Produktionsmesstechnik für die Praxis Neue Wege gehen - Werte ...
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10.10 - 10.45 Forschung und Entwicklung<br />
„Precision Engineering & Metrology“<br />
Überblick über weltweite F&E-Aktivitäten<br />
aus Sicht der CIRP, der „Internationalen<br />
Akademie für Produktionstechnik“<br />
Dr. sc. techn., Dipl.-Ing. ETH Wolfgang<br />
Knapp, Leiter Messtechnik IWF,<br />
ETH Zürich (CH)<br />
10.45 - 11.30 Pause mit Kaffee und Gebäck,<br />
Ausstellung<br />
11.30 - 12.05 Stand und Tendenzen in der<br />
Oberflächenmesstechnik<br />
Oberfläche und Funktionsbezug, profiloder<br />
flächenhaft, optisch oder taktil<br />
messen? Philosophie der ISO-Normung<br />
Dipl.-Ing. Tobias Hercke, Verantwortlicher<br />
für <strong>die</strong> Oberflächenmesstechnik<br />
bei der Daimler AG, Stuttgart (D)<br />
12.05 - 12.40 Beschichtungsmesstechnik heute<br />
und morgen<br />
Zielgrössen, Randbedingungen<br />
und dazu passende Messverfahren –<br />
ein Überblick<br />
Prof. Dr. Nikolaus Herres, Leiter des<br />
Kompetenzfeldes Werkstoffe und<br />
Professor an der NTB, Buchs (CH)<br />
12.40 - 14.25 Stehlunch, Ausstellung
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