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Nano Vibration Analyzer Serie NA - SIOS Meßtechnik GmbH

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<strong>Nano</strong> <strong>Vibration</strong> <strong>Analyzer</strong><br />

<strong>Serie</strong> <strong>NA</strong>


Aufbau und Funktionsweise Eigenschaften und Merkmale<br />

Der <strong>Nano</strong> <strong>Vibration</strong> <strong>Analyzer</strong> ist ein fasergekoppeltes laserinterferometrisches<br />

Vibrometer, integriert in ein technisches<br />

Mikroskop. Er eignet sich hervorragend zur Messung des<br />

dynamischen Verhaltens und der statischen Auslenkung von<br />

Mikrostrukturen, MEMS und Cantilevern.<br />

Das Messobjekt ist in einem großen Bereich mit Hilfe eines<br />

X-Y-Tisches positionier- und scanbar und kann durch eine<br />

USB-Kamera beobachtet werden. Das Mikroskop-Objektiv ist<br />

auswechselbar. Die erreichbare Auflösung des laserinterferometrischen<br />

Vibrometers liegt mit 0,1 nm im Sub-<strong>Nano</strong>meterbereich,<br />

wobei Schwingungsfrequenzen bis 2 MHz<br />

analysiert werden können.<br />

Zur Erfassung und Darstellung der Messdaten wird eine<br />

spezielle Software verwendet. Diese ermöglicht neben der<br />

Frequenzanalyse der Schwingung und der getriggerten<br />

Messwertaufnahme eine scriptgesteuerte Abtastung von<br />

Oberflächenstrukturen.<br />

Technische Daten<br />

• Hochpräzise, berührungslose Schwingungsmessung<br />

an Mikroobjekten<br />

• Flexible Probenpositionierung<br />

• Verschiedene, auswechselbare Objektive (10 x, 50 x)<br />

• USB-Kamera zur Beobachtung der Messobjekte<br />

• Lichtwellenleiter-Einkopplung des Laserlichts<br />

(keine thermische Beeinflussung der<br />

Messumgebung)<br />

• Anwendungsspezifische Konfiguration<br />

• FFT-Software zur Spektralanalyse<br />

Software für Windows - INFAS Vibro<br />

• 3D-Darstellung von Flächenschwingungen<br />

• Skriptsteuerbarer Messablauf<br />

• Integrierbarkeit in kundeneigene Systeme über TCP/IP<br />

• Berechnung von Geschwindigkeit und<br />

Beschleunigung der Schwingungsbewegung<br />

• Spektralanalyse<br />

• Mittelung der Spektren<br />

Anwendungen<br />

Amplitudenauflösung: < 0,1 nm<br />

Wellenlänge: 632,8 nm<br />

Scanfeldgröße: 50 mm x 50 mm<br />

• Berührungslose Schwingungsmessung an<br />

Mikroobjekten, MEMS und Cantilevern<br />

• Ermittlung des Schwingungsspektrums<br />

• Bestimmung von Schwingungsformen<br />

(Flächenschwingungen)<br />

• Bestimmung von Eigenfrequenzen<br />

Mikroskopvergrößerung: 10 x 50 x<br />

Visuelle Feldgröße [µm] 650 x 500 130 x 100<br />

Laserstrahldurchmesser [µm]: < 10 < 2<br />

Arbeitsabstand [mm]: ~ 35 ~ 10<br />

Datenausgabe:<br />

Abtastfrequenz Messbarer<br />

Frequenzbereich<br />

Datenausgabe Datensatzlänge Besonderheit<br />

RE 06 200Hz – 1MHz 0 – 500 kHz USB, RS232 256-32.768<br />

Werte<br />

DP 02 < 4 MHz < 2 MHz 44-pol. HD-SUB-<br />

D-Connector<br />

Abmessungen H x B x T [cm]:<br />

Mikroskopaufbau inkl. Vibrometer: 70 x 40 x 50<br />

Elektronische Auswerte- u. Versorgungseinheit: 15 x 45 x 40<br />

bis 260.000 (2 18 )<br />

Werte<br />

triggerbar<br />

<strong>SIOS</strong> <strong>Meßtechnik</strong> <strong>GmbH</strong><br />

Am Vogelherd 46<br />

D-98693 Ilmenau<br />

Tel: +49-(0)3677-64470 E-Mail: info@sios.de<br />

Fax: +49-(0)3677-64478 URL: http://www.sios.de<br />

Änderungen vorbehalten. 04/2009<br />

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