SMT 1-2 2011 Seite 22 - SPEA GmbH
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<strong>SPEA</strong> Anwendertreffen 2010<br />
Die <strong>SPEA</strong> <strong>GmbH</strong> veranstaltete Ende letzten September ihr fünftes Anwendertreffen im<br />
Contel Hotel in Koblenz. 65 Teilnehmer aus unterschiedlichen Branchen wurden<br />
interessante Vorträge geboten, die vielseitige Einsatzmöglichkeiten des <strong>SPEA</strong> 3030<br />
Testers und der COMPASS Software aufzeigten. Uwe Winkler von <strong>SPEA</strong> moderierte<br />
die Vorträge<br />
Anwendungen<br />
Die Vortragsserie wurde von Jürgen Grün und Heiko Hofmann mit dem Thema<br />
"Konfigurationsmöglichkeiten und Anwendungsbereiche" begonnen. Dabei wurden die Einsatzgebiete<br />
der Siemens AG Energy Automation in Berlin, mit der Geschäftseinheit Division Power Distribution<br />
vorgestellt. Sie bedienen die gesamte Energie Wertschöpfungskette von der Erzeugung bis zum<br />
Verbrauch. Hauptaufgabenstellung war dort Adapterkontaktierung off- und inline, Umsetzung von<br />
BZIF auf Inline 3030 Adapter, Incircuit Test, Funktionstest, Leistungstest, OPD und Boundary Scan<br />
zur Optimierung der Produkte.<br />
Ein anderes Anwendungsfeld bedient die ACD Gruppe. Das Unternehmen befasst sich mit den<br />
Bereichen Automation, Computer- und Datentechnik. Die <strong>SPEA</strong> Geräte kommen zur<br />
Qualitätssicherung und Rationalisierung zum Einsatz. Herausforderungen ergeben sich durch<br />
wechselnde Losgrößen mit wechselnder Typenvielfalt. Das erfordert preiswerte Adapterwechsel und<br />
ökonomische und leicht handhabbare Systeme.<br />
Bei der ebm papst Gruppe wird das noch deutlicher. An den Standorten in Mulfingen und St. Georgen<br />
mit 4100 Mitarbeitern werden Ventilatoren, Gebläse, Pumpen und Motoren für viele Industriezweige<br />
produziert. Losgrößen von eins bis 5000, Muster Prototypen, Nullserien, Typenvielfalt und hohe<br />
Varianz zählen zu den Herausforderungen. Große Serien sind seltener der Fall. Hier konnte <strong>SPEA</strong> mit<br />
dem 3030-C-P mit AC/DC Generator erstmals punkten.<br />
Über die Integration von Boundary Scan mit <strong>SPEA</strong> 3030 berichtete Hinrich Tietjen, Inhaber der TAP<br />
Tietjen Automatisierte Prüftechnik Bremen. Tietjen hat sich seit 1997 als Dienstleistungsunternehmen<br />
im Technologiezentrum Bremen Nord TZBN auf die Prüfung von Baugruppen spezialisiert. Das<br />
Unternehmen konzentriert sich auf die Schwerpunkte: In-Circuit- und Funktionstests mit <strong>SPEA</strong>-<br />
Systemen, Boundary Scan Tests von Göpel, Konzeption und Bau eigenständiger Prüfanwendungen<br />
und Adapterbau. Im konkreten Fall werden die Programme für den <strong>SPEA</strong> 3030 über die Software<br />
Cascon von Göpel erstellt. Alle Softwarefunktionen sind über eine graphische Nutzeroberfläche<br />
zugänglich. Die modular aufgebaute Software ermöglicht Skalierungen auf höhere Standards. In-<br />
Circuit Tests benötigen Stifte zum Kontakt mit den Netzen, aber auch Bourdary Scan Tests allerdings<br />
mit elektronischen Nadeln. Da im Falle der Kontaktierung mit Nadelbettadaptern, eine zunehmende<br />
Anzahl von Bauteilen aufgrund des geringen Abstandes nicht zu kontaktieren ist, bietet sich der<br />
Boundary Scan Test an.<br />
Zur Lösung des Problems gibt es zwei Wege. BSC mit Göpel Hardware und JTAG-Bus mit 3030 Pin-<br />
Elektronik und OBP-Treiber (CEV- Files).<br />
Im ersten Fall ergeben sich folgende Vorteile: Hohe TCK-Frequenz (Flash-Programmierung).<br />
Integrierte Fehlerdiagnose mit Cascon und die Nutzung mehrerer Scan-Ketten. Nachteilig sind die<br />
Kosten für die Göpel Software und Hardware. Der zweite Weg benötigt keine Boundary Scan<br />
Hardware, ebenso ist keine Cascon Installation auf dem Prüfrechner erforderlich. Die Fehlerdiagnose<br />
erfolg mit Cascon. Nachteilig ist allerdings die geringe TCK-Frequenz, die mit der Anzahl der<br />
genutzten Scanner sinkt.<br />
Das COMPASS Konzept<br />
Das Konzept besteht aus drei Grundbausteinen, Prüfdatenerfassung, Reparaturhilfe und<br />
Fehlerauswertung. Michael Suppas von <strong>SPEA</strong> erläuterte, wie mit der Software alle Prüfdaten erfasst<br />
und analysiert werden. Eine große Anzahl von ATE-Schnittstellen garantiert die Anbindung anderer<br />
Systeme auch AOl-Schnittstellen sind integriert.<br />
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Jeder analysierte Fehler kann beispielsweise an der Reparaturstation Darts-M angezeigt werden und<br />
führt zur Einsparung von Reparaturzeit.<br />
COMPASS erfasst papierlos die Daten von Prüf- und Testsystemen unabhängig vom Hersteller und<br />
gestattet ein Online Monitoring vom Schreibtisch aus. Mit dem Modul Gerätemontage wird der<br />
Zusammenbau kompletter Geräte überwacht. Alle Prüfprotokolle und Aktionen werden für die heute<br />
so wichtige Baugruppen-Traceability aufgezeichnet.<br />
Frank Schneeweiß von <strong>SPEA</strong> ging auf COMPASS-Neuigkeiten ein. Die Erfassung aller Prüfprotokolle<br />
und Reparaturaktionen wurden um weitere Details ergänzt. In Reparaturstationen lassen sich die in<br />
einem lesbaren ASCII-Format übermittelten Reparaturdaten nutzerfreundlich darstellen und<br />
bearbeiten.<br />
Die qualitative Prüfung, d. h. Fehler bei bestimmten Merkmalen sind vorhanden oder nicht vorhanden,<br />
wird gewählt, wenn eine quantitative, d. h. messende Prüfung nicht möglich oder unwirtschaftlich ist.<br />
Haben die zu prüfenden Baugruppen keine Seriennummer, kann dafür eine Fehlersammelkarte<br />
verwendet werden. Hier können in komprimierter und trotzdem übersichtlicher Form Fehler qualitativer<br />
Merkmale erfasst werden.<br />
Die Erfassung mit COMPASS bietet folgende Vorteile: Grafische Unterstützung bei der Bauteilsuche;<br />
die Bauteile werden nicht nur nach Typ sondem auch mit der Einbauposition erfasst; die Daten<br />
werden sofort in der Datenbank abgespeichert und stehen damit den anderen Prozessen zur<br />
Verfügung; es gibt keine unterschiedlichen Tools bei der Baugruppe mit und ohne Seriennummer;<br />
beim Übergang zur Kennzeichnung mit Seriennummern kann weiterhin auf bereits erfasste Daten<br />
zurückgegriffen werden.<br />
„Die Qualitätsregelkarte (QRK) oder kurz Regelkarte wird im Qualitätsmanagement zur Auswertung<br />
von Prüfdaten eingesetzt." Die p-Karte zeigt den Anteil fehlerhafter Baugruppen zur Gesamtzahl der<br />
untersuchten Baugruppen. Das können Stichproben oder auch 100% Prüfungen sein. Bei 100%<br />
Prüfungen werden die Prüfungen in festen Zeitintervallen (Tag/Woche) als Stichprobe<br />
zusammengefasst. Der Stichprobenumfang ist bei der p-Karte variabel. Jede bewertete Baugruppe ist<br />
entweder fehlerfrei oder fehlerhaft, wobei mehrere unterschiedliche Merkmale zum Fehler führen<br />
können. Zusätzlich werden statistische Kennwerte: Mittelwert und Eingriffsgrenzen ermittelt. Die<br />
Darstellung erfolgt als Tabelle und als Diagramm.<br />
Mit Hilfe des Messengers kann die Qualitätssicherung Meldungen zu Mängeln direkt an die<br />
betreffenden Arbeitsstationen senden. Der Bediener wird ,,live" an der Station informiert und kann<br />
sofort Abhilfemaßnahmen einleiten.<br />
Gerätemontage live<br />
Wie sich die Konfiguration und Montage kompletter Geräte steuem läßt, demonstrierte Michael<br />
Suppas mit Hilfe der COMPASS Software. Das Modul Gerätemontage emöglicht die<br />
Zusammenstellung von verschiedenen Baugruppen. In eine Projektvorlage werden die zu<br />
montierenden Baugruppen, vorgefertigte Submodule und Zubehörteile eingetragen. Arbeits- und<br />
Montageanweisungen sind frei konfigurierbar. Alle Montage- und Arbeitsanweisungen werden auf ihre<br />
Vollständigkeit kontrolliert und jeder Arbeitsschritt, jedes eingesetzte Einzelteil und jede Baugruppe<br />
geprüft, so dass der Einbau von "FAlL"-Baugruppen oder "FAIL"-Modulen nicht möglich ist. Jede<br />
Baugruppe wird nur mit "Pass"-Prüfung aus der Fertigung entlassen. Defekte Baugruppen werden mit<br />
der Diagnose an einen Reparaturplatz übergeben.<br />
Miele<br />
Torsten Ziems, verantworllich für Elektronikentwicklung und Prüftechnik, stellte das Unternehmen<br />
Miele vor. Zur Sicherung der Kemkompetenz Elektronik bei Miele gehört die Entwicklung<br />
wettbewerbsfähiger Elektronik-Komponenten und eine Fertigung auf höchstem Qualitätsstandard.<br />
Dies ist nur mit hohen Anforderungen an die Prüftechnik möglich. Der Vortrag stellte die<br />
Herausforderungen dar, mit denen sich das Untemehmen auseinander setzen muss.<br />
Am späten Nachmittag des ersten Tages wurden die Teilnehmer auf die Ehrenburg an der Mosel<br />
eingeladen. Gestärkt mit Kaffe und Kuchen durften die Gäste unter der Anleitung der Brüder Gisbert<br />
und Ludger sich einem "mittelalterlichen Bogenschieß-Turnier" stellen. Anschließend erfolgte, für<br />
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manchen nicht einfach, der Aufstieg zur Burg Ehrenburg. Nach einer zünftigen Bewirtung im Rittersaal<br />
erfolgte zum Abschluss ein Fackelrundgang, der mit einer Feuertanzvorführung endete.<br />
LTi Electronics<br />
Am nächsten Morgen präsentierte Martin Ruppert die LTi Electronics <strong>GmbH</strong>. Das Unternehmen steht<br />
seit 2009 als Fertigungsdienstleister für elektronische Baugruppen sowohl den Unternehmen der LTi<br />
Unternehmensgruppe als auch dem freien Markt zur Verfügung. 120 Mitarbeiter arbeiten in einem<br />
neuen Gebäude auf einer Fertigungsfläche von ca. 2000 m 2 . Die LTi Electronics bietet seinen Kunden<br />
das umfassende Spektrum eines Electronic Manufacturing Services an. Derzeit werden ca. 230 000<br />
Baugruppen pro Jahr gefertigt. Baugruppen werden in der Regel ab Stückzahl 1 automatisiert<br />
getestet.<br />
Neben den Flying Probe Testern <strong>SPEA</strong> 4040und <strong>SPEA</strong> 4060 und dem <strong>SPEA</strong> 3030 kommen auch<br />
manuelle Test- und AOl-Systeme zum Einsatz. Als Datenbank zur Vernetzung von Testmitteln und<br />
Anlagen für Baugruppen und Geräte von verschiedenen Herstellern verwendet man COMPASS,<br />
deren Schnittstellen für Eigenprogrammierungen offengelegt sind. Damit sind kompakte statistische<br />
Auswertungen auf Baugruppen- und Prozessebene möglich.<br />
Vega<br />
Die VEGA Grieshaber KG in Schiltach, 1959 gegründet, hat sich zu einem führenden Anbieter<br />
intelligenter Füllstands- und Druckmessung entwickelt. Alexander Kraus erläuterte die verschiedenen<br />
industriellen Anwendungsgebiete in dem das Unternehmen heute vertreten ist. Durch die<br />
imponierende Entwicklung der Sensortechnik im letzten Jahrzehnt erfuhren auch die Füllstands-,<br />
Durchfluss- und Drucksensoren eine beeindruckende Verkleinerung ihres Volumens.<br />
Um eine Fertigung auf höchstem Qualitätsstandard zu garantieren wurde die COMPASS Software<br />
eingeführt. Zuvor waren die Prüfanweisungen in Prüfordnern abgelegt, was die Handhabung äußerst<br />
schwerfällig und fehleranfällig machte. Auch die Verwaltung der Daten war unübersichtlich, der Zugriff<br />
darauf zeitaufwändig und die Rückverfolgbarkeit eingeschränkt. Dieser Nachteil wurde durch<br />
COMPASS als das Infomationssystem, das alle Daten schnell, fehlerlos und nahezu in Echtzeit zur<br />
Verfügung stellt, beseitigt. COMPASS erfasst nicht nur alle relevanten Daten, sondem sorgt sich auch<br />
um die sofortige Auswertung, zeigt Trends in der Produktion ebenso auf wie Fehleranalysen in Bezug<br />
auf ausgewählte Baugruppen und Bauteile. VEGA nutzt die COMPASS Software auch zur Integration<br />
der unterschiedlichsten Testsysteme.<br />
E.G.O<br />
Thomas Mittermüller von der E.G.O. <strong>GmbH</strong> führte in seinem Referat "Zeitverschwendung erkennen<br />
und beseitigen" aus, dass nahezu jeder Test die Chance bietet, Laufzeiten zu verkürzen, wobei auch<br />
eingesparte Zeiträume im Millisekundenbereich für Anwender lohnend sind. Sei es beim Kelvintest,<br />
der nicht immer zwingend erforderlich ist oder bei Widerständen und Transistoren, Dioden und Relais.<br />
Insgesamt konnte Mittermüller am Ende seiner Betrachtungen bei jeder Baugruppe rund 670 ms<br />
einsparen. Bei 5500 getesteten Baugruppen pro Tag bedeutet das ca. 17 min.<br />
Flying Probe-Tester – Sinnvolle Ergänzung zum Boardtester<br />
Diese Frage stellten sich Wilfried Heckmüller und Wolfgang Ohr von der <strong>SPEA</strong> <strong>GmbH</strong>. Diskutiert<br />
wurden Anforderungen an die Boardtester, die Technologie der Baugruppe und Wirtschaftlichkeit.<br />
Tester mit Nadelbettadapter entwickeln systembedingt eine erheblich größere Geschwindigkeit und<br />
damit höheren Durchsatz als Flying Prober. Deren Stärke liegt bei Mustern, Prototypen, kleinen und<br />
mittleren Losgrößen.<br />
Die schnellen Tester mit Nadelbettadapter stoßen beim Zugriff auf die erforderlichen<br />
Kontaktierungspunkte zunehmend an ihre Grenze. Wo keine Kontaktierung mehr möglich ist, hilft der<br />
virtuelle Kontakt des Boundary Scan Tests weiter. Anderenfalls müssen neue Teststrategien<br />
entwickelt werden. Eine dieser Strategien könnte in der Kombination von konventionellem Test mit<br />
Nadelbettadapter und Flying Probe Tester liegen. Die Flying Probe Tester schneiden bei der<br />
Betrachtung der Kosten besser ab, da sie ohne Adapter auskommen, Tests vom Prototyp bis zur<br />
Serie erlauben und schnelle preiswerte Reaktion auf Layoutänderungen oder Redesign ermöglichen.<br />
Hier muss nur das Testerprogramm geändert werden.<br />
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Aus diesen Überlegungen heraus entwickelte sich die Hardware weiter, um den Anforderungen der<br />
modernen Fertigung gerecht zu werden. So verfügt der neue <strong>SPEA</strong> Tester 4060 über zwei Kameras<br />
für die Betrachtung von oben und unten. Zusätzlich zu den beweglichen Köpfen mit Flying Probes ist<br />
das neue Gerät mit einem Stecker für 384 Pins auf der Top- und 384 Pins auf der Bottom Side<br />
ausgestattet. Der 4060 erweist sich als idealer Alleskönner. ICT mit und ohne Betriebsspannung, On-<br />
Board Programmierung, Boundary Scan, Clustertest, Funktionstest und die Einsetzbarkeit im Inline-<br />
oder Offline-Modus. Unterstützt wird er von einem beweglichen Baugruppen Ladesystem.<br />
Für den Inline Betrieb haben sich der <strong>SPEA</strong> 4020 und 4030 als zuverlässige und leistungsfähige In-<br />
Circuit Tester mit Flying Probes erwiesen. Eine perfekte Inline Lösung wird durch den Einsatz der<br />
Flying Probe Testzelle TC500 erreicht. Die Reduktion der Taktzeiten wird im Prinzip durch<br />
Kaskadierung erzielt.<br />
Das <strong>SPEA</strong>-Team sieht in der Verwendung der Kombination Flying Probe Tester und Tester mit<br />
Adapter die Ideallösung. Mit dem Flying Probe Tester werden die nahezu unzugänglichen Stellen<br />
abgegriffen, während der Tester mit Nadelbettadapter für die leicht erreichbaren Kontakte zuständig<br />
ist.<br />
<strong>SPEA</strong> 3030 – Neue Module und Softwaredetails<br />
Neue Funktionen und Verbesserungen für den 3030 ICT Board Tester stellte Stefano Ghibo aus dem<br />
<strong>SPEA</strong> Stammhaus in Italien vor. Alle neuen Racks sind kabellos und gewährleisten eine einfachere<br />
und sichere Handhabung. Softwareupdates erfolgen per Plug & Play. Bisher gab es nur eine serielle<br />
Schnittstelle, um eine PC-Verbindung herzustellen, jetzt sind bis zu acht RS232 Schnittstellen oder<br />
LIN (Local Interconnect Network) direkt in das Board integriert.<br />
Neu ist auch eine eingebaute digitale Kamera zur Farbverifikation von LEDs. Die Auswertung erfolgt<br />
über den optischen Test mit Leonardo.<br />
Eine weitere Besonderheit ist der Paralleltest und das Multiprozess Management. Hier lässt sich ein<br />
ausgewählter Test, zum Beispiel ein ICT an zwei Baugruppen gleichzeitig parallel durchführen,<br />
wahlweise kann aber bei der einen Bauguppe ein ICT und an der anderen ein Funktionstest<br />
durchgeführt werden.<br />
Mit Leonardo Express lassen sich Testprogramme in wenigen geführten Schritten erstellen. Dabei<br />
wird automatisch die beste Teststrategie ausgewählt, eine automatische Fehlersuche aktiviert und ein<br />
automatisches Tuning ausgeführt.<br />
<strong>SMT</strong> Ausgabe 1-2 <strong>2011</strong> <strong>Seite</strong> <strong>22</strong>-23<br />
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