通信电子线路实验指导书 - 上海理工大学课程中心展示系统

1 2
则 C 100PF
2f
L
0
通信电子线路实验指导书
C=C53+ CC51+ C512+ C55‖C56‖C57
由 C56、C57 远大于 C55[ C53、 CC51、 C512]
所以 C≈CC53+ CC51+ C55+ C512
取 C55 为 24P C53 +C512 为 55P(而实际上对高频电路由于分布电容的影响,
往往取值要小于此值) C51 为 3-30P 的可调电容。
而 C56/C57(C58、 C59)=1/2-1/8 则取 C56=100P
对于晶体振荡,只需和晶体并联一可调电容进行微调即可。
三、实验内容
1、 按下开关 K51,调整静态工作点:调 W51 使 VR55=2V(即测 C56 处焊盘的电压,
见图 3.3 所示)
2、 (1)连接好 J54、J52,调节可调电容 CC51,通过示波器和频率计在 TPO51 处观察
振荡波形,并使振荡频率为 10.7MHz(在本实验中可调范围不窄于 10MHz-12MHz)。
(2)断开 J52,接通 J53,微调 CC52,使振荡频率为 10.245MHz。
3、观察振荡状态与晶体管工作状态的关系。
断开 J53,连好 J52,用示波器在 TPO51 观察振荡波形,调节 W51,观察 TPO51 处波
形的变化情况,并测量波形变化过程中的 C56 处焊盘电压且计算对应的 IE。
4、观察反馈系数对振荡器性能的影响(只作 LC 振荡)
用示波器在 TPO51 处观察波形。
分别连接 J54、J55、J56 或组合连接使 C56/C57‖C58‖C59 等于 1/3、1/5、1/6、1/8
时,幅度的变化并实测,反馈系数是否与计算值相符,同时,分析反馈大小对振荡幅
度的影响。
5、比较 LC 振荡器和晶体振荡器频率稳定度。
分别接通 J53、J52,在 TPO51 处用频率计观察频率变化情况。
6、观察温度变化对振荡频率的影响。(若无电吹风,可不作该实验)
分别接通 J53、J52,用电吹风在距电路 15cm 处对着电路吹热风,用频率计在 TPO51
处观察频率变化情况。
四、实验报告内容
1、 整理实验所测得的数据,并用所学理论加以分析。
2、 比较 LC 振荡器与晶体振荡器的优缺点。
3、 分析为什么静态电流 Ieo 增大,输出振幅增加,而 Ieo 过大反而会使振荡器输出幅
度下降?
14