Dynamic Voltage Scaling Dissertação para obtenção do Grau de ...
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Lista <strong>de</strong> Acrónimos<br />
ASIC<br />
Application-specific integrated circuit (Circuito integra<strong>do</strong> <strong>de</strong> aplicação especifica)<br />
BIST<br />
Built-in self-test (Autoteste embuti<strong>do</strong>)<br />
BTI<br />
Bias Temperature Instability (Instabilida<strong>de</strong> em temperatura e polarização)<br />
CUT<br />
Circuit Un<strong>de</strong>r Test (Circuito em teste)<br />
DVS<br />
<strong>Dynamic</strong> <strong>Voltage</strong> <strong>Scaling</strong> (Optimização da Tensão <strong>de</strong> Alimentação)<br />
FPGA<br />
Field-programmable gate array (Arranjo <strong>de</strong> Portas Programável em Campo)<br />
I2C<br />
Inter-Integrated Circuit (Circuito Inter-integra<strong>do</strong> - barramento série multi-mestre)<br />
ISM<br />
Internal Supply Module (Modulo <strong>de</strong> fornecimento interno)<br />
JTAG<br />
Joint Test Action Group (Grupo <strong>de</strong> Teste <strong>de</strong> Ação Conjunta)<br />
LDO<br />
Low-dropout voltage regulator (regula<strong>do</strong>r <strong>de</strong> tensão com baixa queda <strong>de</strong> tensão)<br />
LUT<br />
Look-Up Table (Tabela <strong>de</strong> referêcia)<br />
MISO<br />
Master Input, Slave Output (Entrada <strong>do</strong> Mestre, Saída <strong>do</strong> Escravo)<br />
MOSI<br />
Master Output, Slave Input (Saída <strong>do</strong> Mestre, Entrada <strong>do</strong> Escravo)<br />
NBTI<br />
Negative Bias Temperature Instability (Instabilida<strong>de</strong> em temperatura e polarização<br />
negativa)<br />
xiii
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