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D - Sibdi

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Les premiers transistors NMOS<br />

sur substrat 200 mm germanium<br />

sur isolant (GeOI) ont vu le jour.<br />

Ces résultats au meilleur niveau<br />

mondial démontrent le potentiel<br />

d’amélioration amené par<br />

l’introduction de nouveaux<br />

matériaux dans les filières CMOS<br />

sub 32-22 nm et placent le Leti<br />

parmi les centres d’excellence<br />

de premier plan mondial dans le<br />

domaine des matériaux pour la<br />

nanoélectronique. Cette réalisation<br />

est issue de la collaboration avec<br />

la société Soitec, leader mondial<br />

dans les substrats avancés silicium<br />

sur isolant.<br />

Le Leti a également conçu les<br />

premiers transistors à matrice 3D<br />

de nanofils sur substrats SOI.<br />

Plusieurs canaux de conduction<br />

contrôlés par une grille enrobante<br />

fonctionnent en parallèle, ce qui<br />

autorise des densités de courant<br />

accrues par unité de surface. Cette<br />

architecture originale permettra<br />

aussi d’augmenter la densité<br />

d’intégration des circuits et le<br />

courant débité d’un facteur 5.<br />

Cette réalisation a été sélectionnée<br />

lors de la conférence internationale<br />

d<br />

IEDM qui promeut les initiatives<br />

les plus innovantes en nanoélectronique.<br />

Les nanotechnologies<br />

Un grand nombre de recherches<br />

s’intéresse aux possibilités<br />

d’innovation offertes par les<br />

nanotechnologies dans les<br />

secteurs de l’information et de<br />

la communication, de l’énergie,<br />

de la sécurité ou de la santé.<br />

Les programmes au sein du<br />

CEA recouvrent à la fois les<br />

nanosciences (au sein de la<br />

Direction des sciences de la<br />

matière), et les nanotechnologies<br />

(au sein de la Direction de la<br />

recherche technologique)<br />

assurant le lien indispensable<br />

entre la recherche fondamentale<br />

et la recherche appliquée.<br />

L’année 2006 a été marquée<br />

par la réalisation de réseaux de<br />

lignes de 32 nm - espacées de<br />

32 nm en lithographie optique UV<br />

à 193 nm en mode immersion<br />

obtenus sur un interféromètre<br />

à double étage de réseaux de<br />

diffraction développé au Leti.<br />

En faveur de l’innovation<br />

industrielle, le CEA<br />

dispose d’une recherche<br />

technologique de haut<br />

niveau dans le domaine des<br />

micro et nanotechnologies,<br />

des télécoms et des objets<br />

communicants<br />

Ces résultats à l’état de l’art<br />

témoignent de l’expertise apportée<br />

par le Leti à ST Microelectronics<br />

et ses partenaires de l’Alliance<br />

pour le développement de la<br />

lithographie par immersion pour<br />

les nœuds technologiques<br />

45 nm et en dessous.<br />

c<br />

Le Leti a également lancé, en<br />

collaboration avec la société<br />

Soitec, NanoSmart, centre<br />

d’excellence pour les matériaux<br />

avancés, pour développer de<br />

nouvelles générations de substrats<br />

silicium sur isolant à fort contenu<br />

innovant ; les substrats devenant<br />

un enjeu croissant pour les<br />

nouvelles générations de circuits<br />

intégrés, à la fois pour accroître<br />

les performances des circuits<br />

et diminuer leur consommation,<br />

mais aussi pour ajouter des<br />

fonctions au-dessus des circuits.<br />

a. Vue d’une<br />

plaquette avec un<br />

nouveau matériau,<br />

le GeOI.<br />

b. Électronique de<br />

pilotage et baie de<br />

caractérisation des<br />

imageurs infrarouge.<br />

c. Observation<br />

d’un masque pour la<br />

lithographie optique.<br />

d. Imagerie de nanomatériaux.<br />

RAPPORT ANNUEL CEA 2006<br />

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