Скачать статью в формате pdf - Силовая электроника
Скачать статью в формате pdf - Силовая электроника
Скачать статью в формате pdf - Силовая электроника
- TAGS
- rockwell
- www.power-e.ru
Create successful ePaper yourself
Turn your PDF publications into a flip-book with our unique Google optimized e-Paper software.
Сило<strong>в</strong>ая Электроника, № 3’2010<br />
Технологии<br />
на сжатие снижается на 80%, и при этом <strong>в</strong>ыделяются<br />
газы: кислород за счет разложения<br />
окисла, гелий и тритий за счет ядерных реакций<br />
с бериллием [5]. Нейтронное излучение<br />
оказы<strong>в</strong>ает <strong>в</strong>лияние также и на керамические<br />
материалы, содержащие даже незначительные<br />
количест<strong>в</strong>а окcида бора. После нейтронного<br />
облучения большими интегральными потоками<br />
у многих керамических материало<strong>в</strong> наблюдается<br />
резкое снижение теплопро<strong>в</strong>одности.<br />
Наблюдаемые изменения с<strong>в</strong>язаны чаще<br />
<strong>в</strong>сего с образо<strong>в</strong>анием стабильных изотопо<strong>в</strong><br />
и изменением химического соста<strong>в</strong>а керамики,<br />
полиморфными пре<strong>в</strong>ращениями кристаллических<br />
фаз, пре<strong>в</strong>ращениями из кристаллического<br />
состояния <strong>в</strong> стеклообразное, <strong>в</strong>озникно<strong>в</strong>ением<br />
областей смещенных ионо<strong>в</strong> и атомо<strong>в</strong> и др.<br />
При облучении гамма- и рентгено<strong>в</strong>скими<br />
лучами столь сущест<strong>в</strong>енных структурных изменений<br />
<strong>в</strong> керамике не обнаружи<strong>в</strong>ается: остаточные<br />
эффекты предста<strong>в</strong>лены <strong>в</strong> осно<strong>в</strong>ном<br />
дефектами типа смещенных ионо<strong>в</strong> и электроно<strong>в</strong>.<br />
Протонное облучение с энергией 680 МэВ<br />
и флюенсом 5×10 14 см –2 заметного ухудшения<br />
с<strong>в</strong>ойст<strong>в</strong> алюмооксидной керамики не <strong>в</strong>ызы<strong>в</strong>ает<br />
[6]. Наблюдаемые изменения с<strong>в</strong>одятся<br />
к незначительному у<strong>в</strong>еличению диэлектрической<br />
проницаемости и некоторому снижению<br />
газо<strong>в</strong>ыделения без изменения соста<strong>в</strong>а и соотношения<br />
<strong>в</strong>ыделяющихся газо<strong>в</strong>. Эти эффекты<br />
могут быть с<strong>в</strong>язаны с некоторым <strong>в</strong>озможным<br />
уплотнением структуры материало<strong>в</strong> за счет<br />
<strong>в</strong>оздейст<strong>в</strong>ия частиц <strong>в</strong>ысокой энергии, что,<br />
<strong>в</strong> из<strong>в</strong>естной мере, ра<strong>в</strong>носильно дополнительной<br />
термической обработке.<br />
Выбор технологии<br />
сборки приборо<strong>в</strong><br />
Разработка надежных способо<strong>в</strong> монтажа полупро<strong>в</strong>однико<strong>в</strong>ых<br />
кристалло<strong>в</strong> к корпусам —<br />
это актуальная задача, на решение которой<br />
напра<strong>в</strong>лены усилия специалисто<strong>в</strong>, работающих<br />
<strong>в</strong> области полупро<strong>в</strong>однико<strong>в</strong>ой микроэлектроники.<br />
В настоящее <strong>в</strong>ремя присоединение<br />
осущест<strong>в</strong>ляется следующими способами:<br />
пайка припоями и э<strong>в</strong>тектическими спла<strong>в</strong>ами,<br />
спла<strong>в</strong>ление, приклеи<strong>в</strong>ание токопро<strong>в</strong>одящими<br />
и нетокопро<strong>в</strong>одящими клеями, с помощью<br />
легкопла<strong>в</strong>ких стекол.<br />
При монтаже кристалла контактно-реакти<strong>в</strong>ной<br />
пайкой на осно<strong>в</strong>ание корпуса между соединяемыми<br />
материалами (алюминий-германий,<br />
золото-германий, золото-кремний) <strong>в</strong> результате<br />
контактного пла<strong>в</strong>ления при приложении нагрузки<br />
и температуры происходит образо<strong>в</strong>ание<br />
э<strong>в</strong>тектики соот<strong>в</strong>етст<strong>в</strong>ующей структуры, которая<br />
имеет <strong>в</strong>ысокую акти<strong>в</strong>ность, хорошо смачи<strong>в</strong>ает<br />
т<strong>в</strong>ердые по<strong>в</strong>ерхности и при кристаллизации обеспечи<strong>в</strong>ает<br />
качест<strong>в</strong>енное соединение.<br />
Величина нагре<strong>в</strong>а при контактно-реакти<strong>в</strong>ной<br />
пайке +400…+430 °С, усилие сжатия 0,5–1 Н<br />
(за<strong>в</strong>исит от площади кристалла). У<strong>в</strong>еличением<br />
удельного да<strong>в</strong>ления до 100 Н/мм 2 и температур<br />
пайки до +440…+450 °С можно получить <strong>в</strong>ремя<br />
монтажа менее 1 с для кристалло<strong>в</strong> размером<br />
до 3×3 мм и <strong>в</strong> пределах 1–3 с — для кристалло<strong>в</strong><br />
бóльших размеро<strong>в</strong>. Схема монтажа показана<br />
на рис. 1.<br />
www.power-e.ru<br />
Рис. 1. Схема монтажа кристалла <strong>в</strong> корпус:<br />
1 — инструмент, 2 — кристалл, 3 — корпус, 4 —<br />
э<strong>в</strong>тектический спла<strong>в</strong>, 5 — рабочий стол<br />
с подогре<strong>в</strong>ом<br />
При монтаже кристалло<strong>в</strong> корпус прибора<br />
нагре<strong>в</strong>ают до температуры, пре<strong>в</strong>ышающей<br />
температуру э<strong>в</strong>тектики. Кристалл прижимается<br />
инструментом к осно<strong>в</strong>анию с определенным<br />
да<strong>в</strong>лением и «притирается» колебаниями<br />
заданной траектории (по кругу, к<strong>в</strong>адрату, эллипсу<br />
и т. д.) (рис. 2).<br />
а б <strong>в</strong> г<br />
Рис. 2. Траектория д<strong>в</strong>ижения кристалла<br />
<strong>в</strong> процессе монтажа: а) по кругу; б) по эллипсу;<br />
<strong>в</strong>) по к<strong>в</strong>адрату; г) по <strong>в</strong>осьмерке<br />
Колебания акти<strong>в</strong>ируют э<strong>в</strong>тектическую реакцию<br />
за счет разрушения оксидо<strong>в</strong>, <strong>в</strong>о<strong>в</strong>лечения<br />
большего количест<strong>в</strong>а материала покрытия<br />
с монтажной площадки, более ра<strong>в</strong>номерного<br />
и плотного заполнения микронеро<strong>в</strong>ностей<br />
и лучшего смачи<strong>в</strong>ания их по<strong>в</strong>ерхностей.<br />
Для кристалло<strong>в</strong> с линейным размером более<br />
1 мм амплитуда зада<strong>в</strong>аемых колебаний<br />
обычно переменная: начальная большая, а конечная<br />
маленькая. Это поз<strong>в</strong>оляет по<strong>в</strong>ысить<br />
точность монтажа (рис. 3). После окончания<br />
колебаний кристаллы фиксируются <strong>в</strong> одном<br />
положении.<br />
Рис. 3. Амплитуда колебаний кристалла <strong>в</strong><br />
процессе пайки<br />
Устано<strong>в</strong>лена за<strong>в</strong>исимость качест<strong>в</strong>а пайки<br />
от подгото<strong>в</strong>ки монтажной по<strong>в</strong>ерхности<br />
кристалла и наличия остатко<strong>в</strong> клея после<br />
снятия кристалла с адгезионного носителя.<br />
Сра<strong>в</strong>нительные испытания для шлифо<strong>в</strong>анных,<br />
полиро<strong>в</strong>анных и химически полиро<strong>в</strong>анных<br />
кристалло<strong>в</strong> показы<strong>в</strong>ают, что более<br />
<strong>в</strong>ысокое качест<strong>в</strong>о монтажа обеспечи<strong>в</strong>ается<br />
после химической полиро<strong>в</strong>ки (с<strong>в</strong>ыше 90%<br />
э<strong>в</strong>тектики), незначительно уступает механическая<br />
полиро<strong>в</strong>ка (около 87% э<strong>в</strong>тектики),<br />
а после шлифо<strong>в</strong>ки образуется примерно 80%<br />
э<strong>в</strong>тектики. Такая за<strong>в</strong>исимость характеризует<br />
э<strong>в</strong>тектическую пайку кристалло<strong>в</strong> площадью<br />
более 4 мм 2 . При уменьшении площади кристалло<strong>в</strong><br />
до 1–1,5 мм 2 качест<strong>в</strong>о присоединительной<br />
по<strong>в</strong>ерхности кристалла заметного<br />
<strong>в</strong>лияния не оказы<strong>в</strong>ает.<br />
При монтаже указанных групп кристалло<strong>в</strong><br />
<strong>в</strong> идентичных усло<strong>в</strong>иях образо<strong>в</strong>ание<br />
э<strong>в</strong>тектики у химически полиро<strong>в</strong>анных идет<br />
значительно быстрее, чем у шлифо<strong>в</strong>анных.<br />
Например, для кристалло<strong>в</strong> с площадью 8 мм 2<br />
разница по <strong>в</strong>ремени соста<strong>в</strong>ляет 1,5 – 2,0 с.<br />
В отличие от контактно-реакти<strong>в</strong>ной пайки,<br />
э<strong>в</strong>тектический спла<strong>в</strong> (обычно <strong>в</strong> <strong>в</strong>иде таблетки)<br />
<strong>в</strong><strong>в</strong>одится <strong>в</strong> качест<strong>в</strong>е припоя между кристаллом<br />
и монтажной площадкой корпуса. В данном<br />
случае следует учиты<strong>в</strong>ать <strong>в</strong>озможность образо<strong>в</strong>ания<br />
пор <strong>в</strong> плоскости раздела между кристаллом<br />
и монтажной площадкой, из-за которых<br />
надежность приборо<strong>в</strong> при их длительной<br />
эксплуатации может снизиться. Припойный<br />
спла<strong>в</strong> должен иметь <strong>в</strong>ысокию прочность, тепло-<br />
и электропро<strong>в</strong>одность, а также обладать<br />
стабильными химическими и физическими<br />
с<strong>в</strong>ойст<strong>в</strong>ами <strong>в</strong>о <strong>в</strong>ремени и при различных температурах.<br />
Пайка должна быть <strong>в</strong>ысокотехнологичной<br />
и легко<strong>в</strong>оспроиз<strong>в</strong>одимой, не при<strong>в</strong>одить<br />
к общему и локальному перегре<strong>в</strong>у кристалла,<br />
а также температурным напряжениям на его<br />
по<strong>в</strong>ерхности. При хорошей <strong>в</strong>оспроиз<strong>в</strong>одимости<br />
процесса <strong>в</strong>озможно получение гарантиро<strong>в</strong>анного<br />
качест<strong>в</strong>а и <strong>в</strong>ысокого процента <strong>в</strong>ыхода<br />
годных приборо<strong>в</strong>. Для этого э<strong>в</strong>тектический<br />
спла<strong>в</strong> должен химически реагиро<strong>в</strong>ать и хорошо<br />
смачи<strong>в</strong>ать по<strong>в</strong>ерхность как кристалла,<br />
так и монтажной площадки. Э<strong>в</strong>тектическая<br />
структура устана<strong>в</strong>ли<strong>в</strong>ает с<strong>в</strong>язь между по<strong>в</strong>ерхностями<br />
и придает соединению необходимые<br />
с<strong>в</strong>ойст<strong>в</strong>а. Однако ра<strong>в</strong>номерное смачи<strong>в</strong>ание<br />
припойным спла<strong>в</strong>ом соединяемых по<strong>в</strong>ерхностей<br />
еще не гарантирует создания э<strong>в</strong>тектической<br />
структуры <strong>в</strong>о <strong>в</strong>сей зоне раздела.<br />
Качест<strong>в</strong>енное присоединение кремние<strong>в</strong>ого<br />
кристалла к корпусу за<strong>в</strong>исит от создания<br />
когерентной (согласо<strong>в</strong>анно протекающей<br />
<strong>в</strong>о <strong>в</strong>ремени) структуры <strong>в</strong> зоне раздела<br />
кристалл–корпус. Если реакция не проходит,<br />
структура не образуется, и поя<strong>в</strong>ляются рако<strong>в</strong>ины.<br />
Однако доба<strong>в</strong>ление даже небольшого<br />
количест<strong>в</strong>а кремния к э<strong>в</strong>тектической<br />
структуре значительно по<strong>в</strong>ышает точку<br />
пла<strong>в</strong>ления любого обогащенного кремнием<br />
спла<strong>в</strong>а. Фактически у<strong>в</strong>еличение температуры<br />
настолько <strong>в</strong>елико, что схема на кремние<strong>в</strong>ом<br />
кристалле <strong>в</strong>о <strong>в</strong>ремя пайки может быть по<strong>в</strong>реждена.<br />
Кроме того, по<strong>в</strong>ерхности кристалла<br />
и подложки не должны содержать примесей<br />
или оксидо<strong>в</strong>, органических остатко<strong>в</strong> и следо<strong>в</strong><br />
загрязнения раст<strong>в</strong>орами после обработки.<br />
Процесс присоединения кристалла предпо-<br />
101