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Institut für Elektrische Meßtechnik und Meßsignalverarbeitung<br />

<strong>Übersicht</strong><br />

• Allgemeine <strong>Übersicht</strong>, Licht, Wellen- vs. Teilchenmodell,<br />

thermische Strahler, strahlungsoptische (radiometrische)<br />

vs. lichttechnische (fotometrische) Größen<br />

• Beschreibung radiometrische, fotometrische Größen<br />

• Detektoren<br />

• Geometrische Optik<br />

• Bildgebende Verfahren<br />

• Anwendungen<br />

• Licht als elektromagnet. Welle, Interferenz, Kohärenz,<br />

Laser, Interferometrie, Anemometrie<br />

Axel Pinz WS 2013/14 Optische Methoden 2<br />

1


Institut für Elektrische Meßtechnik und Meßsignalverarbeitung<br />

V(λ) – Spektraler Hellempfindlichkeitsgrad<br />

für Tagsehen<br />

“Relative sensitivity” = V()<br />

Commission International de l‘Eclairage (CIE)<br />

max. bei 555nm<br />

Strahlungsphysikalische vs.<br />

Lichttechnische Größen<br />

[Foley et al., “Computer Graphics”]<br />

Axel Pinz WS 2013/14 Optische Methoden 2<br />

2


Institut für Elektrische Meßtechnik und Meßsignalverarbeitung<br />

Strahlungsphysikalische<br />

(radiometrische)<br />

–<br />

Lichttechnische Größen<br />

(fotometrische)<br />

[Hoffmann, TB d. Messtechnik]<br />

Axel Pinz WS 2013/14 Optische Methoden 2<br />

3


Institut für Elektrische Meßtechnik und Meßsignalverarbeitung<br />

Strahlungsenergie (-menge), Strahlungsfluss …<br />

Strahlungsenergie Q e<br />

Strahlungsfluss Φ e = dQ e<br />

dt<br />

Gesamte von einer Quelle<br />

emittierte Energie<br />

Gesamte von einer Quelle<br />

emittierte Leistung<br />

[Q e ] = J = Ws [ e ] = W<br />

Index e … „energetisch“<br />

Strahlungsphysikalische/radiometrische Grundgrößen<br />

Axel Pinz WS 2013/14 Optische Methoden 2<br />

4


Institut für Elektrische Meßtechnik und Meßsignalverarbeitung<br />

… je Wellenlänge <br />

Spektrale<br />

Strahlungsenergie Q e<br />

Spektraler<br />

Strahlungsfluss e<br />

[Q e ] = J = Ws/m [ e ] = W/m<br />

Gesamte von einer Quelle emittierte<br />

Energie<br />

Leistung<br />

einer bestimmten Wellenlänge <br />

Axel Pinz WS 2013/14 Optische Methoden 2<br />

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Institut für Elektrische Meßtechnik und Meßsignalverarbeitung<br />

[Pedrotti et al.]<br />

Axel Pinz WS 2013/14 Optische Methoden 2<br />

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Institut für Elektrische Meßtechnik und Meßsignalverarbeitung<br />

Fluss pro Raumwinkel<br />

Strahlstärke I e<br />

I e = dΦ e<br />

dΩ<br />

[I e ] = W sr<br />

[Pedrotti et al.]<br />

Axel Pinz WS 2013/14 Optische Methoden 2<br />

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Institut für Elektrische Meßtechnik und Meßsignalverarbeitung<br />

Strahldichte L e<br />

Strahlstärke der projizierten Quellenfläche (effektive<br />

Senderfläche) senkrecht zur Beobachtungsrichtung<br />

L e =<br />

dI e<br />

dA 1 cos ε =<br />

d 2 Φ e<br />

dΩ dA 1 cos ε<br />

Sonderfall Lambert‘scher Strahler:<br />

I e = I e0 cos ε ⇒ L e = I e0<br />

= const.<br />

A 1<br />

L e = W<br />

sr m 2<br />

Strahldichte ist unabhängig vom Betrachtungswinkel<br />

Sonderfall Kugelstrahler: I e ()= const.<br />

Axel Pinz WS 2013/14 Optische Methoden 2<br />

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Institut für Elektrische Meßtechnik und Meßsignalverarbeitung<br />

I e = I e0 cos <br />

[Pedrotti et al.]<br />

Axel Pinz WS 2013/14 Optische Methoden 2<br />

9


Institut für Elektrische Meßtechnik und Meßsignalverarbeitung<br />

Strahlcharakteristik<br />

Richtungsabhängigkeit der Strahlstärke I e ():<br />

• Kugelstrahler<br />

I e =<br />

Φ e<br />

4π sr = const.<br />

• Lambert- (Cosinus-)strahler<br />

I e = I e0 cos ε<br />

• Keulencharakteristik<br />

I e = I e (ε)<br />

(Öffnungswinkel: Abfall von I e auf 50%)<br />

Axel Pinz WS 2013/14 Optische Methoden 2<br />

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Institut für Elektrische Meßtechnik und Meßsignalverarbeitung<br />

Spezifische Ausstrahlung M e<br />

Strahlungsflussdichte einer Quelle die den Strahlungsfluss<br />

d e,H vom Flächenelement dA 1 in den Halbraum strahlt:<br />

M e = dΦ e,H<br />

dA 1<br />

[M e ]= W m 2<br />

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Institut für Elektrische Meßtechnik und Meßsignalverarbeitung<br />

Bestrahlungsstärke E e , Bestrahlung H e<br />

Strahlungsflussdichte auf einer Empfängerflache dA 2 :<br />

E e = dΦ e<br />

dA 2<br />

[E e ]= W m 2<br />

über einen Zeitraum:<br />

H e = ∫ E e dt<br />

[H e ]= Ws<br />

m 2<br />

Axel Pinz WS 2013/14 Optische Methoden 2<br />

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Institut für Elektrische Meßtechnik und Meßsignalverarbeitung<br />

[Pedrotti et al.]<br />

Axel Pinz WS 2013/14 Optische Methoden 2<br />

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Institut für Elektrische Meßtechnik und Meßsignalverarbeitung<br />

Wie misst man strahlungsphysikalische Größen?<br />

[Pedrotti et al.]<br />

Axel Pinz WS 2013/14 Optische Methoden 2<br />

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Institut für Elektrische Meßtechnik und Meßsignalverarbeitung<br />

Strahlungsdetektion<br />

• Wechselwirkung Photon/Strahlung Detektor<br />

• Photonendetektion, Beispiel Photodiode<br />

• Schwarzkörper Absorption, Beispiel Bolometer<br />

• Immer nur in einem bestimmten Energiebereich!<br />

z.B.:<br />

λ 2<br />

E eλ dλ<br />

λ 1<br />

• Spektrale Empfindlichkeit berücksichtigen!<br />

z.B.:<br />

λ 2<br />

η(λ)E eλ dλ<br />

λ 1<br />

()<br />

z.B. Quanteneffizienz (), z.B. für Silizium<br />

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Institut für Elektrische Meßtechnik und Meßsignalverarbeitung<br />

Beispiel Photodiode<br />

BS520E0F von Sharp<br />

Im Sperrbetrieb (III. Quadrant):<br />

Sperrstrom streng proportional zu<br />

Bestrahlungsstärke und Fläche<br />

Lineare KL (I/E e )<br />

E e ∝ I<br />

H e ∝ ∫ I dt<br />

[Hoffmann, TB d. MT]<br />

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Institut für Elektrische Meßtechnik und Meßsignalverarbeitung<br />

Beispiel Bolometer<br />

a. Absorber E e Erwärmung d. Membran<br />

b. Temperatur der Membran (z.B. piezoresistiv)<br />

[Hoffmann, TB d. MT]<br />

Perfekt schwarze Membran: Allgemein:<br />

Spektrale Albedo ρ()=0<br />

E e (1-ρ())<br />

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Institut für Elektrische Meßtechnik und Meßsignalverarbeitung<br />

Strahlungsphysikalisch Lichttechnisch<br />

Viele wellenlängen-abhängige Gewichtungen:<br />

(), ρ(), … , V()<br />

Spektraler Hellempfindlichkeitsgrad<br />

für Tagsehen<br />

“Relative sensitivity” = V()<br />

Lichtstrom φ = K m ∫<br />

780nm<br />

380nm<br />

V(λ)φ eλ dλ<br />

[Foley et al.,<br />

“Computer Graphics”]<br />

K m = 683 lm/W … fotometrisches Strahlungsäquivalent<br />

Axel Pinz WS 2013/14 Optische Methoden 2<br />

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Institut für Elektrische Meßtechnik und Meßsignalverarbeitung<br />

[Pedrotti et al.]<br />

Axel Pinz WS 2013/14 Optische Methoden 2<br />

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Institut für Elektrische Meßtechnik und Meßsignalverarbeitung<br />

Radiometrie Fotometrie<br />

Allgemein:<br />

Fotometrische Größe, z.B. φ, φ v , φ vis<br />

Index „visible“ für „sichtbares“ Licht<br />

Fotometrische Größe = K() Radiometrische Größe<br />

K λ<br />

= K m V λ mit K m = 683 lm W<br />

Es gibt die gleiche Berechnung auch für Nachtsehen:<br />

K′ λ<br />

= K ′ mV′ λ mit K′ m = 1699 lm W<br />

Axel Pinz WS 2013/14 Optische Methoden 2<br />

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Institut für Elektrische Meßtechnik und Meßsignalverarbeitung<br />

Nachtsehen<br />

Tagsehen<br />

650<br />

[Pedrotti et al.]<br />

Axel Pinz WS 2013/14 Optische Methoden 2<br />

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Institut für Elektrische Meßtechnik und Meßsignalverarbeitung<br />

Axel Pinz WS 2013/14 Optische Methoden 2<br />

0,2<br />

[Pedrotti et al.]<br />

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Institut für Elektrische Meßtechnik und Meßsignalverarbeitung<br />

Praxis-Beispiel: 3D-PITOTI Projekt (1)<br />

Benötigt der Scanner eine Abdunkelung?<br />

Kann unter Tageslicht-Bedingungen gearbeitet werden?<br />

• Labor-Anordnung:<br />

• Tageslicht (Fenster)<br />

• Pico-DLP mit 100 lm<br />

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Institut für Elektrische Meßtechnik und Meßsignalverarbeitung<br />

Praxis-Beispiel: 3D-PITOTI Projekt (2)<br />

Benötigt der Scanner eine Abdunkelung?<br />

Kann unter Tageslicht-Bedingungen gearbeitet werden?<br />

• Tageslicht:<br />

• Solarkonstante gerade ausserhalb der Atmosphäre: E e = 1355 W/m 2<br />

• Erdoberfläche, Sonne im Zenith: E e = 1120 W/m 2<br />

• Wikipedia: E vis,Tageslicht = [1 … 100.000 lx]<br />

• Mitteleuropa, Mittag: Sommer: E vis = 70.000 lx Winter: E vis = 6.000 lx<br />

• Im Schatten (kein direktes Sonnenlicht), Sommer: E vis = 10.000 lx<br />

• W/m 2 lx ? ( K m V(λ))<br />

• DLP mit 100 ANSI Lumen lx ? (lx = lm/m 2 )<br />

~20 × 15cm = 0,03 m 2 ⟹ 100lm /0,03m 2 = 3.000 lx <br />

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Institut für Elektrische Meßtechnik und Meßsignalverarbeitung<br />

Praxis-Beispiel: 3D-PITOTI Projekt (3)<br />

Benötigt der Scanner eine Abdunkelung?<br />

Nein !<br />

Kann unter Tageslicht-Bedingungen gearbeitet werden?<br />

Ja !<br />

Tageslicht + DLP<br />

- =<br />

Tageslicht<br />

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Institut für Elektrische Meßtechnik und Meßsignalverarbeitung<br />

Wie misst man lichttechnische Größen?<br />

[Pedrotti et al.]<br />

Axel Pinz WS 2013/14 Optische Methoden 2<br />

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Institut für Elektrische Meßtechnik und Meßsignalverarbeitung<br />

Beleuchtungsstärke Luxmeter<br />

E = dΦ<br />

Bekannte Empfängerfläche A<br />

dA<br />

Si-Photodiode, Farbfilter mit V()-Charakteristik E ∝ I<br />

Luxmeter im<br />

EMT-Bildmesslabor<br />

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Institut für Elektrische Meßtechnik und Meßsignalverarbeitung<br />

Lichtstrom Fotometerkugel nach Ulbricht<br />

„Ulbrichtkugel“<br />

Indirekter, gesamter im Inneren der Kugel erzeugter<br />

Lichtstrom: E ind = φC k C k … Kugelkonstante<br />

[Hoffmann, TB d. MT]<br />

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Institut für Elektrische Meßtechnik und Meßsignalverarbeitung<br />

Zum Abschluss<br />

Strahlungsphysikalische Lichttechnische Größen<br />

Si-Einheiten W lm … Lumen<br />

W/sr cd … Candela = lm/sr<br />

W/m 2 lx … Lux = lm/m 2<br />

Lichttechnische Si-Basiseinheit: Candela<br />

Und noch ein Gewicht …<br />

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Institut für Elektrische Meßtechnik und Meßsignalverarbeitung<br />

„Responsivity“ – Relative spektrale Antwort<br />

[Jähne et al.]<br />

Einfach: R λ<br />

U … Spannung am Detektor<br />

= U(λ)<br />

Vollständig: R λ, f = U(λ,f)<br />

φ λ φ λ (f)<br />

f … Abtastfrequenz<br />

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Institut für Elektrische Meßtechnik und Meßsignalverarbeitung<br />

Detektoren<br />

• Photonen-Detektoren<br />

• Äußerer Photoeffekt<br />

• Innerer Photoeffekt<br />

• Thermische Detektoren<br />

R λ = η(λ)λqG<br />

hc<br />

e p = hc<br />

… Photonenenergie<br />

q<br />

G … photoconductive gain<br />

R λ = U dark − U light<br />

= S<br />

φ eλ φ eλ<br />

φ eλ ≈ const. ⇔ R λ ≈ const.<br />

Potonen-Detektor<br />

Thermischer Detektor<br />

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