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VASEª Messungen an dünnen, beschichteten Mylarfolien

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L.O.T.-Oriel GmbHIm Tiefen See 58D 64293 Darmstadt.1.0Generated <strong>an</strong>d Experimental Data3.4tio2_zt Optical Const<strong>an</strong>ts1.0Tr<strong>an</strong>smission0.80.60.40.2Model FitExp pT 0°Index of refraction 'n'3.23.02.82.62.4nk0.80.60.40.2Extinction Coefficient 'k'0.0300 600 900 1200 1500 1800Wavelength in nm2.20.0300 600 900 1200 1500 1800Wavelength in nmTiN auf Mylar:Auch bei dieser Probe mit nominell 30 nm TiN wurden Tr<strong>an</strong>smissionsdaten in der Analysemit <strong>an</strong>gefittet. Zur Beschreibung der optischen Konst<strong>an</strong>ten dieser metallischen Schichthaben wir ein Lorentz-Oszillatormodell mit drei Oszillatoren verwendet.1 tin_z 28.193 nm MSE=2.950 mylar 0.025 mm Thick.1 28.193±0.67835Generated <strong>an</strong>d Experimental Data180Generated <strong>an</strong>d Experimental Data30160Psi in degrees252015Model FitExp E 60°Exp E 65°Exp E 70°Delta in degrees14012010080Model FitExp E 60°Exp E 65°Exp E 70°10300 600 900 1200 1500 1800Wavelength in nm60300 600 900 1200 1500 1800Wavelength in nm1.00Generated <strong>an</strong>d Experimental Data3.3tin_z Optical Const<strong>an</strong>ts6.0Tr<strong>an</strong>smission0.800.600.400.20Model FitExp pT 0°Index of refraction 'n'3.02.72.42.11.81.5nk5.04.03.02.01.0Extinction Coefficient 'k'0.00300 600 900 1200 1500 1800Wavelength in nm1.20.0300 600 900 1200 1500 1800Wavelength in nm7

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