Praktikum Mikroskopie/Forensische Mikroskopie
Praktikum Mikroskopie/Forensische Mikroskopie
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<strong>Praktikum</strong> <strong>Mikroskopie</strong>/<strong>Forensische</strong> <strong>Mikroskopie</strong> – SS 2012<br />
Versuch A: Auflichtmikroskopie<br />
1. Theoretische Grundlagen<br />
1.1 Lichtmikroskopie<br />
Das Lichtmikroskop setzt sich aus zwei verschiedenen optischen Elementen zusammen,<br />
die das zu untersuchende Objekt in zwei Stufen vergrößert. Das Objektiv ist das dem<br />
Gegenstand zugewandte Linsensystem, welches heutzutage aus bis zu 15 Einzellinsen<br />
besteht und die erste Vergrößerungsstufe bildet. Durch das Objektiv entsteht ein<br />
vergrößertes, umgekehrtes, reelles Bild in der Brennebene des Okulars. Das Okular ist das<br />
dem Auge zugewandte Linsensystem, welches das Zwischenbild des Objektivs in der<br />
zweiten Vergrößerungsstufe als Lupenschaltung zum virtuellen Endbild nachvergrößert<br />
(Abb.1).<br />
Abb. 1: Abbildung durch ein Mikroskop 1<br />
Vergrößerung, Auflösung und Kontrast des Endbildes sind entscheidend für die Qualität<br />
des Mikroskops.<br />
1 P.v. Sendenhorst, Uni Hamburg<br />
Hochschule<br />
Bonn-Rhein-Sieg<br />
University<br />
of Applied Sciences<br />
<strong>Praktikum</strong> <strong>Mikroskopie</strong> / <strong>Forensische</strong> <strong>Mikroskopie</strong> - SS 2012<br />
Versuch A: Auflichtmikroskopie<br />
Fachbereich<br />
Angewandte Naturwissenschaften<br />
Versuchsvorschrift <strong>Mikroskopie</strong><br />
Versuch A – Auflichtmikroskopie<br />
1
Vergrößerung: Die Vergrößerung des Objektivs wird durch eine Maßstabszahl oder den<br />
Abbildungsmaßstab ausgedrückt, welche das Größenverhältnis des Zwischenbildes zum<br />
Präparat angibt. Die Nachvergrößerung wird durch die Lupenvergrößerung des Okulars<br />
bestimmt, bezogen auf eine Betrachtungsentfernung von 25 cm (= Bezugssehweite des<br />
Menschen). Die Gesamtvergrößerung der Abbildung ergibt sich aus der Multiplikation der<br />
Maßstabszahl und der Lupenvergrößerung. Manchmal beinhaltet der Tubus ein weiteres<br />
Linsensystem, dessen zusätzliche Vergrößerung (Tubusfaktor) berücksichtigt werden muss.<br />
Auflösungsvermögen: Wichtiger noch als die Vergrößerung des Mikroskops ist sein<br />
Auflösungsvermögen, denn eine reine Vergrößerung des Präparates ohne eine Zunahme<br />
an Informationen des vergrößerten Bereiches ist nicht von Nutzen. Diese Art der<br />
Vergrößerung, die keine neuen Erkenntnisse des vergrößerten Bereiches mit sich bringt,<br />
wird auch leere Vergrößerung genannt. Laut Abbe über die Bildentstehung im Mikroskop ist<br />
eine Darstellung der Objektstruktur im sekundären Bild nur durch das Entstehen von<br />
Beugungsspektren des beleuchteten Objektes möglich. Kann also durch das Objektiv nur<br />
das zentrale ungebeugte Licht durchtreten, so erkennt man im Mikroskop nur eine<br />
gleichmäßig helle Fläche ohne jede Struktur. Die Struktur wird deutlicher, je mehr<br />
Ordnungen des gebeugten Lichtes vom Objektiv erfasst und zur Abbildung verwendet<br />
werden.<br />
Unter dem Auflösungsvermögen d wird der Abstand zweier Objektpunkte verstanden, der<br />
gerade noch als getrennt wahrnehmbar ist. Das Auflösungsvermögen beim menschlichen<br />
Auge liegt bei
Abb.2: Numerische Apertur von Objektiven; A: Trockenobjektiv; B: Ölimmersionsobjektiv 2<br />
Abb.3: Unterschiedliche Öffnungswinkel an Objektiven 3<br />
Kontrast: Auch bei ausreichender Vergrößerung und guter Auflösung ist ein mikroskopisches<br />
Objekt nur dann gut sichtbar, wenn der Kontrast stark genug ist, d.h. wenn sich<br />
das Objekt aufgrund von Helligkeits- und Farbunterschieden deutlich von seiner Umgebung<br />
abhebt. Diese Objekte werden auch Amplitudenobjekte genannt. Objekte, die sehr<br />
kontrastarm sind und die Intensität des durchscheinenden Lichtes kaum verändern, können<br />
mit einem normalen Durchlichtmikroskop nicht betrachtet werden. Aufgrund ihrer höheren<br />
optischen Dichte jedoch kommt es beim Durchgang des Lichtes zu einer<br />
Phasenverschiebung, die mit Hilfe des Phasenkontrastverfahrens sichtbar gemacht werden<br />
kann. Diese Objekte werden Phasenobjekte genannt.<br />
Einteilung und Kennzeichnung der Objektive: Objektive werden nach ihrer<br />
chromatischen Korrektur (Korrektur der Abbildungsfehler) in Achromate, Fluorite und<br />
Apochromate eingeteilt. Die Vorsilbe Plan- bedeutet, dass das Objektiv auch die<br />
Bildfeldwölbung korrigiert. Achromate korrigieren die chromatische Aberration im gelben<br />
und grünen Bereich, Apochromate im blauen, gelben und roten Bereich. Fluorite verringern<br />
die chromatische Längsabweichung. Alle charakteristischen Größen, wie Apertur und<br />
vorgeschriebene Deckglasdicke müssen durch Gravur auf der Objektivfassung<br />
gekennzeichnet sein (Abb.4).<br />
2 E. Bast; Mikrobiologische Methoden<br />
3 http://www.mikroskopie.de<br />
<strong>Praktikum</strong> <strong>Mikroskopie</strong> / <strong>Forensische</strong> <strong>Mikroskopie</strong> - SS 2012<br />
Versuch A: Auflichtmikroskopie<br />
3
Abb.4: Objektiv mit 100- facher Vergrösserung, Apertur = 0,75<br />
Mikroskopobjektive für Auflicht sind am Zusatz “Epi“ zu erkennen. Sie unterscheiden sich<br />
von den Objektiven für Durchlicht hauptsächlich in zwei Eigenschaften:<br />
1. Ihre Linsenoberflächen sind besonderes gut entspiegelt, damit das von der Leuchte<br />
kommende Licht nicht in Richtung Okular reflektiert wird.<br />
2. Diese Objektive sind für “unbedeckte Objekte“ ausgelegt (Oberflächenproben werden<br />
ohne Deckgläschen betrachtet).<br />
1.2 Auflichtmikroskopie-Verfahren<br />
Auflicht: Am häufigsten wird in den Naturwissenschaften das Durchlichtverfahren<br />
verwendet. Ist das Präparat jedoch undurchsichtig oder besitzt ein größeres Volumen, so<br />
wird die Auflichtmikroskopie angewendet (Metallproben, Kunststoffe, Keramik). Hier kann<br />
zwischen der Hellfeld- und Dunkelfeldmikroskopie unterschieden werden.<br />
Bei der Hellfeldmikroskopie (HF) ist die Beleuchtung fast senkrecht über dem Objekt<br />
angebracht. Das Feld erscheint also hell bis auf die Stellen, an denen das Licht durch<br />
Brechung, Beugung oder Reflexion an der Oberfläche des Objektes soweit abgelenkt wird,<br />
dass es vom Objektiv nicht mehr erfasst werden kann.<br />
Bei der Dunkelfeldmikroskopie (DF) sind die Beleuchtungsstrahlen stärker geneigt. Das<br />
Objektfeld erscheint dunkel, bis auf die Stellen, an denen ebenfalls durch Reflexion,<br />
Brechung oder Beugung die Strahlen so abgelenkt werden, dass sie vom Objektiv erfasst<br />
werden können. Die Blendung des Auges wird hier vermieden, so dass kleinere<br />
Objektteilchen besser wahrgenommen werden können.<br />
Abb. 5: Schematische Darstellung der Strahlenführung im<br />
a) Hellfeld, b) Hellfeld mit Prisma c) Dunkelfeld<br />
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Versuch A: Auflichtmikroskopie<br />
4
Differentieller Interferenzkontrast: Am häufigsten wird der Differentielle<br />
Interferenzkontrast (DIC) nach Nomarski benutzt. Der Lichtstrahl wird vor dem Durchgang<br />
durch das Objektiv durch ein spezielles Prisma (Wollaston Prisma) in zwei Teilstrahlen<br />
zerlegt, die auf zwei verschiedenen Punkten der Objektoberfläche reflektiert werden, d.h.<br />
sie sind leicht versetzt wodurch von jedem Punkt der Oberfläche eine Art Zwillingsbild<br />
erzeugt wird. Bei der Rückführung dieser um einen kleinen, also differierenden Betrag<br />
versetzten nun miteinander interferierenden Strahlen führen durch Höhenunterschiede<br />
unterschiedliche Amplituden zu einer Kontrastierung. Feinste Oberflächentopographien<br />
können so sichtbar gemacht werden. Die zwischen diesen beiden Strahlen auftretende<br />
Phasendifferenz kann durch das am Mikroskop befindliche eingeschobene Wollastonprisma<br />
kontinuierlich verändert werden. (Bild 6)<br />
Abb. 6: Prinzipieller Strahlengang im Differentiellen Interferenzkontrast<br />
Im Gegensatz zu der Durchlichtvariante bei der die DIK Anordnung aus zwei<br />
Wollastonprismen, Kondensor und Objektiv bestehen muss bei der Auflichtvariante das<br />
Objektiv die Kondensor Aufgabe übernehmen und das Wollastonprisma sowohl die Teilung<br />
als auch die Vereinigung der reflektierten Strahlen ermöglichen.<br />
Stereomikroskope: Diese Mikroskope besitzen zwei Tuben mit je einem Objektiv und<br />
einem Okular, die im Winkel zwischen 14°-16° zueinander angebracht sind und dadurch die<br />
räumliche Darstellung des Präparates ermöglichen. Im Gegensatz zu anderen<br />
Mikroskopen, bei denen der Tiefenschärfebereich zugunsten der höheren Apertur recht<br />
gering ist, verzichtet man beim Stereomikroskop auf stark vergrößernde Objektive, um eine<br />
erhöhte Tiefenschärfe zu erreichen. Durch den zweifachen getrennten Strahlengang wird<br />
ein wirkliches dreidimensionales Bild erzeugt. Größere Proben mit ausgeprägter<br />
Topographie können so ohne vorhergehende Präparation untersucht werden. Im Gegensatz<br />
zur „Monomikroskopie“ kann hier die Vergrößerung stufenlos gewählt werden um Ebene für<br />
Ebene zu fokussieren und somit gleichmäßig zu analysieren.<br />
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Versuch A: Auflichtmikroskopie<br />
5
Messmikroskope: Messmikroskope werden zur unmittelbaren Messung von Strecken und<br />
kleinen Winkeln verwendet. Ihre Vergrößerung ist eher mäßig. Als Messmittel werden in der<br />
Brennebene des Okulars Strichmarken, Teilungen oder Kreuze angebracht.<br />
2. Beispielhafte Konfiguration eines Auflichtmikroskops<br />
19<br />
1. Okular<br />
2. Binokularer Fototubus<br />
3. Fotoausgang für Fotokamera<br />
4. Schubstange zum Umschalten des Strahlengangs<br />
5. Auflichteinrichtung<br />
6. Leuchtfeldblende<br />
7. Aperturblende<br />
8. Filterschieber<br />
9. Beleuchtungsquelle<br />
10. Stativ<br />
11. Lampenspannungsanzeige<br />
12. Regler Beleuchtungsstärke<br />
13. Ein/ausschalter<br />
14. Reflektorschieber H<br />
15. Reflektorschieber H DIC (oder H D)<br />
Abb.7: Bestandteile des Mikroskops 5<br />
5 Werkfoto Axiotech, Carl Zeiss<br />
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Versuch A: Auflichtmikroskopie<br />
16. Neutralfilter<br />
17. /<br />
18. Filterschieber<br />
19. Reflektorschieber HD DIC<br />
20. Kompensator Pol<br />
21. Kompensator DIC<br />
22. Schutzschieber<br />
23. Deckel<br />
24. Schieber DIC Campens<br />
25. Schieber DIC<br />
26. Kreuztisch<br />
27. Deckel<br />
28. Objektivrevolver<br />
29. Koaxialtrieb<br />
30. Koaxialer grob/ Feintrieb<br />
6
3. Versuchsdurchführung und Aufgabenstellung<br />
Einführung in folgende Verfahren der <strong>Mikroskopie</strong> anhand spezieller Proben<br />
- Hellfeld<br />
- Dunkelfeld<br />
- DIC<br />
In diesem Versuch sollen verschiedene Arten der <strong>Mikroskopie</strong> auf ihre Funktionsweise hin<br />
miteinander verglichen werden. Zur Verfügung hierfür stehen ein Stereomikroskop, ein<br />
Auflichtmikroskop (Hell- und Dunkelfeld, DIC).<br />
Nach der Einführung in die Handhabung der Mikroskope und ihrer einzelnen<br />
Kontrastverfahren wird es Ihre Aufgabe sein an Hand unterschiedlicher Proben festzustellen<br />
welche Verfahren sich für welches Material, bzw. welcher Präparationsvariante am Besten<br />
eignen. Hier sind die Hauptkriterien der Informationsgrad der Darstellung, der sich aus<br />
Topographieinformation, Aussagen über die Phasenzusammensetzung, Partikeldarstellung<br />
oder auch Grad der Artefakte zusammensetzt.<br />
4. Literaturangaben<br />
1 P.v. Sendenhorst, Uni Hamburg<br />
2 E. Bast; Mikrobiologische Methoden<br />
3 http://www.mikroskopie.de<br />
4 Werkfoto Carl Zeiss<br />
5 Werkfoto Axiotech, Carl Zeiss<br />
Folgende Leistungen müssen zum erfolgreichen bestehen des <strong>Praktikum</strong>s erbracht werden:<br />
1. Jeder Studierende muss das im Anhang befindliche Protokoll ausgedruckt mitbringen<br />
und bis zum Ende des <strong>Praktikum</strong>s testierfähig ausfüllen!<br />
2. Der Arbeitsplatz ist sauber und aufgeräumt.<br />
3. Jeder Studierende muss das schriftliche Nachtestat, welches 15 Minuten vor Ende des<br />
<strong>Praktikum</strong>s stattfindet erfolgreich (mit max. drei Fehlern) bestehen!<br />
<strong>Praktikum</strong> <strong>Mikroskopie</strong> / <strong>Forensische</strong> <strong>Mikroskopie</strong> - SS 2012<br />
Versuch A: Auflichtmikroskopie<br />
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5. Bedienungsanleitung für die unterschiedlichen Verfahren<br />
5.1 Hellfeld<br />
Reflektorschieber HD DIC in Stellung Hellfeld bringen(Kennzeichnung H muss<br />
sichtbar sein)<br />
Kontrastreiches Präparat auf den Objekttisch legen<br />
Binokulartubus anhand der aufgedruckten Skala oder durch Probieren auf den<br />
Augenabstand des Beobachters einstellen. (Hinweis: die Okularblenden im<br />
Tubus müssen einen Kreis bilden)<br />
Aperturblende durch Ziehen der Schubstange halb schliessen<br />
Leuchtfeldblende durch Verdrehen des Stellrades schließen<br />
Durch Drehen des Grob/Feintriebes die Leuchtfeldblende im Sehfeld scharf<br />
stellen<br />
Mit den beiden Zentrierschrauben das Blendenbild in die Sehfeldmitte bringen<br />
Leuchtfeldblende öffnen bis deren Bild gerade aus dem Sehfeld verschwindet<br />
Mit dem Feintrieb auf das Präparat fokussieren<br />
Bildhelligkeit anpassen<br />
Bitte achten Sie darauf, dass die Bildhelligkeit nicht mit der Aperturblende geregelt wird, da<br />
diese ausschließlich für die Einstellung des Kontrastes verwendet wird.<br />
5.2 Dunkelfeld<br />
5.3 DIK<br />
Licht – oder Dämpfungsfilter entfernen bzw. auf Durchgang schalten<br />
Reflektorschieber auf Position Dunkelfeld ,Kennzeichen D, positionieren<br />
Leuchtfeldblende und Aperturblende vollständig öffnen<br />
Beleuchtungsstärke anpassen<br />
Objekt fokussieren<br />
Wichtig: Vor dem Wechsel von Dunkelfeld auf Hellfeld immer die<br />
Beleuchtungsstärke reduzieren<br />
Licht – oder Dämpfungsfilter entfernen bzw. auf Durchgang schalten<br />
Reflektorschieber in DIC Stellung schieben<br />
Stark reflektierendes Objekt auf den Objekttisch auflegen und fokussieren<br />
Schutzschieber gegen den Kompensator DIC austauschen und auf erste Stufe<br />
einrasten (Kompensator ist noch inaktiv)<br />
Schieber DIC bis zum Anschlag einschieben<br />
Objekt fokussieren<br />
Großer Rändelrad am Schieber DIC verdrehen, bis die Feldmitte am dunkelsten<br />
erscheint<br />
Kleines Rändelrad so verdrehen, bis das Sehfeld eine einheitliche<br />
Helligkeitsverteilung aufweist (hier muss manchmal zwischen dem großen und<br />
dem kleinen Rad probiert werden)<br />
Mit dem großen Rändelrad den günstigsten Kontrast einstellen<br />
Für die Umwandlung von Graukontrasten in Farbkontraste den Kompensator<br />
ganz einschieben<br />
<strong>Praktikum</strong> <strong>Mikroskopie</strong> / <strong>Forensische</strong> <strong>Mikroskopie</strong> - SS 2012<br />
Versuch A: Auflichtmikroskopie<br />
8
Namen: _________________ ________________ _________________<br />
Matr.-Nr: _________________ _________________ _________________<br />
Studiengang: CM □ Nat. For. □<br />
1. Ziel des <strong>Praktikum</strong>s<br />
2. Versuchsdurchführung<br />
Hochschule<br />
Bonn-Rhein-Sieg<br />
University<br />
of Applied Sciences<br />
(Verwendete Geräte, Proben, Vorgehensweise)<br />
3. Diskussion der Ergebnisse<br />
4. Zusammenfassung / Fazit<br />
Fachbereich<br />
Angewandte Naturwissenschaften<br />
Versuchsprotokoll <strong>Mikroskopie</strong><br />
Versuch A – Auflichtmikroskopie<br />
<strong>Praktikum</strong> <strong>Mikroskopie</strong> / <strong>Forensische</strong> <strong>Mikroskopie</strong> - SS 2012 9<br />
Versuch A: Auflichtmikroskopie
Vergleichen Sie die drei Kontrastverfahren in zwei frei wählbaren Vergrößerungen anhand der<br />
3 gegebenen Proben.<br />
Material Vergrößerung Verfahren Kommentar<br />
<strong>Praktikum</strong> <strong>Mikroskopie</strong> / <strong>Forensische</strong> <strong>Mikroskopie</strong> - SS 2012 10<br />
Versuch A: Auflichtmikroskopie
Material Vergrößerung Verfahren Kommentar<br />
Der Arbeitsplatz ist sauber und aufgeräumt.<br />
Testat<br />
Datum:________________ Unterschrift:________________________________________<br />
<strong>Praktikum</strong> <strong>Mikroskopie</strong> / <strong>Forensische</strong> <strong>Mikroskopie</strong> - SS 2012 11<br />
Versuch A: Auflichtmikroskopie