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PROPRIEDADES ELÉTRICAS DO Al 2 O 3 :Nd<br />

Eduardo dos Santos Ferreira 1 , Sonia Hatsue Tatumi 2 , Alexandre Ventieri 2 e Katia Alessandra Gonçalves 2<br />

1 Universidade Federal do ABC<br />

2 Faculdade de Tecnologia de São Paulo<br />

eduardo.ferreira@ufabc.edu.br, sonia.tatumi@gmail.com<br />

Resumo<br />

No presente trabalho, alumina dopada com Nd foi<br />

sinterizada pelo método da calcinação polimérica.<br />

Através da análise de impedância verificou-se que o<br />

processo de condução do material mudou do contorno<br />

do grão para o interior do grão, formando mais dipolos<br />

elétricos, devido à presença do Nd. Altas constantes<br />

dielétricas foram observadas para todas as amostras<br />

dopadas com Nd. A amostra dopada com 5 mol% de Nd<br />

apresentou o menor tempo de relaxação, indicando ser a<br />

melhor escolha para um estudo mais aprofundado para a<br />

construção de um sensor capacitivo de radiação.<br />

1. Introdução<br />

Materiais cerâmicos possuem uma estrutura<br />

policristalina complexa de micro e nano partículas, que<br />

definem suas propriedades físicas [1,2]. Controlando a<br />

concentração de reagentes e os processos de produção,<br />

podemos obter as mais variadas composições<br />

estruturais. Deste modo através do controle cuidadoso<br />

dos processos produtivos podem-se obter materiais com<br />

propriedades físicas específicas, como por exemplo,<br />

rigidez dielétrica, condutividade, fotoluminescência e<br />

termoluminescência. Estas propriedades podem ser<br />

alteradas pela presença de nanoestruturas compostas de<br />

impurezas adicionadas durante o processo de<br />

sinterização. Atualmente, esforços têm sido realizados<br />

para compreender a formação de nanoestruturas dentro<br />

de materiais cerâmicos e as propriedades físicoquímicas<br />

oriundas deste processo [3-7].<br />

Dentro deste contexto, a alumina é o material com<br />

maior potencial para ser utilizado em várias aplicações<br />

tecnológicas, devido a sua abundancia e suas excelentes<br />

propriedades térmicas e elétricas. Exemplos básicos do<br />

uso da alumina são os dielétricos em capacitores,<br />

materiais refratários e abrasivos industriais e em<br />

implantes médicos [8].<br />

As propriedades dielétricas dos materiais dependem<br />

diretamente do número de dipolos elétricos presentes no<br />

material e de sua polarização. Este número está<br />

relacionado com a microestrutura do material, seus<br />

defeitos e a presença de impurezas. Por exemplo, um<br />

sensor de raios-X interage com a radiação e<br />

consequentemente alguns estados excitados são criados<br />

dentro da estrutura de bandas de energia do material,<br />

alterando a sua polarização dielétrica.<br />

Sabe-se que a capacitância muda devido a exposição<br />

a agentes físicos e químicos, e desta forma, neste<br />

trabalho apresentamos o estudo da alumina dopada com<br />

Nd como sensor dosimetrico capacitivo.<br />

2. Experimental<br />

Alumina pura e dopada com Nd foi sinterizada pelo<br />

processo de calcinação por precursor polimérico. O<br />

primeiro passo é obter um composto de poliéster onde<br />

cátions de alumina estão ligados a cadeia polimérica. O<br />

poliéster é obtido através da reação química entre o<br />

ácido cítrico e etilenoglicol na presença de nitrato de<br />

alumina, esta última é a fonte de átomos de alumina.<br />

Após este processo, o poliéster já dopado é queimado a<br />

uma temperatura de 1100 o C, com o objetivo de obter<br />

alumina. Os átomos de Nd são adicionados na forma de<br />

óxido, que se reduz na presença de ácido nítrico. O<br />

método de calcinação polimérica permite a produção de<br />

um material muito homogêneo e de alta pureza, visto<br />

que os subprodutos da reação são eliminados no<br />

processo de calcinação, na forma de produtos gasosos<br />

[9-12]. Após estes processos o pó de alumina é prensado<br />

em pastilhas de 10mm de diâmetro, com uma prensa de<br />

1000 kgf de pressão.<br />

A caracterização elétrica das amostras consiste na<br />

extração da curva de impedância (Z) e ângulo de fase<br />

(θ) em função da frequência (f). A faixa de frequência<br />

utilizada foi de 100Hz a 15MHz. A partir destes valores<br />

o equipamento determina a capacitância (C p ) e a<br />

resistência paralela (R p ) das amostras. A partir destes<br />

valores foram calculadas a parte real e imaginária da<br />

constante dielétrica (ε e ε' respectivamente), usando as<br />

equações 1 e 2 [8]:<br />

<br />

t C<br />

A<br />

P<br />

' <br />

(1)<br />

o<br />

t<br />

' 2 f R P<br />

A<br />

' (2)<br />

onde o é a constante dielétrica no vácuo (8,85x10 -12<br />

F/m), A é a área dos eletrodos (19,63x10 -6 m 2 ), t é a<br />

espessura das amostras e f a frequência (Hz). A<br />

espessura das amostras é determinada através do<br />

micrômetro acoplado a ponta de prova para medidas<br />

dielétricas (Agilent 16451B).<br />

Após a obtenção da parte real e imaginária da<br />

constante dielétrica do material é construído um gráfico<br />

de ε' por ε'', ou diagrama de Cole-Cole. A partir deste<br />

diagrama é calculado o tempo de relaxação do material<br />

o


e o número de dipolos elétricos (polarização), através da<br />

equação de Debye [8]:<br />

<br />

<br />

S<br />

<br />

<br />

1<br />

j<br />

(3)<br />

' j'<br />

'<br />

onde<br />

é a contante dielétrica complexa, τ é<br />

o tempo de relaxação, ω é a frequência angular, ε S é a<br />

constante dielétrica em corrente continua e ε é a<br />

constante dielétrica em frequência infinita.<br />

O valor do tempo de relaxação é determinado a<br />

partir do centro do semicírculo de Cole-Cole,<br />

considerando que nesta condição:<br />

τ =1<br />

(4)<br />

ou<br />

2<br />

<br />

1<br />

f (5)<br />

C<br />

onde f C é a frequência correspondente ao centro do<br />

semicírculo.<br />

3. Resultados e Discussões<br />

A Figura 1 exibe o resultado da análise de<br />

impedância. A interseção do semicírculo à direita<br />

corresponde a ε e a interseção a esquerda corresponde<br />

a ε S . Os semicírculos obtidos são achatados e<br />

descentralizados, indicando a presença de dois<br />

fenômenos, um em altas frequências e outro em baixas<br />

frequências. Em altas frequências a condução ocorre<br />

dentro dos grãos e entre os grãos, e em baixas<br />

frequências a condução é através dos contornos de grão.<br />

Na alumina dopada a condução prevalece através dos<br />

contornos de grão, conforme a dopagem de Nd aumenta<br />

a condução passa a ser dentro dos grãos e entre os grãos,<br />

isto é o Nd aumenta a resistividade do contorno de grão.<br />

Figura 1 – Diagrama de Cole-Cole das amostras, os<br />

eixos x e y correspondem ε' por ε'' respectivamente.<br />

Tabela I: Momentos de dipolo por unidade de volume,<br />

tempo de relaxação e frequência onde ocorre o centro<br />

do semicírculo.<br />

Amostra<br />

Al 2 O 3 :Nd<br />

f C<br />

(Hz)<br />

τ<br />

(μs)<br />

P<br />

(nC/m 3 )<br />

0% 12.599 12,63 25<br />

5% 143.847 1,11 29<br />

10% 87.598 1,82 33<br />

4. Conclusões<br />

Verificamos que o processo de condução do material<br />

mudou do contorno do grão para o interior do grão. A<br />

introdução do Nd aumentou o número de dipolos<br />

elétricos e reduziu o tempo de relaxação do material.<br />

Dentre as amostras, a dopada com 5 mol% de Nd<br />

apresentou o menor tempo de relaxação, sugerindo que<br />

esta pode ser vir a ser a melhor escolha para o<br />

desenvolvimento de um sensor radioativo por<br />

capacitância.<br />

Agradecimentos<br />

Os autores agradecem à FAPESP e ao CNPq pelo<br />

apoio financeiro e pelas bolsas concedidas.<br />

Referências Bibliográficas<br />

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Institute of Physics Publishing, London, 2003.<br />

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2001.<br />

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(2003), 11-21.<br />

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nanostructured aluminium oxide. Physics Procedia,<br />

2, 2, 501-514, 2009.

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