ISEP.BI 07 - Instituto Superior de Engenharia do Porto
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PROVAS DE DOUTORAMENTO<br />
APOIO À DEPURAÇÃO E TESTE DE<br />
CIRCUITOS MISTOS COMPATÍVEIS<br />
COM A NORMA IEEE 1149.4<br />
NOME: Carlos Felgueiras<br />
ÁREA CIENTÍFICA: Eng. Electrotécnica e <strong>de</strong> Computa<strong>do</strong>res<br />
ORIENTADORES: José Manuel Martins Ferreira (FEUP)<br />
e Gustavo Ribeiro da Costa Alves (<strong>ISEP</strong>)<br />
LOCAL: Faculda<strong>de</strong> <strong>de</strong> <strong>Engenharia</strong> da Universida<strong>de</strong> <strong>do</strong> <strong>Porto</strong><br />
DATA DA PROVA: Fevereiro 2009<br />
Os circuitos mistos tiveram uma expansão consi<strong>de</strong>rável recentemente,<br />
<strong>de</strong>vi<strong>do</strong> ao constante aumento <strong>do</strong> número <strong>de</strong> componentes<br />
presentes em cada circuito integra<strong>do</strong> e à disponibilida<strong>de</strong> <strong>de</strong><br />
ferramentas computa<strong>do</strong>rizadas <strong>de</strong> apoio ao projecto. Os circuitos<br />
passam a integrar to<strong>do</strong>s os blocos necessário para realizar uma<br />
<strong>de</strong>terminada função e que frequentemente incluem microprocessa<strong>do</strong>res,<br />
memória, conversores A/D e D/A, etc., constituin<strong>do</strong><br />
circuitos mistos <strong>de</strong> elevada complexida<strong>de</strong>. Estes eleva<strong>do</strong>s níveis <strong>de</strong><br />
integração colocam dificulda<strong>de</strong>s acrescidas às operações <strong>de</strong><br />
<strong>de</strong>puração, que têm lugar durante a fase <strong>de</strong> validação <strong>do</strong> protótipo,<br />
e que se realizam através <strong>de</strong> equipamentos basea<strong>do</strong>s no acesso<br />
físico aos nós <strong>do</strong> circuito.<br />
As dificulda<strong>de</strong>s são menores nos circuitos digitais para os quais foi<br />
<strong>de</strong>senvolvi<strong>do</strong>, e rapidamente a<strong>do</strong>pta<strong>do</strong>, o mecanismo normaliza<strong>do</strong><br />
<strong>de</strong> acesso para o teste <strong>de</strong>fini<strong>do</strong> na norma IEEE1149.1 ten<strong>do</strong> si<strong>do</strong><br />
posteriormente si<strong>do</strong> reutiliza<strong>do</strong> para apoiar a directamente <strong>de</strong>puração<br />
ou para en<strong>de</strong>reçar instrumentos embuti<strong>do</strong>s. .<br />
Para os circuitos analógicos e mistos, para além da necessida<strong>de</strong> <strong>de</strong><br />
um mecanismo semelhante, acresce ainda a dificulda<strong>de</strong> <strong>de</strong> compa-<br />
TRIBOLOGICAL PROPERTIES OF CVD<br />
DIAMOND COATED CERAMIC<br />
SURFACES<br />
NOME: Cristiano Abreu<br />
ÁREA CIENTÍFICA: Tribologia<br />
ORIENTADORES: José M. R. Gomes (Universida<strong>de</strong> <strong>do</strong> Minho)<br />
e Rui R. Ferreira e Silva (Universida<strong>de</strong> <strong>de</strong> Aveiro)<br />
LOCAL: Universida<strong>de</strong> <strong>do</strong> Minho<br />
DATA DA PROVA: Fevereiro <strong>de</strong> 2009<br />
Estu<strong>do</strong> das proprieda<strong>de</strong>s <strong>de</strong> <strong>de</strong>sgaste e atrito <strong>de</strong> revestimentos<br />
ultra-duros <strong>de</strong> diamante <strong>de</strong>posita<strong>do</strong>s pela técnica <strong>de</strong> <strong>de</strong>posição<br />
química em fase <strong>de</strong> vapor (CVD), sobre revestimentos cerâmicos <strong>de</strong><br />
nitreto <strong>de</strong> silício. Foram caracteriza<strong>do</strong>s <strong>do</strong>is tipos <strong>de</strong> revestimentos<br />
tibilida<strong>de</strong> com os meios entretanto <strong>de</strong>senvolvi<strong>do</strong>s para a parte<br />
digital, nomeadamente ao nível <strong>do</strong>s pinos <strong>de</strong> interface. Neste<br />
contexto, a infra-estrutura IEEE1149.4 aparece como mecanismo<br />
especialmente privilegia<strong>do</strong>, uma vez que se trata da extensão da<br />
anteriormente referida para a área <strong>do</strong>s circuitos analógicos e mistos.<br />
O trabalho <strong>de</strong>senvolvi<strong>do</strong> propõe a reutilização da infra-estrutura<br />
IEEE1149.4 para apoiar a <strong>de</strong>puração em circuitos mistos, através da<br />
respectiva extensão para permitir operações <strong>de</strong> Controlo, Observação<br />
e Verificação (COV) e da inclusão <strong>de</strong> um Detector <strong>de</strong> Condição Mista<br />
(DCM) que é necessário para operações mais complexas. O estu<strong>do</strong><br />
da referida infra-estrutura conduziu a um ABM genérico que satisfaz<br />
os requisitos <strong>de</strong> COV nos pinos e nós internos, analógicos e digitais.<br />
Foram também propostos (i) um procedimento <strong>de</strong> verificação da<br />
integrida<strong>de</strong>, (ii) um processo <strong>de</strong> análise e correcção <strong>de</strong> erros durante<br />
as medidas paramétricas e (iii) o <strong>BI</strong>MBO, um circuito que permite<br />
observar analogicamente até quatro sinais, através <strong>do</strong>s pinos da<br />
interface normalizada Test Access Port (TAP). Para as operações<br />
compostas <strong>de</strong> <strong>de</strong>puração paragem/monitorização por condição e<br />
análise em tempo real foi proposto o DCM, que reutiliza a infraestrutura<br />
IEEE1149.4. O <strong>de</strong>senvolvimento <strong>de</strong>ste bloco e a análise <strong>do</strong><br />
overhead que lhe está associa<strong>do</strong>, bem como a respectiva validação,<br />
foram igualmente realiza<strong>do</strong>s.<br />
<strong>de</strong> diamante, <strong>de</strong>signadamente diamante micro-cristalino (MCD) e<br />
nano-cristalino (NCD), na ausência <strong>de</strong> lubrificação e <strong>de</strong>slizamento<br />
em água <strong>de</strong>stilada. Estes ambientes <strong>de</strong> <strong>de</strong>slizamento preten<strong>de</strong>ram<br />
aferir as potencialida<strong>de</strong>s tribológicas <strong>de</strong>stes tribosistemas para<br />
aplicações na indústria <strong>de</strong> fluí<strong>do</strong>s, corte por apara e em aplicações<br />
biotribológicas: instrumentos cirúrgicos, próteses articulares totais<br />
(artroplastia), etc.<br />
Tese por artigos conten<strong>do</strong> 8 artigos publica<strong>do</strong>s em revistas internacionais<br />
da especialida<strong>de</strong>. Foram ainda publica<strong>do</strong>s artigos <strong>de</strong> assuntos<br />
conexos em revistas internacionais e nacionais. Os resulta<strong>do</strong>s foram<br />
ainda apresenta<strong>do</strong>s através <strong>de</strong> comunicações orais em conferências<br />
internacionais da especialida<strong>de</strong>, <strong>de</strong>stacan<strong>do</strong>-se a participação no<br />
Congresso Mundial <strong>de</strong> Desgaste (WOM 2005), no Multiscale and<br />
Functionally Gra<strong>de</strong>d Materials Conference (M&FGM 2006) e nos<br />
Congressos Ibéricos <strong>de</strong> Tribologia (IBERTRIB 2005 e IBERTRIB 20<strong>07</strong>).<br />
Os trabalhos <strong>de</strong> <strong>do</strong>utoramento foram enquadra<strong>do</strong>s nos projectos<br />
<strong>BI</strong>ODIAM e NANODIAM, ambos financia<strong>do</strong>s pela Fundação para a<br />
Ciência e a Tecnologia.