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Synthese, Einkristallzüchtung und Charakterisierung von binären ...

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18<br />

Allgemeiner Teil<br />

Die charakteristische Strahlung durchtritt einen Filter sowie ein Blendensystem <strong>und</strong><br />

trifft auf ein pulverförmiges Präparat. Die beim Auftreffen monochromatisierter<br />

Strahlung entstehenden Interferenzkegel werden mittels Zählrohren oder Filmen<br />

registriert. Im Allgemeinen werden <strong>von</strong> den Beugungskegeln nur kleine Ausschnitte<br />

abgebildet.<br />

Bei der Auswertung <strong>von</strong> Pulveraufnahmen werden zunächst die Beugungswinkel<br />

sämtlicher Interferenzen erhalten, aus denen nach der Bragg’schen Beziehung die<br />

Netzebenenabstände dhkl berechnet werden können. Als Indizierung einer<br />

Pulveraufnahme wird die Zuordnung der beobachteten Interferenzen zu bestimmten<br />

Ebenen hkl im Kristall <strong>und</strong> die Bestimmung des Kristallsystems <strong>und</strong> der<br />

Elementarzelle bezeichnet. Eine erfolgreiche Indizierung liefert die Gitterkonstanten.<br />

Häufig ist eine Identifizierung einer unbekannten Substanz durch<br />

Datenbankrecherchen (PDF-2 [23] , JCPDS int. 1999 [24] ) oder anhand <strong>von</strong> Vergleichen<br />

mit isotypen Verbindungen (Diffrac plus V5.0, Bruker AXS 1999 [25] ) möglich. Zudem<br />

kann ein theoretisches Pulverdiffraktogramm einer bislang unbekannten Phase<br />

berechnet (WinX POW , Stoe & CIE GmbH 1999 [26] ) <strong>und</strong> mit der eigenen Messung<br />

verglichen werden.<br />

2.2.1.2 Einkristallverfahren<br />

Röntgenbeugung an Einkristallen wurde in der vorliegenden Arbeit hauptsächlich zur<br />

Kristallstrukturanalyse neu synthetisierter Substanzen eingesetzt, aber auch zur<br />

routinemäßigen Überprüfung der entstandenen Reaktionsprodukte, da die meisten<br />

Kristalle aufgr<strong>und</strong> Farbe <strong>und</strong> Form nicht eindeutig unterscheidbar waren. Die<br />

Messungen erfolgten zum größten Teil an einem Imaging Plate Detecting System<br />

(IPDS, Firma Stoe, Darmstadt). Einzelne Messungen erfolgten jedoch auch an einem<br />

Vierkreis-Einkristall-Diffraktometer mit Vollkreis-Eulerwiegengeometrie (Typ P4,<br />

Siemens, Karlsruhe), das über vier unabhängige, computergesteuerte Kreise verfügt<br />

<strong>und</strong> so beliebige Kristallorientierungen <strong>und</strong> Meßgeometrien ermöglicht (Abb. 7).

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