Mikroskop- und Messsysteme für Qualitätssicherung und -kontrolle

DE_42_010_001 | CZ 12-2014 | Änderungen in Ausführung und Lieferumfang sowie technische Weiterentwicklung vorbehalten. | © Carl Zeiss Microscopy GmbH
Mikroskop- und Messsysteme
für Qualitätssicherung und -kontrolle
Erfassen Sie das Wesen Ihres Bauteils:
Schnell. Einfach. Übergreifend.
Carl Zeiss Microscopy GmbH
07745 Jena, Germany
microscopy@zeiss.com
www.zeiss.com/microscopy

Der Moment, in dem smarte Qualitätsprüfung
zu Ihrem Erfolgsfaktor wird.
Für diesen Moment arbeiten wir.
// PEACE OF MIND
MADE BY ZEISS

ZEISS – Ihr IQ in der industriellen Qualitätskontrolle
Ist eine intelligente Entscheidung sichtbar
Ein klares ‚ja‘ bei den ZEISS Mikroskopsystemen
für die Qualitätskontrolle und -sicherung.
ZEISS ist für seine hochwertigen, leistungsfähigen Mikroskope weltweit bekannt. Für
überlegene Optik und herausragende optische Leistung. Mehr sehen ist die intelligente
Entscheidung!
Produkte von ZEISS im Qualitätslabor liefern Ihnen zuverlässige Ergebnisse – tagein und
tagaus. Sie sind extrem einfach zu bedienen, auch für ungelernte Benutzer. Dank ihrer hohen
Genauigkeit ermöglichen sie einen hohen Probendurchsatz – und senken damit die
Gesamtbetriebskosten. Automatisierte Komponenten übernehmen die Verwaltung aller
Messparameter. Damit Sie nicht nur mehr sehen, sondern auch genauer messen können.
Nutzen Sie die Vielfalt der Technologien von ZEISS: Lichtmikroskopische Techniken liefern
Ihnen Informationen über Farbe, Morphologie, Struktur, Textur und Dimensionen. Röntgenmikroskope
von ZEISS liefern Ihnen Einblicke in Ihre Materialien in 3D und 4D – zerstörungsfrei
und mit höchster Auflösung. Untersuchungen mit Elektronenmikroskopen
geben zusätzlich Aufschluss über die Zusammensetzung des Materials und die einzelnen
Elemente.
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Von Mikro bis Nano –
das breiteste Produktportfolio auf dem Markt
Wählen Sie das beste Mikroskop für Ihre Anwendung:
Die Systeme von ZEISS Microscopy sorgen für Erkenntnisse
vom Mikro- bis zum Nano-Bereich.
Stereo-
Mikroskope
Zoom-
Mikroskope
Digital-
Mikroskope
Licht-
Mikroskope
Röntgen-
Mikroskope
FIB-SEM
Rasterelektronen-
Mikroskope
Helium-Ionen-
Mikroskope
5 µm
2,5 µm µm 1 µm
50 nm
5 nm
1 nm
0,5 nm
Auflösung
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Die Wahl des Werkzeugs zeigt den Meister
Sie untersuchen Stahl, Verbundwerkstoffe, Kunststoffe, Keramiken und Biomaterialien.
Sie quantifizieren Strukturen und Objekte. Sie analysieren mikroskopische
Aufnahmen und dokumentieren Ihre Erkenntnisse.
Nutzen Sie schon bei der Wahl Ihres Mikroskops die Erfahrung aus dem Hause
ZEISS: Mit einer umfassenden Auswahl an Methoden und Systemen unterstützen
wir Sie rund um Produktion, Fertigung und Qualitätsprüfung.
Optische Inspektions-Systeme
Sie produzieren und kontrollieren kleinste Komponenten mit Abmessungen im Mikrometerbereich.
Ihre Fingerfertigkeit wird auf die Probe gestellt, wann immer Sie filigrane Zahnräder
in Uhrenwerken justieren und medizintechnische Bauteile bearbeiten. Sie inspizieren
die Lötstellen von Platinen und Leiterplatten oder untersuchen die Struktur Ihrer Metalle.
Einfach, schnell, visuell.
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Digitale Bildaufnahme und Dokumentation
Ob Qualitätskontrolle oder -sicherung – Ihre Anforderungen zur einfachen und schnellen
Aufnahme und Dokumentation mikroskopischer Bilder steigen. Mit den digitalen Mikroskopkameras
ZEISS Axiocam und der Software AxioVision bewältigen Sie Ihre Aufgaben effizient.
Mit der iPad App ZEISS Matscope und Primotech digitalisieren Sie Ihr Prüflabor. Sie vernetzen
und visualisieren alle Mikroskope Ihrer Mitarbeiter.
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Automatisierte Imaging-Systeme
Mikroskopische Analysen liefern Ihnen präzise, reproduzierbare Ergebnisse. Motorisierte
Komponenten Ihres Mikroskops und automatisierte Arbeitsabläufe vereinfachen Ihre Auswertung.
Sie finden heraus, wie Herstellungsprozesse und Verschleiß Tex turen beeinflussen
und sich auf Interaktionen mit anderen Komponenten und Materialien auswirken. Zahlreiche
Software-Module runden Ihr System ab.
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Applikationen
Als führender Hersteller von Mikroskopsystemen bieten wir Komplettlösungen für Ihre
Aufgaben in Qualitätskontrolle und -sicherung an. Ob Partikelanalyse oder die Detektion
nicht-metallischer Einschlüsse – im ZEISS Sortiment an Lichtmikroskopen, Röntgen- und
Elektronenmikroskopen.
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Applikationen
ZEISS Shuttle & Find
Das Beste aus Licht- und Elektronenmikroskopie auf den Punkt gebracht.
Lichtmikroskopische Aufnahme einer ADI Probe,
Vergrößerung: 400:1
BSE Aufnahme der selben Probenstelle;
Die Mikrostruktur ist deutlich sichtbar
Konfigurieren Sie Ihr System.
Einfacher, intelligenter, integrierter.
Für Ihre Anwendungen geschaffen.
Kombinieren Sie die optischen Kontrastverfahren Ihres Lichtmikroskops
mit den analytischen Methoden Ihres Elektronenmikroskops.
Gewinnen Sie Informationen über Struktur und Funktion Ihrer
Probe.
Das Softwaremodul Shuttle & Find sorgt für einen einfach zu
bedienenden, produktiven Workflow zwischen Ihrem Licht- und
Ihrem Elektronenmikroskop.
Mit Ihrem Lichtmikroskop erfassen und markieren Sie interessante
Stellen Ihrer Probe. Über Shuttle & Find und den speziellen Probenhalter
relokalisieren Sie die Stelle anschließend im Elektronenmikroskop.
Dort lösen Sie das Abbild Ihrer Probe mehr als doppelt
so hoch auf und untersuchen Ihr Material umfassend weiter.
Absolut reproduzierbar.
Mikroskope
Lichtmikroskope: Axio Scope.A1, Axio Imager.M2m, Axio Imager.
Z2m, Axio Observer.Z1, SteREO Discovery
Elektronenmikroskope: EVO, SIGMA, MERLIN
Software
Lichtmikroskope:
AxioVision, Modul Shuttle & Find
Elektronenmikroskope:
SmartSEM, AxioVision, Modul Shuttle & Find
Zubehör
Adapter
Probenhalter
• Mehr Produktivität: Mit nur wenigen Klicks relokalisieren Sie
interessante Probenstellen innerhalb der beiden Mikroskopsysteme.
Im Lichtmikroskop markierte Probenstellen speichert Shuttle &
Find in Kombination mit deren Koordinaten. So finden Sie sie im
Elektronenmikroskop innerhalb weniger Sekunden.
• Mehr Information: Aufgrund der zahlreichen optischen Kontrastverfahren
gewinnen Sie mit Lichtmikroskopen Informationen
über Größe, Morphologie und Farbe Ihrer Probe. Mit Elektronenmikroskopen
erweitern Sie Ihre Kenntnisse um Details zur
Struktur sowie der chemischen Materialzusammensetzung. Und
das mit bis in den Nanometerbereich gesteigerten Auflösung.
• Mehr Sicherheit: Durch die vollautomatische Bildanalyse
erhalten Sie zuverlässige und reproduzierbare Ergebnisse.
• Bei Ihren Restschmutzanalysen in der Automobilindustrie typisieren
Sie metallische und nichtmetallische Partikel im Lichtmikroskop.
Interessante Partikel identifizieren Sie umfassend im
Elektronenmikroskop
• Sie prüfen die Reinheit von Stahl: Anhand von Farbe und Form
identifizieren Sie Sulfide, Oxide und Silikate im Licht mikroskop.
Untypische Einschlüsse charakterisieren Sie über die chemische
Zusammensetzung mit Hilfe der Röntgen-Spektroskopie im
Rasterelektronen-Mikroskop.
• Der präzise, schnelle und zuverlässige Workflow steigert die
Produktivität Ihrer Nanofabrikation. Sie arbeiten mit beiden
Mikroskopsystemen hochgradig automatisiert und effektiv. So
reduzieren Sie Ihre Zykluszeiten und steigern Ihren Durchsatz
erheblich.
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Applikationen
ZEISS NMI
Analysieren Sie nicht-metallische Einschlüsse. Automatisch. Normgerecht.
Bei der Aufnahme von MosaiX Bildern werden große Einschlüsse vollständig erfasst,
bei der Einzelbildaufnahme könnten diese abgeschnitten werden. Mit freundlicher
Genehmigung der SKF GmbH, Schweinfurt
Sulfidische Einschlüsse in Stahl
Konfigurieren Sie Ihr System.
Einfacher, intelligenter, integrierter.
Für Ihre Anwendungen geschaffen.
Nicht-metallische Einschlüsse beeinflussen die Eigenschaften
von Stahl. Die Kenntnis des Gefüges und die Identifikation von
Einschlüssen liefern Ihnen wichtige Informationen für Produktentwicklung
und Qualitätssicherung.
Die neue Norm EN 10247 sieht Standards vor, nach denen Sie die
Reinheit von Stahl automatisch erfassen. Die europaweite Richtlinie
setzt präzise Messergebnisse voraus.
Gemeinsam mit Stahlexperten hat Carl Zeiss eine vollautomatisierte
Bildanalyse entwickelt: Das System NMI. Damit greifen Sie jederzeit
auf exakt reproduzierbare Ergebnisse zu.
Mikroskope
Axio Imager.M2m
Axio Imager.Z2m
Axio Observer.Z1m
Software
NMI (Bildanalyse), MosaiX (Bildaufnahme Scanningtisch)
Optional: weitere metallographische Module, z.B. Korngrößenanalyse,
Mehrphasenanalyse, Gusseisenanalyse, Richtreihen
Zubehör
AxioCam MRc
AxioCam MRm
• Reproduzierbarkeit: Die Stative Axio Imager.Z2m und Axio
Observer.Z1m arbeiten motorisch, die automatische Bildanalyse
sowie speicherbare Einstellparameter stehen für exakte Reproduzierbarkeit.
• Arbeiten Sie gleichzeitig nach mehreren Normen:
Das System NMI misst nach den Normen DIN 50602, EN 10247,
ASTM E45, ISO 4967 und JIS G 0555 gleichzeitig. Sie profitieren
vor allem in der Übergangsphase von DIN 50602 zu EN 10247
vom Vergleich Ihrer Ergebnisse.
• Verschaffen Sie sich einen schnellen Überblick: Der Workflow
des Systems NMI passt sich Ihren Arbeitsabläufen in der Routine
an. Mit wenigen Klicks starten Sie die Analyse, erstellen Sie Ihren
Prüfbericht und archivieren Sie Ihre Ergebnisse. Das System präsentiert
Ihnen Ihre Kenngrößen auf einen Blick. Normspezifische
Verfahren sind übersichtlich dargestellt. Die Galerieansicht erfasst
die Einschlusstypen – Sie erhalten einen schnellen Überblick über
sulfidische, oxidische und globulare Einschlüsse. Interessante
Einschlüsse relokalisieren Sie per Mausklick.
• Sie analysieren die Mikrostruktur von Stahl qualitativ und quantitativ
und bestimmen die Stahlreinheit.
• Sie untersuchen Gehalt und Verteilung nicht-metallischer Einschlüsse
basierend auf Farbe, Helligkeit, Form und Anordnung.
• Sie bewerten Einschlüsse über Vergleiche mit Bildern einer
Richtreihe.
• Sie identifizieren Sulfide und Oxide präzise und normgerecht.
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Applikationen
Partikelanalyse
Subline
Reflektierende, nicht-reflektierende Partikel, Polymere und Fasern auf Filtermembran
Mikroskop: Axio Imager.Z2m
Objektiv: EC Epiplan-NEOFLUAR 10x/0,25
Kamera: AxioCam MRc 5
Klassifikation der Partikel anhand ihrer Elementzusammensetzung und Morphologie
Technische Sauberkeit
Die Funktionalität und die Lebensdauer Ihrer Produkte ist maßgeblich
von der Höhe der Partikelkontamination abhängig. Mit dem
quantitativen und qualitativen Nachweis der Partikelkontamination
verbessern Sie Ihren Herstellungsprozess und sparen Geld. Mit
ZEISS Systemen für Sauberkeitsanalysen bestimmen Sie Anzahl und
Ursprung der Partikel.
Mit SteREO Discovery.V8 identifizieren Sie Partikel bis zu 25 µm.
Nutzen Sie das vollmotorische Zoom-Mikroskop Axio Zoom.V16
für die Analyse von Partikeln bis zu 5 µm. ZEISS Systeme für die
technische Sauberkeit unterstützen ISO 16232 und VDA 19 sowie
individuelle Firmenstandards.
Ölanalyse
Ölanalysen finden Anwendung in der Öl-und Schmierstoffindustrie,
Automobil-, Luft-und Raumfahrt, Energieversorgung und vielen
anderen Industriezweigen. Fast 80% aller Maschinenausfälle sind
auf Ölverschmutzung zurückzuführen. Mit Ölanalysen bestimmen
Sie die Verschmutzung, die durch mechanischen Verschleiß und
Korrosion von integrierten Komponenten wie Hydraulikmotoren,
Gehäuse, Pumpen und Ventile verursacht wird. Minimieren Sie Ihre
Wartungskosten und maximieren Sie Ihre Verfügbarkeit:
ZEISS-Systeme sind ideal für die Quantifizierung von partikulären
Verunreinigungen. Verwenden Sie Axio Imager.M2m zum Messen
von Partikeln bis zu 2 µm zu messen. Ihr ZEISS System für die
Ölanalyse unterstützt ISO 4406, ISO 4407, SAE AS 4059 und interne
Firmenstandards.
Nanoscale und Korrelative Partikelanalyse
Um die technische Sauberkeit Ihrer Komponenten und den
Produktionsprozess zu überwachen, müssen Sie sicherstellen, dass
mechanische Komponenten ohne Reibung arbeiten und Lecks
durch Risse vermieden werden. Mit ZEISS SmartPI für die automatisierte
Nanopartikelanalyse analysieren Sie bis zu 200.000
Partikel auf Ihrem Filter mit dem Elektronenmikroskop und erhalten
Erkenntnisse über die chemische Zusammensetzung des Materials.
Mit der Korrelativen Partikelanalyse messen und analysieren Sie bis
zu 200 Teilchen mit Licht-und Elektronenmikroskopie - schnell und
effektiv. Korrelative Partikelanalyse für EDS-Analyse unterstützt ISO
16232 und VDA19.
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Applikationen
ZEISS Particle Analyzer
Untersuchen Sie kleinste Partikel im großen Stil.
Reflektierende, nicht-reflektierende Partikel, Polymere und Fasern auf Filtermembran
Mikroskop: Axio Imager.Z2m
Objektiv: EC Epiplan-NEOFLUAR 10x/0,25
Kamera: AxioCam MRc 5
Klassifikation der Partikel anhand ihrer Elementzusammensetzung
und Morphologie
Konfigurieren Sie Ihr System.
Einfacher, intelligenter, integrierter.
Für Ihre Anwendungen geschaffen.
Ihre Anforderungen an die Sauberkeit von Materialien steigen. Sie
tragen dieser Entwicklung Rechnung, beobachten immer kleinere
Partikel und analysieren Ihr Material wiederholt.
Particle Analyzer ist für die Praxis gemacht, für die Qualitätskontrolle
in der industriellen Routine. Sie identifizieren Partikel
lichtmikroskopisch anhand ihrer Morphologie. Ob ISO 16232, VDA
Band 19, ISO 4406/4407.
ParticleScan VP ist das Prozess-Analyse-Tool für Ihre Produktionsumgebung:
Die Partikelanalyse-Software SmartPI macht Ihr
ParticleScan-System zum Spezialisten für pharmazeutische Pulver
bis zu Stahleinschlüssen. Sie erhalten Aufschlüsse über die Materialzusammensetzung
der Partikel im nanoskopischen Bereich und
ziehen Rückschlüsse auf den Fertigungsprozess.
Mikroskope
Axio Imager.M2m und Axio Imager.Z2m: mit Scanningtisch Partikelgröße
ab 2 μm
Axio Zoom.V16: mit Scanningtisch Partikelgröße ab 5 µm
SteREO Discovery.V8 und SteREO Discovery.V12: mit Scanningtisch
Partikelgrose ab 25 μm
Rasterelektronenmikroskop: ParticleSCAN VP
Software
Particle Analyzer (Bildanalyse)
MosaiX (Bildaufnahme Scanningtisch)
Optional: GxP
SmartPI
Zubehör
AxioCam MRc
AxioCam MRm
AxioCam ICc
• Von den Kontrastverfahren, der Wahl der Objektive, der Belichtungszeit
der Kamera bis hin zu Beleuchtungseinstellungen:
Ihre motorischen Mikroskopsysteme stellen sicher, dass alle
Einstellungen korrekt gewählt sind. In Kombination mit der
vollautomatischen Bildanalyse in AxioVision erhalten Sie jederzeit
reproduzierbare Ergebnisse – sicher und zuverlässig.
• Die Galerieansicht bietet einen schnellen Überblick über die
reflektierenden, nicht-reflektierenden und faserförmigen Partikel.
Interessante Partikel relokalisieren Sie so schnell.
• In Kombination mit einem Röntgenstrahlen-Analyse-System
messen, klassifizieren und dokumentieren Sie Größe, Form und
chemische Zusammensetzung Ihrer Partikel-Proben.
• Überprüfung der Bauteilsauberkeit: Sie bestimmen den Restschmutzgehalt
auf Bauteilen nach Reinigung normgerecht und
automatisch bzgl. Anzahl, Größe, Morphologie, Typ (reflektierend,
nicht-reflektierend, Fasern) nach ISO 16232, VDA 19.
• Sie bestimmen den Restschmutzgehalt in Frisch- und Gebrauchtölen
sowie in Schmierstoffen normgerecht und automatisch
bzgl. Anzahl, Größe, Morphologie, Typ (reflektierend, nichtreflektierend,
Fasern) nach ISO 4406/4407.
• Druckgussbauteile inspizieren Sie auf herstellungsbedingte Fehler
wie Poren, Lunker und Hohlräume vollautomatisch bzgl. Anzahl,
Größe und Flächenanteile.
• In der Pharmaindustrie, Medizintechnik sowie der Chemischen
Industrie detektieren und bestimmen Sie Objekte und Strukturen
vollautomatisch bzgl. Anzahl, Größe und Morphologie.
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Applikationen
ZEISS Korrelative Partikelanalyse
Charakterisieren und klassifizieren Sie Partikel nach ISO 16232 mit Licht- und Elektronenmikroskopie
Typische Partikel im Lichtmikroskop, metallischer Partikel
Typische Partikel im Elektronenmikroskop
Konfigurieren Sie Ihr System.
Einfacher, intelligenter, integrierter.
Für Ihre Anwendungen geschaffen.
Analysieren Sie Partikel nach ISO 16232 mit Ihrem motorisierten
Zoom- oder Lichtmikroskop von ZEISS: Axio Zoom.V16 und Axio
Imager.Z2m liefern Informationen über Menge, Größenverteilung,
Morphologie und Farbe der Partikel. Mit Polarisationskontrast
können Sie zwischen metallischen und nicht-metallischen Partikeln
unterscheiden. Identifizieren Sie kritische Partikel und relokalisieren
Sie diese in Ihrem ZEISS Rasterelektronenmikroskop (REM). Jetzt
können Sie die Materialzusammensetzung mit energiedispersiver
Röntgenspektroskopie (EDX) automatisch bestimmen. In einem
gemeinsamen Bericht werden die Ergebnisse der Licht- und Elektronenmikroskopie
konsolidiert. Erfassen Sie mehr Informationen in
kürzerer Zeit: Durch die Kombination von Licht- und Elektronenmikroskopie
nutzen Sie die volle Leistung beider Systeme.
Mikroskop
Lichtmikroskope: Axio Zoom.V16, Axio Imager.Z2m
Elektronenmikroskope: EVO, SIGMA, MERLIN Compact, MERLIN
Software
AxioVision
Softwaremodul: ZEISS Correlative Particle Analyzer (CAPA) und MosaiX
SmartSEM
SmartPI
Zubehör
Probenhalter für Partikelfilter 47 mm oder 50 mm
Adapterplatte
Kalibriermarker
Optionaler Adapterrahmen
• Charakterisieren Sie prozesskritische Partikel und,identifizieren
Sie Killerpartikel. Detektieren Sie Partikel mit Ihrem Lichtmikroskop,
relokalisieren Sie diese im REM und erhalten Sie Informationen
über ihre Materialzusammensetzung mit einer EDX-Analyse.
• Interessierende Partikel selektieren Sie mit Hilfe der Galerie.
• Erhalten Sie Ihre Ergebnisse bis zu zehnmal schneller als mit
aufeinanderfolgenden individuellen Analysen durch Licht- und
Elektronenmikroskopie.
• CAPA liefert Ihnen automatisch einen gemeinsamen Bericht mit
Ihren Ergebnissen aus der Licht- und der Elektronenmikroskopanalyse.
• Sehen Sie alle Klassifikationen und ISO-Codes auf einen Blick.
• Die Galerie- und Evaluierungsansicht bietet Ihnen einen schnellen
Überblick über die Partikeltypen: reflektierend, nicht-reflektierend
und faserig. Finden Sie interessante Partikel auf Knopfdruck wieder.
• Sie stellen die reibungslose Funktion von Teilen sicher und
verifizieren die Sauberkeit der Bauteile durch Sauberkeitsanalysen
nach ISO 16232 und VDA 19.
• Sie analysieren Partikel von Ölen und Bremsflüssigkeiten ab einer
Größe von 2 μm, um das Blockieren von Filtern, Düsen und
Ventilen, Ölalterung, Risse, Lecks oder den Ausfall von Pumpen
zu verhindern.
• Sie bestimmen die chemische Materialzusammensetzung der bis
zu 200 größten Partikel oder von 200 Partikeln eines ausgewählten
Größenbereichs automatisiert mit EDX-Messung .
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Applikationen
ZEISS ParticleSCAN
Ihr robustes, mobiles Rasterelektronenmikroskop für automatisierte Partikelanalyse.
BU
BU
Konfigurieren Sie Ihr System.
Einfacher, intelligenter, integrierter.
Für Ihre Anwendungen geschaffen.
ParticleSCAN VP ist Ihr robustes, mobiles Rasterelektronenmikroskop
zur Steigerung der Ausbeute und voller Ausschöpfung Ihrer
Fertigungskapazitäten. Das System zur Partikelanalyse ist jederzeit
einsatzbereit. In Kombination mit dem optionalen EDX-Detektor,
messen, klassifizieren und dokumentieren Sie Größe, Form und
chemische Zusammensetzung der Partikel mit der SmartPI Software
automatisch. Sie bereiten einfach Ihre Proben für die Analyse vor -
mittels voreingestellter Abläufe wird die Analyse automatisch und
unbeaufsichtigt durchgeführt.
Mikroskop
PartcleSCAN
Software
SmartPI
• ParticleSCAN ist Ihre Plattform für sich wiederholende
Analysen in der Prozessüberwachung und Qualitätskontrolle.
• Das System ist für den industriellen Einsatz konzipiert – Sie profitieren
vom schnellen Aufbau und der Mobilität.
• Messen Sie nicht-leitende Partikel oder gefilterte Proben mittels
Ladungskompensation durch variablen Druck.
• ParticleSCAN beinhaltet eine die Software SmartPI für automatische
und Routineanalysen.
• Identifizieren Sie Partikel anhand der chemischen Zusammensetzung
und morphologischer Merkmale.
• Verwenden Sie ParticleSCAN im Dauerbetrieb und erhalten Sie
Ergebnisse in Echtzeit.
• Führen Sie Sauberkeitsanalysen durch und überprüfen Sie die
Reinheit im Fertigungsprozess.
• Untersuchen Sie Ablagerungen von Automobilkomponenten.
• Analysieren Sie metallische Einschlüsse.
• Identifizieren Sie Umweltpartikel.
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Gehört die Tabelle noch
zur Rubrik “Applikationen”
Doppelseite Selektionstabelle der Systeme
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Dienst und Leistung
für Ihr Mikroskopsystem von Carl Zeiss
ZEISS Moments haben mit Leidenschaft zu tun.
Es ist diese Leidenschaft, mit der wir Ihr ZEISS-
Mikroskop warten, optimieren und auf dem
neuesten Stand halten – damit Ihre Arbeit
systematisch zum Erfolg führt.
Sie arbeiten hart – wir sorgen dafür, dass Ihr Mikroskop mit Ihnen Schritt hält
Qualität, Zeit, Kosteneffizienz – Kenngrößen, die Ihren Alltag bestimmen. Ihr ZEISS
Mikroskop fügt sich nahtlos selbst in Ihren anspruchsvollsten Workflow. Es liefert Ihnen
Erkenntnisse auf dem Weg zu noch mehr verlässlicher Sicherheit: Tiefgehend. Umfassend.
Reproduzierbar. Und das über seinen gesamten Lebenszyklus hinweg. Dafür sorgen wir
mit dem Life Cycle Management von ZEISS.
Das Life Cycle Management von ZEISS begleitet Ihr Mikroskop
Das Life Cycle Management von ZEISS steht hinter unseren Lösungen über den
kompletten Lebenszyklus Ihres ZEISS Mikroskopsystems. Schon in der Anschaffungsphase
unterstützen wir Sie mit Site Surveys, damit die Raumumgebung optimal auf Ihr Mikroskopsystems
abgestimmt ist. Während der Betriebsphase kommen Support für Relocations
und Life Time Extensions dazu. In der Phase von Neuinvestitionen kümmern wir uns um
Rückkauf, Abbau und Entsorgung nicht mehr benötigter Systeme. Verlassen Sie sich jederzeit
auf unsere klassischen Serviceleistungen: Unsere Mitarbeiter analysieren Ihren System-
Status und beheben jede Störung per Fernwartung oder direkt bei Ihnen vor Ort.
Qualifizieren Sie Ihr Team für Qualität
Fordern Sie die Unterstützung unserer Anwendungsspezialisten für genau Ihre Aufgaben.
Nutzen Sie unsere Trainings für Ihre Kollegen und Mitarbeiter, die an Ihrem ZEISS Mikroskop
arbeiten.
Kontrollieren Sie Kosten und Konditionen
Ihr Servicevertrag ist auf Sie zugeschnitten: Sie nutzen Ihr Mikroskopsystem von ZEISS mit
allen seinen Möglichkeiten, optimieren Ihre Investitionen und planen die Folgekosten. Sie
wählen aus verschiedenen Service-Stufen von Preventive Maintenance Plus über den
Advanced Vertrag, der selbst Arbeitszeiten und Ersatzteile beinhaltet, bis hin zum Premium
Vertrag, der Ihnen Dienstleistungen wie höchste Priorität bei der Bearbeitung von Systemausfällen
zusichert. Auf Wunsch passen wir sogar die Oberfläche der System-Software von
ZEISS speziell für Ihre wiederkehrenden Messungen an, um Ihre Prozesse zu verkürzen,
Fehler zu minimieren und Ihre Qualität noch weiter zu verbessern.
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Der Moment, in dem Sie etwas sehen,
dass Ihnen bisher verborgen war.
Für diesen Moment arbeiten wir.
Wie werden Ärzte ihre Patienten künftig behandeln Welche Rolle spielen Fotos und
Videos in der Kommunikation von morgen Wie weit kann man die Miniaturisierung von
Halbleiterstrukturen vorantreiben Diese und viele weitere Fragen sind es, die ZEISS täglich
antreiben.
Als Pionier und eine der global führenden Unternehmensgruppen der Optik und Optoelektronik
fordert ZEISS seit jeher die Grenzen der Vorstellungskraft heraus.
Medizintechnik von Carl Zeiss setzt mit seinen Produkten und Lösungen weltweit Maßstäbe:
So profitieren Ärzte als auch Patienten von den innovativen Technologien wie etwa
dem Bestrahlungsgerät INTRABEAM. Brustkrebspatientinnen erfahren dadurch eine
deutlich schonendere und kürzere Behandlung.
Gestochen scharfe Bilder auf der Kinoleinwand bei der „Herr der Ringe“, der erfolgreichsten
Filmtrilogie aller Zeiten, oder das präzise Bild, das ein Naturbeobachter durch
sein Fernglas oder Spektiv erhält, ZEISS macht faszinierende Details sichtbar.
Wo Präzision gefragt ist, sichern Lösungen der industriellen Messtechnik von ZEISS höchste
Qualitätsstandards: So werden Flugzeuge sicherer, Autos besser und Windkraft anlagen
– die Zukunft der Energieversorgung – effizienter.
Pro Sekunde entscheiden sich zwei Menschen auf der Welt für Brillengläser von ZEISS.
Mit Dynamik und Weitsicht entwickelt Vision Care neuartige Gläser, wie MyoVision,
das die Verschlechterung von Kurzsichtigkeit bei Kindern reduziert.
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Diese besondere Leidenschaft für Spitzenleistungen verbindet alle Unternehmensbereiche.
So schafft ZEISS Kundennutzen und inspiriert die Welt, Dinge zu sehen, die ihr bisher
verborgen waren.
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VERTRAUEN
MADE BY ZEISS
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Für diesen Moment arbeiten wir.