MODELO PARA RESUMO EXPANDIDO
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PROPRIEDADES ELÉTRICAS DO Al 2 O 3 :Nd<br />
Eduardo dos Santos Ferreira 1 , Sonia Hatsue Tatumi 2 , Alexandre Ventieri 2 e Katia Alessandra Gonçalves 2<br />
1 Universidade Federal do ABC<br />
2 Faculdade de Tecnologia de São Paulo<br />
eduardo.ferreira@ufabc.edu.br, sonia.tatumi@gmail.com<br />
Resumo<br />
No presente trabalho, alumina dopada com Nd foi<br />
sinterizada pelo método da calcinação polimérica.<br />
Através da análise de impedância verificou-se que o<br />
processo de condução do material mudou do contorno<br />
do grão para o interior do grão, formando mais dipolos<br />
elétricos, devido à presença do Nd. Altas constantes<br />
dielétricas foram observadas para todas as amostras<br />
dopadas com Nd. A amostra dopada com 5 mol% de Nd<br />
apresentou o menor tempo de relaxação, indicando ser a<br />
melhor escolha para um estudo mais aprofundado para a<br />
construção de um sensor capacitivo de radiação.<br />
1. Introdução<br />
Materiais cerâmicos possuem uma estrutura<br />
policristalina complexa de micro e nano partículas, que<br />
definem suas propriedades físicas [1,2]. Controlando a<br />
concentração de reagentes e os processos de produção,<br />
podemos obter as mais variadas composições<br />
estruturais. Deste modo através do controle cuidadoso<br />
dos processos produtivos podem-se obter materiais com<br />
propriedades físicas específicas, como por exemplo,<br />
rigidez dielétrica, condutividade, fotoluminescência e<br />
termoluminescência. Estas propriedades podem ser<br />
alteradas pela presença de nanoestruturas compostas de<br />
impurezas adicionadas durante o processo de<br />
sinterização. Atualmente, esforços têm sido realizados<br />
para compreender a formação de nanoestruturas dentro<br />
de materiais cerâmicos e as propriedades físicoquímicas<br />
oriundas deste processo [3-7].<br />
Dentro deste contexto, a alumina é o material com<br />
maior potencial para ser utilizado em várias aplicações<br />
tecnológicas, devido a sua abundancia e suas excelentes<br />
propriedades térmicas e elétricas. Exemplos básicos do<br />
uso da alumina são os dielétricos em capacitores,<br />
materiais refratários e abrasivos industriais e em<br />
implantes médicos [8].<br />
As propriedades dielétricas dos materiais dependem<br />
diretamente do número de dipolos elétricos presentes no<br />
material e de sua polarização. Este número está<br />
relacionado com a microestrutura do material, seus<br />
defeitos e a presença de impurezas. Por exemplo, um<br />
sensor de raios-X interage com a radiação e<br />
consequentemente alguns estados excitados são criados<br />
dentro da estrutura de bandas de energia do material,<br />
alterando a sua polarização dielétrica.<br />
Sabe-se que a capacitância muda devido a exposição<br />
a agentes físicos e químicos, e desta forma, neste<br />
trabalho apresentamos o estudo da alumina dopada com<br />
Nd como sensor dosimetrico capacitivo.<br />
2. Experimental<br />
Alumina pura e dopada com Nd foi sinterizada pelo<br />
processo de calcinação por precursor polimérico. O<br />
primeiro passo é obter um composto de poliéster onde<br />
cátions de alumina estão ligados a cadeia polimérica. O<br />
poliéster é obtido através da reação química entre o<br />
ácido cítrico e etilenoglicol na presença de nitrato de<br />
alumina, esta última é a fonte de átomos de alumina.<br />
Após este processo, o poliéster já dopado é queimado a<br />
uma temperatura de 1100 o C, com o objetivo de obter<br />
alumina. Os átomos de Nd são adicionados na forma de<br />
óxido, que se reduz na presença de ácido nítrico. O<br />
método de calcinação polimérica permite a produção de<br />
um material muito homogêneo e de alta pureza, visto<br />
que os subprodutos da reação são eliminados no<br />
processo de calcinação, na forma de produtos gasosos<br />
[9-12]. Após estes processos o pó de alumina é prensado<br />
em pastilhas de 10mm de diâmetro, com uma prensa de<br />
1000 kgf de pressão.<br />
A caracterização elétrica das amostras consiste na<br />
extração da curva de impedância (Z) e ângulo de fase<br />
(θ) em função da frequência (f). A faixa de frequência<br />
utilizada foi de 100Hz a 15MHz. A partir destes valores<br />
o equipamento determina a capacitância (C p ) e a<br />
resistência paralela (R p ) das amostras. A partir destes<br />
valores foram calculadas a parte real e imaginária da<br />
constante dielétrica (ε e ε' respectivamente), usando as<br />
equações 1 e 2 [8]:<br />
<br />
t C<br />
A<br />
P<br />
' <br />
(1)<br />
o<br />
t<br />
' 2 f R P<br />
A<br />
' (2)<br />
onde o é a constante dielétrica no vácuo (8,85x10 -12<br />
F/m), A é a área dos eletrodos (19,63x10 -6 m 2 ), t é a<br />
espessura das amostras e f a frequência (Hz). A<br />
espessura das amostras é determinada através do<br />
micrômetro acoplado a ponta de prova para medidas<br />
dielétricas (Agilent 16451B).<br />
Após a obtenção da parte real e imaginária da<br />
constante dielétrica do material é construído um gráfico<br />
de ε' por ε'', ou diagrama de Cole-Cole. A partir deste<br />
diagrama é calculado o tempo de relaxação do material<br />
o
e o número de dipolos elétricos (polarização), através da<br />
equação de Debye [8]:<br />
<br />
<br />
S<br />
<br />
<br />
1<br />
j<br />
(3)<br />
' j'<br />
'<br />
onde<br />
é a contante dielétrica complexa, τ é<br />
o tempo de relaxação, ω é a frequência angular, ε S é a<br />
constante dielétrica em corrente continua e ε é a<br />
constante dielétrica em frequência infinita.<br />
O valor do tempo de relaxação é determinado a<br />
partir do centro do semicírculo de Cole-Cole,<br />
considerando que nesta condição:<br />
τ =1<br />
(4)<br />
ou<br />
2<br />
<br />
1<br />
f (5)<br />
C<br />
onde f C é a frequência correspondente ao centro do<br />
semicírculo.<br />
3. Resultados e Discussões<br />
A Figura 1 exibe o resultado da análise de<br />
impedância. A interseção do semicírculo à direita<br />
corresponde a ε e a interseção a esquerda corresponde<br />
a ε S . Os semicírculos obtidos são achatados e<br />
descentralizados, indicando a presença de dois<br />
fenômenos, um em altas frequências e outro em baixas<br />
frequências. Em altas frequências a condução ocorre<br />
dentro dos grãos e entre os grãos, e em baixas<br />
frequências a condução é através dos contornos de grão.<br />
Na alumina dopada a condução prevalece através dos<br />
contornos de grão, conforme a dopagem de Nd aumenta<br />
a condução passa a ser dentro dos grãos e entre os grãos,<br />
isto é o Nd aumenta a resistividade do contorno de grão.<br />
Figura 1 – Diagrama de Cole-Cole das amostras, os<br />
eixos x e y correspondem ε' por ε'' respectivamente.<br />
Tabela I: Momentos de dipolo por unidade de volume,<br />
tempo de relaxação e frequência onde ocorre o centro<br />
do semicírculo.<br />
Amostra<br />
Al 2 O 3 :Nd<br />
f C<br />
(Hz)<br />
τ<br />
(μs)<br />
P<br />
(nC/m 3 )<br />
0% 12.599 12,63 25<br />
5% 143.847 1,11 29<br />
10% 87.598 1,82 33<br />
4. Conclusões<br />
Verificamos que o processo de condução do material<br />
mudou do contorno do grão para o interior do grão. A<br />
introdução do Nd aumentou o número de dipolos<br />
elétricos e reduziu o tempo de relaxação do material.<br />
Dentre as amostras, a dopada com 5 mol% de Nd<br />
apresentou o menor tempo de relaxação, sugerindo que<br />
esta pode ser vir a ser a melhor escolha para o<br />
desenvolvimento de um sensor radioativo por<br />
capacitância.<br />
Agradecimentos<br />
Os autores agradecem à FAPESP e ao CNPq pelo<br />
apoio financeiro e pelas bolsas concedidas.<br />
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