Wir füllen die Lücken! - schloetter.de
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<strong>Wir</strong> <strong>füllen</strong> <strong>die</strong> <strong>Lücken</strong>!<br />
Neuer Elektrolyt für reduzierte Kupferschichtdicke beim Füllen von Blind Microvias<br />
Füllen von Blind Microvias<br />
Die fortschreiten<strong>de</strong> Zunahme <strong>de</strong>r Integrationsdichte<br />
auf Seite <strong>de</strong>r Bauelemente führte zu<br />
einer weiteren Abnahme <strong>de</strong>r Anschlussabstän<strong>de</strong>,<br />
weshalb auch auf Seite <strong>de</strong>r Leiterplatte <strong>die</strong><br />
Integrationsdichte weiter gesteigert wer<strong>de</strong>n<br />
musste. Dies konnte durch das vollständige<br />
Füllen von Blind Microvias mit elektrolytisch<br />
abgeschie<strong>de</strong>nem Kupfer erreicht wer<strong>de</strong>n [5].<br />
Kupfergefüllte Blind Microvias weisen gegenüber<br />
nichtgefüllten Blind Microvias folgen<strong>de</strong><br />
Vorteile auf:<br />
• Realisierung von Stacked Blind Microvia Designs<br />
• Realisierung von Via in Pad Designs<br />
• Erhöhte Zuverlässigkeit<br />
• Besseres Wärmemanagement<br />
Abb. 3a: Drei Stacked Blind Microvias als Ersatz für Durchgangsbohrung<br />
Abb. 3b: All Stacked Blind Microvias als Ersatz für Durchgangsbohrung<br />
Bei Stacked Blind Microvias han<strong>de</strong>lt es sich um<br />
direkt übereinan<strong>de</strong>r gestapelte Blind Microvias<br />
(Abb. 3a). Mit <strong>die</strong>ser Anordnung können mittels<br />
Blind Microvias auch nicht direkt benachbarte<br />
Aufbaulagen – bei minimalem Platzbedarf – leitend<br />
miteinan<strong>de</strong>r verbun<strong>de</strong>n wer<strong>de</strong>n, was zu einer<br />
weiteren Erhöhung <strong>de</strong>r Integrationsdichte führt.<br />
Durch All Stacked Blind Microvia Designs kann<br />
auf <strong>die</strong> Verwendung von Durchgangsbohrungen<br />
vollständig verzichtet wer<strong>de</strong>n (Abb. 3b).<br />
Abb. 4: Via in Pad Design<br />
In <strong>de</strong>n Außenlagen ermöglichen kupfergefüllte<br />
Blind Microvias zu<strong>de</strong>m <strong>de</strong>n Einsatz platzsparen<strong>de</strong>r<br />
Via in Pad Designs (Abb. 4), bei <strong>de</strong>nen Blind<br />
Microvias zugleich als Via und Pad fungieren.<br />
Dies führt zu einer weiteren Steigerung <strong>de</strong>r<br />
Integrationsdichte, da auf <strong>de</strong>utlich mehr Platz<br />
beanspruchen<strong>de</strong> Hun<strong>de</strong>knochen<strong>de</strong>signs bestehend<br />
aus Pad, Leiterbahn und Via verzichtet<br />
wer<strong>de</strong>n kann.<br />
Das Füllen von Blind Microvias mit elektrolytisch<br />
abgeschie<strong>de</strong>nem Kupfer verbessert auch <strong>die</strong><br />
Zuverlässigkeit <strong>de</strong>r Leiterplatten, da sich nur ein<br />
Materialtyp in <strong>de</strong>n Blind Microvias befin<strong>de</strong>t.<br />
Beim Füllen mit leitfähiger Paste liegt in <strong>de</strong>n Blind<br />
Microvias neben einer galvanisch abgeschie<strong>de</strong>nen<br />
Kupferschicht auch noch leitfähige Paste vor.<br />
Dadurch stehen zwei Materialtypen mit unterschiedlichen<br />
thermischen Aus<strong>de</strong>hnungskoeffizienten<br />
in direktem Kontakt miteinan<strong>de</strong>r, was zu<br />
einer negativen Beeinflussung <strong>de</strong>r Zuverlässig-