29.05.2014 Aufrufe

Скачать статью в формате pdf - Силовая электроника

Скачать статью в формате pdf - Силовая электроника

Скачать статью в формате pdf - Силовая электроника

MEHR ANZEIGEN
WENIGER ANZEIGEN

Sie wollen auch ein ePaper? Erhöhen Sie die Reichweite Ihrer Titel.

YUMPU macht aus Druck-PDFs automatisch weboptimierte ePaper, die Google liebt.

Сило<strong>в</strong>ая Электроника, № 5’2010<br />

Рынок<br />

www.power-e.ru<br />

нения, у лучших кремние<strong>в</strong>ых транзисторо<strong>в</strong><br />

они <strong>в</strong> 2,5–3 раза больше). Прекрасно, но это<br />

еще не <strong>в</strong>се. Емкость C BC необычайно <strong>в</strong>елика,<br />

а диффузионная емкость перехода эмиттербаза<br />

при прямом смещении «зашкали<strong>в</strong>ает»,<br />

что резко снижает частотные и переключающие<br />

характеристики SiC-BJT. Впрочем, и цена<br />

SiC-BJT-транзистора на порядок <strong>в</strong>ыше кремние<strong>в</strong>ого.<br />

Есть у биполярных SiС-p-i-n-диодо<strong>в</strong>,<br />

транзисторо<strong>в</strong>, тиристоро<strong>в</strong> и IGBT, <strong>в</strong>ыполненных<br />

на эпитаксиальных структурах, и более<br />

серьезные недостатки, <strong>в</strong>ыражающиеся <strong>в</strong> том,<br />

что <strong>в</strong> процессе эксплуатации у<strong>в</strong>еличи<strong>в</strong>аются<br />

токи утечки, снижаются проби<strong>в</strong>ные напряжения,<br />

ухудшается про<strong>в</strong>одимость. Во многих<br />

информационных источниках показано, что<br />

<strong>в</strong> эпитаксиальных пленках 4H- или 6H-SiC при<br />

больших плотностях электронно-дырочной<br />

плазмы <strong>в</strong> <strong>в</strong>ысокоомной области происходит<br />

так назы<strong>в</strong>аемый stacking faults-эффект<br />

(SF-эффект). Это обусло<strong>в</strong>лено тем, что энергия<br />

безызлучательной рекомбинации электроннодырочной<br />

пары <strong>в</strong> указанных политипах SiC<br />

достаточна для преодоления атомом барьера,<br />

препятст<strong>в</strong>ующего его смещению <strong>в</strong> другое положение,<br />

т. е. происходит перестройка кристаллической<br />

решетки SiC из гексагональной<br />

<strong>в</strong> кубическую. В гексагональной структуре,<br />

например политипа 4Р-SiC, образуются кубические<br />

<strong>в</strong>ключения — SF-дефекты, которые<br />

<strong>в</strong>озникают на несо<strong>в</strong>ершенст<strong>в</strong>ах кристаллической<br />

4H-SiC- и 6H-SiC-решеток из-за наличия<br />

нанотрубок, дислокаций, нанокластерных образо<strong>в</strong>аний,<br />

точечных дефекто<strong>в</strong>. Чаще <strong>в</strong>сего<br />

SF-дефекты зарождаются на границе раздела<br />

эпитаксиального слоя с монокристаллом. Под<br />

дейст<strong>в</strong>ием плотности тока биполярных носителей,<br />

у<strong>в</strong>еличения рекомбинации и роста<br />

температуры линейные размеры SF-дефекто<strong>в</strong><br />

быстро у<strong>в</strong>еличи<strong>в</strong>аются <strong>в</strong>доль оси эпитаксиального<br />

роста и, достигая p-n-перехода, резко<br />

изменяют с<strong>в</strong>ойст<strong>в</strong>а границы раздела, при<strong>в</strong>одя<br />

к катастрофическим отказам.<br />

Необходимо подчеркнуть, что росто<strong>в</strong>ые<br />

технологии монокристалло<strong>в</strong> SiC (до 8”) резко<br />

шагнули <strong>в</strong>перед. Сегодня, не без участия<br />

наших соотечест<strong>в</strong>еннико<strong>в</strong> из С.-Петербурга,<br />

<strong>в</strong>ыращи<strong>в</strong>аются практически со<strong>в</strong>ершенные<br />

кристаллы SiC, что <strong>в</strong>селяет надежду на пода<strong>в</strong>ление<br />

данного эффекта на с<strong>в</strong>ерх<strong>в</strong>ысоко<strong>в</strong>ольтных<br />

биполярных SiC-приборах и резкое по<strong>в</strong>ышение<br />

надежности планарно-эпитаксиальных<br />

биполярных SiC-приборо<strong>в</strong>.<br />

Биполярных <strong>в</strong>ысоко<strong>в</strong>ольтных GaN-BJTприборо<strong>в</strong><br />

пока нет из-за технологических<br />

проблем. Есть HBT-приборы CВЧ-диапазона<br />

до 60 В. В отличие от SiC и GaN, на GaAs<br />

очень легко реализуются <strong>в</strong>ысоко<strong>в</strong>ольтные<br />

(до 1700 В) p-n-p-транзисторы, на порядок<br />

более скоростные, чем SiC-n-p-n, и сейчас<br />

<strong>в</strong>едется проработка <strong>в</strong>ысоко<strong>в</strong>ольтной n-p-nтехнологии,<br />

что поз<strong>в</strong>олит созда<strong>в</strong>ать комплементарную<br />

<strong>в</strong>ысоко<strong>в</strong>ольтную пару <strong>в</strong>ысокоскоростных<br />

транзисторо<strong>в</strong>, где потери мощности<br />

на <strong>в</strong>ключение/<strong>в</strong>ыключение будут на порядок<br />

меньше, чем у Si- и SiC-BJT, поскольку переход<br />

эмиттер-база будет <strong>в</strong>ыполнен на гетероструктуре<br />

AlGaAs/GaAs. Планируются также<br />

(и уже созданы) гетероэпитаксиальные p-n-pструктуры<br />

для изгото<strong>в</strong>ления p-n-p-чипо<strong>в</strong>:<br />

400–600 В, 10 А, 1 ГГц (для сра<strong>в</strong>нения, лучший<br />

кремние<strong>в</strong>ый p-n-p-транзистор фирмы Siemens<br />

<strong>в</strong>ытяги<strong>в</strong>ает 40 В, 1 ГГц).<br />

Другими сло<strong>в</strong>ами, и здесь арсенид галлия<br />

резко расширяет <strong>в</strong>озможности мощных полупро<strong>в</strong>однико<strong>в</strong>ых<br />

приборо<strong>в</strong>.<br />

Тиристоры<br />

Практически <strong>в</strong>се тиристоры, предста<strong>в</strong>ленные<br />

на миро<strong>в</strong>ом рынке, кремние<strong>в</strong>ые.<br />

От единиц ампер до десятка килоампер,<br />

от 200 В до 10 кВ — это <strong>в</strong>се пока обеспечи<strong>в</strong>ается<br />

приборами на осно<strong>в</strong>е кремния. IGCTприборы<br />

до 30 МВт (компрессоры на трубах)<br />

— это тоже приборы на осно<strong>в</strong>е кремния и,<br />

судя по <strong>в</strong>сему, задержатся <strong>в</strong> ЭКБ очень надолго.<br />

Указы<strong>в</strong>ать на ахиллесо<strong>в</strong>у пяту тиристоро<strong>в</strong>,<br />

го<strong>в</strong>оря, что их частотные с<strong>в</strong>ойст<strong>в</strong>а ед<strong>в</strong>а пере<strong>в</strong>али<strong>в</strong>ают<br />

за 10 кГц (до 1200–1700 В), тоже непра<strong>в</strong>ильно.<br />

Кремние<strong>в</strong>ые СИТ-тиристоры работают<br />

на 30 кГц, а тиристоры с MOS-упра<strong>в</strong>лением<br />

Грехо<strong>в</strong>а И. В. (ФТИ им. А. Ф. Иоффе<br />

РАН, С.-Петербург), Бономорского О. И.<br />

(ВЭИ, Моск<strong>в</strong>а) могут успешно поспорить<br />

с кремние<strong>в</strong>ыми IGBT на частотах ~100 кГц.<br />

Но прогресс не остано<strong>в</strong>ить. Пер<strong>в</strong>ые асимметричные<br />

SiC-тиристоры на 25 А/3000 В были<br />

также предста<strong>в</strong>лены на APEC-2010 компанией<br />

GE Global Research. Структура 4H-SiC<br />

(SiC/SiC) c эпитаксиальной пленкой n-типа,<br />

предположительно с d~20 мкм, с исключительно<br />

низкой плотностью дислокаций.<br />

Тиристор имеет неплохие остаточные напряжения<br />

(те же, что и у пер<strong>в</strong>ых российских<br />

IGBT на 25 А), <strong>в</strong>ыдержи<strong>в</strong>ает температуру<br />

до +200 °C и имеет <strong>в</strong>ысокие импульсные<br />

токи при достаточно большой плотности тока<br />

на чип. Он блокируется только <strong>в</strong> прямом напра<strong>в</strong>лении.<br />

В принципе, <strong>в</strong>еличину тока при<br />

оптимизации топологии SiC-кристалла тиристора<br />

можно у<strong>в</strong>еличить <strong>в</strong> д<strong>в</strong>а раза (50 А).<br />

Если сра<strong>в</strong>ни<strong>в</strong>ать с кремние<strong>в</strong>ыми интегральными<br />

тиристорами Грехо<strong>в</strong>а, плотность тока<br />

<strong>в</strong> SiC-тиристорах <strong>в</strong>ыше на полпорядка, но не<br />

<strong>в</strong> 10 раз, как прогнозиро<strong>в</strong>али. Тем не менее<br />

они обладают теплопро<strong>в</strong>одностью кристалла<br />

SiC <strong>в</strong> 3,5 раза лучшей по сра<strong>в</strong>нению с Si,<br />

да и, на<strong>в</strong>ерняка, быстродейст<strong>в</strong>ием лучшим на<br />

те же полпорядка. Таким образом, сра<strong>в</strong>ни<strong>в</strong>ать<br />

нечего. Остается одно — убрать SF-дефекты.<br />

Но, судя по технологическим успехам <strong>в</strong> <strong>в</strong>ыращи<strong>в</strong>ании<br />

почти бездислокационного монокристаллического<br />

SiC <strong>в</strong> Калифорнии, пода<strong>в</strong>ить<br />

SF-эффект удастся <strong>в</strong> значительной степени,<br />

но <strong>в</strong>ряд ли до конца. Вполне реально<br />

предположить, что к 2015 г. поя<strong>в</strong>ятся тиристорные<br />

SiC-чипы на 300 А/3000 В. Для спра<strong>в</strong>ки:<br />

тиристорные GaAs-чипы на 300 А/1700 В<br />

(<strong>в</strong> 2–3 раза более <strong>в</strong>ысокочастотные, чем SiCтиристоры)<br />

при усло<strong>в</strong>ии <strong>в</strong>нимания со стороны<br />

ГК «Роснанотех» <strong>в</strong> России могли бы поя<strong>в</strong>иться<br />

<strong>в</strong> опытном <strong>в</strong>иде <strong>в</strong> 2011 г., а серия —<br />

<strong>в</strong> 2012 г. В GaAs-тиристорах, ра<strong>в</strong>но как и <strong>в</strong> BJT,<br />

и UFRED-p-i-n-GaAs отсутст<strong>в</strong>ует SF-эффект.<br />

Что касается тиристоро<strong>в</strong> на нитриде галлия,<br />

то надо сначала сделать хотя бы «<strong>в</strong>елосипед»,<br />

т. е. GaN-диоды Шоттки на 100, 1200,<br />

1700 В. Дело не за горами. Но <strong>в</strong>сем лидерам<br />

миро<strong>в</strong>ой сило<strong>в</strong>ой электроники (IR, Panasonic,<br />

NEC и др.), <strong>в</strong>ероятно, надо <strong>в</strong>ернуться к подложке<br />

на решетке 4H-SiC и искать <strong>в</strong>ыгодный<br />

«подушечный» политип. Арсенид галлия<br />

<strong>в</strong> стороне от тиристорной тематики никогда<br />

не стоял. В СССР <strong>в</strong> ФТИ РАН (С.-Петербург)<br />

и <strong>в</strong> ВЭИ <strong>в</strong> середине 80-х гг. были созданы<br />

ОКРо<strong>в</strong>ские образцы (несколько тысяч GaAsтиристоро<strong>в</strong>)<br />

на 60 А/600 В, которые «рассосались»<br />

<strong>в</strong> аппаратуре ВПК <strong>в</strong> осно<strong>в</strong>ном <strong>в</strong> Нижнем<br />

Но<strong>в</strong>огороде.<br />

Сейчас реалии тако<strong>в</strong>ы, что при создании<br />

ETO/MCT-тиристора на базе интегральной<br />

«подсказки» Грехо<strong>в</strong>а и Бономорского реально<br />

получить 100(200) А/1200 В на 500 кГц<br />

при «остатках» <strong>в</strong> прямом напра<strong>в</strong>лении, близких<br />

к кремнию (<strong>в</strong> случае гетероэмиттера),<br />

а по упра<strong>в</strong>лению потери мощности можно<br />

снизить <strong>в</strong> 5–10 раз по сра<strong>в</strong>нению с кремние<strong>в</strong>ыми<br />

интегральными GTO. (На SiC <strong>в</strong> принципе<br />

можно построить гетероструктуры, например,<br />

SiC/Si, но это шаг назад, как, например,<br />

Si/Ge-ССИС).<br />

В итоге разработчикам SiC/SiC-тиристоро<strong>в</strong><br />

до 1700 В не надо расстраи<strong>в</strong>аться: после 3 кВ —<br />

это суперинтересное занятие для мощных импульсных<br />

применений, например, для статических<br />

преобразо<strong>в</strong>ателей и электропри<strong>в</strong>ода<br />

РЖД. К 2020 г. <strong>в</strong> области тиристоро<strong>в</strong> на SiC/SiC<br />

и AlGaAs/GaAs можно ожидать исключительных<br />

результато<strong>в</strong>.<br />

IGBT-приборы<br />

Все со<strong>в</strong>ременные успехи <strong>в</strong> мощной и с<strong>в</strong>ерхмощной<br />

электронике ассоциируются с кремние<strong>в</strong>ыми<br />

IGBT. Есть ли <strong>в</strong>озможность создания<br />

IGBT-приборо<strong>в</strong> на осно<strong>в</strong>е GaAs, SiC и GaN?<br />

Есть, но пока только на SiC, причем <strong>в</strong> ближайшее<br />

<strong>в</strong>ремя. Что ожидать? К 2015 г. <strong>в</strong>озможно<br />

поя<strong>в</strong>ление опытных образцо<strong>в</strong> на 300 А,<br />

1200 В, 250 кГц на чипах размером 40–50 мм 2 .<br />

Но у разработчико<strong>в</strong> будут д<strong>в</strong>е проблемы.<br />

Во-пер<strong>в</strong>ых, как от<strong>в</strong>ести от чипа 6,6×6,6 мм 2<br />

300 А? Вероятно, придется <strong>в</strong>спомнить технологию<br />

корпусиро<strong>в</strong>ания и теплоот<strong>в</strong>ода<br />

ThinKey, <strong>в</strong> таком случае T J будет >+300 °C.<br />

Во-<strong>в</strong>торых, что делать с прямой «пяткой»,<br />

которая достигнет 3,8–4 В при рабочих температурах<br />

(4,0 В×300 А — «утюг»)? Исходя<br />

из этого, до 1700 В поле дейст<strong>в</strong>ия, <strong>в</strong>идимо,<br />

придется оста<strong>в</strong>ить кремнию, SiC/SiC-MOSFET,<br />

JFET, тиристорам, а <strong>в</strong> с<strong>в</strong>ерх<strong>в</strong>ысоко<strong>в</strong>ольтной<br />

электронике рынок смогут зах<strong>в</strong>атить SiC/SiCприборы.<br />

К 2020 г. будет пройдена проблема<br />

1 кА, 3,3 кВ, 50 кГц — SiC/SiC-IGBT.<br />

Рынок мощных полупро<strong>в</strong>однико<strong>в</strong>ых<br />

приборо<strong>в</strong>: реальность и прогноз<br />

Осно<strong>в</strong>ные стимуляторы роста рынка мощных<br />

полупро<strong>в</strong>однико<strong>в</strong>ых приборо<strong>в</strong>:<br />

• климат;<br />

• стоимость барреля нефти;<br />

• стоимость кубометра газа;<br />

• стоимость кило<strong>в</strong>атт-часа;<br />

• <strong>в</strong>ооруженность цифро<strong>в</strong>ой техникой;<br />

• <strong>в</strong>оенная техника.<br />

В России от климата до спецтехники <strong>в</strong> смысле<br />

рынка должно быть «<strong>в</strong>се <strong>в</strong> порядке». По фак-<br />

9

Hurra! Ihre Datei wurde hochgeladen und ist bereit für die Veröffentlichung.

Erfolgreich gespeichert!

Leider ist etwas schief gelaufen!