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D - Sibdi

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a<br />

MICRO ET NANO-<br />

TECHNOLOGIES<br />

Les activités du Leti s’appuient sur un<br />

large socle en micro et nanotechnologies<br />

silicium pour ouvrir de nouvelles possibilités<br />

applicatives dans les secteurs clefs<br />

de la biologie et la santé, des télécoms et<br />

des objets communicants.<br />

Le Leti « labellisé »<br />

En 2006, le Leti (Laboratoire<br />

d’électronique et de technologie de<br />

l’information) a reçu la labellisation<br />

Carnot délivrée par le ministère<br />

délégué à l’Enseignement supérieur<br />

et à la Recherche, permettant<br />

le lancement de plusieurs projets,<br />

retenus pour leur ambition<br />

technologique, leur capacité à<br />

générer une propriété intellectuelle<br />

forte et les perspectives qu’ils<br />

offrent en terme d’applications.<br />

Par ailleurs, le Leti est partenaire<br />

dans cinq des huit projets retenus<br />

en 2006 par l’Agence pour<br />

l’innovation industrielle (A2I).<br />

La microélectronique :<br />

une année intensive<br />

Les recherches en microélectronique<br />

menées au Leti visent selon<br />

trois axes, l’amélioration et la<br />

miniaturisation des dispositifs<br />

CMOS actuels (More Moore), la<br />

maîtrise de nouvelles approches<br />

permettant la fabrication d’objets<br />

nanométriques pour créer les<br />

successeurs aux transistors CMOS<br />

(Beyond CMOS), et l’ajout de<br />

fonctions additionnelles sur la puce<br />

CMOS (More Than Moore). Ces<br />

recherches sont focalisées sur le<br />

développement de substrats innovants,<br />

les matériaux et procédés<br />

et la lithographie ; elles sont soutenues<br />

par une importante activité<br />

de simulation, de modélisation et<br />

de caractérisation physico-chimique<br />

et électrique.<br />

La plate-forme technologique<br />

silicium du Leti offre des niveaux<br />

de qualité et de vitesse d’exécution<br />

au meilleur niveau mondial. Les<br />

nouveaux moyens de nanocaractérisation<br />

de Minatec renforcent<br />

encore le potentiel d’investigation<br />

des équipes de R&D, permettant<br />

par exemple de contrôler au TEM<br />

des wafers 300 mm en cours de<br />

process en moins de 4 heures<br />

(contre 24 auparavant), ou d’étudier<br />

les mécanismes de dégradation de<br />

lignes métal d’interconnexion à<br />

l’échelle du grain métallurgique.<br />

Les activités sont menées de<br />

manière coordonnée en boucle<br />

courte sur les sites du Leti et de<br />

ST Microelectronics à Crolles.<br />

Ainsi dans le cadre du projet<br />

Nanotec 300 sur substrats 300 mm,<br />

le développement des modules<br />

technologiques en avance d’une ou<br />

de deux générations et la validation<br />

de nouveaux concepts de dispositifs<br />

sont conduits au Leti, tandis que le<br />

développement et l’intégration des<br />

filières sont menés sur le site<br />

industriel ST Microelectronics<br />

Crolles 2. Les activités sur substrats<br />

200 mm concernent la validation<br />

des nouveaux substrats et<br />

dispositifs à l’échelle du circuit<br />

simple, ainsi que le développement<br />

des produits de grande diffusion<br />

comme les circuits radiofréquence<br />

et les imageurs visibles.<br />

La mise en place de « tapis<br />

roulants » consistant à produire<br />

des lots à cadence régulière et<br />

resserrée, pour fournir aux<br />

chercheurs des retours d’information<br />

rapides sur des quantités<br />

statistiquement significatives,<br />

a permis d’atteindre des progrès<br />

en termes de productivité globale<br />

et de disponibilité des installations.<br />

Ainsi avoir pu mesurer et quantifier<br />

l’impact des phénomènes les plus<br />

fins, comme les effets de variabilité<br />

de substrats, a permis la réalisation<br />

de lots de transistors NMOS et<br />

PMOS en 4 à 6 semaines.<br />

26<br />

b<br />

FOCUS SUR<br />

DE NOUVEAUX MATÉRIAUX<br />

POUR DES TRANSISTORS<br />

TOUJOURS PLUS PERFORMANTS<br />

Plusieurs matériaux à constante diélectrique<br />

élevée ont été synthétisés et intégrés avec succès<br />

notamment dans des transistors totalement<br />

désertés à grille métallique, pour remplacer<br />

l’oxyde de silicium en tant qu’isolant de grille.<br />

Ils permettent d’obtenir des épaisseurs d’oxyde<br />

équivalentes (EOT) de 1,1 nm tout en maintenant<br />

les performances des transistors au meilleur<br />

niveau. De nouveaux procédés ont été validés<br />

pour trois matériaux à base d’oxydes d’hafnium.<br />

RAPPORT ANNUEL CEA 2006

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