določitev optimalne vsebnosti titanove sadre v cementu

Slika 20: Aparatura za termično analizo SDT 2960
1.7.9 Vrstična elektronska mikroskopija (SEM - Scanning Electron
Microscope)
Pri elektronski mikroskopiji se kot vir valovanja uporabljamo elektrone, ki zaradi
kratke valovne dolžine teoretično omogočajo do 100.000-krat boljšo ločljivost od
vidne svetlobe. Zaradi njihove majhne mase je pot elektronov v zraku omejena, zato
je potrebno v notranjosti elektronskega mikroskopa zagotavljati vakuum. Vir
elektronov (elektronska puška) je nameščen v zgornjem delu mikroskopa. Elektromagnetne
leče v kondenzatorju izsevane elektrone zberejo v ozek snop, ki ga
deflektor nato v vrsticah vodi po površini preparata. Ob stiku snopa elektronov s
površino preparata prihaja do vrste reakcij, med drugim tudi do izbijanja sekundarnih
elektronov s površine preparata, ki jih zazna detektor. Ojačan signal sekundarnih
elektronov potuje v katodno cev, kjer ga z deflektorjem v mikroskopu usklajen
sistem vodi na površino ekrana. Slika na ekranu tako nastaja sočasno s pomikanjem
snopa elektronov po površini vzorca, povečava mikroskopa pa je razmerje med
površino ekrana in površino skeniranega vzorca. Vrstični elektronski mikroskop je
namenjen opazovanju površine vzorca, pri tem pa debelina preparata ni pomembna.
(Vrstični, 2009)
Na Sliki 21 je prikazan vrstični elektronski mikroskop.
30