D - Sibdi
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Les premiers transistors NMOS<br />
sur substrat 200 mm germanium<br />
sur isolant (GeOI) ont vu le jour.<br />
Ces résultats au meilleur niveau<br />
mondial démontrent le potentiel<br />
d’amélioration amené par<br />
l’introduction de nouveaux<br />
matériaux dans les filières CMOS<br />
sub 32-22 nm et placent le Leti<br />
parmi les centres d’excellence<br />
de premier plan mondial dans le<br />
domaine des matériaux pour la<br />
nanoélectronique. Cette réalisation<br />
est issue de la collaboration avec<br />
la société Soitec, leader mondial<br />
dans les substrats avancés silicium<br />
sur isolant.<br />
Le Leti a également conçu les<br />
premiers transistors à matrice 3D<br />
de nanofils sur substrats SOI.<br />
Plusieurs canaux de conduction<br />
contrôlés par une grille enrobante<br />
fonctionnent en parallèle, ce qui<br />
autorise des densités de courant<br />
accrues par unité de surface. Cette<br />
architecture originale permettra<br />
aussi d’augmenter la densité<br />
d’intégration des circuits et le<br />
courant débité d’un facteur 5.<br />
Cette réalisation a été sélectionnée<br />
lors de la conférence internationale<br />
d<br />
IEDM qui promeut les initiatives<br />
les plus innovantes en nanoélectronique.<br />
Les nanotechnologies<br />
Un grand nombre de recherches<br />
s’intéresse aux possibilités<br />
d’innovation offertes par les<br />
nanotechnologies dans les<br />
secteurs de l’information et de<br />
la communication, de l’énergie,<br />
de la sécurité ou de la santé.<br />
Les programmes au sein du<br />
CEA recouvrent à la fois les<br />
nanosciences (au sein de la<br />
Direction des sciences de la<br />
matière), et les nanotechnologies<br />
(au sein de la Direction de la<br />
recherche technologique)<br />
assurant le lien indispensable<br />
entre la recherche fondamentale<br />
et la recherche appliquée.<br />
L’année 2006 a été marquée<br />
par la réalisation de réseaux de<br />
lignes de 32 nm - espacées de<br />
32 nm en lithographie optique UV<br />
à 193 nm en mode immersion<br />
obtenus sur un interféromètre<br />
à double étage de réseaux de<br />
diffraction développé au Leti.<br />
En faveur de l’innovation<br />
industrielle, le CEA<br />
dispose d’une recherche<br />
technologique de haut<br />
niveau dans le domaine des<br />
micro et nanotechnologies,<br />
des télécoms et des objets<br />
communicants<br />
Ces résultats à l’état de l’art<br />
témoignent de l’expertise apportée<br />
par le Leti à ST Microelectronics<br />
et ses partenaires de l’Alliance<br />
pour le développement de la<br />
lithographie par immersion pour<br />
les nœuds technologiques<br />
45 nm et en dessous.<br />
c<br />
Le Leti a également lancé, en<br />
collaboration avec la société<br />
Soitec, NanoSmart, centre<br />
d’excellence pour les matériaux<br />
avancés, pour développer de<br />
nouvelles générations de substrats<br />
silicium sur isolant à fort contenu<br />
innovant ; les substrats devenant<br />
un enjeu croissant pour les<br />
nouvelles générations de circuits<br />
intégrés, à la fois pour accroître<br />
les performances des circuits<br />
et diminuer leur consommation,<br />
mais aussi pour ajouter des<br />
fonctions au-dessus des circuits.<br />
a. Vue d’une<br />
plaquette avec un<br />
nouveau matériau,<br />
le GeOI.<br />
b. Électronique de<br />
pilotage et baie de<br />
caractérisation des<br />
imageurs infrarouge.<br />
c. Observation<br />
d’un masque pour la<br />
lithographie optique.<br />
d. Imagerie de nanomatériaux.<br />
RAPPORT ANNUEL CEA 2006<br />
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