Скачать статью в формате pdf - Силовая электроника
Скачать статью в формате pdf - Силовая электроника
Скачать статью в формате pdf - Силовая электроника
Sie wollen auch ein ePaper? Erhöhen Sie die Reichweite Ihrer Titel.
YUMPU macht aus Druck-PDFs automatisch weboptimierte ePaper, die Google liebt.
Сило<strong>в</strong>ая Электроника, № 5’2010<br />
Рынок<br />
www.power-e.ru<br />
нения, у лучших кремние<strong>в</strong>ых транзисторо<strong>в</strong><br />
они <strong>в</strong> 2,5–3 раза больше). Прекрасно, но это<br />
еще не <strong>в</strong>се. Емкость C BC необычайно <strong>в</strong>елика,<br />
а диффузионная емкость перехода эмиттербаза<br />
при прямом смещении «зашкали<strong>в</strong>ает»,<br />
что резко снижает частотные и переключающие<br />
характеристики SiC-BJT. Впрочем, и цена<br />
SiC-BJT-транзистора на порядок <strong>в</strong>ыше кремние<strong>в</strong>ого.<br />
Есть у биполярных SiС-p-i-n-диодо<strong>в</strong>,<br />
транзисторо<strong>в</strong>, тиристоро<strong>в</strong> и IGBT, <strong>в</strong>ыполненных<br />
на эпитаксиальных структурах, и более<br />
серьезные недостатки, <strong>в</strong>ыражающиеся <strong>в</strong> том,<br />
что <strong>в</strong> процессе эксплуатации у<strong>в</strong>еличи<strong>в</strong>аются<br />
токи утечки, снижаются проби<strong>в</strong>ные напряжения,<br />
ухудшается про<strong>в</strong>одимость. Во многих<br />
информационных источниках показано, что<br />
<strong>в</strong> эпитаксиальных пленках 4H- или 6H-SiC при<br />
больших плотностях электронно-дырочной<br />
плазмы <strong>в</strong> <strong>в</strong>ысокоомной области происходит<br />
так назы<strong>в</strong>аемый stacking faults-эффект<br />
(SF-эффект). Это обусло<strong>в</strong>лено тем, что энергия<br />
безызлучательной рекомбинации электроннодырочной<br />
пары <strong>в</strong> указанных политипах SiC<br />
достаточна для преодоления атомом барьера,<br />
препятст<strong>в</strong>ующего его смещению <strong>в</strong> другое положение,<br />
т. е. происходит перестройка кристаллической<br />
решетки SiC из гексагональной<br />
<strong>в</strong> кубическую. В гексагональной структуре,<br />
например политипа 4Р-SiC, образуются кубические<br />
<strong>в</strong>ключения — SF-дефекты, которые<br />
<strong>в</strong>озникают на несо<strong>в</strong>ершенст<strong>в</strong>ах кристаллической<br />
4H-SiC- и 6H-SiC-решеток из-за наличия<br />
нанотрубок, дислокаций, нанокластерных образо<strong>в</strong>аний,<br />
точечных дефекто<strong>в</strong>. Чаще <strong>в</strong>сего<br />
SF-дефекты зарождаются на границе раздела<br />
эпитаксиального слоя с монокристаллом. Под<br />
дейст<strong>в</strong>ием плотности тока биполярных носителей,<br />
у<strong>в</strong>еличения рекомбинации и роста<br />
температуры линейные размеры SF-дефекто<strong>в</strong><br />
быстро у<strong>в</strong>еличи<strong>в</strong>аются <strong>в</strong>доль оси эпитаксиального<br />
роста и, достигая p-n-перехода, резко<br />
изменяют с<strong>в</strong>ойст<strong>в</strong>а границы раздела, при<strong>в</strong>одя<br />
к катастрофическим отказам.<br />
Необходимо подчеркнуть, что росто<strong>в</strong>ые<br />
технологии монокристалло<strong>в</strong> SiC (до 8”) резко<br />
шагнули <strong>в</strong>перед. Сегодня, не без участия<br />
наших соотечест<strong>в</strong>еннико<strong>в</strong> из С.-Петербурга,<br />
<strong>в</strong>ыращи<strong>в</strong>аются практически со<strong>в</strong>ершенные<br />
кристаллы SiC, что <strong>в</strong>селяет надежду на пода<strong>в</strong>ление<br />
данного эффекта на с<strong>в</strong>ерх<strong>в</strong>ысоко<strong>в</strong>ольтных<br />
биполярных SiC-приборах и резкое по<strong>в</strong>ышение<br />
надежности планарно-эпитаксиальных<br />
биполярных SiC-приборо<strong>в</strong>.<br />
Биполярных <strong>в</strong>ысоко<strong>в</strong>ольтных GaN-BJTприборо<strong>в</strong><br />
пока нет из-за технологических<br />
проблем. Есть HBT-приборы CВЧ-диапазона<br />
до 60 В. В отличие от SiC и GaN, на GaAs<br />
очень легко реализуются <strong>в</strong>ысоко<strong>в</strong>ольтные<br />
(до 1700 В) p-n-p-транзисторы, на порядок<br />
более скоростные, чем SiC-n-p-n, и сейчас<br />
<strong>в</strong>едется проработка <strong>в</strong>ысоко<strong>в</strong>ольтной n-p-nтехнологии,<br />
что поз<strong>в</strong>олит созда<strong>в</strong>ать комплементарную<br />
<strong>в</strong>ысоко<strong>в</strong>ольтную пару <strong>в</strong>ысокоскоростных<br />
транзисторо<strong>в</strong>, где потери мощности<br />
на <strong>в</strong>ключение/<strong>в</strong>ыключение будут на порядок<br />
меньше, чем у Si- и SiC-BJT, поскольку переход<br />
эмиттер-база будет <strong>в</strong>ыполнен на гетероструктуре<br />
AlGaAs/GaAs. Планируются также<br />
(и уже созданы) гетероэпитаксиальные p-n-pструктуры<br />
для изгото<strong>в</strong>ления p-n-p-чипо<strong>в</strong>:<br />
400–600 В, 10 А, 1 ГГц (для сра<strong>в</strong>нения, лучший<br />
кремние<strong>в</strong>ый p-n-p-транзистор фирмы Siemens<br />
<strong>в</strong>ытяги<strong>в</strong>ает 40 В, 1 ГГц).<br />
Другими сло<strong>в</strong>ами, и здесь арсенид галлия<br />
резко расширяет <strong>в</strong>озможности мощных полупро<strong>в</strong>однико<strong>в</strong>ых<br />
приборо<strong>в</strong>.<br />
Тиристоры<br />
Практически <strong>в</strong>се тиристоры, предста<strong>в</strong>ленные<br />
на миро<strong>в</strong>ом рынке, кремние<strong>в</strong>ые.<br />
От единиц ампер до десятка килоампер,<br />
от 200 В до 10 кВ — это <strong>в</strong>се пока обеспечи<strong>в</strong>ается<br />
приборами на осно<strong>в</strong>е кремния. IGCTприборы<br />
до 30 МВт (компрессоры на трубах)<br />
— это тоже приборы на осно<strong>в</strong>е кремния и,<br />
судя по <strong>в</strong>сему, задержатся <strong>в</strong> ЭКБ очень надолго.<br />
Указы<strong>в</strong>ать на ахиллесо<strong>в</strong>у пяту тиристоро<strong>в</strong>,<br />
го<strong>в</strong>оря, что их частотные с<strong>в</strong>ойст<strong>в</strong>а ед<strong>в</strong>а пере<strong>в</strong>али<strong>в</strong>ают<br />
за 10 кГц (до 1200–1700 В), тоже непра<strong>в</strong>ильно.<br />
Кремние<strong>в</strong>ые СИТ-тиристоры работают<br />
на 30 кГц, а тиристоры с MOS-упра<strong>в</strong>лением<br />
Грехо<strong>в</strong>а И. В. (ФТИ им. А. Ф. Иоффе<br />
РАН, С.-Петербург), Бономорского О. И.<br />
(ВЭИ, Моск<strong>в</strong>а) могут успешно поспорить<br />
с кремние<strong>в</strong>ыми IGBT на частотах ~100 кГц.<br />
Но прогресс не остано<strong>в</strong>ить. Пер<strong>в</strong>ые асимметричные<br />
SiC-тиристоры на 25 А/3000 В были<br />
также предста<strong>в</strong>лены на APEC-2010 компанией<br />
GE Global Research. Структура 4H-SiC<br />
(SiC/SiC) c эпитаксиальной пленкой n-типа,<br />
предположительно с d~20 мкм, с исключительно<br />
низкой плотностью дислокаций.<br />
Тиристор имеет неплохие остаточные напряжения<br />
(те же, что и у пер<strong>в</strong>ых российских<br />
IGBT на 25 А), <strong>в</strong>ыдержи<strong>в</strong>ает температуру<br />
до +200 °C и имеет <strong>в</strong>ысокие импульсные<br />
токи при достаточно большой плотности тока<br />
на чип. Он блокируется только <strong>в</strong> прямом напра<strong>в</strong>лении.<br />
В принципе, <strong>в</strong>еличину тока при<br />
оптимизации топологии SiC-кристалла тиристора<br />
можно у<strong>в</strong>еличить <strong>в</strong> д<strong>в</strong>а раза (50 А).<br />
Если сра<strong>в</strong>ни<strong>в</strong>ать с кремние<strong>в</strong>ыми интегральными<br />
тиристорами Грехо<strong>в</strong>а, плотность тока<br />
<strong>в</strong> SiC-тиристорах <strong>в</strong>ыше на полпорядка, но не<br />
<strong>в</strong> 10 раз, как прогнозиро<strong>в</strong>али. Тем не менее<br />
они обладают теплопро<strong>в</strong>одностью кристалла<br />
SiC <strong>в</strong> 3,5 раза лучшей по сра<strong>в</strong>нению с Si,<br />
да и, на<strong>в</strong>ерняка, быстродейст<strong>в</strong>ием лучшим на<br />
те же полпорядка. Таким образом, сра<strong>в</strong>ни<strong>в</strong>ать<br />
нечего. Остается одно — убрать SF-дефекты.<br />
Но, судя по технологическим успехам <strong>в</strong> <strong>в</strong>ыращи<strong>в</strong>ании<br />
почти бездислокационного монокристаллического<br />
SiC <strong>в</strong> Калифорнии, пода<strong>в</strong>ить<br />
SF-эффект удастся <strong>в</strong> значительной степени,<br />
но <strong>в</strong>ряд ли до конца. Вполне реально<br />
предположить, что к 2015 г. поя<strong>в</strong>ятся тиристорные<br />
SiC-чипы на 300 А/3000 В. Для спра<strong>в</strong>ки:<br />
тиристорные GaAs-чипы на 300 А/1700 В<br />
(<strong>в</strong> 2–3 раза более <strong>в</strong>ысокочастотные, чем SiCтиристоры)<br />
при усло<strong>в</strong>ии <strong>в</strong>нимания со стороны<br />
ГК «Роснанотех» <strong>в</strong> России могли бы поя<strong>в</strong>иться<br />
<strong>в</strong> опытном <strong>в</strong>иде <strong>в</strong> 2011 г., а серия —<br />
<strong>в</strong> 2012 г. В GaAs-тиристорах, ра<strong>в</strong>но как и <strong>в</strong> BJT,<br />
и UFRED-p-i-n-GaAs отсутст<strong>в</strong>ует SF-эффект.<br />
Что касается тиристоро<strong>в</strong> на нитриде галлия,<br />
то надо сначала сделать хотя бы «<strong>в</strong>елосипед»,<br />
т. е. GaN-диоды Шоттки на 100, 1200,<br />
1700 В. Дело не за горами. Но <strong>в</strong>сем лидерам<br />
миро<strong>в</strong>ой сило<strong>в</strong>ой электроники (IR, Panasonic,<br />
NEC и др.), <strong>в</strong>ероятно, надо <strong>в</strong>ернуться к подложке<br />
на решетке 4H-SiC и искать <strong>в</strong>ыгодный<br />
«подушечный» политип. Арсенид галлия<br />
<strong>в</strong> стороне от тиристорной тематики никогда<br />
не стоял. В СССР <strong>в</strong> ФТИ РАН (С.-Петербург)<br />
и <strong>в</strong> ВЭИ <strong>в</strong> середине 80-х гг. были созданы<br />
ОКРо<strong>в</strong>ские образцы (несколько тысяч GaAsтиристоро<strong>в</strong>)<br />
на 60 А/600 В, которые «рассосались»<br />
<strong>в</strong> аппаратуре ВПК <strong>в</strong> осно<strong>в</strong>ном <strong>в</strong> Нижнем<br />
Но<strong>в</strong>огороде.<br />
Сейчас реалии тако<strong>в</strong>ы, что при создании<br />
ETO/MCT-тиристора на базе интегральной<br />
«подсказки» Грехо<strong>в</strong>а и Бономорского реально<br />
получить 100(200) А/1200 В на 500 кГц<br />
при «остатках» <strong>в</strong> прямом напра<strong>в</strong>лении, близких<br />
к кремнию (<strong>в</strong> случае гетероэмиттера),<br />
а по упра<strong>в</strong>лению потери мощности можно<br />
снизить <strong>в</strong> 5–10 раз по сра<strong>в</strong>нению с кремние<strong>в</strong>ыми<br />
интегральными GTO. (На SiC <strong>в</strong> принципе<br />
можно построить гетероструктуры, например,<br />
SiC/Si, но это шаг назад, как, например,<br />
Si/Ge-ССИС).<br />
В итоге разработчикам SiC/SiC-тиристоро<strong>в</strong><br />
до 1700 В не надо расстраи<strong>в</strong>аться: после 3 кВ —<br />
это суперинтересное занятие для мощных импульсных<br />
применений, например, для статических<br />
преобразо<strong>в</strong>ателей и электропри<strong>в</strong>ода<br />
РЖД. К 2020 г. <strong>в</strong> области тиристоро<strong>в</strong> на SiC/SiC<br />
и AlGaAs/GaAs можно ожидать исключительных<br />
результато<strong>в</strong>.<br />
IGBT-приборы<br />
Все со<strong>в</strong>ременные успехи <strong>в</strong> мощной и с<strong>в</strong>ерхмощной<br />
электронике ассоциируются с кремние<strong>в</strong>ыми<br />
IGBT. Есть ли <strong>в</strong>озможность создания<br />
IGBT-приборо<strong>в</strong> на осно<strong>в</strong>е GaAs, SiC и GaN?<br />
Есть, но пока только на SiC, причем <strong>в</strong> ближайшее<br />
<strong>в</strong>ремя. Что ожидать? К 2015 г. <strong>в</strong>озможно<br />
поя<strong>в</strong>ление опытных образцо<strong>в</strong> на 300 А,<br />
1200 В, 250 кГц на чипах размером 40–50 мм 2 .<br />
Но у разработчико<strong>в</strong> будут д<strong>в</strong>е проблемы.<br />
Во-пер<strong>в</strong>ых, как от<strong>в</strong>ести от чипа 6,6×6,6 мм 2<br />
300 А? Вероятно, придется <strong>в</strong>спомнить технологию<br />
корпусиро<strong>в</strong>ания и теплоот<strong>в</strong>ода<br />
ThinKey, <strong>в</strong> таком случае T J будет >+300 °C.<br />
Во-<strong>в</strong>торых, что делать с прямой «пяткой»,<br />
которая достигнет 3,8–4 В при рабочих температурах<br />
(4,0 В×300 А — «утюг»)? Исходя<br />
из этого, до 1700 В поле дейст<strong>в</strong>ия, <strong>в</strong>идимо,<br />
придется оста<strong>в</strong>ить кремнию, SiC/SiC-MOSFET,<br />
JFET, тиристорам, а <strong>в</strong> с<strong>в</strong>ерх<strong>в</strong>ысоко<strong>в</strong>ольтной<br />
электронике рынок смогут зах<strong>в</strong>атить SiC/SiCприборы.<br />
К 2020 г. будет пройдена проблема<br />
1 кА, 3,3 кВ, 50 кГц — SiC/SiC-IGBT.<br />
Рынок мощных полупро<strong>в</strong>однико<strong>в</strong>ых<br />
приборо<strong>в</strong>: реальность и прогноз<br />
Осно<strong>в</strong>ные стимуляторы роста рынка мощных<br />
полупро<strong>в</strong>однико<strong>в</strong>ых приборо<strong>в</strong>:<br />
• климат;<br />
• стоимость барреля нефти;<br />
• стоимость кубометра газа;<br />
• стоимость кило<strong>в</strong>атт-часа;<br />
• <strong>в</strong>ооруженность цифро<strong>в</strong>ой техникой;<br />
• <strong>в</strong>оенная техника.<br />
В России от климата до спецтехники <strong>в</strong> смысле<br />
рынка должно быть «<strong>в</strong>се <strong>в</strong> порядке». По фак-<br />
9