Avtomatizirana analiza - Univerza v Ljubljani

Rezultati nam razkrijejo, da so suhi nanosi na Si-ploščici večjih premerov kot na polimernih filmih.
Tudi nanosi na akrilnem steklu so večji kot nanosi na polimernih filmih. Ta pojav lahko razložimo z
različnimi kemijskimi lastnostmi substratov. Si-ploščica je prekrita s Si-oksidno plastjo, ki je dokaj
hidrofilna. Akrilno steklo je polimer metil metakrilata, ki je manj hidrofoben kot polipropilenski film,
zaradi esterske skupine. Kamijske lastnosti substrata imajo torej velik vpliv na velikost suhega
ostanka – kapljica hidrofilno površino dobro omoči in se torej bolj razširi.
Skoraj pa ne opazimo razlike, če 100 pg niklja nanesemo na površino v volumnu 10 pL ali pa v
volumnu 204 pL, je pa premer 10 pg niklja nanešenega z 10 ali 204 pL manjši, kar se ujema z rezultati,
ki smo jih že spoznali na sliki 3. Ta lastnost bi se verjetno spremenila, če bi npr. 100 pg nanesli v veliko
večjem volumnu (100 nL).
2.2. OBLIKA
Debelino in obliko suhega ostanka so določili na nikljevih nanosih na Si ploščici, v volumnu 10 pL so
nanesli koncentracije: 0.01, 0.05, 0.1, 0.5, 1, 2, 5 in 10 g/L, uporabili so AFM (atomic force
microscopy). Rezultati so predstavljeni na sliki 5. Na sliki 6a je prikazana slika nanosa 0,1 pg niklja, na
sliki 6b pa višinski profil le tega.
Slika 5: Povprečna višina nanosa (µg) proti količini niklja (pg).
a b
Slika 6: Nikljev nanos (0,1 pg).
7 (13)