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5. Modélisation du transistor MOS

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<strong>Modélisation</strong> des sources de bruit<br />

Principalement deux sources de bruit dans un <strong>MOS</strong> :<br />

- le bruit thermique, associé aux porteurs <strong>du</strong> canal,<br />

- le bruit de "flicker", lié aux électrons piégés dans l’interface entre l’oxyde<br />

et le semi-con<strong>du</strong>cteur.<br />

Peuvent être modélisées par des sources de courant (modèles larges et<br />

petits signaux) ou de tension (modèle petits signaux).<br />

D<br />

D<br />

V N+<br />

G<br />

I N<br />

G<br />

S<br />

Ces sources de bruit entraînent des modifications de la<br />

valeur <strong>du</strong> courant de drain<br />

S<br />

Densité spectrale <strong>du</strong> bruit thermique<br />

Le bruit thermique est un bruit blanc (donc constant quelle que soit la<br />

fréquence). Sa densité spectrale (en A 2 /Hz) est donnée par la relation<br />

suivante :<br />

S<br />

IW<br />

⎧4kT<br />

⎪<br />

=<br />

R<br />

⎨<br />

⎪⎪ 8kT.g<br />

⎩ 3<br />

m<br />

Régime ohmique<br />

saturation<br />

k, constante de Boltzman,<br />

T, température en Kelvin,<br />

R, résistance <strong>du</strong> canal en régime ohmique,<br />

g m , transcon<strong>du</strong>ctance <strong>du</strong> <strong>MOS</strong>.

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