Litteiden näyttöjen mittausproseduurien kehittäminen - HTML

More documents

Recommendations

Info

LS Low state MATL Microvision automatic test language MIM Metal-insulator-metal MLA Multiple line addressing MTF Modulation transfer function MVA Multidomain vertical alignment OLED Organic light-emitting diode PALC Plasma-addressed liquid crystal PDP Plasma display panel PLED Polymer light-emitting diode RTM Response time module SBM Suite of basic measurements SFS Suomen Standardisoimisliitto SML Small light source SMLED Small molecule light-emitting diode STN LCD Super twisted nematic liquid crystal display TFEL Thin-film electroluminescent TFT Thin-film transistor UCS Uniform colour scale VA Vertical alignment VESA Video Electronics Standard Association VFD Vacuum fuorescent display VGA Video graphics array xii
1 JOHDANTO Viime vuosien aikana ihmiset ovat tottuneet kuljettamaan mukanaan matkapuhelinta. Muutaman vuoden kuluessa jokaisella odotetaan olevan mukanaan laite, jossa yhdistyy matkapuhelimen, kämmentietokoneen ja navigointilaitteen ominaisuuksia. Tällöin myös laitteen näytön tulee olla tarpeeksi laadukas monipuolisen informaation esittämiseen eli näytön tulee olla terävä, tarkka, kirkas, täysvärinen, sään- ja iskunkestävä sekä energian kulutukseltaan pieni. Ja tietysti näytön tulee olla myös halpa. Tässä työssä kehitetään mittausmenetelmiä, joilla voidaan karakterisoida erityyppisiä näyttöjä. Kehityksen kohteena on Viestintätekniikan laboratorion mittalaite Microvision SS230. Mittalaitteella on mahdollista suorittaa luminanssi-, värillisyys-, spatiaali- ja temporaalimittauksia. Se sisältää kattavasti valmistajan tekemiä toimistonäytöille tarkoitettuja mittausproseduureja, joiden on kuitenkin havaittu olevan puutteellisia. Lisäksi näyttöjä, joita ei voida ohjata VGA-liitännällä, ei pystytä mittaamaan ilman erikoisjärjestelyjä. Mittalaite tarjoaa joustavan kehitysympäristön omien mittausproseduurien tekemiseen. Mittausproseduureja voidaan ohjelmoida C-kieleen perustuvalla MATL-ohjelmointikielellä (Microvision automatic test language). Graafinen käyttöliittymä toimii MS Windows 98 -ympäristössä, mikä mahdollistaa joustavan mittaustulosten käsittelyn muissa sovelluksissa kuten MS Excelissä, Adobe Photoshopissa ja Matlabissa. Perinteisille katodisädeputkitekniikkaan perustuville toimistonäytöille on laadittu kansainvälisiä ergonomiastandardeja, joilla on pyritty luomaan selkeät mittausmenetelmät näyttöjen keskinäisen vertailun mahdollistamiseksi. Nämä standardit eivät kuitenkaan karakterisoi riittävästi litteitä näyttöjä, joiden toimintaperiaate poikkeaa katodisädeputkitekniikasta. Tämän vuoksi on laadittu uusia ergonomiamittausstandardeja litteille näytöille. Näistä tärkeimmät ovat tällä hetkellä ISO 13406 ja VESA FPDM. Tämän työn tavoitteena on perehtyä näihin kahteen standardiin ja suorittaa standardeissa esitetyt monimutkaiset mittausproseduurit. Lisäksi laaditaan pienille litteille näytöille suunnattuja mittausmenetelmiä, joilla voidaan karakterisoida niiden erityispiirteitä. Työn kokeellisessa osassa suoritetaan erityyppisten näyttöjen karakterisointia. Mittauksia tehdään litteille toimistonäytöille, jotta saadaan selville mittalaitteen toimintavarmuus ja mittauksien toistettavuus. Tämä antaa pohjan pienten litteiden näyttöjen mittauksille. Lisäksi kehitetään raportointimenetelmiä, joilla voidaan helposti ja nopeasti jalostaa mittaustuloksia havainnolliseen muotoon. Mittauksiin valittiin vain litteitä värimatriisinäyttöjä. Litteä värimatriisinäyttö tarkoittaa tietojen esittämiseen tarkoitettua näyttöpintaa, joka koostuu säännöllisestä matriisista kuvapisteitä. Katodisädetekniikalla toteutetut näytöt eivät täytä tätä vaatimusta, koska kuvapisteiden sijainti kuvaputken pinnalla ei ole kiinteä. Lisäksi mittaukseen otettavilta näytöiltä vaadittiin täyttä värillisyyttä. Täydellä värillisyydellä tarkoitetaan sitä, että näyttö pystyy toistamaan kaikki päävärit useilla voimakkuuksilla ja näin muodostamaan ihmisen näköjärjestelmän havaitsemat värisävyt rajatulla tarkkuudella. 1
Page 1 and 2: TEKNILLINEN KORKEAKOULU Sähkö- ja
Page 3 and 4: HELSINKI UNIVERSITY OF TECHNOLOGY A
Page 5 and 6: SISÄLLYSLUETTELO Tiivistelmä Alku
Page 7 and 8: SYMBOLI- JA TERMILUETTELO λ aallon
Page 9 and 10: Anisotrooppinen näyttö, (anisotro
Page 11 and 12: Lambertin laki, (Lambert’s law) J
Page 13 and 14: Resoluutio, (resolution) Mitta sill
Page 15: LYHENTEET AFOV Angular field of vie
Page 19 and 20: 2 LITTEÄT NÄYTÖT 2.1 Yleistä T
Page 21 and 22: kuinka monta prosenttia näytön ak
Page 23 and 24: kulmalle. Muita tekniikan etuja ova
Page 25 and 26: valo polarisaattori nestekiteet pol
Page 27 and 28: ohjauselektrodit S ohjauselektrodit
Page 29 and 30: alkaa kaasu ionisoitua. Ionien pala
Page 31 and 32: valona. Se toimii alle viiden volti
Page 33 and 34: Kuva 8. Poikkileikkauskuva ihmisen
Page 35 and 36: Valaistusvoimakkuus E on pinnalle s
Page 37 and 38: ∫ X = k x( λ)Ls( λ) dλ λ ∫
Page 39 and 40: Näyttöteknisessä tutkimuksessa t
Page 41 and 42: CCT 437 n 3 ⋅ 3601 n 2 = + ⋅ +
Page 43 and 44: Aukkoarvo (f-luku) on mitta aukon k
Page 45 and 46: 11 22 Kuva 14. Mittauskohtien sijai
Page 47 and 48: 180º CL-2 CL-1 Kuva 15. Kuvassa on
Page 49 and 50: H-kirjaimen levyinen tai jos näyt
Page 51 and 52: Diffuusistandardin luminanssikertoi
Page 53 and 54: Jos näytön toimintaperiaatteen pe
Page 55 and 56: 3.3.7 Kromaattisuuden tasaisuuden m
Page 57 and 58: jossa, E s on näytön suunnitteluv
Page 59 and 60: pää on tarkennettu valonlähteen
Page 61 and 62: − Näytön säätöjä ei tule mu
Page 63 and 64: Sovituksen hyvyyttä voidaan arvioi
Page 65 and 66: Neljäs, viides ja kuudes mittaus (
Page 67 and 68:
Elektro-optisessa askelfunktiossa i
Page 69 and 70:
Värillisyyden tasaisuutta arvioida
Page 71 and 72:
nanssi- ja väriarvoon (D65) keskip
Page 73 and 74:
4.2 Kohdistusyksikkö Kohdistusyksi
Page 75 and 76:
jossa, D M on mittausalueen halkais
Page 77 and 78:
4.6 Valonlähde Mittauslaitteiston
Page 79 and 80:
5 MITTAUKSET 5.1 Yleistä Mittauste
Page 81 and 82:
Mittausohjelmiston osalta standardi
Page 83 and 84:
töjen kirkkaus-, kontrasti- ja vä
Page 85 and 86:
jastusstandardista mitattaessa tarv
Page 87 and 88:
Taulukko 15. Testipisteiden määri
Page 89 and 90:
LEs,HS /cd m -2 luminanssi vaatimus
Page 91 and 92:
Pöytänäytöt täyttivät standar
Page 93 and 94:
Taulukko 20. Yhteenveto ISO 13406-2
Page 95 and 96:
oli kuitenkin sama kuin pöytänäy
Page 97 and 98:
Taulukko 21. VESA FPDM:n mukaisesti
Page 99 and 100:
tikkokuvion gamma-arvot olivat selv
Page 101 and 102:
varten. 3851FA:n tulos 39,2 ms taka
Page 103 and 104:
lut määritettiin kaikkien osavär
Page 105 and 106:
tasaisesti. Muiden pöytänäyttöj
Page 107 and 108:
v' 0,6 0,5 0,4 0,3 0,2 0,1 0 CIE 19
Page 109 and 110:
Näyttöjen katselukulman määritt
Page 111 and 112:
toteutettu laitteiston kalibrointia
Page 113 and 114:
ointi tulisi suorittaa kerran vuode
Page 115 and 116:
LÄHDELUETTELO /1/ Agamanolis Stefa
Page 117 and 118:
32/ Halonen Liisa, Lehtovaara Jorma
Page 119 and 120:
66/ Stokes Michael, Anderson Matthe
show all

Litteiden näyttöjen mittausproseduurien kehittäminen - HTML

Create successful ePaper yourself

Delete template?

Save as template?