Annual Report 2005 - Instytut Systemów Elektronicznych
Annual Report 2005 - Instytut Systemów Elektronicznych
Annual Report 2005 - Instytut Systemów Elektronicznych
You also want an ePaper? Increase the reach of your titles
YUMPU automatically turns print PDFs into web optimized ePapers that Google loves.
INSTITUTE OF ELECTRONIC SYSTEMS - <strong>Annual</strong> <strong>Report</strong> <strong>2005</strong><br />
Properties of the Rate Variability),<br />
Tutor: Jacek Dusza Ph.D.<br />
Grade: 5<br />
[M.Sc.39] Zeszczynski Cezary: in Polish –<br />
Elektroniczne pomiary parametrów lisci w<br />
ustalaniu optymalnych warunków irygacji,<br />
(Leaf Parameters Electronic Measurements<br />
for Optimization of Irygation Conditions),<br />
Tutor: Professor Ryszard Jachowicz<br />
Grade: 5<br />
5.4. B.Sc. Degrees<br />
[B.Sc.1] Bienkowski Krzysztof: in Polish –<br />
Biometryka jako podstawa metod<br />
uwierzytelniania, (Biometrics as a Basis of<br />
Authentications Methods),<br />
Tutor: Ryszard Kossowski Ph.D.<br />
Grade: 3<br />
[B.Sc.2] Boguski Piotr: in Polish – Analizator zmian<br />
obrzekowych sluzówki nosa w pomiarach<br />
rynometria akustyczna, (Analyser of<br />
Oedemic Changes of Nasal Mucosa in<br />
Measurements using Acoustic<br />
Rhymometry),<br />
Tutor: Antoni Grzanka D.Sc.<br />
Grade: 4<br />
[B.Sc.3] Chojnowski Pawel: in Polish –<br />
Metrologiczne<br />
zastosowania<br />
swiatlowodowych siatek Bragg’a, (Sensor<br />
Applications of a Fiber Bragg Gratings),<br />
Tutor: Kazimierz Jedrzejewski Ph.D.<br />
Grade: 4<br />
[B.Sc.4] Czachor Krzysztof: in Polish – Badanie<br />
zjawiska fotoczulosci w materialach<br />
szklanych, (Investigation of the<br />
Photosensitivity Phenomena in the New<br />
Optical Glass Materials),<br />
Tutor: Kazimierz Jedrzejewski Ph.D.<br />
Grade: 4<br />
[B.Sc.5] Danielak Piotr: in Polish – Przestrajane<br />
generatory sygnalów ortogonalnych w<br />
zakresie mikrofal, (Tunable Microwave<br />
Orthogonal Signal Generators)<br />
Tutor: Zbigniew Nosal Ph.D.<br />
Grade: 5<br />
[B.Sc.6] Fronczyk Lukasz: in Polish –<br />
Oprogramowanie<br />
rejestratora<br />
pikosekundowych przebiegów sygnalów<br />
elektrycznych, (Control Software for<br />
Subnanosecond Signals Waveform<br />
Recorder),<br />
Tutor: Tomasz Starecki Ph.D.<br />
Grade: 5<br />
[B.Sc.7] Golunski Marcel: in Polish – Inteligentne<br />
boty w srodowiskach wirtualnych,<br />
(Intelligent Bots in Virtual Environments),<br />
Tutor: Piotr Wasiewicz Ph.D.<br />
Grade: 4<br />
[B.Sc.8] Graczyk Rafal: in Polish – Implenentacja<br />
magistrali CAN w kontekscie prac nad<br />
satelita ESEO, (CAN Bus Implementation<br />
in ESEO Satellite Development Context),<br />
Tutor: Jacek Misiurewicz Ph.D.<br />
Grade: 5<br />
[B.Sc.9] Jedryka Marcin: in Polish – Analiza i<br />
identyfikacja linii papilarnych, (Analysis<br />
and Identification of Finger Prints),<br />
Tutor: Zbigniew Wawrzyniak Ph.D.<br />
Grade: 4<br />
[B.Sc.10] Kepka Piotr: in Polish – Radiowe lacze<br />
cyfrowe o zasiegu lokalnym, (Local Area<br />
Digital Radio Line),<br />
Tutor: Aleksander Burd Ph.D.<br />
Grade: 4<br />
[B.Sc.11] Kwiatkowski Maciej: in Polish –<br />
Internetowy system pomiarowy. Warstwa<br />
komunikacji RPC oraz interfejs sprzetowego<br />
akceleratora kryptograficznego dla<br />
internetowego systemu sterowania i<br />
akwizycji danych opartego o ealizin<br />
wbudowany Embedded PC, (RPC<br />
Communication Layer and Introduction to<br />
Data Protection for Embedded PC based<br />
Control and Data Acquisition Module),<br />
Tutor: Professor Ryszard Romaniuk<br />
Grade: 4<br />
[B.Sc.12] Lopaciuk Andrzej: in Polish –<br />
Programowe moduly wskaznika<br />
radarowego, (Software Modules of Radar<br />
Indicator),<br />
Tutor: Krzysztof Kulpa Ph.D.<br />
Grade: 5<br />
[B.Sc.13] Lopaciuk Przemyslaw: in Polish –<br />
Adaptacyjny wieloagentowy system<br />
nauczania na odleglosc, (Adaptive<br />
Multiagent Distance Learning System),<br />
Tutor: Professor Jan Mulawka<br />
Grade: 3,5<br />
[B.Sc.14] Malinowski Rafal: in Polish –<br />
Rozproszone systemy pomiarowe,<br />
- 48 -