Scan</strong> mit 2 CNC-Achsen (Z/X)<br />
• Messkopf CCM P1 mit optischer Stiftlampe<br />
CL1 oder CL2<br />
• TFT-Bildschirm 19“<br />
• PC Dell mit Windows 7 (64 Bit)<br />
• 2D NanoWare Measurement und Analysis LT<br />
Bestell-Nr. Bezeichnung Anwendung Messkopf Achsen Software<br />
7101-5011 <strong>TR</strong>S201CCM<br />
7101-5014 <strong>TR</strong>S201DHM<br />
2D Kontaktlose<br />
Profilmessungen<br />
3D Erweiterte<br />
Profilmessungen,<br />
Metallische Teile<br />
7101-5017 <strong>TR</strong>S301DHM 3D-Messungen,<br />
Metallische Teile<br />
CCM P1<br />
DHM S2<br />
DHM S2<br />
- 1 Vertikal-Achse Z<br />
- 1 Horizontal-Achse X<br />
- 1 Vertikal-Achse Z<br />
- 1 Horizontal-Achse X<br />
- 1 Vertikal-Achse Z<br />
- 1 Horizontal-Achse X<br />
NanoWare LT<br />
(2D-Analyse)<br />
NanoWare STT<br />
(2D- und 3D-Analyse)<br />
NanoWare STT<br />
(2D- und 3D-Analyse)<br />
Anwendung: Rauheit in 2D (2D-Profil für alle Teile)<br />
10
<strong>TR</strong>S201DHM<br />
DHM Auflösung 1 nm<br />
Lieferumfang<br />
• <strong>TR</strong> <strong>Scan</strong> mit 2 CNC-Achsen (Z/X)<br />
• Messkopf DHMS1 oder DHMS2<br />
• TFT-Bildschirm 19“<br />
• PC Dell mit Windows 7 (64 Bit)<br />
• NanoWare Measurement und Analysis STT<br />
Anwendung: Rauheit in 3D, Mikrotopographie<br />
Visionsfeld 0.25 x 0.25 mm<br />
(nur auf reflektierenden Oberflächen)<br />
<strong>TR</strong>S201DHM<br />
DHM Auflösung 1 nm<br />
Lieferumfang<br />
• <strong>TR</strong> <strong>Scan</strong> mit 3 CNC-Achsen (Z/X/Y)<br />
• Messkopf DHMS1 oder DHMS2<br />
• TFT-Bildschirm 19“<br />
• PC Dell mit Windows 7 (64 Bit)<br />
• NanoWare Measurement und Analysis STT<br />
Anwendung: Rauheit in 3D und Mikrotopographie<br />
(nur auf reflektierenden Oberflächen)<br />
11
<strong>TR</strong> <strong>Scan</strong> Premium Pakete<br />
(Hi-tech Segment)<br />
<strong>TR</strong>SP101DHM<br />
DHM Auflösung 1 nm<br />
Lieferumfang<br />
• <strong>TR</strong> <strong>Scan</strong> Premium mit 1 CNC-Achsen (Z)<br />
• Messkopf DHMS1 oder DHMS2<br />
• TFT-Bildschirm 19“<br />
• PC Dell mit Windows 7 (64 Bit)<br />
• NanoWare Measurement und Analysis STT<br />
Bestell-Nr. Bezeichnung Anwendung Messkopf Achsen Software<br />
7101-5021 <strong>TR</strong>SP101DHM<br />
7101-5025 <strong>TR</strong>SP301DHM<br />
7101-5028 <strong>TR</strong>SP301CCM<br />
3D-Messungen von<br />
kleinen polierten Teilen<br />
3D-Messungen von<br />
metallischen Teilen<br />
Universal<br />
3D-Messungen<br />
DHM S2<br />
DHM S2<br />
CCM P1<br />
- 1 Vertikal-Achse Z<br />
- 1 Vertikal-Achse Z<br />
- 2 Horizontale Achsen X<br />
- 1 Vertikal-Achse Z<br />
- 2 Horizontale Achsen X<br />
NanoWare LT<br />
(2D-Analyse)<br />
NanoWare STT<br />
(2D- und 3D-Analyse)<br />
NanoWare STT<br />
(2D- und 3D-Analyse)<br />
Anwendung: Rauheit in 3D, Mikrotopographie<br />
Visionsfeld 0.25 x 0.25 mm (nur auf reflektierenden Oberflächen)<br />
12
<strong>TR</strong>SP301CCM<br />
Lieferumfang<br />
• <strong>TR</strong> <strong>Scan</strong> Premium mit 3 CNC-Achsen (Z/X/Y)<br />
• Messkopf CCM P1 mit optischer Stiftlampe<br />
CL1 oder CL2<br />
• TFT-Bildschirm 19“<br />
• PC Dell mit Windows 7 (64 Bit)<br />
• 2D NanoWare Measurement und Analysis LT<br />
Anwendung: Rauheit in 3D auf allen Teilen<br />
<strong>TR</strong>SP301DHM<br />
DHM Auflösung 1 nm<br />
Lieferumfang<br />
• <strong>TR</strong> <strong>Scan</strong> Premium mit 3 CNC-Achsen (Z/X/Y)<br />
• Messkopf DHMS1 oder DHMS2<br />
• TFT-Bildschirm 19“<br />
• PC Dell mit Windows 7 (64 Bit)<br />
• NanoWare Measurement und Analysis STT<br />
Anwendung: Rauheit in 3D und Mikrotopographie<br />
(nur auf reflektierenden Oberflächen)<br />
13
Zubehör<br />
Optische Stiftlampen,<br />
mit Faserkabel<br />
und Zertifikat<br />
Bestell-Nr. Bezeichnung <strong>TR</strong> <strong>Scan</strong><br />
7102-5001<br />
7102-5003<br />
7102-5005<br />
7102-5007<br />
7102-5009<br />
7102-5011<br />
<strong>TR</strong> <strong>Scan</strong><br />
Premium<br />
Messbereich= 130 \-Im,<br />
laterale Auflösung=0.9 \-Im<br />
• •<br />
Messbereich= 130 \-Im,<br />
laterale Auflösung=1.4 \-Im<br />
• •<br />
Messbereich=400 \-Im,<br />
laterale Auflösung= 1.2 \-Im<br />
• •<br />
Messbereich=400 \-Im,<br />
laterale Auflösung=1.7 \-Im<br />
• •<br />
Messbereich=400 \-Im,<br />
laterale Auflösung=3.5 \-Im<br />
• •<br />
Messbereich= 1400 \-Im,<br />
laterale Auflösung=2 \-Im<br />
•<br />
7102-5013<br />
7102-5015<br />
7102-5017<br />
7102-5019<br />
7102-5021<br />
7102-5023<br />
7102-5025<br />
Messbereich=1400 \-Im,<br />
laterale Auflösung=4 \-Im<br />
Messbereich=4000 \-Im,<br />
laterale Auflösung=4 \-Im<br />
Messbereich=4000 \-Im,<br />
laterale Auflösung=7 \-Im<br />
Messbereich= 12000 \-Im,<br />
laterale Auflösung=7 \-Im<br />
Messbereich= 12000 \-Im,<br />
laterale Auflösung=12.3 \-Im<br />
Messbereich=24000 \-Im,<br />
laterale Auflösung=8 \-Im<br />
Messbereich=24000 \-Im,<br />
laterale Auflösung=14 \-Im<br />
•<br />
•<br />
•<br />
•<br />
•<br />
•<br />
•<br />
Bestell-Nr. Bezeichnung <strong>TR</strong> <strong>Scan</strong><br />
<strong>TR</strong> <strong>Scan</strong><br />
Premium<br />
22<br />
7102-5027<br />
7102-5029<br />
7102-5031<br />
7102-5033<br />
7102-5035<br />
7102-5037<br />
7102-5039<br />
Achsen - und Schneidentaster,<br />
ohne Gleitkufe<br />
• •<br />
Bohrungstaster, ohne Gleitkufe,<br />
Bohrung > Ø 1.5 mm, Messtiefe < 12 mm<br />
• •<br />
Taster für kleine Bohrungen, ohne Gleitkufe,<br />
Bohrung > Ø 0.8 mm, Messtiefe < 12 mm<br />
• •<br />
Taster für Nuten, H=5 mm, ohne Gleitkufe,<br />
Nutentiefe < 5 mm, Nutenbreite > 1.0 mm<br />
• •<br />
Taster für Nuten, H=10 mm, ohne Gleitkufe,<br />
Nutentiefe < 10 mm, Nutenbreite > 1.0 mm<br />
• •<br />
Taster für Nuten, H=15 mm, ohne Gleitkufe,<br />
Nutentiefe < 15 mm, Nutenbreite > 1.5 mm<br />
• •<br />
Taster für Nuten, H=20 mm, ohne Gleitkufe,<br />
Nutentiefe < 20 mm, Nutenbreite > 1.5 mm<br />
• •<br />
7102-5041 Quertaster nach links, ohne Gleitkufe • •<br />
14<br />
15
Bestell-Nr. Bezeichnung <strong>TR</strong> <strong>Scan</strong><br />
<strong>TR</strong> <strong>Scan</strong><br />
Premium<br />
7102-5201 Messkopf DHM S1 • •<br />
7102-5203 Messkopf DHM S2 • •<br />
7102-5205 Messkopf CCM-P1 • •<br />
7102-5207 Messkopf DIA-P1 • •<br />
7111-5001 Schwenkbares Stativ mit Magnetbasis • •<br />
7111-5004 Präzisionsschraubstock 15 x 15 x 50 mm • •<br />
7111-5007 Präzisionsschraubstock 25 x 25 x 75 mm • •<br />
7111-5010 Präzisionsschraubstock 35 x 35 x 100 mm • •<br />
7111-5013 Aufnahmeplatte zu Schraubstock 7111-5004 • •<br />
7111-5016 Aufnahmeplatte zu Schraubstock 7111-5007 • •<br />
7111-5019 Aufnahmeplatte zu Schraubstock 7111-5010 • •<br />
7111-5022 Spann-Satz, 7111-5004, 7111-5007, 7111-5010 • •<br />
7111-5043 Rauheitsnormal, Ra=3.0 µm • •<br />
7111-5045 Rauheitsnormal, Ra=3.0 µm, mit SCS Zertifikat • •<br />
7111-5047 Rauheitsnormal, Ra=1.0 µm • •<br />
7111-5049 Rauheitsnormal, Ra=1.0 µm, mit SCS Zertifikat • •<br />
Bestell-Nr. Bezeichnung <strong>TR</strong> <strong>Scan</strong><br />
<strong>TR</strong> <strong>Scan</strong><br />
Premium<br />
7102-5051 Rauheitsnormal Ra=25 nm, mit DKD Zertifkat • •<br />
7102-5053 Rauheitsnormal Ra=50 nm, mit DKD Zertifkat • •<br />
7102-5055 Rauheitsnormal Ra=80 nm, mit DKD Zertifkat • •<br />
7102-5057 Rauheitsnormal Ra=0.2 µm, mit DKD Zertifkat • •<br />
7102-5059 Rauheitsnormal Ra=0.5 µm, mit DKD Zertifkat • •<br />
7102-5061 Rauheitsnormal Ra=1.5 µm, mit DKD Zertifkat • •<br />
7102-5063 Satz Rauheitsnormale Ra 25/50/80 nm, mit DKD Z. • •<br />
7102-5065 Satz Rauheitsnormale Ra 0.2/0.5/1.5 µm, mit DKD Z. • •<br />
7102-5067 Konturnormal • •<br />
7102-5069 Konturnormal mit SCS Zertifikat • •<br />
7102-5200 Joystick • •<br />
1102-1414 Laser-Drucker (USB) • •<br />
TA-EL 030 Tintenstrahl-Drucker (USB) • •<br />
TA-EL 001 Netzkabel, 2-polig, Europa • •<br />
TA-EL 002 Netzkabel, 2-polig, USA / Japan • •<br />
TA-EL 003 Netzkabel, 2-polig, Australien • •<br />
TA-EL 004 Netzkabel, 2-polig, UK • •<br />
TA-EL 005 Netzkabel, 2-polig, Korea • •<br />
7102-5231<br />
7102-5233<br />
7102-5235<br />
7102-5237<br />
7102-5239<br />
Modul für Profileanalyse NanoWare LT,<br />
Profilemessungen 2D - Basic<br />
Modul für Profileanalyse NanoWare XT,<br />
Profilemessungen 2D - Advanced<br />
Modul für Profile und Oberflächenanalysen,<br />
NanoWare STT, 3D Rauheitsmessung - Basic<br />
Modul für Profile und Oberflächenanalysen,<br />
NanoWare XTT, 3D Rauheitsmessung - Advanced<br />
Komplettes Modul für Profile + Oberflächen<br />
NanoWare Pro, Rauheit Software<br />
3D-Professional<br />
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Vertriebsprogramm<br />
• Höhenmessgeräte<br />
• Handmessmittel<br />
• Innenmessgeräte<br />
• Messuhren<br />
• Horizontale Längenmessgeräte<br />
• Längenmesssysteme<br />
• Optische Messgeräte<br />
• Werkzeugmess- und Voreinstellgeräte<br />
• Oberflächen Analyse<br />
• Tastersysteme<br />
• Lehren und Endmaße<br />
• PLASTIFORM®<br />
Dienstleistungen rund um die<br />
Messtechnik<br />
• Fachberatung vor Ort<br />
• Reparatur und Wartung<br />
• Vor-Ort Service<br />
• Technische Unterstützung<br />
• Schulung<br />
Kalibrierlabor<br />
• Werkskalibrierung<br />
• DAkkS - Kalibrierung<br />
• Express-Kalibrierung nach Absprache<br />
• Prüfmittelverwaltung<br />
• Beschaffung von Ersatzprüfmitteln<br />
<strong>Studenroth</strong> <strong>Präzisionstechnik</strong> GmbH<br />
Konrad-Zuse-Ring 22<br />
61137 Schöneck-Kilianstädten<br />
Telefon: 06187 - 90 59 3 - 0<br />
Telefax: 06187 - 90 59 3 - 50<br />
www.studenroth.com<br />
info@studenroth.com<br />
Technische Änderungen vorbehalten. Stand 05/2013