PC-LEPTOSKOP 2050 Schichtdickenmessung auf ... - Karl Deutsch

PC-LEPTOSKOP 2050
Schichtdickenmessung auf PC-Basis

LEPTOSKOP 2050
Nur PC-Sonde, Software und PC
Anschluss einer PC-Sonde an die serielle
Schnittstelle eines Laptops. Mit einem
Adapter (Art.-Nr.: 2691.001) kann die
Sonde auch an eine USB-Schnittstelle
angeschlossen werden.
Umfangreiche Statistikangaben
Anwendungsbeispiel: Laptop mit
PC-Software STATWIN 2002, PC-
Mikrosonde und (optionaler) Positioniereinrichtung
STATWIN 2002 kann auch zum Auslesen
der KARL DEUTSCH - Schichtdickenmessgeräte
LEPTOSKOP 2042 und
Pocket-LEPTOSKOP verwendet werden
Technische Daten des PC-LEPTOSKOP 2050
Bediensoftware 2904.001: STATWIN 2002 (für Windows 9x / 2000 / XP / ME / NT4.0); die Software ist nicht
geeignet für Windows Vista / 7, kann aber in einer virtuellen Maschine mit einem kompatiblen
Betriebssystem betrieben werden; Bediensprache Deutsch / Englisch umschaltbar
Sonden 2050.101: Einpolsonde, gerade, Messbereich 0 – 1250 µm (Fe-Trägermaterial)
2050.111: Einpolsonde, gerade, Messbereich 0 – 3000 µm (Fe-Trägermaterial)
2050.201: Einpolsonde, gerade, Messbereich 0 – 1000 µm (NFe-Trägermaterial)
2050.102: Einpolsonde, 90° abgewinkelt, Messbereich 0 – 1250 µm (Fe-Trägermaterial)
2050.112: Einpolsonde, 90° abgewinkelt, Messbereich 0 – 3000 µm (Fe-Trägermaterial)
2050.103: Zweipolsonde, Messbereich 0 – 10.000 µm (Fe-Trägermaterial)
2050.104: Mikrosonde, gerade, Messbereich 0 – 250 µm (Fe-Trägermaterial)
2050.204: Mikrosonde, gerade, Messbereich 0 – 500 µm (NFe-Trägermaterial)
2050.105: Mikrosonde, 45° abgewinkelt, Messbereich 0 – 250 µm (Fe-Trägermaterial)
2050.205: Mikrosonde, 45° abgewinkelt, Messbereich 0 – 500 µm (NFe-Trägermaterial)
2050.106: Mikrosonde, 90° abgewinkelt, Messbereich 0 – 250 µm (Fe-Trägermaterial)
2050.206: Mikrosonde, 90° abgewinkelt, Messbereich 0 – 500 µm (NFe-Trägermaterial)
Messunsicherheit (nach 1-Punkt-
oder 2-Punkt-Kalibrierung)
KARL DEUTSCH Prüf- und Messgerätebau GmbH + Co KG
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Die Software STATWIN 2002 macht Ihren PC
zum Schichtdickenmessgerät.
Schließen Sie dazu einfach eine passende
LEPTOSKOP-Sonde an die PC-Schnittstelle
an. Nach dem Programmstart erscheint auf
dem Bildschirm ein virtuelles Schichtdickenmessgerät,
das Sie per Maus oder Tastatur
wie ein herkömmliches Gerät bedienen.
• Umfassende Statistikfunktionen zur Aus- und
Bewertung von Messwerten und Messreihen.
• Nahezu beliebig viele Messreihen lassen sich
anlegen und verwalten. Die Kapazität ist nur
vom Speicherplatz des PCs abhängig.
• Keine zusätzlichen PC-Einsteckkarten erforderlich.
• Mehrpunkt-Kalibrierung für hohe Genauigkeit
• Direkte grafische Auswertung und Dokumentation.
Ausdruck über den PC-Drucker.
• Messverfahren: Fe-Messungen über das magnetinduktive
Verfahren (DIN EN ISO 2178),
NFe-Messungen mithilfe des Wirbelstromverfahrens
(DIN EN ISO 2360).
Neben den Standardsonden stehen hochauflösende Mikrosonden
für Kleinteile oder schwierige Geometrien zur Verfügung.
Große Dicken werden mit speziellen Zweipolsonden gemessen.
Einpol- und Mikrosonde: 1% ± 1 µm (0 – 100 µm), 1 – 3% ± 1 µm (>100 µm)
Zweipolsonde: 1% ± 10 µm (0 – 3000 µm), 1 – 3% ± 10 µm (3000 – 10.000 µm)
Zubehör 2691.001: Adapter zum Anschluss der PC-Sonde an einen PC mit USB-Schnittstelle
2815.001: Kontrollkörper Fe
2815.002: Kontrollkörper NFe
2715.002: Kalibrierfoliensatz für den Messbereich 0 - 1250 µm
Druckschrift P 2050 d 05_11 · Änderungen vorbehalten · Printed in Germany 05/11 · 7499.P2050.DE.0511