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SMT 1-2 2011 Seite 22 - SPEA GmbH

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<strong>SPEA</strong> Anwendertreffen 2010<br />

Die <strong>SPEA</strong> <strong>GmbH</strong> veranstaltete Ende letzten September ihr fünftes Anwendertreffen im<br />

Contel Hotel in Koblenz. 65 Teilnehmer aus unterschiedlichen Branchen wurden<br />

interessante Vorträge geboten, die vielseitige Einsatzmöglichkeiten des <strong>SPEA</strong> 3030<br />

Testers und der COMPASS Software aufzeigten. Uwe Winkler von <strong>SPEA</strong> moderierte<br />

die Vorträge<br />

Anwendungen<br />

Die Vortragsserie wurde von Jürgen Grün und Heiko Hofmann mit dem Thema<br />

"Konfigurationsmöglichkeiten und Anwendungsbereiche" begonnen. Dabei wurden die Einsatzgebiete<br />

der Siemens AG Energy Automation in Berlin, mit der Geschäftseinheit Division Power Distribution<br />

vorgestellt. Sie bedienen die gesamte Energie Wertschöpfungskette von der Erzeugung bis zum<br />

Verbrauch. Hauptaufgabenstellung war dort Adapterkontaktierung off- und inline, Umsetzung von<br />

BZIF auf Inline 3030 Adapter, Incircuit Test, Funktionstest, Leistungstest, OPD und Boundary Scan<br />

zur Optimierung der Produkte.<br />

Ein anderes Anwendungsfeld bedient die ACD Gruppe. Das Unternehmen befasst sich mit den<br />

Bereichen Automation, Computer- und Datentechnik. Die <strong>SPEA</strong> Geräte kommen zur<br />

Qualitätssicherung und Rationalisierung zum Einsatz. Herausforderungen ergeben sich durch<br />

wechselnde Losgrößen mit wechselnder Typenvielfalt. Das erfordert preiswerte Adapterwechsel und<br />

ökonomische und leicht handhabbare Systeme.<br />

Bei der ebm papst Gruppe wird das noch deutlicher. An den Standorten in Mulfingen und St. Georgen<br />

mit 4100 Mitarbeitern werden Ventilatoren, Gebläse, Pumpen und Motoren für viele Industriezweige<br />

produziert. Losgrößen von eins bis 5000, Muster Prototypen, Nullserien, Typenvielfalt und hohe<br />

Varianz zählen zu den Herausforderungen. Große Serien sind seltener der Fall. Hier konnte <strong>SPEA</strong> mit<br />

dem 3030-C-P mit AC/DC Generator erstmals punkten.<br />

Über die Integration von Boundary Scan mit <strong>SPEA</strong> 3030 berichtete Hinrich Tietjen, Inhaber der TAP<br />

Tietjen Automatisierte Prüftechnik Bremen. Tietjen hat sich seit 1997 als Dienstleistungsunternehmen<br />

im Technologiezentrum Bremen Nord TZBN auf die Prüfung von Baugruppen spezialisiert. Das<br />

Unternehmen konzentriert sich auf die Schwerpunkte: In-Circuit- und Funktionstests mit <strong>SPEA</strong>-<br />

Systemen, Boundary Scan Tests von Göpel, Konzeption und Bau eigenständiger Prüfanwendungen<br />

und Adapterbau. Im konkreten Fall werden die Programme für den <strong>SPEA</strong> 3030 über die Software<br />

Cascon von Göpel erstellt. Alle Softwarefunktionen sind über eine graphische Nutzeroberfläche<br />

zugänglich. Die modular aufgebaute Software ermöglicht Skalierungen auf höhere Standards. In-<br />

Circuit Tests benötigen Stifte zum Kontakt mit den Netzen, aber auch Bourdary Scan Tests allerdings<br />

mit elektronischen Nadeln. Da im Falle der Kontaktierung mit Nadelbettadaptern, eine zunehmende<br />

Anzahl von Bauteilen aufgrund des geringen Abstandes nicht zu kontaktieren ist, bietet sich der<br />

Boundary Scan Test an.<br />

Zur Lösung des Problems gibt es zwei Wege. BSC mit Göpel Hardware und JTAG-Bus mit 3030 Pin-<br />

Elektronik und OBP-Treiber (CEV- Files).<br />

Im ersten Fall ergeben sich folgende Vorteile: Hohe TCK-Frequenz (Flash-Programmierung).<br />

Integrierte Fehlerdiagnose mit Cascon und die Nutzung mehrerer Scan-Ketten. Nachteilig sind die<br />

Kosten für die Göpel Software und Hardware. Der zweite Weg benötigt keine Boundary Scan<br />

Hardware, ebenso ist keine Cascon Installation auf dem Prüfrechner erforderlich. Die Fehlerdiagnose<br />

erfolg mit Cascon. Nachteilig ist allerdings die geringe TCK-Frequenz, die mit der Anzahl der<br />

genutzten Scanner sinkt.<br />

Das COMPASS Konzept<br />

Das Konzept besteht aus drei Grundbausteinen, Prüfdatenerfassung, Reparaturhilfe und<br />

Fehlerauswertung. Michael Suppas von <strong>SPEA</strong> erläuterte, wie mit der Software alle Prüfdaten erfasst<br />

und analysiert werden. Eine große Anzahl von ATE-Schnittstellen garantiert die Anbindung anderer<br />

Systeme auch AOl-Schnittstellen sind integriert.<br />

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Jeder analysierte Fehler kann beispielsweise an der Reparaturstation Darts-M angezeigt werden und<br />

führt zur Einsparung von Reparaturzeit.<br />

COMPASS erfasst papierlos die Daten von Prüf- und Testsystemen unabhängig vom Hersteller und<br />

gestattet ein Online Monitoring vom Schreibtisch aus. Mit dem Modul Gerätemontage wird der<br />

Zusammenbau kompletter Geräte überwacht. Alle Prüfprotokolle und Aktionen werden für die heute<br />

so wichtige Baugruppen-Traceability aufgezeichnet.<br />

Frank Schneeweiß von <strong>SPEA</strong> ging auf COMPASS-Neuigkeiten ein. Die Erfassung aller Prüfprotokolle<br />

und Reparaturaktionen wurden um weitere Details ergänzt. In Reparaturstationen lassen sich die in<br />

einem lesbaren ASCII-Format übermittelten Reparaturdaten nutzerfreundlich darstellen und<br />

bearbeiten.<br />

Die qualitative Prüfung, d. h. Fehler bei bestimmten Merkmalen sind vorhanden oder nicht vorhanden,<br />

wird gewählt, wenn eine quantitative, d. h. messende Prüfung nicht möglich oder unwirtschaftlich ist.<br />

Haben die zu prüfenden Baugruppen keine Seriennummer, kann dafür eine Fehlersammelkarte<br />

verwendet werden. Hier können in komprimierter und trotzdem übersichtlicher Form Fehler qualitativer<br />

Merkmale erfasst werden.<br />

Die Erfassung mit COMPASS bietet folgende Vorteile: Grafische Unterstützung bei der Bauteilsuche;<br />

die Bauteile werden nicht nur nach Typ sondem auch mit der Einbauposition erfasst; die Daten<br />

werden sofort in der Datenbank abgespeichert und stehen damit den anderen Prozessen zur<br />

Verfügung; es gibt keine unterschiedlichen Tools bei der Baugruppe mit und ohne Seriennummer;<br />

beim Übergang zur Kennzeichnung mit Seriennummern kann weiterhin auf bereits erfasste Daten<br />

zurückgegriffen werden.<br />

„Die Qualitätsregelkarte (QRK) oder kurz Regelkarte wird im Qualitätsmanagement zur Auswertung<br />

von Prüfdaten eingesetzt." Die p-Karte zeigt den Anteil fehlerhafter Baugruppen zur Gesamtzahl der<br />

untersuchten Baugruppen. Das können Stichproben oder auch 100% Prüfungen sein. Bei 100%<br />

Prüfungen werden die Prüfungen in festen Zeitintervallen (Tag/Woche) als Stichprobe<br />

zusammengefasst. Der Stichprobenumfang ist bei der p-Karte variabel. Jede bewertete Baugruppe ist<br />

entweder fehlerfrei oder fehlerhaft, wobei mehrere unterschiedliche Merkmale zum Fehler führen<br />

können. Zusätzlich werden statistische Kennwerte: Mittelwert und Eingriffsgrenzen ermittelt. Die<br />

Darstellung erfolgt als Tabelle und als Diagramm.<br />

Mit Hilfe des Messengers kann die Qualitätssicherung Meldungen zu Mängeln direkt an die<br />

betreffenden Arbeitsstationen senden. Der Bediener wird ,,live" an der Station informiert und kann<br />

sofort Abhilfemaßnahmen einleiten.<br />

Gerätemontage live<br />

Wie sich die Konfiguration und Montage kompletter Geräte steuem läßt, demonstrierte Michael<br />

Suppas mit Hilfe der COMPASS Software. Das Modul Gerätemontage emöglicht die<br />

Zusammenstellung von verschiedenen Baugruppen. In eine Projektvorlage werden die zu<br />

montierenden Baugruppen, vorgefertigte Submodule und Zubehörteile eingetragen. Arbeits- und<br />

Montageanweisungen sind frei konfigurierbar. Alle Montage- und Arbeitsanweisungen werden auf ihre<br />

Vollständigkeit kontrolliert und jeder Arbeitsschritt, jedes eingesetzte Einzelteil und jede Baugruppe<br />

geprüft, so dass der Einbau von "FAlL"-Baugruppen oder "FAIL"-Modulen nicht möglich ist. Jede<br />

Baugruppe wird nur mit "Pass"-Prüfung aus der Fertigung entlassen. Defekte Baugruppen werden mit<br />

der Diagnose an einen Reparaturplatz übergeben.<br />

Miele<br />

Torsten Ziems, verantworllich für Elektronikentwicklung und Prüftechnik, stellte das Unternehmen<br />

Miele vor. Zur Sicherung der Kemkompetenz Elektronik bei Miele gehört die Entwicklung<br />

wettbewerbsfähiger Elektronik-Komponenten und eine Fertigung auf höchstem Qualitätsstandard.<br />

Dies ist nur mit hohen Anforderungen an die Prüftechnik möglich. Der Vortrag stellte die<br />

Herausforderungen dar, mit denen sich das Untemehmen auseinander setzen muss.<br />

Am späten Nachmittag des ersten Tages wurden die Teilnehmer auf die Ehrenburg an der Mosel<br />

eingeladen. Gestärkt mit Kaffe und Kuchen durften die Gäste unter der Anleitung der Brüder Gisbert<br />

und Ludger sich einem "mittelalterlichen Bogenschieß-Turnier" stellen. Anschließend erfolgte, für<br />

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manchen nicht einfach, der Aufstieg zur Burg Ehrenburg. Nach einer zünftigen Bewirtung im Rittersaal<br />

erfolgte zum Abschluss ein Fackelrundgang, der mit einer Feuertanzvorführung endete.<br />

LTi Electronics<br />

Am nächsten Morgen präsentierte Martin Ruppert die LTi Electronics <strong>GmbH</strong>. Das Unternehmen steht<br />

seit 2009 als Fertigungsdienstleister für elektronische Baugruppen sowohl den Unternehmen der LTi<br />

Unternehmensgruppe als auch dem freien Markt zur Verfügung. 120 Mitarbeiter arbeiten in einem<br />

neuen Gebäude auf einer Fertigungsfläche von ca. 2000 m 2 . Die LTi Electronics bietet seinen Kunden<br />

das umfassende Spektrum eines Electronic Manufacturing Services an. Derzeit werden ca. 230 000<br />

Baugruppen pro Jahr gefertigt. Baugruppen werden in der Regel ab Stückzahl 1 automatisiert<br />

getestet.<br />

Neben den Flying Probe Testern <strong>SPEA</strong> 4040und <strong>SPEA</strong> 4060 und dem <strong>SPEA</strong> 3030 kommen auch<br />

manuelle Test- und AOl-Systeme zum Einsatz. Als Datenbank zur Vernetzung von Testmitteln und<br />

Anlagen für Baugruppen und Geräte von verschiedenen Herstellern verwendet man COMPASS,<br />

deren Schnittstellen für Eigenprogrammierungen offengelegt sind. Damit sind kompakte statistische<br />

Auswertungen auf Baugruppen- und Prozessebene möglich.<br />

Vega<br />

Die VEGA Grieshaber KG in Schiltach, 1959 gegründet, hat sich zu einem führenden Anbieter<br />

intelligenter Füllstands- und Druckmessung entwickelt. Alexander Kraus erläuterte die verschiedenen<br />

industriellen Anwendungsgebiete in dem das Unternehmen heute vertreten ist. Durch die<br />

imponierende Entwicklung der Sensortechnik im letzten Jahrzehnt erfuhren auch die Füllstands-,<br />

Durchfluss- und Drucksensoren eine beeindruckende Verkleinerung ihres Volumens.<br />

Um eine Fertigung auf höchstem Qualitätsstandard zu garantieren wurde die COMPASS Software<br />

eingeführt. Zuvor waren die Prüfanweisungen in Prüfordnern abgelegt, was die Handhabung äußerst<br />

schwerfällig und fehleranfällig machte. Auch die Verwaltung der Daten war unübersichtlich, der Zugriff<br />

darauf zeitaufwändig und die Rückverfolgbarkeit eingeschränkt. Dieser Nachteil wurde durch<br />

COMPASS als das Infomationssystem, das alle Daten schnell, fehlerlos und nahezu in Echtzeit zur<br />

Verfügung stellt, beseitigt. COMPASS erfasst nicht nur alle relevanten Daten, sondem sorgt sich auch<br />

um die sofortige Auswertung, zeigt Trends in der Produktion ebenso auf wie Fehleranalysen in Bezug<br />

auf ausgewählte Baugruppen und Bauteile. VEGA nutzt die COMPASS Software auch zur Integration<br />

der unterschiedlichsten Testsysteme.<br />

E.G.O<br />

Thomas Mittermüller von der E.G.O. <strong>GmbH</strong> führte in seinem Referat "Zeitverschwendung erkennen<br />

und beseitigen" aus, dass nahezu jeder Test die Chance bietet, Laufzeiten zu verkürzen, wobei auch<br />

eingesparte Zeiträume im Millisekundenbereich für Anwender lohnend sind. Sei es beim Kelvintest,<br />

der nicht immer zwingend erforderlich ist oder bei Widerständen und Transistoren, Dioden und Relais.<br />

Insgesamt konnte Mittermüller am Ende seiner Betrachtungen bei jeder Baugruppe rund 670 ms<br />

einsparen. Bei 5500 getesteten Baugruppen pro Tag bedeutet das ca. 17 min.<br />

Flying Probe-Tester – Sinnvolle Ergänzung zum Boardtester<br />

Diese Frage stellten sich Wilfried Heckmüller und Wolfgang Ohr von der <strong>SPEA</strong> <strong>GmbH</strong>. Diskutiert<br />

wurden Anforderungen an die Boardtester, die Technologie der Baugruppe und Wirtschaftlichkeit.<br />

Tester mit Nadelbettadapter entwickeln systembedingt eine erheblich größere Geschwindigkeit und<br />

damit höheren Durchsatz als Flying Prober. Deren Stärke liegt bei Mustern, Prototypen, kleinen und<br />

mittleren Losgrößen.<br />

Die schnellen Tester mit Nadelbettadapter stoßen beim Zugriff auf die erforderlichen<br />

Kontaktierungspunkte zunehmend an ihre Grenze. Wo keine Kontaktierung mehr möglich ist, hilft der<br />

virtuelle Kontakt des Boundary Scan Tests weiter. Anderenfalls müssen neue Teststrategien<br />

entwickelt werden. Eine dieser Strategien könnte in der Kombination von konventionellem Test mit<br />

Nadelbettadapter und Flying Probe Tester liegen. Die Flying Probe Tester schneiden bei der<br />

Betrachtung der Kosten besser ab, da sie ohne Adapter auskommen, Tests vom Prototyp bis zur<br />

Serie erlauben und schnelle preiswerte Reaktion auf Layoutänderungen oder Redesign ermöglichen.<br />

Hier muss nur das Testerprogramm geändert werden.<br />

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Aus diesen Überlegungen heraus entwickelte sich die Hardware weiter, um den Anforderungen der<br />

modernen Fertigung gerecht zu werden. So verfügt der neue <strong>SPEA</strong> Tester 4060 über zwei Kameras<br />

für die Betrachtung von oben und unten. Zusätzlich zu den beweglichen Köpfen mit Flying Probes ist<br />

das neue Gerät mit einem Stecker für 384 Pins auf der Top- und 384 Pins auf der Bottom Side<br />

ausgestattet. Der 4060 erweist sich als idealer Alleskönner. ICT mit und ohne Betriebsspannung, On-<br />

Board Programmierung, Boundary Scan, Clustertest, Funktionstest und die Einsetzbarkeit im Inline-<br />

oder Offline-Modus. Unterstützt wird er von einem beweglichen Baugruppen Ladesystem.<br />

Für den Inline Betrieb haben sich der <strong>SPEA</strong> 4020 und 4030 als zuverlässige und leistungsfähige In-<br />

Circuit Tester mit Flying Probes erwiesen. Eine perfekte Inline Lösung wird durch den Einsatz der<br />

Flying Probe Testzelle TC500 erreicht. Die Reduktion der Taktzeiten wird im Prinzip durch<br />

Kaskadierung erzielt.<br />

Das <strong>SPEA</strong>-Team sieht in der Verwendung der Kombination Flying Probe Tester und Tester mit<br />

Adapter die Ideallösung. Mit dem Flying Probe Tester werden die nahezu unzugänglichen Stellen<br />

abgegriffen, während der Tester mit Nadelbettadapter für die leicht erreichbaren Kontakte zuständig<br />

ist.<br />

<strong>SPEA</strong> 3030 – Neue Module und Softwaredetails<br />

Neue Funktionen und Verbesserungen für den 3030 ICT Board Tester stellte Stefano Ghibo aus dem<br />

<strong>SPEA</strong> Stammhaus in Italien vor. Alle neuen Racks sind kabellos und gewährleisten eine einfachere<br />

und sichere Handhabung. Softwareupdates erfolgen per Plug & Play. Bisher gab es nur eine serielle<br />

Schnittstelle, um eine PC-Verbindung herzustellen, jetzt sind bis zu acht RS232 Schnittstellen oder<br />

LIN (Local Interconnect Network) direkt in das Board integriert.<br />

Neu ist auch eine eingebaute digitale Kamera zur Farbverifikation von LEDs. Die Auswertung erfolgt<br />

über den optischen Test mit Leonardo.<br />

Eine weitere Besonderheit ist der Paralleltest und das Multiprozess Management. Hier lässt sich ein<br />

ausgewählter Test, zum Beispiel ein ICT an zwei Baugruppen gleichzeitig parallel durchführen,<br />

wahlweise kann aber bei der einen Bauguppe ein ICT und an der anderen ein Funktionstest<br />

durchgeführt werden.<br />

Mit Leonardo Express lassen sich Testprogramme in wenigen geführten Schritten erstellen. Dabei<br />

wird automatisch die beste Teststrategie ausgewählt, eine automatische Fehlersuche aktiviert und ein<br />

automatisches Tuning ausgeführt.<br />

<strong>SMT</strong> Ausgabe 1-2 <strong>2011</strong> <strong>Seite</strong> <strong>22</strong>-23<br />

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