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etude de materiaux cimentaires par diffraction des ... - LMC - EPFL

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TP Matériaux <strong>de</strong> Construction- Section Matériaux<br />

EIDGENÖSSISCHE TECHNISCHE HOCHSCHULE LAUSANNE<br />

POLITECNICO FEDERALE DI LOSANNA<br />

SWISS FEDERAL INSTITUTE OF TECHNOLOGY LAUSANNE<br />

INSTITUT DES MATERIAUX<br />

LABORATOIRE DE MATERIAUX DE CONSTRUCTION<br />

TRAVAUX PRATIQUES DE MATERIAUX DE CONSTRUCTION :<br />

ETUDE DE MATERIAUX CIMENTAIRES PAR<br />

DIFFRACTION DES RAYONS X<br />

A remettre avant le : 23 mai 2008<br />

MATERIAUX 6 ème SEMESTRE – 2007-2008<br />

Resp. : Gwenn Le Saout<br />

DATE……………………<br />

GROUPE ………………<br />

NOMS……………………<br />

ECOLE POLYTECHNIQUE<br />

FEDERALE DE LAUSANNE<br />

Version 3, mise à jour : 080318 1/10


TP Matériaux <strong>de</strong> Construction- Section Matériaux<br />

Le but <strong>de</strong> cette séance est <strong>de</strong> montrer comment la <strong>diffraction</strong> <strong>de</strong>s rayons X sur poudre<br />

peut être utilisée pour étudier la microstructure d’un matériau cimentaire à la fois<br />

quantitativement et qualitativement. Plus précisément, on essaiera d’une <strong>par</strong>t d’i<strong>de</strong>ntifier les<br />

phases en présence dans un ciment anhydre et une pâte <strong>de</strong> ciment, et d’autre <strong>par</strong>t <strong>de</strong><br />

déterminer approximativement l’âge d’une pâte <strong>de</strong> ciment.<br />

Pour un rappel <strong>de</strong> cours <strong>de</strong> <strong>diffraction</strong> <strong>de</strong>s rayons X et <strong>de</strong> cristallographie, vous pouvez<br />

vous reporter au site web du Laboratoire <strong>de</strong> Cristallographie :<br />

http://lcr.epfl.ch/page37304.html.<br />

1. Principes <strong>de</strong> base <strong>de</strong> la mesure<br />

La métho<strong>de</strong> générale consiste à bombar<strong>de</strong>r l'échantillon avec <strong>de</strong>s rayons X, et à regar<strong>de</strong>r<br />

l'intensité <strong>de</strong> rayons X qui est diffusée selon l'orientation dans l'espace. Les rayons X diffusés<br />

interfèrent entre eux, l'intensité présente donc <strong>de</strong>s maxima dans certaines directions ; on <strong>par</strong>le<br />

<strong>de</strong> phénomène <strong>de</strong> <strong>diffraction</strong>. On enregistre l'intensité détectée en fonction <strong>de</strong> l'angle <strong>de</strong><br />

déviation 2θ du faisceau; la courbe obtenue s'appelle le diffractogramme.<br />

L'échantillon est une poudre homogène isotrope ou bien un soli<strong>de</strong> composé <strong>de</strong> minuscules<br />

cristaux soudés entre eux; on <strong>par</strong>le <strong>de</strong> fait <strong>de</strong> métho<strong>de</strong> <strong>de</strong>s poudres.<br />

La source <strong>de</strong> rayons X est un tube sous vi<strong>de</strong>, muni d'un dispositif permettant <strong>de</strong> ne<br />

sélectionner qu'une seule longueur d'on<strong>de</strong> (filtre, monochromateur); on travaille en<br />

monochromatique.<br />

Diffractomètre Bragg-Brentano<br />

C'est le montage le plus courant. L'échantillon se présente dans une coupelle remplie<br />

<strong>de</strong> poudre avec un niveau plan. Dans la configuration dite «θ-θ», l'échantillon est horizontal et<br />

immobile, le tube et le détecteur <strong>de</strong> rayons X bougent symétriquement. Si 2θ est la déviation<br />

du faisceau, l'angle entre l'horizontale et le tube vaut donc θ <strong>de</strong> même que l'angle entre<br />

l'horizontale et le détecteur, d'où le nom du montage.<br />

Figure 1: Définition <strong>de</strong>s angles dans le montage <strong>de</strong> Bragg-Brentano<br />

2. Introduction à la <strong>diffraction</strong> <strong>de</strong> poudre <strong>de</strong>s rayons X<br />

Les rayons X sont une on<strong>de</strong> électromagnétique et interagissent avec le nuage électronique<br />

<strong>de</strong>s atomes. Parmi les interactions possibles, il y a la diffusion élastique : les rayons X sont<br />

diffusés dans toutes les directions <strong>de</strong> l'espace, en gardant la même énergie, la même longueur<br />

d'on<strong>de</strong>.<br />

Lorsque les rayons X frappent un morceau <strong>de</strong> matière, ils sont donc diffusés <strong>par</strong> chacun<br />

<strong>de</strong>s atomes <strong>de</strong> la cible. Ces rayons X diffusés interfèrent entre eux. Si les atomes sont<br />

ordonnés, c.-à-d. placés à <strong>de</strong>s intervalles réguliers (ce qui caractérise les cristaux), alors ces<br />

interférences vont être constructrices dans certaines directions (c.-à-d. les on<strong>de</strong>s<br />

Version 3, mise à jour : 080318 2/10


TP Matériaux <strong>de</strong> Construction- Section Matériaux<br />

s'additionnent), <strong>de</strong>structrices dans d'autres (c.-à-d. les on<strong>de</strong>s s'annulent). Ces interférences<br />

d'on<strong>de</strong>s diffusées forment le phénomène <strong>de</strong> <strong>diffraction</strong>. Donc, pour certains angles <strong>de</strong><br />

déviation 2θ du faisceau, on détecte <strong>de</strong>s rayons X (interférences constructrices), ce sont les<br />

pics du diffractogramme; ces angles <strong>de</strong> déviation sont caractéristiques <strong>de</strong> l'organisation <strong>de</strong>s<br />

atomes dans la maille cristalline. Dans les autres directions, on ne détecte pas <strong>de</strong> rayon X,<br />

c'est la ligne <strong>de</strong> fond du signal.<br />

Position <strong>de</strong>s pics sur le diffractogramme, loi <strong>de</strong> Bragg<br />

Si on calcule les directions dans lesquelles on a du signal, on s'aperçoit que l'on obtient<br />

une loi très simple: si on trace <strong>de</strong>s plans imaginaires <strong>par</strong>allèles passant <strong>par</strong> les atomes (Figure<br />

3), et si on appelle d la distance entre ces plans (ou «distance interréticulaire»), alors les<br />

interférences sont constructrices si elles obéissent à la loi <strong>de</strong> Bragg (Figure 4).<br />

Maille élémentaire Réseau cristallin<br />

Indices <strong>de</strong> Miller<br />

OA=1 , OB=2 , et OC=3 pour le plan ABC<br />

1/OA = 1/1 1/OB = 1 /2 1/OC = 1/3<br />

indices <strong>de</strong> Miller ( h k l )<br />

( 1/1 x 6 =6 ) ( 1 /2 x 6 = 3 ) ( 1 /3 x 6 = 2 ) 632<br />

Figure 2: plan cristallographique et indices <strong>de</strong> Miller<br />

Loi <strong>de</strong> Bragg nλ=2 d sinθ<br />

Figure 3: Loi <strong>de</strong> Bragg<br />

Intensité<br />

K e K<br />

I ( hkl ) α =<br />

ρ<br />

Version 3, mise à jour : 080318 3/10<br />

α<br />

( hkl ) α<br />

X<br />

( μ/ρ ) s<br />

α


TP Matériaux <strong>de</strong> Construction- Section Matériaux<br />

Intensité théorique <strong>de</strong>s pics<br />

L'intensité intégrale Ihkl d’une phase cristalline α dans un mélange s, c.-à-d. la surface d'un<br />

pic <strong>de</strong> <strong>diffraction</strong>, correspond à l'énergie diffractée <strong>par</strong> le plan (hkl) <strong>de</strong> la phase α, est donnée<br />

<strong>par</strong> :<br />

K eK<br />

I ( hkl)<br />

α =<br />

ρ<br />

avec :<br />

α<br />

( hkl)<br />

α<br />

X<br />

( μ/ρ)<br />

s<br />

α<br />

Ke constante <strong>de</strong> l’ap<strong>par</strong>eillage (longueur d’on<strong>de</strong> inci<strong>de</strong>nte, distance échantillondétecteur…)<br />

K(hkl)α constante caractéristique du plan <strong>de</strong> <strong>diffraction</strong> (hkl) <strong>de</strong> la phase α dans<br />

l’échantillon (positions atomiques, volume <strong>de</strong> la maille…)<br />

Xα fraction massique phase α<br />

ρα <strong>de</strong>nsité <strong>de</strong> la phase α<br />

(μ/ρ)s coefficient d’atténuation massique <strong>de</strong> l’échantillon<br />

Au cours <strong>de</strong> ce TP, nous effectuerons :<br />

- Une acquisition <strong>de</strong> diffractogramme d’un composé sur un diffractomètre Bragg-<br />

Brentano ;<br />

- Une analyse qualitative avec le logiciel X’Pert High Score Plus ;<br />

- Une analyse quantitative <strong>par</strong> la métho<strong>de</strong> <strong>de</strong> Rietveld.<br />

3. Application aux matériaux <strong>cimentaires</strong><br />

Analyse qualitative d’un échantillon <strong>de</strong> la série I, phases anhydres:<br />

Les composés présents dans le clinker sont <strong>de</strong>s formes impures <strong>de</strong> 3CaO SiO2, 2CaO SiO2,<br />

3CaO Al2O3 et 4CaO Al2O3 Fe2O3. Pour former le ciment Portland du gypse (CaSO4 2H2O)<br />

est ajouté et broyé avec le clinker. Ces phases sont cristallines et présentent <strong>de</strong>s pics <strong>de</strong><br />

<strong>diffraction</strong>s relativement fins. D’autres ajouts peuvent également se trouver dans les<br />

matériaux <strong>cimentaires</strong> pour former <strong>de</strong>s ciments mélangés.ces ajouts peuvent être :<br />

- <strong>de</strong> la calcite,<br />

- du laitier <strong>de</strong> haut fourneaux<br />

- <strong>de</strong> la fumée <strong>de</strong> silice,<br />

- <strong>de</strong>s cendres volantes,<br />

- <strong>de</strong> l’argile calcinée…<br />

Ainsi, la fumée <strong>de</strong> silice est une silice (SiO2) ultra fine issue <strong>de</strong> l’industrie <strong>de</strong> la fabrication du<br />

silicium ou <strong>de</strong>s alliages à base <strong>de</strong> silicium. Sa structure est amorphe et ne présente pas <strong>de</strong> pics<br />

<strong>de</strong> <strong>diffraction</strong>.<br />

Version 3, mise à jour : 080318 4/10


TP Matériaux <strong>de</strong> Construction- Section Matériaux<br />

Quelles sont les origines du laitier et <strong>de</strong>s cendres volantes ?<br />

Pourquoi l’utilisation <strong>de</strong> ces matériaux permet <strong>de</strong> réduire le taux d’émission <strong>de</strong> CO2 ?<br />

Le logiciel utilisé permet une analyse qualitative <strong>de</strong>s différents échantillons. Deux<br />

échantillons (série I) <strong>par</strong> groupe seront analysés.<br />

Décrivez les différentes étapes <strong>de</strong> l’analyse qualitative<br />

Version 3, mise à jour : 080318 5/10


TP Matériaux <strong>de</strong> Construction- Section Matériaux<br />

Quelles sont les phases cristallines contenues dans les échantillons analysés ?<br />

Selon vous quelle est l’origine <strong>de</strong> chacun <strong>de</strong> ces échantillons (ciment, laitier, cendres…) ?<br />

N° <strong>de</strong> l’échantillon analysé<br />

N° <strong>de</strong> l’échantillon analysé<br />

Analyse quantitative d’un échantillon <strong>de</strong> ciment anhydre <strong>par</strong> analyse Rietveld:<br />

Décrire succinctement le principe <strong>de</strong> l’analyse <strong>par</strong> affinement Rietveld?<br />

Version 3, mise à jour : 080318 6/10


TP Matériaux <strong>de</strong> Construction- Section Matériaux<br />

Analyse quantitative d’un ciment Portland?<br />

N° <strong>de</strong> l’échantillon analysé<br />

3CaO SiO2 :<br />

2CaO SiO2 :<br />

3CaO Al2O3 :<br />

4CaO Al2O3 Fe2O3 :<br />

Sulfates :<br />

Analyse qualitative d’un échantillon <strong>de</strong> la série II, phases hydrates:<br />

Les échantillons étudiés sont issus d’une pâte <strong>de</strong> ciment dont l’hydratation a été stoppée à<br />

différents temps <strong>de</strong> réaction. La pâte a été pré<strong>par</strong>ée en mélangeant intimement le ciment à <strong>de</strong><br />

l’eau à hauteur d’un rapport massique eau / ciment égal à 0.40. Un tel mélange prend en<br />

quelques heures mais la réaction d’hydratation continue pourtant aussi longtemps que<br />

l’échantillon est conservé dans un environnement humi<strong>de</strong>.<br />

Quels sont les mécanismes réactionnels <strong>de</strong>s phases du ciment et les hydrates générés?<br />

Quelles phases sera-t-il difficile a priori <strong>de</strong> caractériser <strong>par</strong> <strong>diffraction</strong> <strong>de</strong>s Rayons X ?<br />

Hydratation <strong>de</strong> 3CaO SiO2 :<br />

Hydratation <strong>de</strong> 2CaO SiO2 :<br />

Hydratation <strong>de</strong> 3CaO Al2O3<br />

Hydratation <strong>de</strong> 4CaO Al2O3 Fe2O3<br />

:<br />

Quelles sont les avantages d’une analyse sur une tranche d’échantillon ?<br />

-<br />

-<br />

:<br />

Version 3, mise à jour : 080318 7/10


TP Matériaux <strong>de</strong> Construction- Section Matériaux<br />

Quelles sont les phases cristallines contenues dans les échantillons analysés ?<br />

N° <strong>de</strong> l’échantillon analysé :<br />

Phases du matériau anhydre :<br />

Phases ap<strong>par</strong>ues lors <strong>de</strong> l’hydratation :<br />

Trouver vous une bonne cohérence entre les mécanismes réactionnels décrits ci-<strong>de</strong>ssus et<br />

l’analyse qualitative <strong>par</strong> DRX, si non pourquoi ?<br />

Le taux <strong>de</strong> Portlandite (CH) dans un ciment peut être un bon indicateur du <strong>de</strong>gré<br />

d’hydratation d’un ciment (sauf si on a une réaction pouzzolanique). En vous référant à la<br />

figure ci-<strong>de</strong>ssous, pouvez vous estimer approximativement l’age <strong>de</strong> votre échantillon ?<br />

En vous référant à la figure ci-<strong>de</strong>ssous, pouvez vous estimer approximativement l’âge <strong>de</strong><br />

votre échantillon ?<br />

Version 3, mise à jour : 080318 8/10


TP Matériaux <strong>de</strong> Construction- Section Matériaux<br />

anhydre<br />

2 j<br />

7 j<br />

28 j<br />

1 an<br />

30 32 34<br />

Angle 2θ (<strong>de</strong>grees) CuKα<br />

La métho<strong>de</strong> du standard interne permet d’estimer la quantité d’amorphe dans un<br />

ciment. On ajoute 10% en masse <strong>de</strong> CaF2 à notre échantillon. L’analyse Rietveld<br />

indique une teneur en CaF2 <strong>de</strong> 20% en masse. Quelle est la teneur en amorphe dans<br />

l’échantillon initial ? (indiquez les étapes du calcul).<br />

Version 3, mise à jour : 080318 9/10<br />

CH<br />

C 3 S


TP Matériaux <strong>de</strong> Construction- Section Matériaux<br />

Quelle technique permet une analyse élémentaire (teneur en oxy<strong>de</strong> <strong>de</strong>s différents<br />

éléments) ? Peut-on établir un lien entre les résultats <strong>de</strong> cette analyse élémentaire et une<br />

analyse Rietveld ?<br />

Version 3, mise à jour : 080318 10/10

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