JAEA-Technology-2010-005.pdf:2.44MB - 日本原子力研究開発機構

JAEA-Technology 2010-005
目 次
1. 序 論 1
2. 標準場の設定に用いた装置の仕様 2
2.1 X線照射装置の仕様 2
2.2 半価層測定用の電離箱式線量計の仕様 4
3. X線標準場の設定 6
3.1 線質の設定方法 6
3.2 設定結果及び考察 7
4. 線質に対するX線エネルギースペクトルの評価 11
4.1 測定方法 11
4.2 結果及び考察 14
5. 線質に対する線量当量換算係数の評価 53
5.1 評価方法 53
5.2 結果及び考察 53
6. X線スペクトルの空気層による減弱の評価 65
6.1 評価方法 65
6.2 結果及び考察 66
7. 結 論 69
謝 辞 71
参考文献 72
Contents
1. Introduction 1
2. Specification of Devices used for Characterization of Reference Fields 2
2.1 X-ray Generator 2
2.2 Ionization Chamber used for Measurement of Half Value Layer 4
3. Characterization of X-ray Reference Fields 6
3.1 Characterization Methods of Radiation Quality 6
3.2 Results and Discussion 7
4. Estimation of X-ray Energy Spectra for Reference Feilds 11
4.1 Measurement Methods 11
4.2 Results and Discussion 14
5. Estimation of Dose Equivalent Conversion Coefficients for Reference Fields 53
5.1 Estimation Method 53
5.2 Results and Discussion 53
6. Estimation of Attenuation by Atmospheric Layer for X-ray Energy Spectra 65
6.1 Estimation Method 65
6.2 Results and Discussion 66
7. Conclusions 69
Acknowledgements 71
References 72
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