Vorlesungsfolien Nr. 1 (pdf-Format) - Christian-Albrechts-Universität ...
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Grundlagen der<br />
Einkristallstrukturanalyse<br />
und der Pulverbeugung<br />
mit Röntgen- und Neutronenstrahlung<br />
©<br />
C. Näther<br />
CAU Kiel<br />
<strong>Christian</strong> Näther<br />
Institut für Anorganische Chemie,<br />
<strong>Christian</strong>-<strong>Albrechts</strong>-Universität zu Kiel
1<br />
Arbeitsweise eines Festkörperchemikers<br />
©<br />
C. Näther<br />
CAU Kiel<br />
H 2 + O 2 H 2 O 2 <br />
Festkörper-<br />
Chemiker
2<br />
Über die Bedeutung moderner Methoden in der Chemie ©<br />
C. Näther<br />
CAU Kiel<br />
Katalyse<br />
Strukturelle Materialien<br />
Funktionelle<br />
Materialien<br />
Oberflächen und Oberflächentechnologien<br />
Intelligente Materialien
3<br />
Problemorientierte Auswahl von Methoden ©<br />
C. Näther<br />
CAU Kiel<br />
Welche Fragen bei der Auswahl einer Methode sind von Bedeutung<br />
Was soll untersucht werden<br />
Elementanalytik (Qualitativ/Quantitativ) - Physikalische Eigenschaften -<br />
Chemische Eigenschaften - Strukturelle Informationen - Dynamik<br />
Aggregatzustand der Proben<br />
Fest - Flüssig - Gasförmig<br />
Zustand der Proben<br />
Amorph - Einkristallin - Polykristallin<br />
Eigenschaften der Proben<br />
Paramagnetisch - Diamagnetisch - Elektrisch leitend<br />
Über welchen Teilbereich der Probe werden Informationen benötigt<br />
Oberfläche - Volumen<br />
Wie genau soll die Information sein<br />
Zusammensetzung (Qualitativ/Quantitativ) - Konstitution - Konformation - Genaue<br />
Bindungsparameter
4<br />
Notwendiges Wissen über Methoden ©<br />
C. Näther<br />
CAU Kiel<br />
Welche Methoden existieren <br />
Welche Informationen liefern diese Methoden <br />
Über welchen Bereich wird diese Information erhalten <br />
Wie genau / präzise ist diese Information <br />
Welche Anforderungen wird an die Probe gestellt <br />
Welches sind die Grenzen und Möglichkeiten einer Methode <br />
Welche Fehler und Fallen beinhaltet eine bestimmte Methode <br />
Welches sind die wichtigste theoretische Grundlagen einer Methode
5<br />
Zum Aussagewert moderner Verfahren<br />
©<br />
C. Näther<br />
CAU Kiel<br />
Das Meßergebnis eines einzelnen Verfahrens hat ohne zusätzliche Kenntnisse über<br />
die Probe, deren Reaktionen oder deren Reaktionsprodukten meist einen nur<br />
geringen Aussagewert.<br />
Edukt<br />
Modifikation I<br />
- ∆m<br />
Produkt 2<br />
Edukt<br />
Modifikation II Produkt 1<br />
TG-Kurve<br />
DTA-Kurve<br />
Polymorphe<br />
exo<br />
Phasenumwandlung<br />
Thermomikroskopie<br />
Zersetzung<br />
Pulverdiffraktometrie<br />
Massenspektrometrie<br />
Schmelzen<br />
Temperatur
6<br />
Übersicht über ausgewählte Methoden ©<br />
C. Näther<br />
CAU Kiel<br />
Beugungsmethoden<br />
Einkristallstrukturanalyse<br />
Pulverbeugung<br />
Neutronenbeugung<br />
Kleinwinkelstreuung<br />
Abbildende Methoden Methoden<br />
Lichtmikroskopie<br />
Elektronenmikroskopie<br />
Tunnelmikroskopie<br />
Kraftmikroskopie<br />
IR-Mikroskopie<br />
Magnetische Verfahren Verfahren<br />
Faraday-Waage<br />
Gouy-Waage<br />
Squid Squid<br />
AC-Suszeptometer<br />
Spektroskopie<br />
IR-Spektroskopie<br />
UV-Vis-Spektroskopie<br />
Raman-Spektroskopie<br />
Mößbauerspektroskopie<br />
NMR-Spektroskopie<br />
ESR-Spektroskopie<br />
Chemische<br />
Forschung<br />
Materialentwicklung<br />
Materialprüfung<br />
Thermische Methoden Methoden<br />
Dynamische Differenz- Differenz-<br />
Kalorimetrie<br />
Differenz-Thermoanalyse<br />
Thermogravimetrie<br />
Dilatometrie<br />
Thermomikroskopie<br />
Elektronen und und<br />
Röntgenspektroskopie<br />
ESCA, ESCA, XPS, XPS, UPS, UPS,<br />
AES, AES, EELS EELS<br />
Weitere Weitere Verfahren Verfahren<br />
Massenspektrometrie<br />
Atomspektroskopie<br />
Neutronenbeugung<br />
Elektrische Verfahren Verfahren<br />
Widerstandsmessung<br />
Hall-Effekt Hall-Effekt
7<br />
Warum Einkristallstrukturanalyse ©<br />
C. Näther<br />
CAU Kiel<br />
• Die Einkristallstrukturanalyse ist eine der genauesten Methoden zur Bestimmung der<br />
Struktur größerer Moleküle bis hin zu Biopolymeren, Proteinen oder Nucleinsäuren.<br />
• Diese Methode liefert eine Fülle von zusätzlichen Informationen über Kristalle.<br />
• Nahezu jede Veröffentlichung einer neuen Verbindung enthält auch die Daten zu<br />
deren Einkristallstruktur.<br />
• Fast jeder kommt im Verlauf seines Studiums, der Diplom- oder Doktorarbeit mit einer<br />
Einkristallstruktur mal in Berührung.<br />
• Auf Grund der enormen Bedeutung der Einkristallstrukturanalyse in der Forschung,<br />
sollte diese daher unbedingt Bestandteil einer modernen Chemieausbildung sein.<br />
• Die Kenntnis der Struktur einer Verbindung ist für ein tieferes Verständnis deren<br />
chemischer und physikalischer Eigenschaften unabdingbar.
8<br />
Struktur-Eigenschafts-Beziehungen in festen Stoffen ©<br />
C. Näther<br />
CAU Kiel<br />
Kristallstruktur<br />
Reaktivität<br />
Physikalische<br />
Eigenschaften<br />
Mechanische Eigenschaften:<br />
• Härte, Spaltbarkeit<br />
Optische Eigenschaften:<br />
• Polarisation<br />
• Brechung / Doppelbrechung<br />
• Dispersion<br />
• Optische Aktivität<br />
• Nichtlineare optische Eigenschaften<br />
• (NLO: SHG)<br />
Elektrische Eigenschaften<br />
• Piezo- und Pyroelektrizität<br />
• Elektrische Leitfähigkeit<br />
Magnetische Eigenschaften:<br />
• Ferromagnetismus<br />
• Antiferromagnetismus<br />
• Ferrimagnetismus
9<br />
Röntgenstrukturanalyse: Begriffsbildung<br />
©<br />
C. Näther<br />
CAU Kiel<br />
Einkristallstrukturanalyse<br />
Bestimmung der genauen räumlichen Anordnung aller Bausteine (Atome, Ionen,<br />
Moleküle) in einer kristallinen chemischen Verbindung mit Hilfe von Röntgenstrahlen<br />
Wilhelm Conrad<br />
Röntgen<br />
1845-1923<br />
Professor für Physik<br />
Entdeckte am<br />
8.11.1895 die<br />
Röntgenstrahlen<br />
(X-Strahlen)<br />
Erhielt für diese<br />
Entdeckung 1901<br />
den ersten Nobelpreis<br />
für Physik
10<br />
Prinzip einer Röntgenstrukturanalyse<br />
©<br />
C. Näther<br />
CAU Kiel<br />
[ 2πi<br />
( hx + ky lz )]<br />
N<br />
2<br />
⎛ sin θ ⎞<br />
F<br />
hkl<br />
= Σ N<br />
j<br />
⋅ f<br />
j<br />
⋅exp<br />
B exp<br />
2<br />
j j<br />
+<br />
j 1<br />
⎜ − ⋅<br />
⎟ ⋅<br />
=<br />
⎝ λ ⎠<br />
j
11<br />
Merkmale von Kristallen ©<br />
C. Näther<br />
CAU Kiel<br />
Kristall [zu griech. Ktystallos “Eis, Bergkristall“], einheitlich zusammengesetzter<br />
Festkörper, dessen Bausteine (Atome, Moleküle, Ionen) zu einem räumlichen<br />
Kristallgitter angeordnet sind. Die Bausteine, ihre Anordnung und die Art der Bindung<br />
bestimmen das äußere Erscheinungsbild und die Eigenschaften der Kristalle.<br />
Merkmale von Kristallen:<br />
Symmetrie<br />
Äußere Erscheinungsform<br />
Schönheit<br />
3-dimensionale periodische Anordnung der Bausteine
12<br />
Periodizität der Bausteine - Konzept der Elementarzelle<br />
©<br />
C. Näther<br />
CAU Kiel<br />
Elektronenmikroskopische<br />
Aufnahme eines<br />
Kupfer-Phthalocyanin<br />
Einheitszelle ist eindeutig<br />
definiert durch:<br />
die Seitenlängen (a, b, c),<br />
die Winkel zwischen den<br />
Flächen (α, β, γ)
13<br />
Die Elementarzelle: Lage der Bausteine<br />
©<br />
C. Näther<br />
CAU Kiel<br />
Merkmale der Einheitszelle:<br />
• Imaginäre Bildungseinheit zur vereinfachten Beschreibung der Periodizität der<br />
Bausteine in Kristallen (Kristall besteht aus Atomen, Ionen oder Molekülen)<br />
• Unterteilt Kristalle in kleine identische Einheiten<br />
• Zur Beschreibung der Struktur werden nur wenige Parameter benötigt<br />
• Strukturbestimmung beschränkt sich auf den Inhalt der Elementarzelle<br />
Die Lage der Gitterbausteine (Atome, Ionen) in der Elementarzelle wird durch ihre<br />
relativen Lagekoordinaten xyz (Fraktionelle Koordinaten) beschrieben. Diese können<br />
Werte zwischen 0 und 1 annehmen.<br />
Lage:<br />
xyz: Ausgehend vom Ursprung<br />
der Elementarzelle<br />
x · a, y · b und z · c<br />
a = Länge der a-Achse<br />
b = Länge der b-Achse<br />
c = Länge der c-Achse<br />
1/2,0,0<br />
0,0,0<br />
x,y,z<br />
1,1,1 = 0,0,0<br />
X,0,z
14<br />
Mögliche Elementarzellen<br />
©<br />
C. Näther<br />
CAU Kiel<br />
Welche ist die kleinste Einheit, welche nur durch Translation die gesamte Kristallstruktur<br />
wiedergibt (Elementarzelle)
14a<br />
Mögliche Elementarzellen<br />
©<br />
C. Näther<br />
CAU Kiel<br />
Welche ist die kleinste Einheit, welche nur durch Translation die gesamte Kristallstruktur<br />
wiedergibt (Elementarzelle)
15<br />
Symmetrie in Kristallen: Einführung<br />
©<br />
C. Näther<br />
CAU Kiel<br />
Drehachsen 1, 2, 3, 4 und 6 (C i<br />
)<br />
Symmetriezentrum (Inversionszentrum; i)<br />
Spiegelebene (m, σ)<br />
Drehinversionsachse (-4, S 4<br />
)
16<br />
Kristallklassen und Kristallsysteme<br />
©<br />
C. Näther<br />
CAU Kiel<br />
Kristallklasse (Punktgruppe):<br />
Die Summe aller an an einem Kristall auftretenden Symmetrieelemente.<br />
Insgesamt existieren nur 32 verschiedene Kombinationen, d. h. 32 verschiedene<br />
Kristallklassen.<br />
Kristallsysteme (Achsensysteme)<br />
Diese 32 Kristallklassen lassen sich 7 Kristallsystemen zuordnen, die 7 Formen von<br />
Elementarzellen entsprechen<br />
Symmetrieelement<br />
Kristallsystem<br />
1, -1 triklin<br />
2, m, 2/m monoklin<br />
mm2, 222, mmm<br />
orthorhombisch<br />
4, -4, 4/m, 4m, -4m, 42, 42m tetragonal<br />
3, 3/m, 3i, 3m, -3m2, 32 trigonal<br />
6, 6/m, -6, 6m, -6m, 62, 62m hexagonal<br />
23, m3, -23, 2m3,, -43m, 432, m3m kubisch
17<br />
Die 7 Kristallsysteme ©<br />
C. Näther<br />
CAU Kiel<br />
Triklin Monoklin Orthorhombisch Tetragonal<br />
c<br />
α β<br />
γ<br />
c<br />
β 90o<br />
90 o<br />
b<br />
c<br />
a<br />
b<br />
a<br />
90 o 90 o<br />
90 o<br />
a<br />
b<br />
rhomboedrisch /<br />
trigonal<br />
c = a<br />
Kubisch<br />
c = a<br />
Hexagonal<br />
c<br />
β α<br />
γ<br />
90 o<br />
90 o 90 o b = a<br />
a<br />
b = a<br />
a<br />
a<br />
90 o<br />
90 o<br />
γ = 120 o<br />
b = a
18<br />
Zentrierte Elementarzellen ©<br />
C. Näther<br />
CAU Kiel<br />
monoklin<br />
orthorhombisch<br />
c-flächenzentriert<br />
c-flächenzentriert<br />
innenzentriert<br />
flächenzentriert<br />
tetragonal<br />
kubisch<br />
innenzentriert<br />
innenzentriert<br />
flächenzentriert<br />
7 primitive + 7 zentrierte EZ - 14 Typen von EZ (Bravais-Typen)
19<br />
Raumgruppen: Die Baupläne der Kristalle<br />
©<br />
C. Näther<br />
CAU Kiel<br />
Neben der “einfachen“ Symmetrieelementen (i, m, C x<br />
, -4) und den Zentrierungen<br />
finden sich weitere, sog. Translationssymmetrieelemente, die durch Kombination der<br />
Translationssymmetrie mit Drechachsen und Spiegelebenen entstehen.<br />
Die Kombination aller an Kristallen auftretenden Symmetrieelementen (C i<br />
, m, i, S n<br />
,<br />
und Translationssymmetrieelemente) führt zu insgesamt 230 Kombinationen.<br />
Diese werden als Raumgruppen bezeichnet.<br />
Die richtige Bestimmung der Raumgruppe ist für die erfolgreiche Durchführung einer<br />
Einkristallstrukturanalyse unerläßlich.<br />
Raumgruppen<br />
zentrosymmetrische<br />
nicht-zentrosymmetrische<br />
chirale<br />
Symmetrieelemente<br />
Translation, Drehachsen, Spiegelebenen<br />
Inversionszentren<br />
Translation, Drehachsen, Spiegelebenen<br />
Translation, Drehachsen
20<br />
Welche Atomlagen müssen überhaupt bestimmt werden ©<br />
C. Näther<br />
CAU Kiel<br />
• Die asymmetrische Einheit ist der Satz von Atomen, dessen Kenntnis ausreicht,<br />
um zusammen mit den Symmetrieoperationen der Raumgruppe den kompletten<br />
Inhalt der Elementarzelle, also die Kristallstruktur zu beschreiben.<br />
• Im Verlauf einer Strukturbestimmung müssen ausschließlich die Atomlagen der<br />
Atome der asymmetrischen Einheit bestimmt werden !
21<br />
Müssen alle Lagen aller Atome in der Elementarzelle bestimmt werden<br />
©<br />
C. Näther<br />
CAU Kiel<br />
Welches könnte die asymmetrische Einheit sein
22<br />
Konstruktion einer Struktur ausgehend von der asymmetrischen Einheit<br />
bei Kenntnis der vorkommenden Symmetrieelemente (Raumgruppe)<br />
©<br />
C. Näther<br />
CAU Kiel<br />
+y<br />
x, y, z<br />
-y<br />
-x +x
22<br />
Konstruktion einer Struktur ausgehend von der asymmetrischen Einheit<br />
bei Kenntnis der vorkommenden Symmetrieelemente (Raumgruppe)<br />
©<br />
C. Näther<br />
CAU Kiel<br />
-x +x<br />
+y<br />
-y<br />
x, y, z<br />
-x, -y,- z<br />
x-1, y, z<br />
-x-1, -y, -z<br />
x+1, y, z<br />
-x+1, -y, -z<br />
x, y+1, z<br />
-x, -y+1, -z<br />
x-1, y+1, z<br />
-x-1, -y+1, -z<br />
x+1, y+1, z<br />
-x+1, -y+1, -z<br />
x, y-1, z<br />
-x, -y-1, -z<br />
x-1, y-1, z<br />
-x-1, -y-1, -z<br />
x+1, y-1, z<br />
-x+1, -y-1, -z
23<br />
Warum eigentlich Röntgenstrahlung zur Strukturbestimmung <br />
©<br />
C. Näther<br />
CAU Kiel<br />
Die Details eines Objektes können nur dann sichtbar gemacht werden, wenn der<br />
Abstand zwischen diesen Details mindestens so groß ist wie die halbe Wellenlänge<br />
der elektromagnetischen Strahlung die zur Vergrößerung verwendet wird.<br />
.<br />
> λ/2<br />
.<br />
Kosmische<br />
Strahlen<br />
γ-Strahlen<br />
Röntgenstrahlen<br />
Ultraviolett<br />
sichtbares<br />
Licht<br />
25 24 23 22 21 20 19 18 17 16 15 14 13 12 11 10 9 8 7 6 5 4 3 2 1<br />
Infrarot<br />
Mikrowellen<br />
Radiowellen<br />
Wechselstrom<br />
log ν [Hz]<br />
C-C: 1.40 Å<br />
-7 -6 -5 -4 -3 -2 -1 0 1 2 3 4 5 6 7 8 9 10 11 12 13 14 15 16 17 18<br />
1<br />
10<br />
1 10 100<br />
Femtometer<br />
1 1 1<br />
1 10 100 1000 1 10<br />
1 10 100 1000 10 100 1000 10<br />
10 10 1 10 100<br />
100<br />
4<br />
Pikometer<br />
Mikrometer Millimeter Meter Kilometer<br />
log λ [Å]
24<br />
Lichtmikroskop - Elektronenmikroskop - Röntgenmikroskop ©<br />
C. Näther<br />
CAU Kiel<br />
Lichtmikroskop Elektronenmikroskop Röntgenmikroskop
24a<br />
Lichtmikroskop - Elektronenmikroskop - Röntgenmikroskop ©<br />
C. Näther<br />
CAU Kiel<br />
Lichtmikroskop Elektronenmikroskop Röntgenmikroskop
24b<br />
Lichtmikroskop - Elektronenmikroskop - Röntgenmikroskop ©<br />
C. Näther<br />
CAU Kiel<br />
Lichtmikroskop Elektronenmikroskop Röntgenmikroskop
25<br />
Alternative zum Mikroskop ©<br />
C. Näther<br />
CAU Kiel<br />
“Keine“ Röntgenlinsen verfügbar (Brechungsindizes nahezu 1)<br />
Alternatives Verfahren<br />
Prinzip: Beugung von elektromagnetischer Strahlung an Kristallen<br />
Strahlung: Röntgen-, Synchroton- oder Neutronenstrahlung<br />
Ergebnis der Analyse: Dreidimensionale Anordnung von Bausteinen in Kristallen<br />
Art der Information: Atomare Positionskoordinaten und Auslenkungsparameter<br />
Koordinaten: Position der Atome in einer Wiederholungseinheit (Elementarzelle)<br />
Berechnung von interatomaren Abständen, Winkeln und Torsionswinkeln<br />
Auslenkungsparameter: Angabe über das Ausmaß von Bewegung oder Unordnung
26<br />
Die Entdeckung der Röntgenbeugung<br />
©<br />
C. Näther<br />
CAU Kiel<br />
Max Felix Theodor von Laue<br />
1879-1960<br />
Professor für Physik<br />
Entdeckte 1912 zusammen mit Walther Friedrich<br />
und Paul Knipping die Röntgenstrahlinterferenz<br />
an Kristallgittern und wies damit die Wellennatur<br />
der Röntgenstrahlung sowie die Existenz von<br />
Raumgittern in Kristallen nach.<br />
Erhielt 1914 für die Entdeckung der Röntgenbeugung<br />
an Kristallen den Nobelpreis für Physik
27<br />
An welchen Stellen eines Kristalls treten Beugungsmaxima auf<br />
Kristall<br />
©<br />
C. Näther<br />
CAU Kiel<br />
Netzebenen hkl<br />
Sir William Henry Bragg<br />
1915 Nobelpreis für Physik<br />
Einfallender Strahl<br />
d hkl<br />
θ<br />
Sir William Lawrence Bragg<br />
1915 Nobelpreis für Physik<br />
θ<br />
Ebene hkl<br />
Ebene hkl<br />
Gebeugter Strahl<br />
Braggsche Gleichung<br />
n · λ = 2 d sin θ<br />
λ = Wellenlänge<br />
d = Netzebenenabstand<br />
θ = Beugungswinkel<br />
n = 0, 1, 2, 3, 4,....
28<br />
Beziehung zwischen Struktur und Intensität: Strukturfaktorgleichung ©<br />
C. Näther<br />
CAU Kiel<br />
N<br />
2<br />
⎛ sin θ ⎞<br />
F +<br />
hkl<br />
= Σ N<br />
[ (<br />
j<br />
⋅f<br />
j<br />
⋅exp<br />
2<br />
j<br />
j 1<br />
⎜−<br />
B⋅<br />
⎟⋅exp<br />
2πi<br />
hx<br />
=<br />
⎝ λ ⎠<br />
+ ky<br />
j<br />
lz )]<br />
j<br />
I hkl<br />
F hkl<br />
≈<br />
Alle Informationen über die Lagen der Atome in der Elementarzelle sind in den<br />
Reflexintensitäten enthalten.<br />
Diese müssen korrekt und vollständig gemessen werden.
29<br />
Auszuführende Schritte bei einer Strukturbestimmung ©<br />
C. Näther<br />
CAU Kiel<br />
Kristallauswahl<br />
unter dem<br />
Mikroskop<br />
Reflexsuche<br />
Indizierung<br />
“Kristallsystem“<br />
Bravais-Typ<br />
Elementarzelle<br />
Datensammlung<br />
Bestimmung der<br />
Raumgruppe und<br />
Lauesymmetrie<br />
Strukturlösung<br />
Phasenproblem<br />
Berechnung einer<br />
Elektronendichtekarte<br />
Verfeinerung<br />
Bestimmung von<br />
Koordinaten und<br />
Auslenkungsparameter<br />
Auswertung<br />
Abstände<br />
Winkel<br />
Bilder<br />
Gütefaktoren
30<br />
Auswahl eines geeigneten Einkristalls ©<br />
C. Näther<br />
CAU Kiel<br />
Einkristall:<br />
Kristall mit regelmäßiger<br />
Anordnung seiner<br />
Bausteine<br />
Kristallauswahl<br />
unter dem<br />
Mikroskop<br />
Die Qualität einer Strukturbestimmung hängt vor allem von der Kristallqualität ab !<br />
Verwachsene oder verzwillingte<br />
Kristalle sind nicht geeignet
31<br />
Erzeugung und Monochromatisierung von Röntgenstrahlung<br />
©<br />
C. Näther<br />
CAU Kiel<br />
Konventionelle Röntgenröhre:<br />
Vorteile: geringer experimenteller Aufwand<br />
Nachteile: Geringe Leistung;<br />
Drehanoden:<br />
Vorteile: Hohe Leistung → kurze Belichtungszeiten;<br />
Nachteile: Hoher exp. Aufwand<br />
Synchrotronstrahlung:<br />
Vorteile: Leistung 10.000 höher als bei<br />
Röntgenröhren; Wellenlänge nahezu beliebig.<br />
Nachteile: Großforschungseinrichtung nötig<br />
Intensität<br />
Kβ<br />
Kα 1<br />
Kα 2<br />
“Polychromatisches“<br />
Röntgenlicht<br />
Kristallmonochromator<br />
n · λ = 2 d sin θ<br />
Einkristall<br />
0.2 0.4 0.6 0.8 1.0<br />
l / A<br />
λ 6<br />
λ 5<br />
λ 4<br />
λ 3<br />
λ 2<br />
λ 1
32<br />
Intensitätsmessung mit Diffraktometern ©<br />
C. Näther<br />
CAU Kiel<br />
4-Kreis-Diffraktometer<br />
mit Szintillationszähler<br />
Jedes Beugungsmaximum<br />
(Reflex) muss einzeln<br />
gemessen werden<br />
Reflexsuche<br />
und<br />
Datensammlung<br />
Imaging Plate<br />
Diffraction System<br />
(IPDS)<br />
mit ortsempfindlichen<br />
Detektor<br />
Simultane Messung<br />
der Reflexe<br />
Schnelle Messung<br />
Messung kleiner<br />
Kristalle möglich
33<br />
Indizierung ©<br />
C. Näther<br />
CAU Kiel<br />
Indizierung<br />
Bestimmung der<br />
Gitterparameter<br />
Elementarzelle (Gitterparameter)<br />
Beugungsintensitäten<br />
d-Werte<br />
Braggsche<br />
Gleichung<br />
n · λ = 2 d sin θ<br />
kleinste d-Werte ergeben<br />
die Zellparameter<br />
Indizierung<br />
λ = Wellenlänge<br />
d = Netzebenenabstand<br />
θ = Beugungswinkel<br />
n = 0, 1, 2, 3, 4,....
34<br />
Raumgruppe und Laue-Symmetrie ©<br />
C. Näther<br />
CAU Kiel<br />
Die Laue-Symmetrie und damit<br />
das Kristallsystem ergibt sich aus<br />
der Intensitätssymmetrie<br />
Je nach Kristallsystem weisen<br />
ganz bestimmte Reflexe eine<br />
identische Intensität auf<br />
Bestimmung der<br />
Raumgruppe und<br />
der Laue-Symmetrie<br />
Die Raumgruppe ergibt sich aus<br />
systematisch ausgelöschten<br />
Reflexen. Diese lassen Schlussfolgerungen<br />
auf die vorhandenen<br />
Symmetrieelemente zu
35<br />
Strukturlösung: Einführung ©<br />
C. Näther<br />
CAU Kiel<br />
Was wird für eine Strukturlösung benötigt <br />
I hkl<br />
[ 2πi<br />
( hx + ky lz )]<br />
N<br />
2<br />
⎛ sin θ ⎞<br />
F<br />
hkl<br />
= Σ N<br />
j<br />
⋅f<br />
j<br />
⋅exp<br />
B ⋅exp<br />
2<br />
j j<br />
+<br />
j 1<br />
⎜−<br />
⋅<br />
⎟<br />
=<br />
⎝ λ ⎠<br />
j<br />
Die Intensität der Reflexe<br />
(Aus Intensitätsmessung)<br />
Bestimmung der Phasen<br />
der gemessenen F(hkl)<br />
Die Phase der Reflexe<br />
(Geht während des Experimentes<br />
verloren (Phasenproblem)<br />
---> Aus Strukturlösung)<br />
Patterson-Methoden (Nur bei Anwesenheit von Schweratomen möglich)<br />
Direkte Methoden (Auch für Leichtatomstrukturen verwendbar)
36<br />
Das Ergebnis der Strukturbestimmung: Die Elektronendichteverteilung ©<br />
C. Näther<br />
CAU Kiel<br />
Ist die Intensität und Phase der gemessenen Reflexe bekannt,<br />
kann durch Fourier-Synthese die Elektronendichteverteilung in<br />
der Elementarzelle berechnet werden.<br />
Auflösung<br />
6 Å<br />
2.5 Å<br />
Elektronendichteverteilung<br />
Strukturmodell<br />
1.5 Å<br />
Anschließend müssen den Elektronendichtemaxima Atome<br />
zugeordnet werden und ein Strukturmodell aufgestellt werden.<br />
0.8 Å
37<br />
Zuordnung von Atomen zu den Maxima in der Elektronendichtekarte ©<br />
C. Näther<br />
CAU Kiel<br />
Kristallstruktur von Kaliumtartrat
37a<br />
Zuordnung von Atomen zu den Maxima in der Elektronendichtekarte ©<br />
C. Näther<br />
CAU Kiel<br />
Kristallstruktur von Kaliumtartrat
37b<br />
Zuordnung von Atomen zu den Maxima in der Elektronendichtekarte ©<br />
C. Näther<br />
CAU Kiel<br />
Kristallstruktur von Kaliumtartrat
38<br />
Strukturverfeinerung ©<br />
C. Näther<br />
CAU Kiel<br />
Strukturlösung liefert erste grobe Atomkoordinaten die in der anschließenden<br />
Strukturverfeinerung verbessert werden.<br />
Die Parameter (Koordinaten und Auslenkungsparameter) werden so lange mit einem<br />
Least-Squares-Verfahren optimiert, bis die Übereinstimmung zwischen den<br />
tatsächlich gemessenen Strukturfaktoren (Intensitäten), und denen, welche auf der<br />
Basis des verfeinerten Strukturmodells berechnet worden sind, so gut wie möglich ist.<br />
Beurteilung wie gut ein Strukturmodell mit der “Wirklichkeit“ übereinstimmt durch<br />
Zuverlässigkeitsfaktoren (residuals):<br />
R= ∑ F( hkl) −F( hkl) / ∑ F( hkl)<br />
allehkl<br />
o c o<br />
allehkl<br />
Konventioneller R-Wert:<br />
Ist ein Maß für die Übereinstimmung zwischen den gemessenen und den auf der<br />
Basis eines Strukturmodells berechneten Intensitäten
39<br />
Unterscheidung von Elementen: Der Atomformfaktor ©<br />
C. Näther<br />
CAU Kiel<br />
1. In der Röntgenstrukturanalyse kann zunächst nicht zwischen verschiedenen<br />
Elementen unterschieden werden.<br />
2. Proportionalität des Atomformfaktors zur Ordnungszahl der Elemente bedingt,<br />
dass im PE benachbarte Elemente nahezu nicht unterschieden werden können.<br />
3. Dieser Unterschied nimmt mit zunehmender Ordnungszahl ab.<br />
Dies ist anders in der Neutronenbeugung: Beugung findet am Atomkern statt;<br />
Atomformfaktor hängt von der Masse und der Energie der Wechselwirkung ab
40 Unterscheidung von Elementen: R-Werte<br />
©<br />
C. Näther<br />
CAU Kiel<br />
Gütekriterien für unterschiedliche Lanthanoide (richtiges Element: Ce)<br />
La Ce Pr Nd<br />
Ordnungszahl = 57 = 58 = 59 = 60<br />
R1 = 0.0209 = 0.0188 = 0.0175 = 0.0171<br />
Pm Sm Eu Ho<br />
Ordnungszahl = 61 = 62 = 63 = 67<br />
R1 = 0.0174 = 0.0184 = 0.0198 = 0.0240<br />
Energiedispersive Röntgenfluoreszenz<br />
Emittierte Röntgenstrahlung<br />
ist Elementspezifisch<br />
Elektronenmikroskop mit EDX
41<br />
Welche Parameter werden eigentlich verfeinert<br />
©<br />
C. Näther<br />
CAU Kiel<br />
1. Atomkoordinaten (x, y, z)<br />
2. Atomare Auslenkungsparameter (U 11<br />
, U 22<br />
, U 33<br />
, U 12<br />
, U 13<br />
, U 23<br />
)<br />
[ 2πi<br />
( hx + ky lz )]<br />
N<br />
2<br />
⎛ sin θ ⎞<br />
F<br />
hkl<br />
= Σ N<br />
j<br />
⋅ f<br />
j<br />
⋅ exp B ⋅ exp<br />
2<br />
j j<br />
+<br />
j 1<br />
⎜ − ⋅<br />
⎟<br />
=<br />
⎝ λ ⎠<br />
“Temperaturfaktor“<br />
Anisotroper Fall:<br />
Beschreibung der anisotropen Schwingung durch Schwingungsellipsoid<br />
Form und Lage des Schwingungsellipsoids wird durch 6 U ij<br />
-Werte beschrieben<br />
j<br />
a<br />
U 11<br />
U 22<br />
U 33<br />
b<br />
c<br />
Ortep-Darstellung
42<br />
Ursachen für ungewöhnliche Auslenkungsparameter<br />
©<br />
C. Näther<br />
CAU Kiel<br />
In einer Kristallstrukturanalyse wird über eine Vielzahl von Schwingungsperioden und<br />
Elementarzellen gemittelt → Es wird daher nur eine gemittelte Atomposition erhalten<br />
Schwingungsrichtung<br />
Röntgenstrahl<br />
Röntgenstrahl<br />
Zeit<br />
Resultierende<br />
“Elektronendichteverteilung<br />
Resultierende<br />
Elektronendichteverteilung<br />
Elementarzellen
43 Mögliche Fehler, Fallen und Probleme: Fehlerhafte Bindungslängen ©<br />
C. Näther<br />
CAU Kiel<br />
Ursachen:<br />
• Thermische Bewegung<br />
• Unordnung<br />
• Unsymmetrische<br />
Elektronendichteverteilung<br />
Verbesserung:<br />
• Neutronenbeugung<br />
Artifizielle Bindungsverkürzung<br />
o<br />
o<br />
o<br />
123.5 pm<br />
122 pm<br />
C<br />
C<br />
C<br />
Exp. bestimmte<br />
Bindungslänge<br />
Elektronendichteverteilung<br />
Tatsächliche<br />
Bindungslänge
Röntgenpulverbeugung versus Einkristallstrukturanalyse<br />
44 ©<br />
C. Näther<br />
CAU Kiel<br />
Pulveruntersuchungen<br />
Feine Kristallpulver<br />
Information über eine<br />
Vielzahl von Teilchen<br />
Identifizierung von Substanzen<br />
und Substanzgemischen<br />
Homogenitätsuntersuchungen von<br />
Pulvergemischen<br />
Quantitative Phasenanalyse<br />
Informationen über Teilchengrößen<br />
“Bestimmung der Kristallstruktur“<br />
Einkristalluntersuchungen<br />
Kleine Einkristalle (0.05 -0.8 mm)<br />
Informationen über ein einziges<br />
Teilchen<br />
Bestimmung der Größe und Metrik<br />
der Elementarzelle<br />
Bestimmung der Kristallsymmetrie<br />
(Laue-Symmetrie) und Raumgruppe<br />
Bestimmung der Kristallstruktur<br />
Informationen über Ordnung in Kristallen<br />
Bestimmung der Elektronendichteverteilung<br />
Bestimmung der absoluten Konfiguration
45<br />
Einkristallstrukturanalyse versus Röntgenpulverbeugung<br />
©<br />
C. Näther<br />
CAU Kiel<br />
Filter<br />
2θ<br />
Pulverprobe<br />
Röntgenstrahl<br />
Blendensystem<br />
Rückstrahlbereich<br />
Einkristall Pulver<br />
Werden Kristallpulver von<br />
Röntgenstrahlen getroffen,<br />
tritt Beugung auf, wobei die<br />
gebeugten Strahlen Kegel<br />
mit dem halben Öffnungswinkel<br />
2 θ bilden.<br />
Durchstrahlbereich
46<br />
Charakteristiken eines Röntgen-Pulverdiffraktogramms<br />
©<br />
C. Näther<br />
CAU Kiel<br />
Int.<br />
Reflexlage<br />
→ d-Wert, Gitterparameter<br />
Reflexintensität<br />
→ Art und Anordung der Atome in der EZ<br />
Reflexbreite und -form<br />
→ Größe der Kristallite, Stress<br />
8 10 12 14 16 18 20 22 24 26 28 30<br />
2 Theta [°]
47<br />
Einfluss der Anzahl und Orientierung der Kristallite ©<br />
C. Näther<br />
CAU Kiel<br />
Feine Kristallpulver mit<br />
vielen Kristallen unterschiedlicher<br />
(statistischer)<br />
Orientierung<br />
Feine Kristallpulver mit<br />
vielen Kristallen jedoch<br />
bevorzugter Orientierung<br />
(Textur)<br />
Feine Kristallpulver mit zu<br />
wenigen Kristallen
48<br />
Einfluss der verwendeten Strahlung auf ein Pulverdiffraktogramm ©<br />
C. Näther<br />
CAU Kiel<br />
Je kleiner die Wellenlänge der verwendeten Strahlung, desto mehr Beugungsmaxima<br />
werden bis zu einem bestimmten Beugungswinkel registriert und desto<br />
schlechter können die Reflexe aufgelöst werden.<br />
In der Pulverbeugung wird daher meist Kupferstrahlung verwendet<br />
CuKα<br />
Intensität<br />
MoKα<br />
2 Theta (°)<br />
Intensität<br />
n · λ = 2 d sin θ<br />
2 Theta (°)
49<br />
Einfluss der Größe einer Struktur auf ein Pulverdiffraktogramm<br />
CuBr<br />
Wenige Atome<br />
kleine Gitterparameter<br />
©<br />
C. Näther<br />
CAU Kiel<br />
Mn-Squarat-4,4‘-Bipyridin<br />
Relativ viele Atome<br />
Große Gitterparameter<br />
2-Theta
50<br />
Einfluss der verwendeten Strahlung auf ein Pulverdiffraktogramm<br />
©<br />
C. Näther<br />
CAU Kiel<br />
Mo-Kα-Strahlung<br />
Mn-Squarat-4,4‘-Bipyridin<br />
Cu-Kα -Strahlung<br />
2-Theta
51<br />
Messung von Pulverdiffraktogrammen<br />
©<br />
C. Näther<br />
CAU Kiel<br />
Transmissionsdiffraktometer<br />
Reflexionsdiffraktometer<br />
Transmissionsmessungen<br />
Nachteile: Stark Absorptionsprobleme<br />
Vorteile: Weniger Textur<br />
Reflexionsmessungen<br />
Nachteile: Texturprobleme<br />
Vorteile: Weniger Absorptionsprobleme<br />
Reflexion mit Theta-Theta-Geometrie<br />
Untersuchung flüssiger Proben<br />
Untersuchung dünner Schichten
52<br />
Identifizierung unbekannter Verbindungen / Homogenitätsbestimmung<br />
Das Beugungsdiagramm ist für jede Verbindung charakteristisch und kann daher zur<br />
Identifizierung oder Reinheitsbestimmungen von Substanzen durch Vergleich mit<br />
Beugungsmustern bereits bekannter Verbindungen herangezogen werden.<br />
• Nutzung von Datenbanken (PDF = Powder Diffraction File; CSD, ICSD)<br />
• Berechnung von Diffraktogrammen aus Einkristallstrukturdaten<br />
©<br />
C. Näther<br />
CAU Kiel<br />
Reaktionsprodukt<br />
Nicht für amorphe bzw.<br />
röntgenamorphe Verbindungen<br />
anwendbar.<br />
Intensität<br />
theoretisch ber.<br />
10 15 20 25 30 35 40 45 50<br />
2-Theta / °
53<br />
Strukturbestimmungen aus Röntgen-Pulverdaten<br />
©<br />
C. Näther<br />
CAU Kiel<br />
1. Datensammlung (Messung eines Pulverdiffraktogramms)<br />
Messung bis hin zu möglichst hohen Beugungswinkeln (2-θ > 80°)<br />
Problem: Beugungsvermögen und Auflösung<br />
2. Indizierung und Bestimmung der Raumgruppe und Laue-Symmetrie<br />
Liefert Metrik mögliche Elementarzellen<br />
Problem: Laue-Symmetrie und Raumgruppe<br />
3. Extraktion der Intensitäten<br />
Liefert Intensitäten der Beugungsreflexe für die Strukturlösung<br />
Problem: Viele Reflexe überlappen<br />
4. Strukturlösung<br />
Liefert erstes Strukturmodell<br />
Problem: Es stehen meist nur wenige Reflexe zur Verfügung<br />
5. Rietvelt-Verfeinerung<br />
Verfeinerung der Parameter (x, y, z, U ij<br />
, etc.)
54<br />
Probleme bei der Indizierung und der Intensitätsbestimmung<br />
©<br />
C. Näther<br />
CAU Kiel<br />
Intensität<br />
Viele Überlappungen:<br />
Indizierung und Intensitätsbest.<br />
schwierig.<br />
d-Wert 2-Theta Index<br />
1.39270 67.160 0 1 8<br />
1.38891 67.367 2 0 5<br />
1.38799 67.418 2 3 1<br />
1.38693 67.476 0 4 4<br />
1.38550 67.555 -2 2 5<br />
1.38523 67.570 -2 1 6<br />
1.38508 67.579 -1 4 3<br />
1.38458 67.606 -1 0 8<br />
2-Theta / °
55<br />
Strukturbestimmungen aus Röntgen-Pulverdaten: Rietvelt-Verfeinerung<br />
©<br />
C. Näther<br />
CAU Kiel<br />
Zur Intensitätsbestimmung<br />
werden ausgewählte Profile<br />
angepasst<br />
Intensität<br />
2-Theta / °
56<br />
Temperatur- und zeitaufgelöste Pulverbeugung (Heizröntgenmethoden)<br />
©<br />
C. Näther<br />
CAU Kiel<br />
Bei der temperatur- und zeitaufgelösten Pulverdiffraktometrie werden von einer<br />
Probe in bestimmten Zeitintervallen Beugungsdiagramme aufgenommen, während<br />
die Probe einem geregeltem Temperaturprogramm unterworfen wird.<br />
Absolute Intensität<br />
7000.0<br />
6000.0<br />
5000.0<br />
4000.0<br />
3000.0<br />
2000.0<br />
1000.0<br />
41.0<br />
36.0<br />
31.0<br />
26.0<br />
21.0<br />
16.0<br />
11.0<br />
6.0<br />
8000.0N<br />
0.0<br />
11.0 16.0 21.0 26.0 31.0 36.0 41.0 46.0<br />
2Theta [°]
56a<br />
Temperatur- und zeitaufgelöste Pulverbeugung (Heizröntgenmethoden)<br />
©<br />
C. Näther<br />
CAU Kiel<br />
Bei der temperatur- und zeitaufgelösten Pulverdiffraktometrie werden von einer<br />
Probe in bestimmten Zeitintervallen Beugungsdiagramme aufgenommen, während<br />
die Probe einem geregeltem Temperaturprogramm unterworfen wird.<br />
Graphitofen<br />
Kapillare<br />
Röntgenstrahl
57<br />
Untersuchung der Reaktion CaSO 4<br />
· 2 H 2<br />
O → CaSO 4<br />
· ½ H 2<br />
O ©<br />
C. Näther<br />
CAU Kiel
58 Verwendung von Neutronen- anstelle von Röntgenstrahlung ©<br />
C. Näther<br />
CAU Kiel<br />
Unterschied zur Röntgenbeugung:<br />
• Atomformfaktor ist für im PES benachbarte Elemente meist völlig unterschiedlich<br />
• Keine Absorptionsprobleme<br />
Nachteile:<br />
• Nur in Großforschungseinrichtungen verfügbar<br />
• Wellenlänge (> 2 Å)<br />
• Verbindungen müssen deuteriert werden<br />
Typische Anwendungen:<br />
• Bestimmung genauer Atomkoordinaten und Bindungslängen (insb. zu H-Atomen)<br />
• Bestimmung magnetischer Eigenschaften (Neutron wechselwirkt mit Spin)<br />
Geometrische und magnetische Struktur<br />
Pulverdiffraktogramm<br />
Ferromagnet<br />
Antiferromagnet<br />
Ferromagnet<br />
Antiferromagnet