T - Dies ist unser Püffki, nur Eingeweihte kennen seine hohen ...
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XII Inhaltsverzeichnis<br />
3.3. Feldeffekttrans<strong>ist</strong>oren .<br />
3.3.1.<br />
3.3.2.<br />
3.3.3.<br />
3.3A.<br />
3.3.5.<br />
3.3.6.<br />
3.3.7.<br />
3.3.R.<br />
3.4.<br />
3.4.1.<br />
3.4.2.<br />
3.4.3.<br />
3.4.4.<br />
3.4.5.<br />
3.4.6.<br />
3.4. 7.<br />
4.<br />
4.1.<br />
4.1.1.<br />
4.1.2.<br />
4.1.3.<br />
4.1.4.<br />
4.2.<br />
4.2.1.<br />
4.2.2.<br />
4.2.3.<br />
4.2.4.<br />
4.2.5.<br />
4.2.6.<br />
4.3.<br />
4.3.1.<br />
4.3.2.<br />
4.3.3.<br />
4.3.4.<br />
4.3.5.<br />
4.3.6.<br />
Sperrschicht-FET<br />
MOSFET •.•• •'<br />
Bändermodell beim MOSFET<br />
Anreicherungs· und Verarmungstyp . . • . . . • . .<br />
Binfluß der Substratspannung und punch-through<br />
Theorie der Ladungssteuerung • . • • . • .<br />
Kleinsignalverhalten und Ersat?.schaltbild .<br />
Potentialtopfmodell • • • • • . • . . •<br />
Bipolartrans<strong>ist</strong>oren<br />
Grundmodell • .<br />
Mathematisches Modell •<br />
Die vier Betriebszustände • .<br />
Physikalisches Modell<br />
Effektive Basisweite und punch.through<br />
Kennlinien • • . • • • •<br />
Kleinsignalparameter •<br />
TechnologiegrundJagen<br />
ReinstsiJicium und Einkr<strong>ist</strong>alle .<br />
Herstellung des Rohsiliciums<br />
Physikalische Reinigung<br />
Herstellung 'von Einkr<strong>ist</strong>allen<br />
Herstellung der Scheiben<br />
Oberflächenschichten<br />
Epitaxie<br />
Diffusion<br />
IsoHerschichten<br />
Metallschichten<br />
Ionenimplantation •<br />
Vergleich der Dotiernngstec hniken .<br />
Strukturierung .<br />
Fotolithografie • •<br />
Standardmethode für Masken<br />
Leicht abgewandelte Technike-n<br />
Elektronenstrahllithografie<br />
Röntgenstrahllithografie<br />
Zu physikalischen Grenzen. •<br />
. .<br />
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. ,.<br />
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