D - Sibdi
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a<br />
MICRO ET NANO-<br />
TECHNOLOGIES<br />
Les activités du Leti s’appuient sur un<br />
large socle en micro et nanotechnologies<br />
silicium pour ouvrir de nouvelles possibilités<br />
applicatives dans les secteurs clefs<br />
de la biologie et la santé, des télécoms et<br />
des objets communicants.<br />
Le Leti « labellisé »<br />
En 2006, le Leti (Laboratoire<br />
d’électronique et de technologie de<br />
l’information) a reçu la labellisation<br />
Carnot délivrée par le ministère<br />
délégué à l’Enseignement supérieur<br />
et à la Recherche, permettant<br />
le lancement de plusieurs projets,<br />
retenus pour leur ambition<br />
technologique, leur capacité à<br />
générer une propriété intellectuelle<br />
forte et les perspectives qu’ils<br />
offrent en terme d’applications.<br />
Par ailleurs, le Leti est partenaire<br />
dans cinq des huit projets retenus<br />
en 2006 par l’Agence pour<br />
l’innovation industrielle (A2I).<br />
La microélectronique :<br />
une année intensive<br />
Les recherches en microélectronique<br />
menées au Leti visent selon<br />
trois axes, l’amélioration et la<br />
miniaturisation des dispositifs<br />
CMOS actuels (More Moore), la<br />
maîtrise de nouvelles approches<br />
permettant la fabrication d’objets<br />
nanométriques pour créer les<br />
successeurs aux transistors CMOS<br />
(Beyond CMOS), et l’ajout de<br />
fonctions additionnelles sur la puce<br />
CMOS (More Than Moore). Ces<br />
recherches sont focalisées sur le<br />
développement de substrats innovants,<br />
les matériaux et procédés<br />
et la lithographie ; elles sont soutenues<br />
par une importante activité<br />
de simulation, de modélisation et<br />
de caractérisation physico-chimique<br />
et électrique.<br />
La plate-forme technologique<br />
silicium du Leti offre des niveaux<br />
de qualité et de vitesse d’exécution<br />
au meilleur niveau mondial. Les<br />
nouveaux moyens de nanocaractérisation<br />
de Minatec renforcent<br />
encore le potentiel d’investigation<br />
des équipes de R&D, permettant<br />
par exemple de contrôler au TEM<br />
des wafers 300 mm en cours de<br />
process en moins de 4 heures<br />
(contre 24 auparavant), ou d’étudier<br />
les mécanismes de dégradation de<br />
lignes métal d’interconnexion à<br />
l’échelle du grain métallurgique.<br />
Les activités sont menées de<br />
manière coordonnée en boucle<br />
courte sur les sites du Leti et de<br />
ST Microelectronics à Crolles.<br />
Ainsi dans le cadre du projet<br />
Nanotec 300 sur substrats 300 mm,<br />
le développement des modules<br />
technologiques en avance d’une ou<br />
de deux générations et la validation<br />
de nouveaux concepts de dispositifs<br />
sont conduits au Leti, tandis que le<br />
développement et l’intégration des<br />
filières sont menés sur le site<br />
industriel ST Microelectronics<br />
Crolles 2. Les activités sur substrats<br />
200 mm concernent la validation<br />
des nouveaux substrats et<br />
dispositifs à l’échelle du circuit<br />
simple, ainsi que le développement<br />
des produits de grande diffusion<br />
comme les circuits radiofréquence<br />
et les imageurs visibles.<br />
La mise en place de « tapis<br />
roulants » consistant à produire<br />
des lots à cadence régulière et<br />
resserrée, pour fournir aux<br />
chercheurs des retours d’information<br />
rapides sur des quantités<br />
statistiquement significatives,<br />
a permis d’atteindre des progrès<br />
en termes de productivité globale<br />
et de disponibilité des installations.<br />
Ainsi avoir pu mesurer et quantifier<br />
l’impact des phénomènes les plus<br />
fins, comme les effets de variabilité<br />
de substrats, a permis la réalisation<br />
de lots de transistors NMOS et<br />
PMOS en 4 à 6 semaines.<br />
26<br />
b<br />
FOCUS SUR<br />
DE NOUVEAUX MATÉRIAUX<br />
POUR DES TRANSISTORS<br />
TOUJOURS PLUS PERFORMANTS<br />
Plusieurs matériaux à constante diélectrique<br />
élevée ont été synthétisés et intégrés avec succès<br />
notamment dans des transistors totalement<br />
désertés à grille métallique, pour remplacer<br />
l’oxyde de silicium en tant qu’isolant de grille.<br />
Ils permettent d’obtenir des épaisseurs d’oxyde<br />
équivalentes (EOT) de 1,1 nm tout en maintenant<br />
les performances des transistors au meilleur<br />
niveau. De nouveaux procédés ont été validés<br />
pour trois matériaux à base d’oxydes d’hafnium.<br />
RAPPORT ANNUEL CEA 2006