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Vorlesungsfolien Nr. 1 (pdf-Format) - Christian-Albrechts-Universität ...

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Grundlagen der<br />

Einkristallstrukturanalyse<br />

und der Pulverbeugung<br />

mit Röntgen- und Neutronenstrahlung<br />

©<br />

C. Näther<br />

CAU Kiel<br />

<strong>Christian</strong> Näther<br />

Institut für Anorganische Chemie,<br />

<strong>Christian</strong>-<strong>Albrechts</strong>-Universität zu Kiel


1<br />

Arbeitsweise eines Festkörperchemikers<br />

©<br />

C. Näther<br />

CAU Kiel<br />

H 2 + O 2 H 2 O 2 <br />

Festkörper-<br />

Chemiker


2<br />

Über die Bedeutung moderner Methoden in der Chemie ©<br />

C. Näther<br />

CAU Kiel<br />

Katalyse<br />

Strukturelle Materialien<br />

Funktionelle<br />

Materialien<br />

Oberflächen und Oberflächentechnologien<br />

Intelligente Materialien


3<br />

Problemorientierte Auswahl von Methoden ©<br />

C. Näther<br />

CAU Kiel<br />

Welche Fragen bei der Auswahl einer Methode sind von Bedeutung<br />

Was soll untersucht werden<br />

Elementanalytik (Qualitativ/Quantitativ) - Physikalische Eigenschaften -<br />

Chemische Eigenschaften - Strukturelle Informationen - Dynamik<br />

Aggregatzustand der Proben<br />

Fest - Flüssig - Gasförmig<br />

Zustand der Proben<br />

Amorph - Einkristallin - Polykristallin<br />

Eigenschaften der Proben<br />

Paramagnetisch - Diamagnetisch - Elektrisch leitend<br />

Über welchen Teilbereich der Probe werden Informationen benötigt<br />

Oberfläche - Volumen<br />

Wie genau soll die Information sein<br />

Zusammensetzung (Qualitativ/Quantitativ) - Konstitution - Konformation - Genaue<br />

Bindungsparameter


4<br />

Notwendiges Wissen über Methoden ©<br />

C. Näther<br />

CAU Kiel<br />

Welche Methoden existieren <br />

Welche Informationen liefern diese Methoden <br />

Über welchen Bereich wird diese Information erhalten <br />

Wie genau / präzise ist diese Information <br />

Welche Anforderungen wird an die Probe gestellt <br />

Welches sind die Grenzen und Möglichkeiten einer Methode <br />

Welche Fehler und Fallen beinhaltet eine bestimmte Methode <br />

Welches sind die wichtigste theoretische Grundlagen einer Methode


5<br />

Zum Aussagewert moderner Verfahren<br />

©<br />

C. Näther<br />

CAU Kiel<br />

Das Meßergebnis eines einzelnen Verfahrens hat ohne zusätzliche Kenntnisse über<br />

die Probe, deren Reaktionen oder deren Reaktionsprodukten meist einen nur<br />

geringen Aussagewert.<br />

Edukt<br />

Modifikation I<br />

- ∆m<br />

Produkt 2<br />

Edukt<br />

Modifikation II Produkt 1<br />

TG-Kurve<br />

DTA-Kurve<br />

Polymorphe<br />

exo<br />

Phasenumwandlung<br />

Thermomikroskopie<br />

Zersetzung<br />

Pulverdiffraktometrie<br />

Massenspektrometrie<br />

Schmelzen<br />

Temperatur


6<br />

Übersicht über ausgewählte Methoden ©<br />

C. Näther<br />

CAU Kiel<br />

Beugungsmethoden<br />

Einkristallstrukturanalyse<br />

Pulverbeugung<br />

Neutronenbeugung<br />

Kleinwinkelstreuung<br />

Abbildende Methoden Methoden<br />

Lichtmikroskopie<br />

Elektronenmikroskopie<br />

Tunnelmikroskopie<br />

Kraftmikroskopie<br />

IR-Mikroskopie<br />

Magnetische Verfahren Verfahren<br />

Faraday-Waage<br />

Gouy-Waage<br />

Squid Squid<br />

AC-Suszeptometer<br />

Spektroskopie<br />

IR-Spektroskopie<br />

UV-Vis-Spektroskopie<br />

Raman-Spektroskopie<br />

Mößbauerspektroskopie<br />

NMR-Spektroskopie<br />

ESR-Spektroskopie<br />

Chemische<br />

Forschung<br />

Materialentwicklung<br />

Materialprüfung<br />

Thermische Methoden Methoden<br />

Dynamische Differenz- Differenz-<br />

Kalorimetrie<br />

Differenz-Thermoanalyse<br />

Thermogravimetrie<br />

Dilatometrie<br />

Thermomikroskopie<br />

Elektronen und und<br />

Röntgenspektroskopie<br />

ESCA, ESCA, XPS, XPS, UPS, UPS,<br />

AES, AES, EELS EELS<br />

Weitere Weitere Verfahren Verfahren<br />

Massenspektrometrie<br />

Atomspektroskopie<br />

Neutronenbeugung<br />

Elektrische Verfahren Verfahren<br />

Widerstandsmessung<br />

Hall-Effekt Hall-Effekt


7<br />

Warum Einkristallstrukturanalyse ©<br />

C. Näther<br />

CAU Kiel<br />

• Die Einkristallstrukturanalyse ist eine der genauesten Methoden zur Bestimmung der<br />

Struktur größerer Moleküle bis hin zu Biopolymeren, Proteinen oder Nucleinsäuren.<br />

• Diese Methode liefert eine Fülle von zusätzlichen Informationen über Kristalle.<br />

• Nahezu jede Veröffentlichung einer neuen Verbindung enthält auch die Daten zu<br />

deren Einkristallstruktur.<br />

• Fast jeder kommt im Verlauf seines Studiums, der Diplom- oder Doktorarbeit mit einer<br />

Einkristallstruktur mal in Berührung.<br />

• Auf Grund der enormen Bedeutung der Einkristallstrukturanalyse in der Forschung,<br />

sollte diese daher unbedingt Bestandteil einer modernen Chemieausbildung sein.<br />

• Die Kenntnis der Struktur einer Verbindung ist für ein tieferes Verständnis deren<br />

chemischer und physikalischer Eigenschaften unabdingbar.


8<br />

Struktur-Eigenschafts-Beziehungen in festen Stoffen ©<br />

C. Näther<br />

CAU Kiel<br />

Kristallstruktur<br />

Reaktivität<br />

Physikalische<br />

Eigenschaften<br />

Mechanische Eigenschaften:<br />

• Härte, Spaltbarkeit<br />

Optische Eigenschaften:<br />

• Polarisation<br />

• Brechung / Doppelbrechung<br />

• Dispersion<br />

• Optische Aktivität<br />

• Nichtlineare optische Eigenschaften<br />

• (NLO: SHG)<br />

Elektrische Eigenschaften<br />

• Piezo- und Pyroelektrizität<br />

• Elektrische Leitfähigkeit<br />

Magnetische Eigenschaften:<br />

• Ferromagnetismus<br />

• Antiferromagnetismus<br />

• Ferrimagnetismus


9<br />

Röntgenstrukturanalyse: Begriffsbildung<br />

©<br />

C. Näther<br />

CAU Kiel<br />

Einkristallstrukturanalyse<br />

Bestimmung der genauen räumlichen Anordnung aller Bausteine (Atome, Ionen,<br />

Moleküle) in einer kristallinen chemischen Verbindung mit Hilfe von Röntgenstrahlen<br />

Wilhelm Conrad<br />

Röntgen<br />

1845-1923<br />

Professor für Physik<br />

Entdeckte am<br />

8.11.1895 die<br />

Röntgenstrahlen<br />

(X-Strahlen)<br />

Erhielt für diese<br />

Entdeckung 1901<br />

den ersten Nobelpreis<br />

für Physik


10<br />

Prinzip einer Röntgenstrukturanalyse<br />

©<br />

C. Näther<br />

CAU Kiel<br />

[ 2πi<br />

( hx + ky lz )]<br />

N<br />

2<br />

⎛ sin θ ⎞<br />

F<br />

hkl<br />

= Σ N<br />

j<br />

⋅ f<br />

j<br />

⋅exp<br />

B exp<br />

2<br />

j j<br />

+<br />

j 1<br />

⎜ − ⋅<br />

⎟ ⋅<br />

=<br />

⎝ λ ⎠<br />

j


11<br />

Merkmale von Kristallen ©<br />

C. Näther<br />

CAU Kiel<br />

Kristall [zu griech. Ktystallos “Eis, Bergkristall“], einheitlich zusammengesetzter<br />

Festkörper, dessen Bausteine (Atome, Moleküle, Ionen) zu einem räumlichen<br />

Kristallgitter angeordnet sind. Die Bausteine, ihre Anordnung und die Art der Bindung<br />

bestimmen das äußere Erscheinungsbild und die Eigenschaften der Kristalle.<br />

Merkmale von Kristallen:<br />

Symmetrie<br />

Äußere Erscheinungsform<br />

Schönheit<br />

3-dimensionale periodische Anordnung der Bausteine


12<br />

Periodizität der Bausteine - Konzept der Elementarzelle<br />

©<br />

C. Näther<br />

CAU Kiel<br />

Elektronenmikroskopische<br />

Aufnahme eines<br />

Kupfer-Phthalocyanin<br />

Einheitszelle ist eindeutig<br />

definiert durch:<br />

die Seitenlängen (a, b, c),<br />

die Winkel zwischen den<br />

Flächen (α, β, γ)


13<br />

Die Elementarzelle: Lage der Bausteine<br />

©<br />

C. Näther<br />

CAU Kiel<br />

Merkmale der Einheitszelle:<br />

• Imaginäre Bildungseinheit zur vereinfachten Beschreibung der Periodizität der<br />

Bausteine in Kristallen (Kristall besteht aus Atomen, Ionen oder Molekülen)<br />

• Unterteilt Kristalle in kleine identische Einheiten<br />

• Zur Beschreibung der Struktur werden nur wenige Parameter benötigt<br />

• Strukturbestimmung beschränkt sich auf den Inhalt der Elementarzelle<br />

Die Lage der Gitterbausteine (Atome, Ionen) in der Elementarzelle wird durch ihre<br />

relativen Lagekoordinaten xyz (Fraktionelle Koordinaten) beschrieben. Diese können<br />

Werte zwischen 0 und 1 annehmen.<br />

Lage:<br />

xyz: Ausgehend vom Ursprung<br />

der Elementarzelle<br />

x · a, y · b und z · c<br />

a = Länge der a-Achse<br />

b = Länge der b-Achse<br />

c = Länge der c-Achse<br />

1/2,0,0<br />

0,0,0<br />

x,y,z<br />

1,1,1 = 0,0,0<br />

X,0,z


14<br />

Mögliche Elementarzellen<br />

©<br />

C. Näther<br />

CAU Kiel<br />

Welche ist die kleinste Einheit, welche nur durch Translation die gesamte Kristallstruktur<br />

wiedergibt (Elementarzelle)


14a<br />

Mögliche Elementarzellen<br />

©<br />

C. Näther<br />

CAU Kiel<br />

Welche ist die kleinste Einheit, welche nur durch Translation die gesamte Kristallstruktur<br />

wiedergibt (Elementarzelle)


15<br />

Symmetrie in Kristallen: Einführung<br />

©<br />

C. Näther<br />

CAU Kiel<br />

Drehachsen 1, 2, 3, 4 und 6 (C i<br />

)<br />

Symmetriezentrum (Inversionszentrum; i)<br />

Spiegelebene (m, σ)<br />

Drehinversionsachse (-4, S 4<br />

)


16<br />

Kristallklassen und Kristallsysteme<br />

©<br />

C. Näther<br />

CAU Kiel<br />

Kristallklasse (Punktgruppe):<br />

Die Summe aller an an einem Kristall auftretenden Symmetrieelemente.<br />

Insgesamt existieren nur 32 verschiedene Kombinationen, d. h. 32 verschiedene<br />

Kristallklassen.<br />

Kristallsysteme (Achsensysteme)<br />

Diese 32 Kristallklassen lassen sich 7 Kristallsystemen zuordnen, die 7 Formen von<br />

Elementarzellen entsprechen<br />

Symmetrieelement<br />

Kristallsystem<br />

1, -1 triklin<br />

2, m, 2/m monoklin<br />

mm2, 222, mmm<br />

orthorhombisch<br />

4, -4, 4/m, 4m, -4m, 42, 42m tetragonal<br />

3, 3/m, 3i, 3m, -3m2, 32 trigonal<br />

6, 6/m, -6, 6m, -6m, 62, 62m hexagonal<br />

23, m3, -23, 2m3,, -43m, 432, m3m kubisch


17<br />

Die 7 Kristallsysteme ©<br />

C. Näther<br />

CAU Kiel<br />

Triklin Monoklin Orthorhombisch Tetragonal<br />

c<br />

α β<br />

γ<br />

c<br />

β 90o<br />

90 o<br />

b<br />

c<br />

a<br />

b<br />

a<br />

90 o 90 o<br />

90 o<br />

a<br />

b<br />

rhomboedrisch /<br />

trigonal<br />

c = a<br />

Kubisch<br />

c = a<br />

Hexagonal<br />

c<br />

β α<br />

γ<br />

90 o<br />

90 o 90 o b = a<br />

a<br />

b = a<br />

a<br />

a<br />

90 o<br />

90 o<br />

γ = 120 o<br />

b = a


18<br />

Zentrierte Elementarzellen ©<br />

C. Näther<br />

CAU Kiel<br />

monoklin<br />

orthorhombisch<br />

c-flächenzentriert<br />

c-flächenzentriert<br />

innenzentriert<br />

flächenzentriert<br />

tetragonal<br />

kubisch<br />

innenzentriert<br />

innenzentriert<br />

flächenzentriert<br />

7 primitive + 7 zentrierte EZ - 14 Typen von EZ (Bravais-Typen)


19<br />

Raumgruppen: Die Baupläne der Kristalle<br />

©<br />

C. Näther<br />

CAU Kiel<br />

Neben der “einfachen“ Symmetrieelementen (i, m, C x<br />

, -4) und den Zentrierungen<br />

finden sich weitere, sog. Translationssymmetrieelemente, die durch Kombination der<br />

Translationssymmetrie mit Drechachsen und Spiegelebenen entstehen.<br />

Die Kombination aller an Kristallen auftretenden Symmetrieelementen (C i<br />

, m, i, S n<br />

,<br />

und Translationssymmetrieelemente) führt zu insgesamt 230 Kombinationen.<br />

Diese werden als Raumgruppen bezeichnet.<br />

Die richtige Bestimmung der Raumgruppe ist für die erfolgreiche Durchführung einer<br />

Einkristallstrukturanalyse unerläßlich.<br />

Raumgruppen<br />

zentrosymmetrische<br />

nicht-zentrosymmetrische<br />

chirale<br />

Symmetrieelemente<br />

Translation, Drehachsen, Spiegelebenen<br />

Inversionszentren<br />

Translation, Drehachsen, Spiegelebenen<br />

Translation, Drehachsen


20<br />

Welche Atomlagen müssen überhaupt bestimmt werden ©<br />

C. Näther<br />

CAU Kiel<br />

• Die asymmetrische Einheit ist der Satz von Atomen, dessen Kenntnis ausreicht,<br />

um zusammen mit den Symmetrieoperationen der Raumgruppe den kompletten<br />

Inhalt der Elementarzelle, also die Kristallstruktur zu beschreiben.<br />

• Im Verlauf einer Strukturbestimmung müssen ausschließlich die Atomlagen der<br />

Atome der asymmetrischen Einheit bestimmt werden !


21<br />

Müssen alle Lagen aller Atome in der Elementarzelle bestimmt werden<br />

©<br />

C. Näther<br />

CAU Kiel<br />

Welches könnte die asymmetrische Einheit sein


22<br />

Konstruktion einer Struktur ausgehend von der asymmetrischen Einheit<br />

bei Kenntnis der vorkommenden Symmetrieelemente (Raumgruppe)<br />

©<br />

C. Näther<br />

CAU Kiel<br />

+y<br />

x, y, z<br />

-y<br />

-x +x


22<br />

Konstruktion einer Struktur ausgehend von der asymmetrischen Einheit<br />

bei Kenntnis der vorkommenden Symmetrieelemente (Raumgruppe)<br />

©<br />

C. Näther<br />

CAU Kiel<br />

-x +x<br />

+y<br />

-y<br />

x, y, z<br />

-x, -y,- z<br />

x-1, y, z<br />

-x-1, -y, -z<br />

x+1, y, z<br />

-x+1, -y, -z<br />

x, y+1, z<br />

-x, -y+1, -z<br />

x-1, y+1, z<br />

-x-1, -y+1, -z<br />

x+1, y+1, z<br />

-x+1, -y+1, -z<br />

x, y-1, z<br />

-x, -y-1, -z<br />

x-1, y-1, z<br />

-x-1, -y-1, -z<br />

x+1, y-1, z<br />

-x+1, -y-1, -z


23<br />

Warum eigentlich Röntgenstrahlung zur Strukturbestimmung <br />

©<br />

C. Näther<br />

CAU Kiel<br />

Die Details eines Objektes können nur dann sichtbar gemacht werden, wenn der<br />

Abstand zwischen diesen Details mindestens so groß ist wie die halbe Wellenlänge<br />

der elektromagnetischen Strahlung die zur Vergrößerung verwendet wird.<br />

.<br />

> λ/2<br />

.<br />

Kosmische<br />

Strahlen<br />

γ-Strahlen<br />

Röntgenstrahlen<br />

Ultraviolett<br />

sichtbares<br />

Licht<br />

25 24 23 22 21 20 19 18 17 16 15 14 13 12 11 10 9 8 7 6 5 4 3 2 1<br />

Infrarot<br />

Mikrowellen<br />

Radiowellen<br />

Wechselstrom<br />

log ν [Hz]<br />

C-C: 1.40 Å<br />

-7 -6 -5 -4 -3 -2 -1 0 1 2 3 4 5 6 7 8 9 10 11 12 13 14 15 16 17 18<br />

1<br />

10<br />

1 10 100<br />

Femtometer<br />

1 1 1<br />

1 10 100 1000 1 10<br />

1 10 100 1000 10 100 1000 10<br />

10 10 1 10 100<br />

100<br />

4<br />

Pikometer<br />

Mikrometer Millimeter Meter Kilometer<br />

log λ [Å]


24<br />

Lichtmikroskop - Elektronenmikroskop - Röntgenmikroskop ©<br />

C. Näther<br />

CAU Kiel<br />

Lichtmikroskop Elektronenmikroskop Röntgenmikroskop


24a<br />

Lichtmikroskop - Elektronenmikroskop - Röntgenmikroskop ©<br />

C. Näther<br />

CAU Kiel<br />

Lichtmikroskop Elektronenmikroskop Röntgenmikroskop


24b<br />

Lichtmikroskop - Elektronenmikroskop - Röntgenmikroskop ©<br />

C. Näther<br />

CAU Kiel<br />

Lichtmikroskop Elektronenmikroskop Röntgenmikroskop


25<br />

Alternative zum Mikroskop ©<br />

C. Näther<br />

CAU Kiel<br />

“Keine“ Röntgenlinsen verfügbar (Brechungsindizes nahezu 1)<br />

Alternatives Verfahren<br />

Prinzip: Beugung von elektromagnetischer Strahlung an Kristallen<br />

Strahlung: Röntgen-, Synchroton- oder Neutronenstrahlung<br />

Ergebnis der Analyse: Dreidimensionale Anordnung von Bausteinen in Kristallen<br />

Art der Information: Atomare Positionskoordinaten und Auslenkungsparameter<br />

Koordinaten: Position der Atome in einer Wiederholungseinheit (Elementarzelle)<br />

Berechnung von interatomaren Abständen, Winkeln und Torsionswinkeln<br />

Auslenkungsparameter: Angabe über das Ausmaß von Bewegung oder Unordnung


26<br />

Die Entdeckung der Röntgenbeugung<br />

©<br />

C. Näther<br />

CAU Kiel<br />

Max Felix Theodor von Laue<br />

1879-1960<br />

Professor für Physik<br />

Entdeckte 1912 zusammen mit Walther Friedrich<br />

und Paul Knipping die Röntgenstrahlinterferenz<br />

an Kristallgittern und wies damit die Wellennatur<br />

der Röntgenstrahlung sowie die Existenz von<br />

Raumgittern in Kristallen nach.<br />

Erhielt 1914 für die Entdeckung der Röntgenbeugung<br />

an Kristallen den Nobelpreis für Physik


27<br />

An welchen Stellen eines Kristalls treten Beugungsmaxima auf<br />

Kristall<br />

©<br />

C. Näther<br />

CAU Kiel<br />

Netzebenen hkl<br />

Sir William Henry Bragg<br />

1915 Nobelpreis für Physik<br />

Einfallender Strahl<br />

d hkl<br />

θ<br />

Sir William Lawrence Bragg<br />

1915 Nobelpreis für Physik<br />

θ<br />

Ebene hkl<br />

Ebene hkl<br />

Gebeugter Strahl<br />

Braggsche Gleichung<br />

n · λ = 2 d sin θ<br />

λ = Wellenlänge<br />

d = Netzebenenabstand<br />

θ = Beugungswinkel<br />

n = 0, 1, 2, 3, 4,....


28<br />

Beziehung zwischen Struktur und Intensität: Strukturfaktorgleichung ©<br />

C. Näther<br />

CAU Kiel<br />

N<br />

2<br />

⎛ sin θ ⎞<br />

F +<br />

hkl<br />

= Σ N<br />

[ (<br />

j<br />

⋅f<br />

j<br />

⋅exp<br />

2<br />

j<br />

j 1<br />

⎜−<br />

B⋅<br />

⎟⋅exp<br />

2πi<br />

hx<br />

=<br />

⎝ λ ⎠<br />

+ ky<br />

j<br />

lz )]<br />

j<br />

I hkl<br />

F hkl<br />

≈<br />

Alle Informationen über die Lagen der Atome in der Elementarzelle sind in den<br />

Reflexintensitäten enthalten.<br />

Diese müssen korrekt und vollständig gemessen werden.


29<br />

Auszuführende Schritte bei einer Strukturbestimmung ©<br />

C. Näther<br />

CAU Kiel<br />

Kristallauswahl<br />

unter dem<br />

Mikroskop<br />

Reflexsuche<br />

Indizierung<br />

“Kristallsystem“<br />

Bravais-Typ<br />

Elementarzelle<br />

Datensammlung<br />

Bestimmung der<br />

Raumgruppe und<br />

Lauesymmetrie<br />

Strukturlösung<br />

Phasenproblem<br />

Berechnung einer<br />

Elektronendichtekarte<br />

Verfeinerung<br />

Bestimmung von<br />

Koordinaten und<br />

Auslenkungsparameter<br />

Auswertung<br />

Abstände<br />

Winkel<br />

Bilder<br />

Gütefaktoren


30<br />

Auswahl eines geeigneten Einkristalls ©<br />

C. Näther<br />

CAU Kiel<br />

Einkristall:<br />

Kristall mit regelmäßiger<br />

Anordnung seiner<br />

Bausteine<br />

Kristallauswahl<br />

unter dem<br />

Mikroskop<br />

Die Qualität einer Strukturbestimmung hängt vor allem von der Kristallqualität ab !<br />

Verwachsene oder verzwillingte<br />

Kristalle sind nicht geeignet


31<br />

Erzeugung und Monochromatisierung von Röntgenstrahlung<br />

©<br />

C. Näther<br />

CAU Kiel<br />

Konventionelle Röntgenröhre:<br />

Vorteile: geringer experimenteller Aufwand<br />

Nachteile: Geringe Leistung;<br />

Drehanoden:<br />

Vorteile: Hohe Leistung → kurze Belichtungszeiten;<br />

Nachteile: Hoher exp. Aufwand<br />

Synchrotronstrahlung:<br />

Vorteile: Leistung 10.000 höher als bei<br />

Röntgenröhren; Wellenlänge nahezu beliebig.<br />

Nachteile: Großforschungseinrichtung nötig<br />

Intensität<br />

Kβ<br />

Kα 1<br />

Kα 2<br />

“Polychromatisches“<br />

Röntgenlicht<br />

Kristallmonochromator<br />

n · λ = 2 d sin θ<br />

Einkristall<br />

0.2 0.4 0.6 0.8 1.0<br />

l / A<br />

λ 6<br />

λ 5<br />

λ 4<br />

λ 3<br />

λ 2<br />

λ 1


32<br />

Intensitätsmessung mit Diffraktometern ©<br />

C. Näther<br />

CAU Kiel<br />

4-Kreis-Diffraktometer<br />

mit Szintillationszähler<br />

Jedes Beugungsmaximum<br />

(Reflex) muss einzeln<br />

gemessen werden<br />

Reflexsuche<br />

und<br />

Datensammlung<br />

Imaging Plate<br />

Diffraction System<br />

(IPDS)<br />

mit ortsempfindlichen<br />

Detektor<br />

Simultane Messung<br />

der Reflexe<br />

Schnelle Messung<br />

Messung kleiner<br />

Kristalle möglich


33<br />

Indizierung ©<br />

C. Näther<br />

CAU Kiel<br />

Indizierung<br />

Bestimmung der<br />

Gitterparameter<br />

Elementarzelle (Gitterparameter)<br />

Beugungsintensitäten<br />

d-Werte<br />

Braggsche<br />

Gleichung<br />

n · λ = 2 d sin θ<br />

kleinste d-Werte ergeben<br />

die Zellparameter<br />

Indizierung<br />

λ = Wellenlänge<br />

d = Netzebenenabstand<br />

θ = Beugungswinkel<br />

n = 0, 1, 2, 3, 4,....


34<br />

Raumgruppe und Laue-Symmetrie ©<br />

C. Näther<br />

CAU Kiel<br />

Die Laue-Symmetrie und damit<br />

das Kristallsystem ergibt sich aus<br />

der Intensitätssymmetrie<br />

Je nach Kristallsystem weisen<br />

ganz bestimmte Reflexe eine<br />

identische Intensität auf<br />

Bestimmung der<br />

Raumgruppe und<br />

der Laue-Symmetrie<br />

Die Raumgruppe ergibt sich aus<br />

systematisch ausgelöschten<br />

Reflexen. Diese lassen Schlussfolgerungen<br />

auf die vorhandenen<br />

Symmetrieelemente zu


35<br />

Strukturlösung: Einführung ©<br />

C. Näther<br />

CAU Kiel<br />

Was wird für eine Strukturlösung benötigt <br />

I hkl<br />

[ 2πi<br />

( hx + ky lz )]<br />

N<br />

2<br />

⎛ sin θ ⎞<br />

F<br />

hkl<br />

= Σ N<br />

j<br />

⋅f<br />

j<br />

⋅exp<br />

B ⋅exp<br />

2<br />

j j<br />

+<br />

j 1<br />

⎜−<br />

⋅<br />

⎟<br />

=<br />

⎝ λ ⎠<br />

j<br />

Die Intensität der Reflexe<br />

(Aus Intensitätsmessung)<br />

Bestimmung der Phasen<br />

der gemessenen F(hkl)<br />

Die Phase der Reflexe<br />

(Geht während des Experimentes<br />

verloren (Phasenproblem)<br />

---> Aus Strukturlösung)<br />

Patterson-Methoden (Nur bei Anwesenheit von Schweratomen möglich)<br />

Direkte Methoden (Auch für Leichtatomstrukturen verwendbar)


36<br />

Das Ergebnis der Strukturbestimmung: Die Elektronendichteverteilung ©<br />

C. Näther<br />

CAU Kiel<br />

Ist die Intensität und Phase der gemessenen Reflexe bekannt,<br />

kann durch Fourier-Synthese die Elektronendichteverteilung in<br />

der Elementarzelle berechnet werden.<br />

Auflösung<br />

6 Å<br />

2.5 Å<br />

Elektronendichteverteilung<br />

Strukturmodell<br />

1.5 Å<br />

Anschließend müssen den Elektronendichtemaxima Atome<br />

zugeordnet werden und ein Strukturmodell aufgestellt werden.<br />

0.8 Å


37<br />

Zuordnung von Atomen zu den Maxima in der Elektronendichtekarte ©<br />

C. Näther<br />

CAU Kiel<br />

Kristallstruktur von Kaliumtartrat


37a<br />

Zuordnung von Atomen zu den Maxima in der Elektronendichtekarte ©<br />

C. Näther<br />

CAU Kiel<br />

Kristallstruktur von Kaliumtartrat


37b<br />

Zuordnung von Atomen zu den Maxima in der Elektronendichtekarte ©<br />

C. Näther<br />

CAU Kiel<br />

Kristallstruktur von Kaliumtartrat


38<br />

Strukturverfeinerung ©<br />

C. Näther<br />

CAU Kiel<br />

Strukturlösung liefert erste grobe Atomkoordinaten die in der anschließenden<br />

Strukturverfeinerung verbessert werden.<br />

Die Parameter (Koordinaten und Auslenkungsparameter) werden so lange mit einem<br />

Least-Squares-Verfahren optimiert, bis die Übereinstimmung zwischen den<br />

tatsächlich gemessenen Strukturfaktoren (Intensitäten), und denen, welche auf der<br />

Basis des verfeinerten Strukturmodells berechnet worden sind, so gut wie möglich ist.<br />

Beurteilung wie gut ein Strukturmodell mit der “Wirklichkeit“ übereinstimmt durch<br />

Zuverlässigkeitsfaktoren (residuals):<br />

R= ∑ F( hkl) −F( hkl) / ∑ F( hkl)<br />

allehkl<br />

o c o<br />

allehkl<br />

Konventioneller R-Wert:<br />

Ist ein Maß für die Übereinstimmung zwischen den gemessenen und den auf der<br />

Basis eines Strukturmodells berechneten Intensitäten


39<br />

Unterscheidung von Elementen: Der Atomformfaktor ©<br />

C. Näther<br />

CAU Kiel<br />

1. In der Röntgenstrukturanalyse kann zunächst nicht zwischen verschiedenen<br />

Elementen unterschieden werden.<br />

2. Proportionalität des Atomformfaktors zur Ordnungszahl der Elemente bedingt,<br />

dass im PE benachbarte Elemente nahezu nicht unterschieden werden können.<br />

3. Dieser Unterschied nimmt mit zunehmender Ordnungszahl ab.<br />

Dies ist anders in der Neutronenbeugung: Beugung findet am Atomkern statt;<br />

Atomformfaktor hängt von der Masse und der Energie der Wechselwirkung ab


40 Unterscheidung von Elementen: R-Werte<br />

©<br />

C. Näther<br />

CAU Kiel<br />

Gütekriterien für unterschiedliche Lanthanoide (richtiges Element: Ce)<br />

La Ce Pr Nd<br />

Ordnungszahl = 57 = 58 = 59 = 60<br />

R1 = 0.0209 = 0.0188 = 0.0175 = 0.0171<br />

Pm Sm Eu Ho<br />

Ordnungszahl = 61 = 62 = 63 = 67<br />

R1 = 0.0174 = 0.0184 = 0.0198 = 0.0240<br />

Energiedispersive Röntgenfluoreszenz<br />

Emittierte Röntgenstrahlung<br />

ist Elementspezifisch<br />

Elektronenmikroskop mit EDX


41<br />

Welche Parameter werden eigentlich verfeinert<br />

©<br />

C. Näther<br />

CAU Kiel<br />

1. Atomkoordinaten (x, y, z)<br />

2. Atomare Auslenkungsparameter (U 11<br />

, U 22<br />

, U 33<br />

, U 12<br />

, U 13<br />

, U 23<br />

)<br />

[ 2πi<br />

( hx + ky lz )]<br />

N<br />

2<br />

⎛ sin θ ⎞<br />

F<br />

hkl<br />

= Σ N<br />

j<br />

⋅ f<br />

j<br />

⋅ exp B ⋅ exp<br />

2<br />

j j<br />

+<br />

j 1<br />

⎜ − ⋅<br />

⎟<br />

=<br />

⎝ λ ⎠<br />

“Temperaturfaktor“<br />

Anisotroper Fall:<br />

Beschreibung der anisotropen Schwingung durch Schwingungsellipsoid<br />

Form und Lage des Schwingungsellipsoids wird durch 6 U ij<br />

-Werte beschrieben<br />

j<br />

a<br />

U 11<br />

U 22<br />

U 33<br />

b<br />

c<br />

Ortep-Darstellung


42<br />

Ursachen für ungewöhnliche Auslenkungsparameter<br />

©<br />

C. Näther<br />

CAU Kiel<br />

In einer Kristallstrukturanalyse wird über eine Vielzahl von Schwingungsperioden und<br />

Elementarzellen gemittelt → Es wird daher nur eine gemittelte Atomposition erhalten<br />

Schwingungsrichtung<br />

Röntgenstrahl<br />

Röntgenstrahl<br />

Zeit<br />

Resultierende<br />

“Elektronendichteverteilung<br />

Resultierende<br />

Elektronendichteverteilung<br />

Elementarzellen


43 Mögliche Fehler, Fallen und Probleme: Fehlerhafte Bindungslängen ©<br />

C. Näther<br />

CAU Kiel<br />

Ursachen:<br />

• Thermische Bewegung<br />

• Unordnung<br />

• Unsymmetrische<br />

Elektronendichteverteilung<br />

Verbesserung:<br />

• Neutronenbeugung<br />

Artifizielle Bindungsverkürzung<br />

o<br />

o<br />

o<br />

123.5 pm<br />

122 pm<br />

C<br />

C<br />

C<br />

Exp. bestimmte<br />

Bindungslänge<br />

Elektronendichteverteilung<br />

Tatsächliche<br />

Bindungslänge


Röntgenpulverbeugung versus Einkristallstrukturanalyse<br />

44 ©<br />

C. Näther<br />

CAU Kiel<br />

Pulveruntersuchungen<br />

Feine Kristallpulver<br />

Information über eine<br />

Vielzahl von Teilchen<br />

Identifizierung von Substanzen<br />

und Substanzgemischen<br />

Homogenitätsuntersuchungen von<br />

Pulvergemischen<br />

Quantitative Phasenanalyse<br />

Informationen über Teilchengrößen<br />

“Bestimmung der Kristallstruktur“<br />

Einkristalluntersuchungen<br />

Kleine Einkristalle (0.05 -0.8 mm)<br />

Informationen über ein einziges<br />

Teilchen<br />

Bestimmung der Größe und Metrik<br />

der Elementarzelle<br />

Bestimmung der Kristallsymmetrie<br />

(Laue-Symmetrie) und Raumgruppe<br />

Bestimmung der Kristallstruktur<br />

Informationen über Ordnung in Kristallen<br />

Bestimmung der Elektronendichteverteilung<br />

Bestimmung der absoluten Konfiguration


45<br />

Einkristallstrukturanalyse versus Röntgenpulverbeugung<br />

©<br />

C. Näther<br />

CAU Kiel<br />

Filter<br />

2θ<br />

Pulverprobe<br />

Röntgenstrahl<br />

Blendensystem<br />

Rückstrahlbereich<br />

Einkristall Pulver<br />

Werden Kristallpulver von<br />

Röntgenstrahlen getroffen,<br />

tritt Beugung auf, wobei die<br />

gebeugten Strahlen Kegel<br />

mit dem halben Öffnungswinkel<br />

2 θ bilden.<br />

Durchstrahlbereich


46<br />

Charakteristiken eines Röntgen-Pulverdiffraktogramms<br />

©<br />

C. Näther<br />

CAU Kiel<br />

Int.<br />

Reflexlage<br />

→ d-Wert, Gitterparameter<br />

Reflexintensität<br />

→ Art und Anordung der Atome in der EZ<br />

Reflexbreite und -form<br />

→ Größe der Kristallite, Stress<br />

8 10 12 14 16 18 20 22 24 26 28 30<br />

2 Theta [°]


47<br />

Einfluss der Anzahl und Orientierung der Kristallite ©<br />

C. Näther<br />

CAU Kiel<br />

Feine Kristallpulver mit<br />

vielen Kristallen unterschiedlicher<br />

(statistischer)<br />

Orientierung<br />

Feine Kristallpulver mit<br />

vielen Kristallen jedoch<br />

bevorzugter Orientierung<br />

(Textur)<br />

Feine Kristallpulver mit zu<br />

wenigen Kristallen


48<br />

Einfluss der verwendeten Strahlung auf ein Pulverdiffraktogramm ©<br />

C. Näther<br />

CAU Kiel<br />

Je kleiner die Wellenlänge der verwendeten Strahlung, desto mehr Beugungsmaxima<br />

werden bis zu einem bestimmten Beugungswinkel registriert und desto<br />

schlechter können die Reflexe aufgelöst werden.<br />

In der Pulverbeugung wird daher meist Kupferstrahlung verwendet<br />

CuKα<br />

Intensität<br />

MoKα<br />

2 Theta (°)<br />

Intensität<br />

n · λ = 2 d sin θ<br />

2 Theta (°)


49<br />

Einfluss der Größe einer Struktur auf ein Pulverdiffraktogramm<br />

CuBr<br />

Wenige Atome<br />

kleine Gitterparameter<br />

©<br />

C. Näther<br />

CAU Kiel<br />

Mn-Squarat-4,4‘-Bipyridin<br />

Relativ viele Atome<br />

Große Gitterparameter<br />

2-Theta


50<br />

Einfluss der verwendeten Strahlung auf ein Pulverdiffraktogramm<br />

©<br />

C. Näther<br />

CAU Kiel<br />

Mo-Kα-Strahlung<br />

Mn-Squarat-4,4‘-Bipyridin<br />

Cu-Kα -Strahlung<br />

2-Theta


51<br />

Messung von Pulverdiffraktogrammen<br />

©<br />

C. Näther<br />

CAU Kiel<br />

Transmissionsdiffraktometer<br />

Reflexionsdiffraktometer<br />

Transmissionsmessungen<br />

Nachteile: Stark Absorptionsprobleme<br />

Vorteile: Weniger Textur<br />

Reflexionsmessungen<br />

Nachteile: Texturprobleme<br />

Vorteile: Weniger Absorptionsprobleme<br />

Reflexion mit Theta-Theta-Geometrie<br />

Untersuchung flüssiger Proben<br />

Untersuchung dünner Schichten


52<br />

Identifizierung unbekannter Verbindungen / Homogenitätsbestimmung<br />

Das Beugungsdiagramm ist für jede Verbindung charakteristisch und kann daher zur<br />

Identifizierung oder Reinheitsbestimmungen von Substanzen durch Vergleich mit<br />

Beugungsmustern bereits bekannter Verbindungen herangezogen werden.<br />

• Nutzung von Datenbanken (PDF = Powder Diffraction File; CSD, ICSD)<br />

• Berechnung von Diffraktogrammen aus Einkristallstrukturdaten<br />

©<br />

C. Näther<br />

CAU Kiel<br />

Reaktionsprodukt<br />

Nicht für amorphe bzw.<br />

röntgenamorphe Verbindungen<br />

anwendbar.<br />

Intensität<br />

theoretisch ber.<br />

10 15 20 25 30 35 40 45 50<br />

2-Theta / °


53<br />

Strukturbestimmungen aus Röntgen-Pulverdaten<br />

©<br />

C. Näther<br />

CAU Kiel<br />

1. Datensammlung (Messung eines Pulverdiffraktogramms)<br />

Messung bis hin zu möglichst hohen Beugungswinkeln (2-θ > 80°)<br />

Problem: Beugungsvermögen und Auflösung<br />

2. Indizierung und Bestimmung der Raumgruppe und Laue-Symmetrie<br />

Liefert Metrik mögliche Elementarzellen<br />

Problem: Laue-Symmetrie und Raumgruppe<br />

3. Extraktion der Intensitäten<br />

Liefert Intensitäten der Beugungsreflexe für die Strukturlösung<br />

Problem: Viele Reflexe überlappen<br />

4. Strukturlösung<br />

Liefert erstes Strukturmodell<br />

Problem: Es stehen meist nur wenige Reflexe zur Verfügung<br />

5. Rietvelt-Verfeinerung<br />

Verfeinerung der Parameter (x, y, z, U ij<br />

, etc.)


54<br />

Probleme bei der Indizierung und der Intensitätsbestimmung<br />

©<br />

C. Näther<br />

CAU Kiel<br />

Intensität<br />

Viele Überlappungen:<br />

Indizierung und Intensitätsbest.<br />

schwierig.<br />

d-Wert 2-Theta Index<br />

1.39270 67.160 0 1 8<br />

1.38891 67.367 2 0 5<br />

1.38799 67.418 2 3 1<br />

1.38693 67.476 0 4 4<br />

1.38550 67.555 -2 2 5<br />

1.38523 67.570 -2 1 6<br />

1.38508 67.579 -1 4 3<br />

1.38458 67.606 -1 0 8<br />

2-Theta / °


55<br />

Strukturbestimmungen aus Röntgen-Pulverdaten: Rietvelt-Verfeinerung<br />

©<br />

C. Näther<br />

CAU Kiel<br />

Zur Intensitätsbestimmung<br />

werden ausgewählte Profile<br />

angepasst<br />

Intensität<br />

2-Theta / °


56<br />

Temperatur- und zeitaufgelöste Pulverbeugung (Heizröntgenmethoden)<br />

©<br />

C. Näther<br />

CAU Kiel<br />

Bei der temperatur- und zeitaufgelösten Pulverdiffraktometrie werden von einer<br />

Probe in bestimmten Zeitintervallen Beugungsdiagramme aufgenommen, während<br />

die Probe einem geregeltem Temperaturprogramm unterworfen wird.<br />

Absolute Intensität<br />

7000.0<br />

6000.0<br />

5000.0<br />

4000.0<br />

3000.0<br />

2000.0<br />

1000.0<br />

41.0<br />

36.0<br />

31.0<br />

26.0<br />

21.0<br />

16.0<br />

11.0<br />

6.0<br />

8000.0N<br />

0.0<br />

11.0 16.0 21.0 26.0 31.0 36.0 41.0 46.0<br />

2Theta [°]


56a<br />

Temperatur- und zeitaufgelöste Pulverbeugung (Heizröntgenmethoden)<br />

©<br />

C. Näther<br />

CAU Kiel<br />

Bei der temperatur- und zeitaufgelösten Pulverdiffraktometrie werden von einer<br />

Probe in bestimmten Zeitintervallen Beugungsdiagramme aufgenommen, während<br />

die Probe einem geregeltem Temperaturprogramm unterworfen wird.<br />

Graphitofen<br />

Kapillare<br />

Röntgenstrahl


57<br />

Untersuchung der Reaktion CaSO 4<br />

· 2 H 2<br />

O → CaSO 4<br />

· ½ H 2<br />

O ©<br />

C. Näther<br />

CAU Kiel


58 Verwendung von Neutronen- anstelle von Röntgenstrahlung ©<br />

C. Näther<br />

CAU Kiel<br />

Unterschied zur Röntgenbeugung:<br />

• Atomformfaktor ist für im PES benachbarte Elemente meist völlig unterschiedlich<br />

• Keine Absorptionsprobleme<br />

Nachteile:<br />

• Nur in Großforschungseinrichtungen verfügbar<br />

• Wellenlänge (> 2 Å)<br />

• Verbindungen müssen deuteriert werden<br />

Typische Anwendungen:<br />

• Bestimmung genauer Atomkoordinaten und Bindungslängen (insb. zu H-Atomen)<br />

• Bestimmung magnetischer Eigenschaften (Neutron wechselwirkt mit Spin)<br />

Geometrische und magnetische Struktur<br />

Pulverdiffraktogramm<br />

Ferromagnet<br />

Antiferromagnet<br />

Ferromagnet<br />

Antiferromagnet

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