Telecom Saint - Eticnne

PLATEFORME VIVA :
LA VISION INDUSTRIELLE DES
LIGNES DE PRODUCTION
La vocation de la plateforme VIVA (Vision
Industrielle Vision Active) est d’offrir un
panel représentatif des composants mis en
œuvre au niveau industriel dans une
démarche d’automatisation de processus
par vision pour des opérations de contrôle,
de mesure ou d’identification.
La mise en œuvre de ces systèmes nécessite
alors de bien appréhender l’ensemble des
composants pour adapter la configuration
requise aux besoins de l’application tels que
l’éclairage, les caméras ou encore les postes
de défilement.
PLATEFORME MARKINOV :
TESTER LE MARQUAGE LASER
Télécom Saint-Etienne s’est dotée d’une
plateforme de R&D autour des matériels de
très hautes technologies laser comprenant :
- Une machine de micro soudage
- Une machine de marquage
Nous pouvons ainsi vous permettre
de vous initier au domaine des techniques
innovantes de marquage laser couplées
à des techniques de relecture pour
l’identification, la traçabilité, la lutte contre
la contrefaçon.
PLATEFORME SPIDI :
LES TECHNOLOGIES DU
CONTRÔLE DE LIGNE
INDUSTRIELLE
La plateforme SPIDI vous apporte les outils
de prestation scientifique et technologique
adaptés à vos ambitions dans le domaine
du contrôle en ligne.
Les tests sont réalisés en temps réel sur un
convoyeur, mettant ainsi en œuvre des
moyens puissants d’investigation : caméras
rapides (linéaires, matricielles, à niveaux de
gris ou en couleur), caméra infrarouge
thermique…
PLATEFORME EUROP :
VENEZ TESTER VOS RÉSEAUX TÉLÉCOMS À L’ÉCHELLE RÉGIONALE
Nous avons la possibilité de recréer, dans un espace réduit, un réseau haut débit régional
sur lequel il est possible de venir tester ses configurations, services ou équipements.
Notre plateforme permet de tester de nouveaux services numériques,
de nouveaux modèles pour les opérateurs télécom, mais aussi de pérenniser des modèles
existants face aux évolutions actuelles.
PLATEFORME ELLIPSOMÈTRE :
ANALYSE DES PROPRIÉTÉS DES
MATIÈRES
L’ellipsométrie est une méthode d’analyse
non destructive des propriétés optiques
et géométriques de couches minces.
Notre ellipsomètre permet des mesures
dans la gamme 260-2100 nm sur tout type
d’échantillons plans. Il est équipé soit d’une
platine XY permettant une cartographie
200x200 mm (épaisseur échantillon
inférieure à 4 mm), soit d’une platine
de rotation pour des mesures azimuthales
(épaisseur échantillon inférieure à 20 mm).