Patents - Leibniz Institute for Solid State and Materials Research ...

Institute for Metallic Materials
Prof. P. Fazekas, Budapest The electrical and magnetic properties of BaVS 3, Jan. 6, 2000
Dr. Birgit Skrotzki, Bochum Experimentelle und analytische Untersuchungen zum
Kriechen im Duplex near-gamma Titanaluminiden,
Jan. 13, 2000
PD Dr. Ulrich Geyer, Göttingen Wachstum, innere Spannungen und Kristallisation von
amorphen Metallschichten Jan. 27, 2000
Prof. Detlef Löhe, Karlsruhe Verhalten einer karbid- und mischkristallgehärteten
Nickelbasis-Superlegierung unter thermisch-mechanischer
Ermüdungsbeanspruchung Feb. 2, 2000
Prof. Günter Lange, Braunschweig Werkstoffkundliche Schadensanalyse Mar. 16, 2000
Dr. E. Scheer, Karlsruhe Elektronischer Transport durch Ein-Atom-Kontakte
Apr. 18, 2000
Prof. Dr. G.M. Kalvius, München The magnetic properties of crystalline and nanocrystalline
Zinc-ferrite studied by µSR, the Mössbauer effect and
neutron diffraction May 3, 2000
Dr. B. Kabius, Oberkochen Anwendungen der Cs-Korrektur und der Energiefilterung
in den MaterialwissenschaftenMay 9, 2000
Prof. Dr. B. Friedrich, Aachen Titan (vom Erz zur Legierung) May 16, 2000
Prof. Dr. G. Pusch, Freiberg Bruchmechanische Werkstoff- und Bauteilbewertung –
Anwendungsbeispiele Jun. 22, 2000
Prof. J. Vereecken, Brussel Surface engineering of aluminum alloys Jul. 4, 2000
PD Dr. Hans J. Hug, Basel Studium von Struktur, Magnetismus und Supraleitung
mittels Rasterkraftmikroskopiemethoden Nov. 2, 2000
Prof. Dagmar Gerthsen, Karlsruhe Analyse von Spannungsfeldern in partikelverstärktem
Aluminium mit der konvergenten Elektronenbeugung
im Transmissionselektronenmikroskop Nov. 23, 2000
Prof. Emilio Ramous, Padua Phases and microstructures induced by rapid solidification
Dec. 7, 2000
Institute for Solid State Analysis and Structural Research
Prof. F. Mücklich, Saarbrücken Maßgeschneiderte Gefüge und deren Quantifizierung
Jan.14, 2000
PD Dr. P. F. Schmidt, Münster Moderne Entwicklungen
in der Rasterelektronenmikroskopie, Feb. 4, 2000
Dr. A. von Glasow, München Migration in Metallisierungen und Zuverlässigkeit in ULSI-
Schaltkreisen, Feb. 25, 2000
Prof. Dr. Gotthard Seifert, Paderborn Computersimulationen von Nanostrukturen Mar. 24, 2000
Dr. R. Dorka, Dresden Neue Entwicklungen in der Glimmentladungs-Spektrometrie
Apr. 7, 2000
Dr. Peter Werner, Halle TEM-Untersuchungen an quantum dots Apr. 28, 2000
Dr. H.-J. Engelmann, Dresden Abbildende und analytische TEM für die Charakterisierung
mikroelektronischer Bauelemente May 5, 2000
Dr. Andreas Graff, Dresden Analyse von Kohlenstoff-Nanostrukturen mittels TEM
Jun. 6, 2000
Dr. Daniel Herein Beeinflussung der Realstruktur von Festkörpern
durch Gasdiffusion Jun. 23, 2000
PD Dr. Peter F. Schmidt, Münster Moderne Entwicklungen in der Rasterelektronenmikroskopie
Jul. 14, 2000
Dr. N. Lazarev, Kharkov A model of homogeneous slide in bulk amorphous metallic
alloys Oct. 13, 2000
Dr. H. Ehrenberg, Darmstadt Kristallstrukturbestimmung aus Röntgenpulverdiagrammen
Nov. 3, 2000
Dr. J. Ziebro, Szczecin Interactions between carbon oxides and iron catalysts
for ammonia synthesis Nov. 17, 2000
Dr. T. Gemming, Dresden Struktur von Korngrenzen bei atomarer Auflösung Dec. 1, 2000
Dr. G. Gille, Goslar Pulver als Prekursoren für Werkstoffe und elektronische
Bauelemente Dec.15, 2000
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