Loeng 19
Loeng 19
Loeng 19
Create successful ePaper yourself
Turn your PDF publications into a flip-book with our unique Google optimized e-Paper software.
(S)TEM<br />
Läbivalgustav, e. transmissioon-elektronmikroskoop on üks võimsamaid<br />
materjalide mikro- ja nanoskaalas uurimise vahendeid, võimaldades saavutada<br />
aatomlahutust, uurida õhukeste objektide struktuurseid omadusi, elementset ja<br />
keemilist koostist ning teisi füüsikalis-keemilisi omadusi suure lokaalsusega.<br />
Kaasaegne seade on sageli kõrg- (puhta) vaakumiga nii elektron-optilises, kui<br />
uurimisobjekti kambris, elektroonse kujutise registreerimisega, objekti 3D<br />
manipuleerimisega (nihutamine, keeramine, kallutamine) ning varustatud<br />
mitmekülgse analüütilise seadmestikuga. Samuti on võimalik sageli objekti<br />
kuumutada kuni või üle 1000 K või jahutada krüogeensetele temperatuuridele.<br />
Objektid peavad olema niivõrd õhukesed, et sondi elektronid suurel määral<br />
läbiksid objekti, keskmise aatomnumbriga objektid tüüpiliselt 20-50 nm.<br />
Samuti peab olema primaarelektronide energia küllaldane objektide läbimiseks,<br />
tavaliselt kasutatakse 100-400 keV energiaid. Eriti suure läbitavuse ja<br />
sealjuures hea lahutusvõime saavutamiseks kasutatakse kuni 3 MeV<br />
mikroskoope, kuid siin peab alati hindama seadme maksumust,<br />
ekspluatatsioonikulusid ja võimalikku kasulikkust teatud probleemi(de)<br />
lahendamiseks.<br />
Eksperimentaalmeetodid<br />
materjalifüüsikas, TEM
Change language