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Nasschemisches Ätzen … - MicroChemicals GmbH

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<strong>Nasschemisches</strong> <strong>Ätzen</strong> <strong>…</strong><br />

... chemische und physikalische Mechanismen<br />

Zuletzt aktualisiert am 25. 11. 2005<br />

Dieses Dokument vermittelt physikalisch-chemische Grundlagen zum nasschemischen <strong>Ätzen</strong> von<br />

Halbeitern, Metallen und Gläsern und stellt typische Ätzgemische und ihre Eigenheiten vor.<br />

n <strong>Ätzen</strong> und Lösen<br />

Während der Begriff ‚Lösen’ die Überwindung intermolekularer/-atomarer Wechselwirkung beschreibt, erfolgt<br />

beim <strong>Ätzen</strong> ein Brechen der chemischen Bindungen eines Festkörpers. Unabhängig davon erfolgt bei jedem<br />

nasschemischen Ätzvorgang auch ein Lösen der Ätzprodukte im Ätzmedium, welches zu diesem Zweck spezielle<br />

Additive enthalten kann.<br />

n Etwas Chemie und Physik zu Säuren und Basen<br />

Säuren und Basen: Oxidation und Reduktion<br />

Reines Wasser enthält über die Autoprotolyse H2O + H2O H3O + + OH - bei Raumtemperatur ca. 10 -7 mol<br />

H3O + und OH - pro Liter, was gemäß<br />

+<br />

pH = − log10<br />

[ H 3O<br />

]<br />

einem neutralen pH-Wert von 7 entspricht. Da die Autoprotolyse thermisch aktiviert ist, beträgt der pH-Wert<br />

von 100°C heißem Reinstwasser bereits ca. 6. Die folgende Tabelle gibt einige Beispiele für pH-Werte:<br />

Stoff HCl (20%) Magensaft Haushaltsessig H2O Seifenlauge KOH (1.4%) KOH (50%)<br />

pH-Wert -1 1-3 3 7 8-12 13 14.5<br />

Säuren sind Protonendonatoren und erhöhen in wässrigen Lösungen über die Abgabe (Dissoziation) von<br />

Protonen (Bsp. Salzsäure: HCl + H2O H3O + + Cl - ) die Konzentration der H3O + -Ionen, wodurch der pH-Wert<br />

sinkt. Ein Maß für die Stärke einer Säure ist der Dissoziationsgrad in wässrigen Lösungen, welcher über den<br />

pKs-Wert gemäß<br />

[ ] [ ]<br />

[ ] ⎟ +<br />

−<br />

⎛ H<br />

⎞<br />

3O<br />

⋅ dissoziierte<br />

Säure<br />

pK = − ⎜<br />

S log10<br />

⎝ undissoziierte<br />

Säure ⎠<br />

definiert ist. Sehr starke Säuren wie HClO4, HI, HCL oder H2SO4 sind als wässrige Lösung nahezu vollständig<br />

dissoziiert, den pKs-Wert einiger weniger starken Säuren bei Raumtemperatur zeigt folgende Tabelle:<br />

Starke Säuren <strong>…</strong><strong>…</strong><strong>…</strong> schwache Säuren<br />

Stoff HNO3 H3PO4 HSO4 - HF HNO2 CH3COOH H2CO3<br />

pKS-Wert -1.32 2.13 1.92 3.14 3.35 4.75 6.52<br />

Die starke Tendenz von H3O + , unter Aufnahme eines Elektrons Protonen abzugeben begründet die oxidierende<br />

Wirkung von Säuren.<br />

Basen als Protonenakzeptoren erhöhen in wässrigen Lösungen die Konzentration an OH - -Ionen. Nach dem<br />

Massenwirkungsgesetz bleibt bei gegebener Temperatur das Produkt [H3O + ]·[OH - ] konstant, so dass die H3O + -<br />

Konzentration sinkt, folglich der pH-Wert steigt. Analog zu Säuren lässt sich die Stärke einer Base in wässrigen<br />

Lösungen definieren über folgende Formel (mit einigen Zahlenbeispielen in der darauf folgenden Tabelle):<br />

−<br />

+<br />

[ OH ] [ dissoziierte<br />

Base ]<br />

[ ] ⎟ ⎛ ⋅<br />

⎞<br />

= −log<br />

⎜<br />

.<br />

⎝ undissoziierte<br />

Base ⎠<br />

pK B 10<br />

Starke Basen <strong>…</strong><strong>…</strong><strong>…</strong> schwache Basen<br />

Stoff NaOH KOH S 2- PO4 3- NH3 HS - F -<br />

pKB-Wert 0.2 0.5 1.0 1.67 4.75 7.08 10.86<br />

Die Tendenz der OH - -Ionen, ein Elektron abzugeben begründet die reduzierende Wirkung von Basen.<br />

Chemische Puffer sind Substanzen, welche den pH-Wert einer Lösung trotz der Zugabe oder Entnahme von<br />

H3O + - oder OH - Ionen (z.B. durch deren Verbrauch beim <strong>Ätzen</strong> oder über Verunreinigungen) auf einem vorgegebenen<br />

Wert annähernd konstant halten. Sie erfüllen diese Aufgabe, indem sie H3O + - und OH - -Ionen binden<br />

(bzw. über die Freisetzung derer konjugierten Säure/Base neutralisieren), wenn deren Konzentration steigt,<br />

und sie freisetzen, wenn sie sinkt. Pufferlösungen sind schwache (d.h. unvollständig dissoziierte) Säuren/Basen<br />

und deren konjugierte Basen/Säuren (bzw. Salze).<br />

Komplexbildung<br />

Zur Unterdrückung des den Wiedereinbaus bereits geätzter Teilchen in das zu ätzende Medium kann über entsprechende<br />

Additive in der Ätzlösung die Bildung sog. Komplexe mit den geätzten Teilchen ermöglicht wer-<br />

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den. Ein Komplex ist eine Struktur, bei der ein Zentralatom (meist ein Metallion = das geätzte Element), das<br />

in seiner Elektronenkonfiguration Lücken aufweist, von einem oder mehreren Molekülen oder Ionen (den Liganden)<br />

umgeben ist, die jeweils mindestens ein freies Elektronenpaar für die Bindung zur Verfügung stellen.<br />

Ein Beispiel ist die Bildung von Tetrachloroaurat beim <strong>Ätzen</strong> von Gold in Königswasser.<br />

Lösen, Diffusion und Konvektion<br />

Um eine Anlagerung (u.U. Passivierung) bereits geätzten Materials– als Ion oder Komplex – auf der Oberfläche<br />

des zu ätzenden Stoffes zu verhindern, muss die Ätzlösung eine ausreichende Löslichkeit für das geätzte Medium<br />

aufweisen. Mehr zu diesem Thema findet sich in unserem Infoblatt Lösemittel, erhältlich auf Anfrage.<br />

Um frische Ätzlösung an die Oberfläche des zu ätzenden Mediums gelangen zu lassen, als auch die Wiederanlagerung<br />

des bereits geätzten Materials zu unterdrücken muss dieses so rasch wie möglich von der zu ätzenden<br />

Oberfläche abtransportiert werden. Hierfür stehen zwei Mechanismen zur Verfügung:<br />

Diffusion: Bei Raumtemperatur besitzen Atome thermische Geschwindigkeiten von mehreren 100 m/s. Durch<br />

die in Flüssigkeiten geringe mittlere freie Weglänge resultiert daraus jedoch eine ungerichtete Zitterbewegung,<br />

welche Konzentrationsgradienten nur sehr langsam abbaut.<br />

Konvektion: Entweder durch Gasbildung beim <strong>Ätzen</strong>, Wärmeentwicklung exothermer Ätzreaktionen oder äußeren<br />

Einfluss ist Konvektion eine Voraussetzung dafür, dass der geätzte Stoff rasch auch über makroskopische<br />

Distanzen abtransportiert wird und eine räumlich und zeitlich homogene Ätzrate erzielt wird.<br />

n Metalle und Edelmetalle beim <strong>Ätzen</strong><br />

Energie, Entropie und Enthalpie<br />

Während z.B. beim <strong>Ätzen</strong> von SiO2 weniger die Protonenabgabe der (mit einem pKS-Wert >3 nicht sehr starken)<br />

Flusssäure, als vielmehr die F - -Ionen die Hauptrolle beim <strong>Ätzen</strong> spielen, ist das <strong>Ätzen</strong> von Metallen im<br />

Wesentlichen eine Oxidation des Metalls über vom H3O + abgegebene Protonen, welche dabei gemäß:<br />

Metall + H + Metall + + H<br />

zu H reduziert werden. Würde man nur energetische Aspekte des <strong>Ätzen</strong>s beachten, könnten nur Metalle geätzt<br />

werden, bei denen obige Reaktion exotherm (Änderung der inneren Energie ΔU < 0) abläuft, d.h. Metalle mit<br />

einem Normalpotential E 0 größer als das des Wasserstoffs (welches willkürlich auf Null festgelegt wurde). Zu<br />

diesen Metallen zählen alle unedlen Metalle.<br />

Dass auch Edelmetalle mit einem E 0 >0 (Beispiel: das leicht ätzbare Kupfer mit E 0 = +0.34) geätzt werden<br />

können liegt daran, dass – wie jede andere Reaktion auch - eine Ätzreaktion stattfindet, wenn die Änderung<br />

der freien Enthalpie ΔF=ΔU-T·ΔS negativ ist, d.h. das Produkt aus Temperatur T und Entropieänderung ΔS<br />

positiver als die Änderung der inneren Energie. Ein positives ΔS ist z.B. durch die Zunahme der Zahl der<br />

Translations- und räumlichen Freiheitsgrade durch den Übergang vom Festkörper in die Lösung oder der gelösten<br />

Stoffe in die Gasphase (H2-Bildung) gegeben.<br />

Elektronenschalen und Normalpotential<br />

Sowohl die sehr reaktiven Alkalimetalle (Li, K, Na<strong>…</strong>) als auch viele der inerten Edelmetalle (Au, Ag, Pt<strong>…</strong>) besitzen<br />

ein s-Orbital mit einem ungepaartes Elektron. Während dieses bei Alkalimetallen sehr leicht an Reaktionspartner<br />

abgegeben werden kann ( Oxidation), ist es bei Edelmetallen vergleichsweise stark gebunden (positives<br />

Normalpotential).<br />

Dies liegt u.a. daran, dass ein Edelmetallatom neben einem (im Falle von Au, Ag, Pt<strong>…</strong>) unvollständig gefüllten<br />

s-Orbital der Hauptquantenzahl n (‚Schale’) ein vollständig gefülltes d-Orbital der Hauptquantenzahl n-1<br />

besitzt (Beispiel Elektronenkonfiguration Gold: [Xe]4f 14 5d 10 6s 1 ). Dieses d-Orbital ragt teilweise über das s-<br />

Orbital hinaus und schirmt es räumlich gegen mögliche Reaktionspartner ab. Hinzu kommt, dass der Atomkern<br />

aus Sicht des ungepaarten s-Elektrons elektrostatisch nur durch den weiter innen liegenden Anteil des d-<br />

Orbitals abgeschirmt ist und das s-Elektron somit stärker an den Kern gebunden wird.<br />

Manche Edelmetalle besitzen keine ungepaarten Elektronen in ihrer Hülle. Das äußerste s-Orbital ist entweder<br />

leer (wie bei z.B. Palladium) oder vollständig mit einem Elektronenpaar gefüllt (z.B. bei Iridium), was die chemische<br />

Stabilität weiter erhöht. So löst sich Iridium erst in 100°C heißem Königswasser.<br />

n <strong>Ätzen</strong> von Aluminium<br />

Typische Al-<strong>Ätzen</strong> bestehen aus 1-5% HNO3* (Oxidation des Al), 65-<br />

75% H3PO4* (lösen des Al-Oxids), 5-10% Essigsäure* (zur Benetzung)<br />

und H2O zum Einstellen der Ätzrate bei gegebener Temperatur.<br />

Das <strong>Ätzen</strong> von Al ist stark exotherm. Ein (unvermeidliches, da isotroper<br />

Ätzvorgang) Unterätzen der Lackmaske führt ohne ausreichende mechanische<br />

Umwälzung der Ätze über lokale Erwärmung (Abb. rechts) der Ätze<br />

an diesen Stellen zu einem selbstverstärkten Unterätzen.<br />

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Starke H2-Bildung (Bläschen) verringert die Homogenität des Ätzvorgangs.<br />

Der eigentliche Al-Ätzvorgang startet erst, wenn durch das H3PO4<br />

die auf Al-Oberflächen grundsätzlich vorhandenen, wenigen nm Aluminiumoxid<br />

aufgelöst wurden. Aus diesem Grund wirkt sich auch die Fotolackprozessierung<br />

auf einen nachfolgenden Al-Ätzschritt aus: Alkalische<br />

Entwicklerlösungen greifen die Al-Oxidschicht verstärkt dort an,<br />

wo der Lack am ehesten durchentwickelt ist (z.B. an dünneren Lackstellen,<br />

an den Rändern entwickelter Strukturen oder an entwickelten Strukturen<br />

zunehmender Größe). Je nach Grad der Überentwicklung und der<br />

Wartezeit zwischen Entwicklung und Al-<strong>Ätzen</strong> kann dies dann zu einem<br />

räumlich inhomogenen Al-Ätzstart und damit zu unterschiedlich tief geätztem<br />

Al führen.<br />

HNO3* = 70% HNO3 in H2O H3PO4* = 85% H3PO4 in H2O CH3COOH* = 99% CH3COOH in H2O<br />

n <strong>Ätzen</strong> von Chrom<br />

n <strong>Ätzen</strong> von Gold<br />

Chromätzen sind meist Lösungen aus Perchlorsäure<br />

(HClO4, Schema des undissoziierten Moleküls rechts) und<br />

Ammoniumcernitrat (NH4)2[Ce(NO3)6].<br />

Perchlorsäure ist als äußerst starke Säure in wässriger<br />

Lösung vollständig dissoziiert (pKs-Wert < -8), Ammoniumcernitrat<br />

wie auch HClO4 ein sehr starkes Oxidationsmittel.<br />

Goldätzen sind üblicherweise Gemische aus Salpetersäure und Salzsäure<br />

(im Mischungsverhältnis 1:3 auch Königswasser genannt).<br />

Die starke oxidative Wirkung dieses Gemisches beruht auf der Bildung<br />

von Nitrosylchlorid (NOCl) im Gemisch über<br />

HNO3 + 3HCl NOCl + 2Cl + 2H2O,<br />

während ebenfalls gebildete freie Chloratome das gelöste Gold als Chloro-Komplex<br />

(Tetrachloroaurat) in der Lösung halten, damit den Wiedereinbau<br />

in das Gitter verhindern und so den Ätzvorgang mit einer Rate<br />

von einigen 10 μm/Minute selbst erst ermöglichen.<br />

Eine Alternative zu Königswasser für das <strong>Ätzen</strong> von Gold bildet eine wässrige KI/I2 Lösung, welche im Verhältnis<br />

KI:I2:H2O = 4:1:40 ca 1 μm/Minute ätzt.<br />

n <strong>Ätzen</strong> von Silber<br />

Silber kristallisiert wie Gold kubisch flächenzentriert. Die entsprechenden<br />

Ätzlösungen benötigen eine Komponente welche das Silber oxidiert,<br />

und eine weitere Komponente zum <strong>Ätzen</strong>/Lösen des Silberoxids:<br />

Neben der im Abschnitt ‚<strong>Ätzen</strong> von Gold’ beschriebenen KI/I2/H2O Ätzlösung<br />

wird Silber auch von NH4OH:H2O2:Methanol = 1:1:4 (wobei mit<br />

NH4OH und H2O2 jeweils deren 30%ige Lösungen gemeint ist) geätzt.<br />

Das giftige Methanol ist keine zwingende Voraussetzung und kann weggelassen<br />

bzw. durch H2O ersetzt werden.<br />

Ein weiteres Ätzgemisch für Silber ist eine wässrige HNO3:HCl:H2O = 1:1:1 Lösung (HNO3= 70% HNO3 in H2O,<br />

HCl = 37% HCl in H2O).<br />

n <strong>Ätzen</strong> von Titan<br />

20 24 28 32 36 40<br />

Ätzemperatur (°C)<br />

Titan, welches in der Mikrostrukturierung u.a. als Haftvermittler für darüber<br />

aufgewachsene Metallschichten Verwendung findet, kristallisiert in<br />

der hexagonal dichtesten Kugelpackung und bildet an Luft eine äußerst<br />

stabile Oxidschicht. Diese wird nur durch z.B. HF angegriffen wird, welches<br />

deshalb ein Bestandteil typischer Titanätzen darstellt. Zur Oxidation<br />

der darunter liegenden Schichten eignet sich als zweiter Bestandteil<br />

H2O2.<br />

In einem Mischungsverhältnis HF (50%ig) : H2O2 (30%ig) : H2O =<br />

1:1:20 lässt sich Titan bei Raumtemperatur mit etwa 1 μm/Minute ätzen.<br />

Positivlacke Negativlacke Umkehrlacke Entwickler<br />

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Ätzrate(10 3 Å/min)<br />

3.5<br />

3.0<br />

2.5<br />

2.0<br />

1.5<br />

1.0<br />

0.5<br />

74 ml H 3 PO 4 *<br />

2.5 ml HNO 3 *<br />

23.5 ml H 2 O


n Anisotropes <strong>Ätzen</strong> von Silicium<br />

[100]<br />

{100}<br />

[001]<br />

[111]<br />

[110]<br />

[010]<br />

[100] <strong>Ätzen</strong><br />

[110]<br />

{111}<br />

{111}<br />

{110}<br />

Stark alkalische Medien (pH>12) wie<br />

wässrige KOH- oder TMAH-Lösungen ätzen<br />

kristallines Silicium über die Summenformel<br />

Si + 4OH - Si(OH)4 + 4e -<br />

Da die Si-Atome der verschiedenen Kristallebenen<br />

für die Ätzreaktion unterschiedliche<br />

Aktivierungsenergien aufweisen,<br />

und KOH <strong>Ätzen</strong> von Si nicht diffusions-<br />

sondern Ätzraten-limitiert ist,<br />

erfolgt der Ätzvorgang anisotrop: Während<br />

die {100}- und {110}-Ebenen geätzt<br />

werden, bilden die stabilen {111}-<br />

Ebenen einen Ätzstop:<br />

§ (111)-orientierte Si-Wafer werden<br />

kaum angegriffen.<br />

§ (100)-Wafer bilden Pyramiden mit<br />

quadratischer Grundfläche und {111}-<br />

Ebenen als Mantelflächen, welche z.B.<br />

auf kristallinen Si-Solarzellen zur Verringerung<br />

der Lichtreflexion realisiert<br />

werden.<br />

§ (110)-Wafer bilden rechtwinklige<br />

Gräben mit {111}-Ebenen als Flanken,<br />

wie sie in der Mikromechanik und<br />

Mikrofluidik Verwendung finden.<br />

Die Anisotropie, die absoluten Ätzraten<br />

und die Homogenität des <strong>Ätzen</strong>s hängen<br />

neben der Ätztemperatur u.a. von Defekten<br />

im Silicium als auch Verunreinigungen<br />

der Ätze durch Metallionen als<br />

auch den bereits geätzten und gelösten<br />

Si-Ionen ab. Auch die Dotierung des Si<br />

spielt eine große Rolle: Bor-dotiertes Si<br />

bildet beim <strong>Ätzen</strong> Borsilikat-Glas, welches<br />

ab hohen Bordotierungen (10 19 cm -<br />

3 ) als Ätzstopp wirkt.<br />

Die folgende Tabelle zeigt Ätzraten, Ätzselektivitäten bzgl. verschiedener Kristallebenen und die Ätzrate üblicher<br />

Hartmasken (Si3N4 und SiO2) für unterschiedliche Ätzmedien:<br />

Ätzmedium<br />

KOH<br />

(44%, 85°C)<br />

TMAH<br />

(25%, 80°C)<br />

EDP<br />

(115°C)<br />

Ätzratenverhältnis Ätzrate (absolut)<br />

(100)/(111) (110)/(111) (100) Si3N4 SiO2<br />

300 600 1.4 μm/min


n Isotropes <strong>Ätzen</strong> von Silicium und SiO2 mit HF/HNO3<br />

Ätzmechanismus, Ätzraten und Selektivität<br />

Der grundlegende chemische Ätzmechanismus beim isotropen <strong>Ätzen</strong> von Si (Schritte 1-4) und SiO2 (nur<br />

Schritt 4) mit HF/HNO3-Gemischen gestaltet sich wie folgt:<br />

(1) Bildung von NO2 (HNO2 stets in Spuren in HNO3): HNO2 + HNO3 2NO2 + H2O<br />

(2) Oxidation von Silizium durch NO2: 2NO2 + Si Si 2+ + 2NO2 -<br />

(3) Bildung von SiO2: Si 2+ + 2(OH) - SiO2 + H2<br />

(4) <strong>Ätzen</strong> von SiO2: SiO2 + 6HF H2SiF6 + 2H2O<br />

Demnach dient HNO3 zur Oxidierung des Si zu SiO2,<br />

und HF zu dessen <strong>Ätzen</strong>.<br />

Wie das Ätzdreieck (rechts) zeigt, fördern hohe<br />

HF:HNO3-Verhältnisse über den Oxidationsschritt<br />

(1)-(3) das Raten-limitierte <strong>Ätzen</strong> von Si mit stark<br />

temperaturabhängiger Ätzrate.<br />

Geringe HF:HNO3-Verhältnisse fördern diffusionslimitiertes<br />

<strong>Ätzen</strong> geringerer Temperaturabhängigkeit<br />

über Schritt (4). HNO3-freie HF-<strong>Ätzen</strong> greifen Silizium<br />

nicht an.<br />

Die Ätzrate von SiO2 ist durch die HF-Konzentration<br />

bestimmt, da hier die Oxidation (1)-(3) keine Rolle<br />

spielt. Verglichen mit thermischem Oxid zeigt abgeschiedenes<br />

(z.B. CVD) SiO2 aufgrund seiner Porosität<br />

eine höhere Ätzrate; ‚nasses Oxid’ aus gleichem Grund<br />

eine etwas höhere Ätzrate als ‚trockenes Oxid’.<br />

Eine genaue Kontrolle der Ätzrate erfordert Temperaturgenauigkeiten<br />

von ± 0.5°C.<br />

Si Ätzrate<br />

[HF] Temperaturabhängigkeit<br />

der Ätzrate<br />

nimmt zu<br />

[H2O]+ [CH3COOH] [HNO3]<br />

Selektivität<br />

zu SiO2<br />

nimmt<br />

zu<br />

Die Verwendung von Essigsäure als Verdünner verbessert<br />

die Benetzung der hydrophoben Si-Oberfläche und erhöht so die Ätzrate bei verbesserter Homogenität.<br />

Dotiertes (n- und p-Typ) Si sowie Phosphor-dotiertes SiO2 ätzen schneller als undotiertes Si oder SiO2.<br />

Gepufferte Flusssäure<br />

<strong>Ätzen</strong> von Si- und SiO2 verbraucht über die Reaktion SiO2 + 4HF → SiF4 + 2H2O F - -Ionen. Mit Ammoniumfluorid<br />

gepufferte HF (BHF = NH4F + H2O + HF) bewirkt:<br />

§ Die Aufrechterhaltung der Konzentration freier F — -Ionen über NH4F → HF + NH3, für eine konstante und<br />

kontrollierbare Ätzrate sowie homogenes <strong>Ätzen</strong><br />

§ Eine Erhöhung der Ätzrate (Faktor ≈ 1.5-5.0) über hochreaktive HF2 - -Ionen<br />

§ Ein Anstieg im pH-Wert (→ verringerte Neigung zu Unterätzen u. Lackablösung)<br />

! Trotz der höheren Reaktivität hat stark gepufferte Flusssäure einen pH-Wert von bis zu 7 und kann über<br />

chemische Indikatoren u.U. nicht nachgewiesen werden !<br />

n <strong>Ätzen</strong> von Gläsern<br />

Gläser unterschiedlicher Zusammensetzung zeigen eine starke Abhängigkeit ihrer Ätzrate von Zusätzen in<br />

verwendeten HF-haltigen <strong>Ätzen</strong>. Solche Additive (z.B. HCl, HNO3) lösen beim Glasätzen gebildete, in reinem<br />

HF inerte (d.h. in HF als Ätzstopp wirksame) Oberflächenschichten und erlauben so eine homogen hohe Ätzrate<br />

ohne die (für die Lackschicht kritische) Notwendigkeit, die HF-Konzentration zu erhöhen:<br />

Ätzgemisch Ätzrate / Bemerkungen<br />

Borosilikat Glas<br />

HF*: HNO3*: H2O = 1:100:100<br />

HF*: HNO3*: H2O = 4.4:100:100<br />

300 Å/min (9 mol% B2O3), 50 Å/min (SiO2)<br />

750 Å/min(9 mol% B2O3), 135 Å/min (SiO2)<br />

Phosphorsilikat 28ml HF* + 113g NH4F + 170ml H2O 5500 Å/min für 8 mol% P2O5<br />

Glas HF*: HNO3*: H2O = 15:10:300 34000 Å/min (16 mol% P2O5), 110 Å/min (SiO2)<br />

Bleiglas<br />

HF*: HCl*: H2O = 18:46:75<br />

HF*: HCl*: CH3COOH* = 25:46:75<br />

ca. 70000 Å/min<br />

ca. 70000 Å/min<br />

HCl*=<br />

HNO3*=<br />

HF*=<br />

CH3COOH*=<br />

37% HCl in H2O<br />

70% HNO3 in H2O<br />

49% HF in H2O<br />

99% CH3COOH in H2O<br />

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n Lackablösung (v.a. kleiner/schmaler Strukturen) bei nasschemischen Ätzprozessen<br />

Lösen sich bei nasschemischen Ätzprozessen zunächst (oder ausschließlich) kleine/schmale Lackstrukturen ab,<br />

deutet dies auf ein Unterätzen – beginnend von den frei entwickelten Bereichen – hin. Evtl. unterstützt von<br />

höheren Temperaturen oder/und Gasbildung, heben sich Lackstrukturen durch<br />

die Verringerung ihrer Kontaktfläche zum Substrat von diesem ab.<br />

Fotolack HF-Ätze<br />

Substrat<br />

Bei isotropen <strong>Ätzen</strong> lässt sich das Ausmaß des Unterätzens nicht beliebig verringern,<br />

jedoch die (verbliebene) Haftung der Lackstrukturen über die in diesem<br />

Dokument beschriebenen Hinweise.<br />

n (großflächige) Lackablösung bei nasschemischen (Ätz-)Prozessen<br />

Nasschemische (Ätz-)medien (v.a. HF) diffundieren in den Lack und können – entweder während des Prozesses<br />

oder beim anschließenden Spülvorgang – über zwei Mechanismen zur großflächigen Lackablösung führen:<br />

HF-Ätze<br />

F<br />

§ Durch das Eindiffundieren des Mediums<br />

quellen die Lackstrukturen auf<br />

Fotolack<br />

§ Gelangt das Medium bis zum Substrat und<br />

greift – wie im Falle HF auf SiO2 oder Glas –<br />

Substrat<br />

dieses großflächig unter der Lackschicht an,<br />

hebt sich die Lackschicht ab (Schema links).<br />

Beide Mechanismen lassen sich - neben einer<br />

mildern.<br />

angepassten (Ätz-)lösung - über eine größere<br />

Lackschichtdicke (Schema rechts) deutlich<br />

- Ionen<br />

Fotolack<br />

Substrat<br />

Zu dünne Fotolackschicht<br />

HF-Ätze<br />

F - Ionen<br />

Ausreichend dicker Fotolack<br />

Beidseitig metallisierte Substrate (z.B. Ag & Al) bilden in wässrigen Lösungen ein Galvanisches Element.<br />

Auf der einen Seite kann sich H2 bilden, welcher eine darüber liegende Lackschicht abhebt. In diesem Fall hilft<br />

eine geschlossene Schutzlackschicht auf der jeweils anderen Seite des Substrats.<br />

n <strong>Ätzen</strong> von Metallen (Übersicht)<br />

Ätzgemisch Ätzrate / Bemerkungen<br />

HCl*: Glyzerin = 1:1 800 Å/min nach Depassivierung<br />

Cr HCl*: CeSO4 (gesättigt) = 1:9 800 Å/min, nach Depassivierung<br />

Ce(NH4)2(NO3)6 + CH3COOH in 1L H2O 1000 Å/min (zuerst CH3COOH in 1L H2O lösen!)<br />

H3PO4*: HNO3*: CH3COOH* : H2O = 5:2:4:150 5000 Å/min<br />

Mo 11g K3Fe(CN)6 + 10g KOH in 150ml H2O<br />

HCl*: H2O2*: H2O = 1:1:1<br />

10000 Å/min<br />

W 34g KH2PO4*+ 13.4g KOH + 33g K3Fe(CN)6 in 1L H2O 1600 Å/min<br />

NH4OH*: H2O2* : CH3OH = 1:1:4<br />

Ag HCl*: H2O2*: H2O = 1:1:1<br />

KI : I2 : H2O = 4:1:40<br />

3600 Å/min, sofortiges Spülen mit H2O nach d. <strong>Ätzen</strong><br />

HCl*: HNO3 *= 3:1<br />

Au<br />

KI : I2 : H2O = 4:1:40<br />

‚Königswasser’, 25-50 μm/min<br />

0.5-1 μm/min<br />

HCl*: HNO3* = 3:1<br />

Pt<br />

HCl*: HNO3*: H2O = 7:1:8<br />

‚Königswasser’, 20 μm/min<br />

400-500 Å/min bei 85°C<br />

HCl*: HNO3*: CH3COOH* = 1:10:10 1000 Å/min<br />

Pd HCl*: HNO3* = 3:1 ‚Königswasser’<br />

KI : I2 : H2O = 4:1:40 1 μm/min<br />

150g Na2S2O8 in 1L H2O<br />

Cu<br />

1 μm/min bei 45°C, selektiv gegenüber Ni, falls Ätze Fe-frei<br />

H3PO4*:HNO3*:CH3COOH*:H2O = 3:3:1:1<br />

Ni<br />

H2O2*: HF*: H2O = 1:1:20<br />

65 nm/min bei 20°C, Kontakt mit Luft (O2) alle 15 Sekunden<br />

Ti H2O2*: HF*: H2O = 1:1:20 8800 Å/min bei 20°C<br />

Sb H3PO4*: HNO3*: CH3COOH*: H2O = 3:3:1:1 Kontakt mit Luft (O2) alle 15 Sekunden<br />

HCl* = 37% HCl in H2O HNO3* = 70% HNO3 in H2O H2SO4* = 98% H2SO4 in H2O<br />

HF* = 49% HF in H2O HClO4* = 70% HClO4 in H2O H3PO4* = 85% H3PO4 in H2O<br />

NH4OH* = 29% NH3 in H2O H2O2* = 30% H2O2 in H2O CH3COOH* = 99% CH3COOH in H2O<br />

Positivlacke Negativlacke Umkehrlacke Entwickler<br />

Verdünner Lösemittel Ätzchemikalien Prozesschemikalien<br />

<strong>MicroChemicals</strong> <strong>GmbH</strong> www.microchemicals.com tech@microchemicals.com S. 6


n <strong>Ätzen</strong> von III/V-Halbleitern (Übersicht)<br />

Material<br />

Ätze<br />

HCl* : H3PO4* : H2O<br />

H3PO4* : H2O2* : H2O<br />

H2SO4* : H2O2* : H2O<br />

C6H8O7 : H2O2*: H2O<br />

HCL* : HNO3* : H2O<br />

HNO3* : H2SO4* :H2O<br />

HCL* : *H2O2 : H2O<br />

HCL* : H2O<br />

BHF : H2O<br />

GaAs InP InGaAs InGaAsP GaInP GaAsP AlGaP AlGaAs AlInP InAlAs InGaAlAs<br />

ätzt abhängig von Zusammensetzung materialselektiv (Ätzstopp)<br />

HCl* = 37% HCl in H2O HNO3* = 70% HNO3 in H2O H2SO4* = 98% H2SO4 in H2O<br />

HF* = 49% HF in H2O HClO4* = 70% HClO4 in H2O H3PO4* = 85% H3PO4 in H2O<br />

NH4OH* = 29% NH3 in H2O H2O2* = 30% H2O2 in H2O CH3COOH* = 99% CH3COOH in H2O<br />

n Stabilität von Ätzmedien gegenüber Fotolackmasken<br />

Die folgenden Angaben beziehen sich auf Novolak basierte nicht-quervernetzende Positiv- und Umkehrlacke,<br />

sowie quervernetzende Negativlacke der AZ ® nLOF 2000 Serie.<br />

§ Nahezu alle organischen Lösemittel lösen Positiv- und Umkehrlacke in kurzer Zeit auf. Lediglich bei ausreichend<br />

hohen Temperaturen (>150°C) quervernetzte Negativlacke der AZ ® nLOF 2000 Serie sind genenüber<br />

organischen Lösemitteln in Grenzen stabil.<br />

§ HCl ist ein gegenüber Fotolacken sehr unkritisches Ätzmedium<br />

§ HF ist v.a. wegen seiner Permeabilität in/durch Fotolackschichten problematisch, lässt sich jedoch bei ausreichend<br />

dicken Fotolackschichten für viele Ätzprozesse problemlos einsetzen.<br />

§ Stark oxidierende Säuren wie HNO3 oder H2SO4, wie auch H2O2 greifen Fotolack stark an. Dennoch ist die<br />

Stabilität der Lackschicht bei richtiger Prozessierung (Haftung, Softbake) ausreichend für viele Ätzprozesse.<br />

n Vorsichtsmassnahmen im Umgang mit ausgewählten Ätzmedien<br />

HCl/H2O2/H2O Gemische reagieren beim/nach dem Durchmischen stark exotherm und können bei unzureichender<br />

Verdünnung mit H2O zur explosiven Zersetzung des H2O2 führen.<br />

H2SO4 reagiert stark exotherm mit H2O und sollte stets zum Verdünner (H2O, schwächere Säuren) gegeben<br />

werden, nie umgekehrt.<br />

HF verursacht bei Hautkontakt nicht ‚nur’ äußerst schmerzhafte und schwer heilende Verätzungen, sondern<br />

kann durch seine hohe Toxizität bei entsprechend hoher Konzentration bereits ab ca. Handtellergroßen Verätzungen<br />

zum Tod führen.<br />

n Gewährleistungsausschluss<br />

Alle in diesem Informationsblatt enthaltenen Zahlen und Beschreibungen sind nach bestem Wissen und Gewissen<br />

zusammengestellt. Dennoch können wir keine Garantie für die Korrektheit dieser Angaben übernehmen.<br />

Insbesondere bezüglich der Rezepturen für chemische (Ätz-)Prozesse übernehmen wir keine Gewährleistung<br />

für die korrekte Angabe der Bestandteile, der Mischverhältnisse, der Herstellung der Ansätze und deren Anwendung.<br />

Die sichere Reihenfolge des Mischens von Bestandteilen einer Rezeptur entspricht üblicherweise<br />

nicht der Reihenfolge ihrer Auflistung in Tabellen etc. Normalerweise werden Säuren in den Verdünner (z.B.<br />

Wasser) gegeben, stärkere Säuren in schwächere, und oxidierende Medien zuletzt zugegeben.<br />

Wir garantieren nicht für die Richtigkeit oder Vollständigkeit von Hinweisen auf (u.a. gesundheitliche, arbeitssicherheitstechnische)<br />

Gefahren, die sich bei der Anwendung der in diesem Informationsblatt beschriebenen<br />

Chemikalien ergeben (können).<br />

Grundsätzlich ist jeder Mitarbeiter dazu angehalten, sich im Zweifelsfall in geeigneter Fachlektüre über die beschriebenen<br />

Chemikalien und ihre Auswirkungen vorab ausreichend zu informieren, um Schäden an Personen<br />

und Material auszuschließen.<br />

Positivlacke Negativlacke Umkehrlacke Entwickler<br />

Verdünner Lösemittel Ätzchemikalien Prozesschemikalien<br />

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