Mikroskop- und Messsysteme für Qualitätssicherung und -kontrolle

Applikationen
Partikelanalyse
Subline
Reflektierende, nicht-reflektierende Partikel, Polymere und Fasern auf Filtermembran
Mikroskop: Axio Imager.Z2m
Objektiv: EC Epiplan-NEOFLUAR 10x/0,25
Kamera: AxioCam MRc 5
Klassifikation der Partikel anhand ihrer Elementzusammensetzung und Morphologie
Technische Sauberkeit
Die Funktionalität und die Lebensdauer Ihrer Produkte ist maßgeblich
von der Höhe der Partikelkontamination abhängig. Mit dem
quantitativen und qualitativen Nachweis der Partikelkontamination
verbessern Sie Ihren Herstellungsprozess und sparen Geld. Mit
ZEISS Systemen für Sauberkeitsanalysen bestimmen Sie Anzahl und
Ursprung der Partikel.
Mit SteREO Discovery.V8 identifizieren Sie Partikel bis zu 25 µm.
Nutzen Sie das vollmotorische Zoom-Mikroskop Axio Zoom.V16
für die Analyse von Partikeln bis zu 5 µm. ZEISS Systeme für die
technische Sauberkeit unterstützen ISO 16232 und VDA 19 sowie
individuelle Firmenstandards.
Ölanalyse
Ölanalysen finden Anwendung in der Öl-und Schmierstoffindustrie,
Automobil-, Luft-und Raumfahrt, Energieversorgung und vielen
anderen Industriezweigen. Fast 80% aller Maschinenausfälle sind
auf Ölverschmutzung zurückzuführen. Mit Ölanalysen bestimmen
Sie die Verschmutzung, die durch mechanischen Verschleiß und
Korrosion von integrierten Komponenten wie Hydraulikmotoren,
Gehäuse, Pumpen und Ventile verursacht wird. Minimieren Sie Ihre
Wartungskosten und maximieren Sie Ihre Verfügbarkeit:
ZEISS-Systeme sind ideal für die Quantifizierung von partikulären
Verunreinigungen. Verwenden Sie Axio Imager.M2m zum Messen
von Partikeln bis zu 2 µm zu messen. Ihr ZEISS System für die
Ölanalyse unterstützt ISO 4406, ISO 4407, SAE AS 4059 und interne
Firmenstandards.
Nanoscale und Korrelative Partikelanalyse
Um die technische Sauberkeit Ihrer Komponenten und den
Produktionsprozess zu überwachen, müssen Sie sicherstellen, dass
mechanische Komponenten ohne Reibung arbeiten und Lecks
durch Risse vermieden werden. Mit ZEISS SmartPI für die automatisierte
Nanopartikelanalyse analysieren Sie bis zu 200.000
Partikel auf Ihrem Filter mit dem Elektronenmikroskop und erhalten
Erkenntnisse über die chemische Zusammensetzung des Materials.
Mit der Korrelativen Partikelanalyse messen und analysieren Sie bis
zu 200 Teilchen mit Licht-und Elektronenmikroskopie - schnell und
effektiv. Korrelative Partikelanalyse für EDS-Analyse unterstützt ISO
16232 und VDA19.
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