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Wir füllen die Lücken! - schloetter.de

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<strong>Wir</strong> <strong>füllen</strong> <strong>die</strong> <strong>Lücken</strong>!<br />

Neuer Elektrolyt für reduzierte Kupferschichtdicke beim Füllen von Blind Microvias<br />

Füllen von Blind Microvias<br />

Die fortschreiten<strong>de</strong> Zunahme <strong>de</strong>r Integrationsdichte<br />

auf Seite <strong>de</strong>r Bauelemente führte zu<br />

einer weiteren Abnahme <strong>de</strong>r Anschlussabstän<strong>de</strong>,<br />

weshalb auch auf Seite <strong>de</strong>r Leiterplatte <strong>die</strong><br />

Integrationsdichte weiter gesteigert wer<strong>de</strong>n<br />

musste. Dies konnte durch das vollständige<br />

Füllen von Blind Microvias mit elektrolytisch<br />

abgeschie<strong>de</strong>nem Kupfer erreicht wer<strong>de</strong>n [5].<br />

Kupfergefüllte Blind Microvias weisen gegenüber<br />

nichtgefüllten Blind Microvias folgen<strong>de</strong><br />

Vorteile auf:<br />

• Realisierung von Stacked Blind Microvia Designs<br />

• Realisierung von Via in Pad Designs<br />

• Erhöhte Zuverlässigkeit<br />

• Besseres Wärmemanagement<br />

Abb. 3a: Drei Stacked Blind Microvias als Ersatz für Durchgangsbohrung<br />

Abb. 3b: All Stacked Blind Microvias als Ersatz für Durchgangsbohrung<br />

Bei Stacked Blind Microvias han<strong>de</strong>lt es sich um<br />

direkt übereinan<strong>de</strong>r gestapelte Blind Microvias<br />

(Abb. 3a). Mit <strong>die</strong>ser Anordnung können mittels<br />

Blind Microvias auch nicht direkt benachbarte<br />

Aufbaulagen – bei minimalem Platzbedarf – leitend<br />

miteinan<strong>de</strong>r verbun<strong>de</strong>n wer<strong>de</strong>n, was zu einer<br />

weiteren Erhöhung <strong>de</strong>r Integrationsdichte führt.<br />

Durch All Stacked Blind Microvia Designs kann<br />

auf <strong>die</strong> Verwendung von Durchgangsbohrungen<br />

vollständig verzichtet wer<strong>de</strong>n (Abb. 3b).<br />

Abb. 4: Via in Pad Design<br />

In <strong>de</strong>n Außenlagen ermöglichen kupfergefüllte<br />

Blind Microvias zu<strong>de</strong>m <strong>de</strong>n Einsatz platzsparen<strong>de</strong>r<br />

Via in Pad Designs (Abb. 4), bei <strong>de</strong>nen Blind<br />

Microvias zugleich als Via und Pad fungieren.<br />

Dies führt zu einer weiteren Steigerung <strong>de</strong>r<br />

Integrationsdichte, da auf <strong>de</strong>utlich mehr Platz<br />

beanspruchen<strong>de</strong> Hun<strong>de</strong>knochen<strong>de</strong>signs bestehend<br />

aus Pad, Leiterbahn und Via verzichtet<br />

wer<strong>de</strong>n kann.<br />

Das Füllen von Blind Microvias mit elektrolytisch<br />

abgeschie<strong>de</strong>nem Kupfer verbessert auch <strong>die</strong><br />

Zuverlässigkeit <strong>de</strong>r Leiterplatten, da sich nur ein<br />

Materialtyp in <strong>de</strong>n Blind Microvias befin<strong>de</strong>t.<br />

Beim Füllen mit leitfähiger Paste liegt in <strong>de</strong>n Blind<br />

Microvias neben einer galvanisch abgeschie<strong>de</strong>nen<br />

Kupferschicht auch noch leitfähige Paste vor.<br />

Dadurch stehen zwei Materialtypen mit unterschiedlichen<br />

thermischen Aus<strong>de</strong>hnungskoeffizienten<br />

in direktem Kontakt miteinan<strong>de</strong>r, was zu<br />

einer negativen Beeinflussung <strong>de</strong>r Zuverlässig-

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