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Praktikum Mikroskopie/Forensische Mikroskopie

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<strong>Praktikum</strong> <strong>Mikroskopie</strong>/<strong>Forensische</strong> <strong>Mikroskopie</strong> – SS 2012<br />

Versuch A: Auflichtmikroskopie<br />

1. Theoretische Grundlagen<br />

1.1 Lichtmikroskopie<br />

Das Lichtmikroskop setzt sich aus zwei verschiedenen optischen Elementen zusammen,<br />

die das zu untersuchende Objekt in zwei Stufen vergrößert. Das Objektiv ist das dem<br />

Gegenstand zugewandte Linsensystem, welches heutzutage aus bis zu 15 Einzellinsen<br />

besteht und die erste Vergrößerungsstufe bildet. Durch das Objektiv entsteht ein<br />

vergrößertes, umgekehrtes, reelles Bild in der Brennebene des Okulars. Das Okular ist das<br />

dem Auge zugewandte Linsensystem, welches das Zwischenbild des Objektivs in der<br />

zweiten Vergrößerungsstufe als Lupenschaltung zum virtuellen Endbild nachvergrößert<br />

(Abb.1).<br />

Abb. 1: Abbildung durch ein Mikroskop 1<br />

Vergrößerung, Auflösung und Kontrast des Endbildes sind entscheidend für die Qualität<br />

des Mikroskops.<br />

1 P.v. Sendenhorst, Uni Hamburg<br />

Hochschule<br />

Bonn-Rhein-Sieg<br />

University<br />

of Applied Sciences<br />

<strong>Praktikum</strong> <strong>Mikroskopie</strong> / <strong>Forensische</strong> <strong>Mikroskopie</strong> - SS 2012<br />

Versuch A: Auflichtmikroskopie<br />

Fachbereich<br />

Angewandte Naturwissenschaften<br />

Versuchsvorschrift <strong>Mikroskopie</strong><br />

Versuch A – Auflichtmikroskopie<br />

1


Vergrößerung: Die Vergrößerung des Objektivs wird durch eine Maßstabszahl oder den<br />

Abbildungsmaßstab ausgedrückt, welche das Größenverhältnis des Zwischenbildes zum<br />

Präparat angibt. Die Nachvergrößerung wird durch die Lupenvergrößerung des Okulars<br />

bestimmt, bezogen auf eine Betrachtungsentfernung von 25 cm (= Bezugssehweite des<br />

Menschen). Die Gesamtvergrößerung der Abbildung ergibt sich aus der Multiplikation der<br />

Maßstabszahl und der Lupenvergrößerung. Manchmal beinhaltet der Tubus ein weiteres<br />

Linsensystem, dessen zusätzliche Vergrößerung (Tubusfaktor) berücksichtigt werden muss.<br />

Auflösungsvermögen: Wichtiger noch als die Vergrößerung des Mikroskops ist sein<br />

Auflösungsvermögen, denn eine reine Vergrößerung des Präparates ohne eine Zunahme<br />

an Informationen des vergrößerten Bereiches ist nicht von Nutzen. Diese Art der<br />

Vergrößerung, die keine neuen Erkenntnisse des vergrößerten Bereiches mit sich bringt,<br />

wird auch leere Vergrößerung genannt. Laut Abbe über die Bildentstehung im Mikroskop ist<br />

eine Darstellung der Objektstruktur im sekundären Bild nur durch das Entstehen von<br />

Beugungsspektren des beleuchteten Objektes möglich. Kann also durch das Objektiv nur<br />

das zentrale ungebeugte Licht durchtreten, so erkennt man im Mikroskop nur eine<br />

gleichmäßig helle Fläche ohne jede Struktur. Die Struktur wird deutlicher, je mehr<br />

Ordnungen des gebeugten Lichtes vom Objektiv erfasst und zur Abbildung verwendet<br />

werden.<br />

Unter dem Auflösungsvermögen d wird der Abstand zweier Objektpunkte verstanden, der<br />

gerade noch als getrennt wahrnehmbar ist. Das Auflösungsvermögen beim menschlichen<br />

Auge liegt bei


Abb.2: Numerische Apertur von Objektiven; A: Trockenobjektiv; B: Ölimmersionsobjektiv 2<br />

Abb.3: Unterschiedliche Öffnungswinkel an Objektiven 3<br />

Kontrast: Auch bei ausreichender Vergrößerung und guter Auflösung ist ein mikroskopisches<br />

Objekt nur dann gut sichtbar, wenn der Kontrast stark genug ist, d.h. wenn sich<br />

das Objekt aufgrund von Helligkeits- und Farbunterschieden deutlich von seiner Umgebung<br />

abhebt. Diese Objekte werden auch Amplitudenobjekte genannt. Objekte, die sehr<br />

kontrastarm sind und die Intensität des durchscheinenden Lichtes kaum verändern, können<br />

mit einem normalen Durchlichtmikroskop nicht betrachtet werden. Aufgrund ihrer höheren<br />

optischen Dichte jedoch kommt es beim Durchgang des Lichtes zu einer<br />

Phasenverschiebung, die mit Hilfe des Phasenkontrastverfahrens sichtbar gemacht werden<br />

kann. Diese Objekte werden Phasenobjekte genannt.<br />

Einteilung und Kennzeichnung der Objektive: Objektive werden nach ihrer<br />

chromatischen Korrektur (Korrektur der Abbildungsfehler) in Achromate, Fluorite und<br />

Apochromate eingeteilt. Die Vorsilbe Plan- bedeutet, dass das Objektiv auch die<br />

Bildfeldwölbung korrigiert. Achromate korrigieren die chromatische Aberration im gelben<br />

und grünen Bereich, Apochromate im blauen, gelben und roten Bereich. Fluorite verringern<br />

die chromatische Längsabweichung. Alle charakteristischen Größen, wie Apertur und<br />

vorgeschriebene Deckglasdicke müssen durch Gravur auf der Objektivfassung<br />

gekennzeichnet sein (Abb.4).<br />

2 E. Bast; Mikrobiologische Methoden<br />

3 http://www.mikroskopie.de<br />

<strong>Praktikum</strong> <strong>Mikroskopie</strong> / <strong>Forensische</strong> <strong>Mikroskopie</strong> - SS 2012<br />

Versuch A: Auflichtmikroskopie<br />

3


Abb.4: Objektiv mit 100- facher Vergrösserung, Apertur = 0,75<br />

Mikroskopobjektive für Auflicht sind am Zusatz “Epi“ zu erkennen. Sie unterscheiden sich<br />

von den Objektiven für Durchlicht hauptsächlich in zwei Eigenschaften:<br />

1. Ihre Linsenoberflächen sind besonderes gut entspiegelt, damit das von der Leuchte<br />

kommende Licht nicht in Richtung Okular reflektiert wird.<br />

2. Diese Objektive sind für “unbedeckte Objekte“ ausgelegt (Oberflächenproben werden<br />

ohne Deckgläschen betrachtet).<br />

1.2 Auflichtmikroskopie-Verfahren<br />

Auflicht: Am häufigsten wird in den Naturwissenschaften das Durchlichtverfahren<br />

verwendet. Ist das Präparat jedoch undurchsichtig oder besitzt ein größeres Volumen, so<br />

wird die Auflichtmikroskopie angewendet (Metallproben, Kunststoffe, Keramik). Hier kann<br />

zwischen der Hellfeld- und Dunkelfeldmikroskopie unterschieden werden.<br />

Bei der Hellfeldmikroskopie (HF) ist die Beleuchtung fast senkrecht über dem Objekt<br />

angebracht. Das Feld erscheint also hell bis auf die Stellen, an denen das Licht durch<br />

Brechung, Beugung oder Reflexion an der Oberfläche des Objektes soweit abgelenkt wird,<br />

dass es vom Objektiv nicht mehr erfasst werden kann.<br />

Bei der Dunkelfeldmikroskopie (DF) sind die Beleuchtungsstrahlen stärker geneigt. Das<br />

Objektfeld erscheint dunkel, bis auf die Stellen, an denen ebenfalls durch Reflexion,<br />

Brechung oder Beugung die Strahlen so abgelenkt werden, dass sie vom Objektiv erfasst<br />

werden können. Die Blendung des Auges wird hier vermieden, so dass kleinere<br />

Objektteilchen besser wahrgenommen werden können.<br />

Abb. 5: Schematische Darstellung der Strahlenführung im<br />

a) Hellfeld, b) Hellfeld mit Prisma c) Dunkelfeld<br />

<strong>Praktikum</strong> <strong>Mikroskopie</strong> / <strong>Forensische</strong> <strong>Mikroskopie</strong> - SS 2012<br />

Versuch A: Auflichtmikroskopie<br />

4


Differentieller Interferenzkontrast: Am häufigsten wird der Differentielle<br />

Interferenzkontrast (DIC) nach Nomarski benutzt. Der Lichtstrahl wird vor dem Durchgang<br />

durch das Objektiv durch ein spezielles Prisma (Wollaston Prisma) in zwei Teilstrahlen<br />

zerlegt, die auf zwei verschiedenen Punkten der Objektoberfläche reflektiert werden, d.h.<br />

sie sind leicht versetzt wodurch von jedem Punkt der Oberfläche eine Art Zwillingsbild<br />

erzeugt wird. Bei der Rückführung dieser um einen kleinen, also differierenden Betrag<br />

versetzten nun miteinander interferierenden Strahlen führen durch Höhenunterschiede<br />

unterschiedliche Amplituden zu einer Kontrastierung. Feinste Oberflächentopographien<br />

können so sichtbar gemacht werden. Die zwischen diesen beiden Strahlen auftretende<br />

Phasendifferenz kann durch das am Mikroskop befindliche eingeschobene Wollastonprisma<br />

kontinuierlich verändert werden. (Bild 6)<br />

Abb. 6: Prinzipieller Strahlengang im Differentiellen Interferenzkontrast<br />

Im Gegensatz zu der Durchlichtvariante bei der die DIK Anordnung aus zwei<br />

Wollastonprismen, Kondensor und Objektiv bestehen muss bei der Auflichtvariante das<br />

Objektiv die Kondensor Aufgabe übernehmen und das Wollastonprisma sowohl die Teilung<br />

als auch die Vereinigung der reflektierten Strahlen ermöglichen.<br />

Stereomikroskope: Diese Mikroskope besitzen zwei Tuben mit je einem Objektiv und<br />

einem Okular, die im Winkel zwischen 14°-16° zueinander angebracht sind und dadurch die<br />

räumliche Darstellung des Präparates ermöglichen. Im Gegensatz zu anderen<br />

Mikroskopen, bei denen der Tiefenschärfebereich zugunsten der höheren Apertur recht<br />

gering ist, verzichtet man beim Stereomikroskop auf stark vergrößernde Objektive, um eine<br />

erhöhte Tiefenschärfe zu erreichen. Durch den zweifachen getrennten Strahlengang wird<br />

ein wirkliches dreidimensionales Bild erzeugt. Größere Proben mit ausgeprägter<br />

Topographie können so ohne vorhergehende Präparation untersucht werden. Im Gegensatz<br />

zur „Monomikroskopie“ kann hier die Vergrößerung stufenlos gewählt werden um Ebene für<br />

Ebene zu fokussieren und somit gleichmäßig zu analysieren.<br />

<strong>Praktikum</strong> <strong>Mikroskopie</strong> / <strong>Forensische</strong> <strong>Mikroskopie</strong> - SS 2012<br />

Versuch A: Auflichtmikroskopie<br />

5


Messmikroskope: Messmikroskope werden zur unmittelbaren Messung von Strecken und<br />

kleinen Winkeln verwendet. Ihre Vergrößerung ist eher mäßig. Als Messmittel werden in der<br />

Brennebene des Okulars Strichmarken, Teilungen oder Kreuze angebracht.<br />

2. Beispielhafte Konfiguration eines Auflichtmikroskops<br />

19<br />

1. Okular<br />

2. Binokularer Fototubus<br />

3. Fotoausgang für Fotokamera<br />

4. Schubstange zum Umschalten des Strahlengangs<br />

5. Auflichteinrichtung<br />

6. Leuchtfeldblende<br />

7. Aperturblende<br />

8. Filterschieber<br />

9. Beleuchtungsquelle<br />

10. Stativ<br />

11. Lampenspannungsanzeige<br />

12. Regler Beleuchtungsstärke<br />

13. Ein/ausschalter<br />

14. Reflektorschieber H<br />

15. Reflektorschieber H DIC (oder H D)<br />

Abb.7: Bestandteile des Mikroskops 5<br />

5 Werkfoto Axiotech, Carl Zeiss<br />

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Versuch A: Auflichtmikroskopie<br />

16. Neutralfilter<br />

17. /<br />

18. Filterschieber<br />

19. Reflektorschieber HD DIC<br />

20. Kompensator Pol<br />

21. Kompensator DIC<br />

22. Schutzschieber<br />

23. Deckel<br />

24. Schieber DIC Campens<br />

25. Schieber DIC<br />

26. Kreuztisch<br />

27. Deckel<br />

28. Objektivrevolver<br />

29. Koaxialtrieb<br />

30. Koaxialer grob/ Feintrieb<br />

6


3. Versuchsdurchführung und Aufgabenstellung<br />

Einführung in folgende Verfahren der <strong>Mikroskopie</strong> anhand spezieller Proben<br />

- Hellfeld<br />

- Dunkelfeld<br />

- DIC<br />

In diesem Versuch sollen verschiedene Arten der <strong>Mikroskopie</strong> auf ihre Funktionsweise hin<br />

miteinander verglichen werden. Zur Verfügung hierfür stehen ein Stereomikroskop, ein<br />

Auflichtmikroskop (Hell- und Dunkelfeld, DIC).<br />

Nach der Einführung in die Handhabung der Mikroskope und ihrer einzelnen<br />

Kontrastverfahren wird es Ihre Aufgabe sein an Hand unterschiedlicher Proben festzustellen<br />

welche Verfahren sich für welches Material, bzw. welcher Präparationsvariante am Besten<br />

eignen. Hier sind die Hauptkriterien der Informationsgrad der Darstellung, der sich aus<br />

Topographieinformation, Aussagen über die Phasenzusammensetzung, Partikeldarstellung<br />

oder auch Grad der Artefakte zusammensetzt.<br />

4. Literaturangaben<br />

1 P.v. Sendenhorst, Uni Hamburg<br />

2 E. Bast; Mikrobiologische Methoden<br />

3 http://www.mikroskopie.de<br />

4 Werkfoto Carl Zeiss<br />

5 Werkfoto Axiotech, Carl Zeiss<br />

Folgende Leistungen müssen zum erfolgreichen bestehen des <strong>Praktikum</strong>s erbracht werden:<br />

1. Jeder Studierende muss das im Anhang befindliche Protokoll ausgedruckt mitbringen<br />

und bis zum Ende des <strong>Praktikum</strong>s testierfähig ausfüllen!<br />

2. Der Arbeitsplatz ist sauber und aufgeräumt.<br />

3. Jeder Studierende muss das schriftliche Nachtestat, welches 15 Minuten vor Ende des<br />

<strong>Praktikum</strong>s stattfindet erfolgreich (mit max. drei Fehlern) bestehen!<br />

<strong>Praktikum</strong> <strong>Mikroskopie</strong> / <strong>Forensische</strong> <strong>Mikroskopie</strong> - SS 2012<br />

Versuch A: Auflichtmikroskopie<br />

7


5. Bedienungsanleitung für die unterschiedlichen Verfahren<br />

5.1 Hellfeld<br />

Reflektorschieber HD DIC in Stellung Hellfeld bringen(Kennzeichnung H muss<br />

sichtbar sein)<br />

Kontrastreiches Präparat auf den Objekttisch legen<br />

Binokulartubus anhand der aufgedruckten Skala oder durch Probieren auf den<br />

Augenabstand des Beobachters einstellen. (Hinweis: die Okularblenden im<br />

Tubus müssen einen Kreis bilden)<br />

Aperturblende durch Ziehen der Schubstange halb schliessen<br />

Leuchtfeldblende durch Verdrehen des Stellrades schließen<br />

Durch Drehen des Grob/Feintriebes die Leuchtfeldblende im Sehfeld scharf<br />

stellen<br />

Mit den beiden Zentrierschrauben das Blendenbild in die Sehfeldmitte bringen<br />

Leuchtfeldblende öffnen bis deren Bild gerade aus dem Sehfeld verschwindet<br />

Mit dem Feintrieb auf das Präparat fokussieren<br />

Bildhelligkeit anpassen<br />

Bitte achten Sie darauf, dass die Bildhelligkeit nicht mit der Aperturblende geregelt wird, da<br />

diese ausschließlich für die Einstellung des Kontrastes verwendet wird.<br />

5.2 Dunkelfeld<br />

5.3 DIK<br />

Licht – oder Dämpfungsfilter entfernen bzw. auf Durchgang schalten<br />

Reflektorschieber auf Position Dunkelfeld ,Kennzeichen D, positionieren<br />

Leuchtfeldblende und Aperturblende vollständig öffnen<br />

Beleuchtungsstärke anpassen<br />

Objekt fokussieren<br />

Wichtig: Vor dem Wechsel von Dunkelfeld auf Hellfeld immer die<br />

Beleuchtungsstärke reduzieren<br />

Licht – oder Dämpfungsfilter entfernen bzw. auf Durchgang schalten<br />

Reflektorschieber in DIC Stellung schieben<br />

Stark reflektierendes Objekt auf den Objekttisch auflegen und fokussieren<br />

Schutzschieber gegen den Kompensator DIC austauschen und auf erste Stufe<br />

einrasten (Kompensator ist noch inaktiv)<br />

Schieber DIC bis zum Anschlag einschieben<br />

Objekt fokussieren<br />

Großer Rändelrad am Schieber DIC verdrehen, bis die Feldmitte am dunkelsten<br />

erscheint<br />

Kleines Rändelrad so verdrehen, bis das Sehfeld eine einheitliche<br />

Helligkeitsverteilung aufweist (hier muss manchmal zwischen dem großen und<br />

dem kleinen Rad probiert werden)<br />

Mit dem großen Rändelrad den günstigsten Kontrast einstellen<br />

Für die Umwandlung von Graukontrasten in Farbkontraste den Kompensator<br />

ganz einschieben<br />

<strong>Praktikum</strong> <strong>Mikroskopie</strong> / <strong>Forensische</strong> <strong>Mikroskopie</strong> - SS 2012<br />

Versuch A: Auflichtmikroskopie<br />

8


Namen: _________________ ________________ _________________<br />

Matr.-Nr: _________________ _________________ _________________<br />

Studiengang: CM □ Nat. For. □<br />

1. Ziel des <strong>Praktikum</strong>s<br />

2. Versuchsdurchführung<br />

Hochschule<br />

Bonn-Rhein-Sieg<br />

University<br />

of Applied Sciences<br />

(Verwendete Geräte, Proben, Vorgehensweise)<br />

3. Diskussion der Ergebnisse<br />

4. Zusammenfassung / Fazit<br />

Fachbereich<br />

Angewandte Naturwissenschaften<br />

Versuchsprotokoll <strong>Mikroskopie</strong><br />

Versuch A – Auflichtmikroskopie<br />

<strong>Praktikum</strong> <strong>Mikroskopie</strong> / <strong>Forensische</strong> <strong>Mikroskopie</strong> - SS 2012 9<br />

Versuch A: Auflichtmikroskopie


Vergleichen Sie die drei Kontrastverfahren in zwei frei wählbaren Vergrößerungen anhand der<br />

3 gegebenen Proben.<br />

Material Vergrößerung Verfahren Kommentar<br />

<strong>Praktikum</strong> <strong>Mikroskopie</strong> / <strong>Forensische</strong> <strong>Mikroskopie</strong> - SS 2012 10<br />

Versuch A: Auflichtmikroskopie


Material Vergrößerung Verfahren Kommentar<br />

Der Arbeitsplatz ist sauber und aufgeräumt.<br />

Testat<br />

Datum:________________ Unterschrift:________________________________________<br />

<strong>Praktikum</strong> <strong>Mikroskopie</strong> / <strong>Forensische</strong> <strong>Mikroskopie</strong> - SS 2012 11<br />

Versuch A: Auflichtmikroskopie

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