03.02.2015 Aufrufe

DACs und ADCs (330kb)

DACs und ADCs (330kb)

DACs und ADCs (330kb)

MEHR ANZEIGEN
WENIGER ANZEIGEN

Erfolgreiche ePaper selbst erstellen

Machen Sie aus Ihren PDF Publikationen ein blätterbares Flipbook mit unserer einzigartigen Google optimierten e-Paper Software.

<strong>DACs</strong> <strong>und</strong> <strong>ADCs</strong>


Anwendungsbereiche<br />

DAC = Digital-Analog-Converter: Wandlung von digitalen Werten in analoge Spannungen/Ströme<br />

– Erzeugung von Audio-Signalen (CD Player, Handy,..)<br />

– Erzeugung von Video-Signalen (Grafikkarten, Beamer,...)<br />

– Einstellung von Arbeitspunkten in ICs<br />

ADC = Analog-Digital-Converter: Wandlung analoger Spannungen/Ströme in digitale Werte<br />

– Wandlung von Audio Signalen (Handy-Micro, Digitale Musikaufnahmen, ...)<br />

– Wandlung von Video Signalen (in Kameras, Frame Grabbern, ...)<br />

– Meßwerterfassung (Temperatur, Druck, Helligkeit etc..)<br />

Signalverarbeitung geschieht heute oft digital. Aufbau daher oft:<br />

analoge<br />

Information<br />

ADC<br />

DSP<br />

DAC<br />

analoge<br />

Information<br />

Digitaler<br />

Signal<br />

Prozessor<br />

VLSI Design WS05/06 - DAC <strong>und</strong> ADC<br />

P. Fischer, TI, Uni Mannheim, Seite 2


Kenngrößen<br />

Auflösung (resolution) N<br />

Geschwindigkeit<br />

Leistungsaufnahme<br />

Anzahl Werte, die getrennt werden. Angegeben in Bit.<br />

8 Bit = 2 8 = 256 Stufen<br />

10 Bit = 2 10 = 1024 Stufen etc.<br />

Maximale Frequenz, mit der analoge Werte gewandelt/digitalisiert<br />

werden können<br />

FSR = Full Scale Range: Maximale Spannung / maximaler Strom, der gemessen/erzeugt werden kann<br />

LSB = das Datenbit, das der kleinstmöglichen analogen Änderung (FSR/2 N ) entspricht. Meist Bit 0.<br />

MSB = das Datenbit, mit dem sich der analoge Wert um ½ FSR ändert. Meist Bit (N-1).<br />

Auswahl <strong>DACs</strong> (2002): 8 Bit @ 1 GHz<br />

14 Bit @ 300 MHz (1W)<br />

16 Bit @ 1 MHz (800µW, Maxim: 10$)<br />

18 Bit @ 30MHz (600mW, Analog Devices)<br />

Typische Werte ADC (2002): 6 Bit @ 1GHz<br />

12 Bit @ 100 MHz (Analog Devices)<br />

16 Bit @ 1MHz, 20$<br />

18 Bit @ Hz, Dual Slope, 8$<br />

24 Bit @ 10 kHz, Oversampling<br />

VLSI Design WS05/06 - DAC <strong>und</strong> ADC<br />

P. Fischer, TI, Uni Mannheim, Seite 3


Transferverhalten: Offset Fehler<br />

Oft nicht schlimm, kann 'weggeeicht' werden.<br />

(Hinweis eines ‚Experten‘ per email: ‚Eichen darf nur das Eichamt‘ – also: kann ‚wegkalibriert‘ werden)<br />

VLSI Design WS05/06 - DAC <strong>und</strong> ADC<br />

P. Fischer, TI, Uni Mannheim, Seite 5


Transferverhalten: Verstärkungs- (Gain-) Fehler<br />

Kann oft weggeeicht – pardon: wegkalibriert werden. Daher oft nicht kritisch<br />

VLSI Design WS05/06 - DAC <strong>und</strong> ADC<br />

P. Fischer, TI, Uni Mannheim, Seite 6


DAC Nicht-Linearität<br />

Sehr störend. Führt zu Verzerrung des Signals.<br />

VLSI Design WS05/06 - DAC <strong>und</strong> ADC<br />

P. Fischer, TI, Uni Mannheim, Seite 7


INL and DNL, effektive Auflösung<br />

Differential Non-linearity (DNL):<br />

Im Idealfall sollten alle Stufen die gleiche Höhe haben.<br />

DNL= (größte) Abweichung der Stufen von der Sollhöhe.<br />

Referenz ist meist eine an die Messwerte angepaßte Gerade<br />

Integral Non-Linearity (INL):<br />

INL = (größte) Abweichung zwischen idealer Kennlinie (Gerade) <strong>und</strong> gemessenen Werten.<br />

Wesentlich strengeres Kriterium als DNL!<br />

DNL <strong>und</strong> INL werden meist in LSB angegeben<br />

Weiter Kenngrößen:<br />

Missing Codes (ADC): Es kann sein, daß systematisch gewisse Bitkombinationen bei einem ADC nicht<br />

vorkommen!<br />

Monotonizität (ADC, DAC): Verlange, daß z.B. die Ausgangsspannung nie abfällt wenn digitale Werte<br />

ansteigen<br />

Settling Time (DAC): Zeit die benötigt wird, bis der Ausgang sich dem Sollwert auf eine gewisse<br />

Genauigkeit (z.B. 0.5 LSB) angenähert hat.<br />

Conversion Time (ADC): Kehrwert der maximalen Konversionsrate. Manche <strong>ADCs</strong> haben interne<br />

Pipelines. Sie brauchen mehrere Takte, um den Ausgangswert zu ermitteln.<br />

Glitches (DAC): kurzzeitige falsche Ausgangswerte. Am schlimmsten meist beim Schalten des MSB:<br />

Beim Schalten von 7 ⇒ 8 (4 bit DAC): 0111 ⇒ 0000 ⇒ 1000 Ausgang kurzzeitig auf Null<br />

VLSI Design WS05/06 - DAC <strong>und</strong> ADC<br />

P. Fischer, TI, Uni Mannheim, Seite 8


<strong>DACs</strong>


Idealer DAC<br />

Eingang ist ein N-bit Wort: b N-1<br />

, …, b 1<br />

, b 0<br />

, das den Wert B = b N-1<br />

2 -1 + b N-2<br />

2 -2 + ... + b 1<br />

2 -(N-1) +b 0<br />

2 -N<br />

V out<br />

= V ref<br />

x B<br />

Auflösung = VLSB = V ref<br />

/ 2 N<br />

VLSI Design WS05/06 - DAC <strong>und</strong> ADC<br />

P. Fischer, TI, Uni Mannheim, Seite 10


Widerstandsteiler<br />

Erzeuge 2 N Referenz-Signale mit einem<br />

ohm'schen Spannungsteiler<br />

Das Matching der Widerstände muß auf<br />

LSB-Niveau sein.<br />

Wähle eines der Signale mit MUX aus<br />

+ Sehr einfach<br />

+ Garantiert monoton<br />

– Layout groß da 2 N Widerstände benötigt.<br />

(Widerstände in CMOS sind groß!)<br />

– RC-Zeit durch viele Pass-Gates groß<br />

⇒ Settling-Zeit schlecht<br />

(wird quadratisch mit N schlechter, s.<br />

Kapitel Pass-Transistor Logik)<br />

– DC-Stromfluß in der Widerstandskette,<br />

V ref<br />

wird belastet.<br />

Verbesserung:<br />

Nur eine Reihe Schalter mit digitalem<br />

Decoder.<br />

3 bit DAC<br />

VLSI Design WS05/06 - DAC <strong>und</strong> ADC<br />

P. Fischer, TI, Uni Mannheim, Seite 11


Kaskadierte Widerstandsteiler<br />

Erzeuge Grob- <strong>und</strong> Feinwerte in 2 Stufen mit<br />

zwei Spannungsteilern<br />

+ Benötigt nur 2x2 N/2 Widerstände<br />

+ Gut für höhere Auflösung<br />

+ Matching der Widerstände der zweiten Kette ist<br />

relativ unkritisch<br />

– Widerstände der ersten Kette müssen auf LSB-<br />

Niveau übereinstimmen<br />

– Offset-Spannungen <strong>und</strong> Verstärkung der Buffer<br />

sind kritisch<br />

Beispiel 6 Bit DAC<br />

VLSI Design WS05/06 - DAC <strong>und</strong> ADC<br />

P. Fischer, TI, Uni Mannheim, Seite 12


R-2R Netzwerk<br />

Clevere Schaltung, die mit Widerständen mit Werten R <strong>und</strong> 2R auskommt.<br />

Jede Stufe hat den Eingangswiderstand R<br />

In den ‚2R‘ Widerstände fließen je um die Hälfte niedrigere Ströme<br />

R 1<br />

= 2R||2R = R<br />

R' = 2R<br />

R 2<br />

= 2R||2R = R<br />

R' = R+R = 2R<br />

R 3<br />

= 2R||2R = R<br />

R' = R+R = 2R<br />

R 4<br />

= 2R||2R = R<br />

R' = 2R<br />

V REF<br />

R<br />

R<br />

R<br />

2R<br />

2R<br />

V REF V REF /2<br />

V REF /4 V REF /8<br />

2R<br />

2R<br />

2R<br />

I<br />

1 =<br />

V REF<br />

2 R<br />

I<br />

1 =<br />

V REF<br />

4 R<br />

I<br />

1 =<br />

V<br />

8R<br />

REF<br />

I<br />

1 =<br />

V REF<br />

16 R<br />

VLSI Design WS05/06 - DAC <strong>und</strong> ADC<br />

P. Fischer, TI, Uni Mannheim, Seite 13


R-2R DAC<br />

V REF<br />

R<br />

R<br />

R<br />

2R<br />

2R<br />

2R<br />

2R<br />

2R<br />

MSB<br />

LSB<br />

R f<br />

Ströme werden in einer virtuellen Masse aufsummiert<br />

Durchgangswiderstand der Schalter kritisch, da Ströme unterschiedlich. Daher Schalter links größer<br />

Sehr einfach, wenige Widerstände<br />

VLSI Design WS05/06 - DAC <strong>und</strong> ADC<br />

P. Fischer, TI, Uni Mannheim, Seite 14


Strom – <strong>DACs</strong> mit skalierten Stromquellen<br />

Erzeuge Ausgangsstrom durch Summation von Strömen (Einfach! – Kirchhoff!)<br />

Einfachste Variante: Erzeuge Ströme I REF<br />

, I REF<br />

/2, I REF<br />

/4,... (Stromspiegel mit unterschiedlichen W bzw. m)<br />

Unbenutzte Ströme werden oft nach 'Masse' geleitet, um den Stromverbrauch der Schaltung konstant zu<br />

halten <strong>und</strong> die dynamischen Eigenschaften (Einschalten der Stromquelle) zu verbessern<br />

+ Sehr einfach, CMOS kompatibel<br />

+ Nur N Stromquellen<br />

– Das Matching der unterschiedlichen Stromquellen muß aufs LSB genau sein!<br />

– Nicht garantiert monoton. INL <strong>und</strong> DNL nicht gut. Glitch beim MSB wahrscheinlich (4I + 2I + 1I ⇒ 8I)<br />

I REF<br />

I REF<br />

/2 I REF<br />

/4 I REF<br />

/8<br />

MSB<br />

LSB<br />

R f<br />

VLSI Design WS05/06 - DAC <strong>und</strong> ADC<br />

P. Fischer, TI, Uni Mannheim, Seite 15


Strom – <strong>DACs</strong> mit Thermometer Code<br />

Anderes Extrem: Benutze 2 N identische LSB-Stromquellen, die der Reihe nach angeschaltet werden<br />

'Thermometer Code'<br />

+ Garantiert monoton. INL <strong>und</strong> DNL gut.<br />

+ Sehr geringe Glitches, wenn der Decoder gutes Timing hat<br />

– Große Fläche, Ansteuerung der Schalter komplizierter<br />

Details: - Die Stromquellen müssen gut 'matchen'. Sie werden in einer<br />

regelmäßigen Matrix angeordnet.<br />

- Mögliche Gradienten (in V T<br />

, K etc.) werden durch die Reihenfolge des Einschaltens kompensiert<br />

- Die Stromquellen werden kaskodiert, um den Ausgangswiderstand zu erhöhen.<br />

Die Kaskoden können in den Schalter 'integriert' werden<br />

I = V REF<br />

/ R REF<br />

V REF<br />

durch<br />

Rückkopplung<br />

2 N mal<br />

VLSI Design WS05/06 - DAC <strong>und</strong> ADC<br />

P. Fischer, TI, Uni Mannheim, Seite 16


'Hybrider' Strom – DAC<br />

Kompromiß: Thermometer – Code für die höheren Bits, skalierte Stromquellen für die 2-4 unteren Bits<br />

Z.Z. die populärste Architektur<br />

Thermometer-Code<br />

Skalierte Quellen<br />

VLSI Design WS05/06 - DAC <strong>und</strong> ADC<br />

P. Fischer, TI, Uni Mannheim, Seite 17


Beispiel Hybrider Current Steering DAC<br />

VLSI Design WS05/06 - DAC <strong>und</strong> ADC<br />

P. Fischer, TI, Uni Mannheim, Seite 18


State of the Art<br />

10 Bit<br />

1GS/s<br />

INL < 0.2LSB<br />

DNL


Tipps auf einer dänischen Seite....<br />

Hinweise zur Kaskodierung<br />

VLSI Design WS05/06 - DAC <strong>und</strong> ADC<br />

P. Fischer, TI, Uni Mannheim, Seite 20


<strong>DACs</strong> mit 'Switched Capacitors'<br />

Geschaltete Kondensatoren werden in einer Vielzahl von Anwendungen benutzt:<br />

Die Kondensatoren werden geladen <strong>und</strong> dann an einen Integrator geschaltet<br />

Vorsicht vor Ladungsinjektion in den Schalttransistoren!<br />

Wesentliche Verbesserung durch differentielle Schaltungen<br />

Offset des Verstärkers kann durch geschickte Schaltsequenzen kompensiert werden<br />

Kondensatoren müssen 'linear' (d.h. spannungs-unabhängig) sein -> Meist spezielle Poly1-Poly2 Caps<br />

Viele Varianten möglich (auch mit identischen Kondensatoren)<br />

Nicht geeignet für statische Anwendungen!<br />

VLSI Design WS05/06 - DAC <strong>und</strong> ADC<br />

P. Fischer, TI, Uni Mannheim, Seite 21


Oversampling <strong>DACs</strong><br />

IDEE (sehr allgemein einsetzbar):<br />

- Ein hochfrequentes Signal wird mit niedriger Auflösung (wenige Bit) geeignet erzeugt<br />

- Die hohen Frequenzkomponenten werden ausgefiltert<br />

Extremfall: '1Bit Converter' für Audio-Anwendungen (44kHz Konversions-Rate)<br />

Sehr schematisch:<br />

1 Bit Signal<br />

Nach Filter<br />

0.5 0.25 1 0 0.75<br />

VLSI Design WS05/06 - DAC <strong>und</strong> ADC<br />

P. Fischer, TI, Uni Mannheim, Seite 22


<strong>ADCs</strong>


Sample <strong>und</strong> Hold<br />

Vor der Konversion wird das Eingangssignal meist abgetastet <strong>und</strong> gespeichert.<br />

'Sample and Hold' = S&H oder 'Track and Hold' = T&H<br />

Meist mit Kondensator <strong>und</strong> Schalter.<br />

Probleme:<br />

- RC-'settling'-Zeit muß klein sein, damit die Kondensatorspannung auf < 1 LSB stabil ist<br />

- Öffnen des Schalters muß immer an einem genau definierten Zeitpunkt erfolgen 'Apertur-Error'<br />

(Es gibt einen Signalabhängigen Anteil im Schalter!)<br />

- Kondensatorspannung muß während der Konversion stabil bleiben (Leckstrom klein – 'droop')<br />

- Vorsicht vor Ladungsinjektion durch den Schalter -> 'Dummy' Transistoren zur Kompensation<br />

Viele trickreiche Schaltungen wurden hierfür entwickelt!<br />

U<br />

1x 2x 1x<br />

in<br />

U cap<br />

VLSI Design WS05/06 - DAC <strong>und</strong> ADC<br />

P. Fischer, TI, Uni Mannheim, Seite 24


Integrierender ADC (dual Slope)<br />

Idee:<br />

- Wandle Eingangsspannung in Strom. I in<br />

= U in<br />

/ R<br />

- Integriere den Strom auf Kondensator C auf.<br />

- Miß Zeit, bis eine feste Spannung U ref<br />

erreicht ist: T = CU ref<br />

/ I in<br />

= RC x U ref<br />

/ U in<br />

Problem: Zeit hängt von RC ab. Schwer zu kontrollieren.<br />

Dual Slope Prinzip:<br />

1. Reset des Ladungsverstärkers<br />

2. Integriere U in<br />

für bekannte Zeit T 1<br />

auf. Q sig<br />

= -T 1<br />

I in<br />

= -T 1<br />

U in<br />

/R<br />

3. Integriere -U ref<br />

auf, bis Ausgangsspannung Null wird.<br />

Miß die Zeit T 2<br />

: Q ref<br />

= T 2<br />

U ref<br />

/R = - Q sig<br />

= T 1<br />

U in<br />

/R<br />

Hängt NICHT mehr von R oder C ab!<br />

U in<br />

= U ref<br />

x T 2<br />

/T 1<br />

Integrator<br />

Komparator<br />

U in<br />

U ref<br />

R<br />

Logik,<br />

Zeitmessung<br />

VLSI Design WS05/06 - DAC <strong>und</strong> ADC<br />

P. Fischer, TI, Uni Mannheim, Seite 25


Dual Slope ADC<br />

U int<br />

U sig<br />

= T 1<br />

U in<br />

/RC<br />

Steigung hängt<br />

von U in<br />

ab<br />

Konstante<br />

Steigungen<br />

t<br />

T 1<br />

T 2<br />

Reset<br />

Sehr hohe Auflösungen (20 Bit) möglich<br />

T 1<br />

wird (in Europa) of zu 20ms gewählt, so daß sich 50Hz-Brumm-Komponenten wegmitteln<br />

Ladungsinjektion nach dem Reset erzeugt einen Fehler. Dieser kann durch Tricks eliminiert werden<br />

VLSI Design WS05/06 - DAC <strong>und</strong> ADC<br />

P. Fischer, TI, Uni Mannheim, Seite 26


Sukzessive Approximation<br />

Erzeuge mit einem DAC eine interne Spannung<br />

Bestimme den DAC-Wert, der der Eingangsspannung am Nächsten kommt<br />

Für N Bit sind N Suchschritte nötig:<br />

1. Schritt: Vergleich mit U ref<br />

/2<br />

U in U ref /2<br />

2. Schritt: Vergleich mit U ref<br />

/4 Vergleich mit 3/2 U ref<br />

3. Schritt: etc.<br />

U in<br />

S&H<br />

Komparator<br />

– Aufwand für DAC ist relativ hoch<br />

– Wenn früh eine falsche Entscheidung<br />

fällt ist das Ergebnis falsch!<br />

DAC<br />

U ref<br />

Logik<br />

VLSI Design WS05/06 - DAC <strong>und</strong> ADC<br />

P. Fischer, TI, Uni Mannheim, Seite 27


Flash ADC<br />

Eingangsspannung wird simultan<br />

mit 2 N Referenzwerten verglichen<br />

Thermometercode wird in Binärcode<br />

verwandelt<br />

Sehr schnell<br />

Hoher Aufwand (2 N -1 Komparatoren!)<br />

Hoher Stromverbrauch<br />

Hohe Fläche<br />

Geeignet für 6-7 Bit<br />

Design nicht einfach:<br />

- kapazitive Belastung v. Vin<br />

- 'Noise' durch gleichzeitiges Schalten<br />

vieler Komparatoren<br />

- Belastung des Spannungsteilers,<br />

falls Komparatoren DC-Strom am<br />

Eingang haben<br />

VLSI Design WS05/06 - DAC <strong>und</strong> ADC<br />

P. Fischer, TI, Uni Mannheim, Seite 28


Zweistufiger Flash ADC<br />

Zweistufige Konversion:<br />

1. Grobe Konversion (z.B. 4 Bit). Der entsprechende Analogwert wird in einem DAC erzeugt <strong>und</strong><br />

vom Eingangssignal abgezogen.<br />

2. Nach Hochverstärken des Differenzsignals erneute Konversion<br />

U in<br />

4 Bit<br />

Flash<br />

DAC<br />

x 16<br />

4 Bit<br />

Flash<br />

4 MSB 4 LSB<br />

Wesentlich weniger Hardware / Fläche / Leistung als bei reinem Flash-ADC<br />

Genauigkeitsanforderungen an Komparatoren etc. viel geringer<br />

Fehlerkorrektur (bei falscher Entscheidung in der ersten Stufe) ist relativ einfach möglich. (Zweiter Flash<br />

ADC hat dann ein Bit mehr Auflösung)<br />

Z.Z. die populärste Architektur für schnelle <strong>ADCs</strong> mit mittlerer Auflösung<br />

VLSI Design WS05/06 - DAC <strong>und</strong> ADC<br />

P. Fischer, TI, Uni Mannheim, Seite 29


Algorithmische <strong>ADCs</strong><br />

Das Two-Step-Prinzip wird noch öfter angewendet. Extremfall: 1 Komparator pro Bit:<br />

Für einen Eingangsbereich von U in<br />

= 0...2 x U ref<br />

:<br />

- Wenn U in<br />

< U ref<br />

: Bit = 0, Ausgang = 2 x U in<br />

Ausgangsbereich 0..2 x U ref<br />

- Wenn U in<br />

> U ref<br />

: Bit = 1, Ausgang = 2 x (U in<br />

-U ref<br />

) Ausgangsbereich 0..2 x U ref<br />

U in<br />

Komparator<br />

nächste<br />

Stufe<br />

U ref<br />

U ref<br />

x 2<br />

Bit i<br />

Sehr populär<br />

Fehlerkorrektur in jeder Stufe möglich. Komparator ist dann unkritisch!<br />

Alle Stufen sind identisch. Das vereinfacht das Design<br />

Anzahl Bits ist nur durch die Qualität der einzelnen Blöcke limitiert.<br />

Implementierung mit Spannungen, Strömen, als Switched Capacitor,....<br />

VLSI Design WS05/06 - DAC <strong>und</strong> ADC<br />

P. Fischer, TI, Uni Mannheim, Seite 30


Pipeline ADC<br />

Bei mehrstufigen Verfahren: Übergib Ergebnis einer Stufe nach einem Takt zur nächsten Stufe.<br />

Sofort nach der Übergabe des Ergebnisses verarbeitet jede Stufe ein neues Ereignis<br />

Die Schaltung akzeptiert in jedem Takt einen Analogwert <strong>und</strong> gibt einen Digitalwert aus<br />

Ergebnisse erscheinen mit einer LATENZ von K Takten (K = Anzahl Stufen) am Ausgang<br />

Sehr gut geeignet für algorithmische <strong>ADCs</strong><br />

VLSI Design WS05/06 - DAC <strong>und</strong> ADC<br />

P. Fischer, TI, Uni Mannheim, Seite 31


Oversampling <strong>ADCs</strong><br />

Durch häufiges Messen mit niedrigerer Auflösung läßt sich mit geeigneten Schaltungen die Auflösung<br />

erhöhen.<br />

Gut für AC-Signale<br />

Oversampling <strong>ADCs</strong> messen daher mit Frequenzen, die höher sind als die Nyquist Frequenz 2f max<br />

<strong>und</strong><br />

verarbeiten die Daten Digital<br />

Hier nicht weiter behandelt. Konzeptionell schwierig. Viele trickreiche Verbesserungen möglich.<br />

Stichwort Delta-Sigma Wandler.<br />

Sehr hohe Auflösungen (24 Bit) mit 'relativ' geringem Aufwand.<br />

Standard für Audio-Anwendungen<br />

VLSI Design WS05/06 - DAC <strong>und</strong> ADC<br />

P. Fischer, TI, Uni Mannheim, Seite 32


Referenzen


Referenzen sollen unabhängig sein von:<br />

- Betriebsspannung<br />

- Temperatur<br />

- Bauteiltoleranzen<br />

Spannungs / Strom- Referenzen<br />

Einfachstes Beispiel: MOSFET Spannungsteiler<br />

- Im Idealfall unabhängig von Temperatur <strong>und</strong> Bauteiltoleranzen,<br />

- Aber proportional zur Betriebsspannung<br />

Beispiel: MOS mit Widerstand<br />

- Geringere Abhängigkeit von Betriebsspannung<br />

- Abhängig von Temperatur (via MOS <strong>und</strong> TC des Widerstands)<br />

- Abhängig von Bauteilen<br />

Beispiel: 'Unsere' Referenzschaltung in weak Inversion:<br />

VLSI Design WS05/06 - DAC <strong>und</strong> ADC<br />

P. Fischer, TI, Uni Mannheim, Seite 34


Referenz-Spannungsquelle<br />

Schwache Inversion:<br />

10<br />

Starke Inversion:<br />

I<br />

D<br />

=<br />

I<br />

DO<br />

e<br />

V<br />

nU<br />

G<br />

Th<br />

e<br />

−V<br />

U<br />

S<br />

Th<br />

I D<br />

[µA]<br />

1<br />

0,1<br />

I<br />

D<br />

=<br />

K<br />

2<br />

W<br />

L<br />

( V − V ) 2<br />

GS<br />

T<br />

0,01<br />

I<br />

0<br />

=<br />

m I<br />

DO<br />

e<br />

V<br />

V<br />

nU<br />

1<br />

I I nU Th<br />

DO e<br />

1<br />

e<br />

−V<br />

2<br />

Th<br />

U Th<br />

1E-3<br />

0,4 0,6 0,8 1,0 1,2 1,4<br />

V GS<br />

[V]<br />

I 0 I 0<br />

I<br />

I<br />

=<br />

( V − V − V ) 2<br />

0 K W<br />

2 L 1 2 T<br />

=<br />

m<br />

( V − V ) 2<br />

0 K W<br />

2 L 1 T<br />

0 = I V2<br />

R<br />

0 = m<br />

/<br />

V 1<br />

I0 = V2<br />

/R<br />

kT<br />

m 1<br />

⇒ V 2 = ln<br />

V<br />

q<br />

2<br />

2<br />

m<br />

W K<br />

R<br />

L 2<br />

R<br />

⇒<br />

V<br />

=<br />

m<br />

−1<br />

1<br />

Hängt von Prozessparametern ab!<br />

☺<br />

VLSI Design WS05/06 - DAC <strong>und</strong> ADC<br />

☹<br />

P. Fischer, TI, Uni Mannheim, Seite 35


Bandgap Referenz<br />

Idee: Erzeuge eine temperaturunabhängige Spannung durch Summation einer Spannung mit einem<br />

positiven Temperaturkoeffizienten (TC) <strong>und</strong> einer Spannung mit einem negativen TC<br />

Die Vorwärts-Spannung einer Diode hat einen negativen TC = dV BE<br />

/dT ~ -2mV/K<br />

Eine Spannung, die mit der Temperatur ansteigt (PTAT – Spannung 'Proportional To Absolute<br />

Temperature) kann man auf verschieden Art erzeugen (s. vorne: 0.085mV/K)<br />

Blockschaltbild:<br />

I B<br />

-2mV/K<br />

Vref<br />

PTAT, z.B. kT/q<br />

0.085mV/K<br />

x k<br />

Das funktioniert nur gut in einem begrenzten Temperaturbereich, da bei genauerer Betrachtung alles<br />

nicht-linear von der Temperatur abhängt<br />

Verschiedene Möglichkeiten zur Verbesserungen wurden vorgeschlagen<br />

VLSI Design WS05/06 - DAC <strong>und</strong> ADC<br />

P. Fischer, TI, Uni Mannheim, Seite 36

Hurra! Ihre Datei wurde hochgeladen und ist bereit für die Veröffentlichung.

Erfolgreich gespeichert!

Leider ist etwas schief gelaufen!