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$Influence des paramètres moléculaires du latex sur l ... - Pastel$

ANNEXES 180 ε = n. ε. n ' = ε sin ψ cos φ + ε sin ψ sin φ + ε cos ψ φψ 2 2 2 2 2 11 22 33 + ε sin ψ sin 2φ + ε sin 2ψ sinφ + ε sin 2ψ cosφ 2 12 23 13 1+ υ ε = σ φψ E φ + σ φ + σ υ φ − σ E + σ 1+ υ 2 υ 1 2 = σ sin ψ − Tr ( σ ) = S σ sin ψ + S Tr φ 2 φ 1 ( σ ) E E 2 2 2 ( cos sin 2 sin 11 12 22 ) ( 11 22 ) σ σ 3 =0 =0, ε 3 σ ε 1 , 1 φ ψ ε φψ σ 2 σ φ ε φ, π/2 Fig. A.127 – Définition du repère de mesure et des angles φ et ψ ε 2 , (A.5) (A.6) φ Ainsi, l’angle 2θ peut être donné en fonction des valeurs moyennes des contraintesσ φψ ij et des constantes d’élasticités radiocristallographiques (S1)hkl et ½(S2)hkl. La représentation de 2 φψ 2 θ en fonction de sin ψ donne une droite dans le cas d’un état de contrainte biaxial et une ellipse dans le cas d’un état de contrainte triaxial. La pente de cette courbe est proportionnelle àσ et l’ouverture de l’ellipse donne une information ϕ φ sur la valeur σ . 13 ε 2φψ θ φψ Fig. A.128 – Loi des sin²ψ Le pic de diffraction permettant d’analyser l’état de contrainte dans un matériau donné donne aussi des informations sur l’état de l’écrouissage de celui-ci. En effet, la largeur du pic de diffraction permet de caractériser le taux d’écrouissage du matériau lorsque celui-ci a subi des déformations mécaniques ou thermiques. De plus, cette largeur est d’autant plus grande que les déformations locales dans le matériau sont hétérogènes. 4. Méthode d’analyse des contraintes résiduelles par diffraction des rayons X Il existe un certain nombre de méthodes pour la détermination des contraintes résiduelles comme la méthode du trou incrémental, la diffraction des rayons X, les ultrasons. Le CER de l’ENSAM d’Angers dispose d’un appareil PROTO XRD (Fig. A.129 et Fig. A.130) qui est un diffractomètre portable. 1 S 2 2σ φ 2 sin ψ
Fig. A.129 – Appareil d’analyse de diffraction des rayons X (PROTO) du CER ENSAM d’Angers Fig. A.130 – Diffractomètre à rayon X utilisé pour l’analyse des contraintes résiduelles ANNEXES La profondeur de pénétration des rayons X étant très faible (de l’ordre de 20 µm), les contraintes calculées sont représentatives des contraintes moyennes sur l’épaisseur d’une couche surfacique de faible épaisseur. Les contraintes sont étudiées selon deux directions (Fig. A.131). La largeur de corde de diffraction (appelé aussi largeur de raie) est analysée. Elle nous renseigne sur le niveau d’écrouissage du matériau. RX Direction circonférentielle Direction axiale Fig. A.131 – Direction d’analyse de contraintes résiduelles. Les paramètres associés à l’analyse de ces contraintes résiduelles sont donnés dans le Tab. A.33: Matériau Collimateur Longueur d’onde Radiation Angle de Bragg 2θ (hkl) Constantes élastiques (mm) (nm) ( 0 ) ½ S2 (MPa -1 ) -S1 (MPa -1 100Cr6 1 x 5 et 1 0.2291 Cr_Kα 156 211 5.92x10 ) -6 1.28 x10 -6 Ti-6Al-4V 1 x 5 1.5418 Cu 142 213 11.89x10 -6 -2.83x10 -6 Tab. A.33 – Paramètres utilisés pour l’analyse des contraintes résiduelles. Le tube générateur de rayons X utilisé pour le 100Cr6 et l’alliage de titane Ti-6Al-4V est constitué respectivement d'une anode en Cr (la tension utilisée est de 20 kV pour une intensité de 4 mA) et d’une anode en Cu (25kV, 4mA). 181
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Ecole doctorale n° 432 : Sciences
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6. CONCLUSION : CHAPITRE III : UN M
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CHAPITRE IV : USINAGE ASSISTE LASER
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