Loeng 19
Loeng 19
Loeng 19
You also want an ePaper? Increase the reach of your titles
YUMPU automatically turns print PDFs into web optimized ePapers that Google loves.
TEM: võrdlus OM-ga<br />
•Mõlemad mikroskoobid on projekteerivad ja alluvad<br />
laineoptika seaduspärasustele.<br />
•OM lääts klaasist, TEM lääts elektromagnet, mille<br />
fookuskaugust saab muuta ergutusvooluga. NB! Elektronid<br />
ei kaota läätses kiirust ning liiguvad spiraalselt ümber<br />
optilise telje.<br />
•Kui OM-s kasutatakse Köhleri valgustussüsteemi, siis<br />
TEM puhul kasutatakse kriitilist valgustussüsteemi:<br />
kondensor-lääts fokuseerib valgustusallika (Wennelti abil<br />
formeeritud hõõgniidi kujutise) objekti tasandile<br />
ligilähedaselt paralleelse kimbuna. Nii saavutatakse<br />
maksimaalne objekti valgustatus. Tavaliselt on elektronkiire<br />
läbimõõt objektil ~2 µm, mis on küllaldane, et täita suure<br />
suurenduse korral kujutisega kogu luminestseeruv ekraan<br />
(digitaalne maatriks). Kuna elektronmikroskoobi<br />
kondensor-läätsed ei ole reeglina korrigeeritud, siis pole<br />
vajadust paigutada kondensor-läätse mingi kindla<br />
fookuskauguse punkti. Seega saab elektronkimbu<br />
intensiivsust kontrollida/muuta kondensorläätse ergastuse<br />
abil, jättes valgusallika asukoha muutumatuks.<br />
Eksperimentaalmeetodid<br />
materjalifüüsikas, TEM
Change language