GaAs-IR-Lumineszenzdiode GaAs Infrared Emitter SFH ... - DataSheet
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Grenzwerte (T A = 25 °C)<br />
Maximum Ratings<br />
Bezeichnung<br />
Description<br />
Betriebs- und Lagertemperatur<br />
Operating and storage temperature range<br />
Sperrschichttemperatur<br />
Junction temperature<br />
Sperrspannung<br />
Reverse voltage<br />
Durchlaßstrom<br />
Forward current<br />
Stoßstrom, τ≤10 μs, D = 0<br />
Surge current<br />
Verlustleistung<br />
Power dissipation<br />
Wärmewiderstand<br />
Thermal resistance<br />
Kennwerte (T A = 25 °C)<br />
Characteristics<br />
Bezeichnung<br />
Description<br />
Wellenlänge der Strahlung<br />
Wavelength at peak emission<br />
IF = 40 mA, tp = 20 ms<br />
Spektrale Bandbreite bei 50 % von I max<br />
Spectral bandwidth at 50 % of I max<br />
I F = 40 m A, t p = 20 ms<br />
Abstrahlwinkel<br />
Half angle<br />
Aktive Chipfläche<br />
Active chip area<br />
Abmessungen der aktive Chipfläche<br />
Dimension of the active chip area<br />
Abstand Chipoberfläche bis Linsenscheitel<br />
Distance chip surface to lens top<br />
Symbol<br />
Symbol<br />
Wert<br />
Value<br />
T op; T stg – 40 ... + 80 °C<br />
T j 80 °C<br />
V R 5 V<br />
I F 40 mA<br />
I FSM 1.6 A<br />
Einheit<br />
Unit<br />
P tot 65 mW<br />
R thJA<br />
R thJL<br />
Symbol<br />
Symbol<br />
<strong>SFH</strong> 405<br />
Semiconductor Group 2 1997-11-01<br />
950<br />
850<br />
Wert<br />
Value<br />
K/W<br />
K/W<br />
λ peak 950 nm<br />
Δλ 55 nm<br />
Einheit<br />
Unit<br />
ϕ ± 16 Grad<br />
deg.<br />
A 0.25 mm 2<br />
L × B<br />
L × W<br />
0.5 × 0.5 mm<br />
H 1.3 ... 1.9 mm
Kennwerte (T A = 25 °C)<br />
Characteristics<br />
Bezeichnung<br />
Description<br />
Schaltzeiten, I e von 10 % auf 90 % und von<br />
90 % auf 10 %, bei I F = 40 mA, R L = 50 Ω<br />
Switching times, I e from 10 % to 90 % and<br />
from 90 % to 10 %, I F = 40 mA, R L = 50 Ω<br />
Kapazität<br />
Capacitance<br />
V R = 0 V, f = 1 MHz<br />
Gruppierung der Strahlstärke I e in Achsrichtung<br />
gemessen bei einem Raumwinkel Ω = 0.01 sr<br />
Grouping of radiant intensity I e in axial<br />
direction at a solid angle of Ω = 0.01 sr<br />
t r, t f 1 μs<br />
C o 40 pF<br />
Durchlaßspannung<br />
Forward voltage<br />
IF = 40 mA<br />
Sperrstrom<br />
Reverse current<br />
VR = 5 V<br />
VF 1.25 (≤ 1.4) V<br />
Gesamtstrahlungsfluß<br />
Total radiant flux<br />
I F = 40 mA, t p = 20 ms<br />
Temperaturkoeffizient von I e bzw. Φ e,<br />
I F = 40 mA<br />
Temperature coefficient of I e or Φ e,<br />
I F = 40 mA<br />
Temperaturkoeffizient von VF, IF = 40 mA<br />
Temperature coefficient of VF, IF = 40 mA<br />
Temperaturkoeffizient von λpeak, IF = 40 mA<br />
Temperature coefficient of λpeak, IF = 40 mA<br />
Bezeichnung<br />
Description<br />
Symbol<br />
Symbol<br />
Wert<br />
Value<br />
I R 0.01 (≤ 1) μA<br />
Φ e 7 mW<br />
TC I – 0.55 %/K<br />
TC V – 1.5 mV/K<br />
TC λ 0.3 nm/K<br />
Symbol Werte<br />
Values<br />
Einheit<br />
Unit<br />
Einheit<br />
Unit<br />
Strahlstärke<br />
Radiant intensity<br />
I F = 40 mA, t p = 20 ms I e 2.5 (≥ 1.6) mW/sr<br />
<strong>SFH</strong> 405<br />
Semiconductor Group 3 1997-11-01
Relative spectral emission<br />
I rel = f (λ)<br />
Ι rel<br />
100<br />
%<br />
80<br />
60<br />
40<br />
20<br />
OHRD1938<br />
0<br />
880 920 960 1000 nm<br />
λ<br />
1060<br />
Forward current<br />
I F = f (V F ), single pulse, t p = 20 μs<br />
Ι F<br />
1<br />
10<br />
A<br />
0<br />
10<br />
-1<br />
10<br />
10<br />
1<br />
-2<br />
typ.<br />
max.<br />
OHR01042<br />
1.5 2 2.5 3 3.5 4 V 4.5<br />
V<br />
Radiation characteristics Irel = f (ϕ)<br />
40<br />
30 20 10<br />
50<br />
60<br />
70<br />
80<br />
90<br />
100<br />
1.0<br />
0.8<br />
0.6<br />
F<br />
0.4<br />
ϕ<br />
0<br />
Radiant intensity<br />
Single pulse, t p = 20 μs<br />
2<br />
10<br />
Ι e<br />
Ι e (100 mA)<br />
1<br />
10<br />
10 0<br />
-1<br />
10<br />
-2 -1<br />
10 10<br />
I e<br />
I e 100 mA = f (I F )<br />
0<br />
10 A<br />
Ι<br />
10 1<br />
Permissible pulse handling capability<br />
I F = f (τ), T A = 25 °C,<br />
duty cycle D = parameter<br />
1.0<br />
0.8<br />
0.6<br />
0.4<br />
0.2<br />
0<br />
Ι F<br />
1<br />
10<br />
A<br />
0<br />
10<br />
-1<br />
10<br />
0,1<br />
0,2<br />
0,5<br />
DC<br />
-2<br />
10 -5<br />
10<br />
D = 0,005<br />
0,01<br />
0,02<br />
0,05<br />
-4 -3<br />
10 10<br />
<strong>SFH</strong> 405<br />
Semiconductor Group 4 1997-11-01<br />
-2<br />
10<br />
τ<br />
T<br />
-1<br />
10<br />
OHR01039<br />
F<br />
D =<br />
τ<br />
T<br />
OHR02183<br />
0<br />
10<br />
τ<br />
OHR01886<br />
0 20 40 60 80 100 120<br />
Ι F<br />
1<br />
10<br />
Max. permissible forward current<br />
I F = f (T A )<br />
Ι F<br />
50<br />
mA<br />
40<br />
30<br />
20<br />
10<br />
0<br />
0<br />
R thJA = 950 K/W<br />
OHR00672<br />
R thJL = 850 K/W<br />
20 40 60 80 ˚C<br />
T<br />
100<br />
A,<br />
TL