Nano Vibration Analyzer Serie NA - SIOS Meßtechnik GmbH
Nano Vibration Analyzer Serie NA - SIOS Meßtechnik GmbH
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<strong>Nano</strong> <strong>Vibration</strong> <strong>Analyzer</strong><br />
<strong>Serie</strong> <strong>NA</strong>
Aufbau und Funktionsweise Eigenschaften und Merkmale<br />
Der <strong>Nano</strong> <strong>Vibration</strong> <strong>Analyzer</strong> ist ein fasergekoppeltes laserinterferometrisches<br />
Vibrometer, integriert in ein technisches<br />
Mikroskop. Er eignet sich hervorragend zur Messung des<br />
dynamischen Verhaltens und der statischen Auslenkung von<br />
Mikrostrukturen, MEMS und Cantilevern.<br />
Das Messobjekt ist in einem großen Bereich mit Hilfe eines<br />
X-Y-Tisches positionier- und scanbar und kann durch eine<br />
USB-Kamera beobachtet werden. Das Mikroskop-Objektiv ist<br />
auswechselbar. Die erreichbare Auflösung des laserinterferometrischen<br />
Vibrometers liegt mit 0,1 nm im Sub-<strong>Nano</strong>meterbereich,<br />
wobei Schwingungsfrequenzen bis 2 MHz<br />
analysiert werden können.<br />
Zur Erfassung und Darstellung der Messdaten wird eine<br />
spezielle Software verwendet. Diese ermöglicht neben der<br />
Frequenzanalyse der Schwingung und der getriggerten<br />
Messwertaufnahme eine scriptgesteuerte Abtastung von<br />
Oberflächenstrukturen.<br />
Technische Daten<br />
• Hochpräzise, berührungslose Schwingungsmessung<br />
an Mikroobjekten<br />
• Flexible Probenpositionierung<br />
• Verschiedene, auswechselbare Objektive (10 x, 50 x)<br />
• USB-Kamera zur Beobachtung der Messobjekte<br />
• Lichtwellenleiter-Einkopplung des Laserlichts<br />
(keine thermische Beeinflussung der<br />
Messumgebung)<br />
• Anwendungsspezifische Konfiguration<br />
• FFT-Software zur Spektralanalyse<br />
Software für Windows - INFAS Vibro<br />
• 3D-Darstellung von Flächenschwingungen<br />
• Skriptsteuerbarer Messablauf<br />
• Integrierbarkeit in kundeneigene Systeme über TCP/IP<br />
• Berechnung von Geschwindigkeit und<br />
Beschleunigung der Schwingungsbewegung<br />
• Spektralanalyse<br />
• Mittelung der Spektren<br />
Anwendungen<br />
Amplitudenauflösung: < 0,1 nm<br />
Wellenlänge: 632,8 nm<br />
Scanfeldgröße: 50 mm x 50 mm<br />
• Berührungslose Schwingungsmessung an<br />
Mikroobjekten, MEMS und Cantilevern<br />
• Ermittlung des Schwingungsspektrums<br />
• Bestimmung von Schwingungsformen<br />
(Flächenschwingungen)<br />
• Bestimmung von Eigenfrequenzen<br />
Mikroskopvergrößerung: 10 x 50 x<br />
Visuelle Feldgröße [µm] 650 x 500 130 x 100<br />
Laserstrahldurchmesser [µm]: < 10 < 2<br />
Arbeitsabstand [mm]: ~ 35 ~ 10<br />
Datenausgabe:<br />
Abtastfrequenz Messbarer<br />
Frequenzbereich<br />
Datenausgabe Datensatzlänge Besonderheit<br />
RE 06 200Hz – 1MHz 0 – 500 kHz USB, RS232 256-32.768<br />
Werte<br />
DP 02 < 4 MHz < 2 MHz 44-pol. HD-SUB-<br />
D-Connector<br />
Abmessungen H x B x T [cm]:<br />
Mikroskopaufbau inkl. Vibrometer: 70 x 40 x 50<br />
Elektronische Auswerte- u. Versorgungseinheit: 15 x 45 x 40<br />
bis 260.000 (2 18 )<br />
Werte<br />
triggerbar<br />
<strong>SIOS</strong> <strong>Meßtechnik</strong> <strong>GmbH</strong><br />
Am Vogelherd 46<br />
D-98693 Ilmenau<br />
Tel: +49-(0)3677-64470 E-Mail: info@sios.de<br />
Fax: +49-(0)3677-64478 URL: http://www.sios.de<br />
Änderungen vorbehalten. 04/2009<br />
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