Übersicht
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Institut für Elektrische Meßtechnik und Meßsignalverarbeitung<br />
<strong>Übersicht</strong><br />
• Allgemeine <strong>Übersicht</strong>, Licht, Wellen- vs. Teilchenmodell,<br />
thermische Strahler, strahlungsoptische (radiometrische)<br />
vs. lichttechnische (fotometrische) Größen<br />
• Beschreibung radiometrische, fotometrische Größen<br />
• Detektoren<br />
• Geometrische Optik<br />
• Bildgebende Verfahren<br />
• Anwendungen<br />
• Licht als elektromagnet. Welle, Interferenz, Kohärenz,<br />
Laser, Interferometrie, Anemometrie<br />
Axel Pinz WS 2013/14 Optische Methoden 2<br />
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Institut für Elektrische Meßtechnik und Meßsignalverarbeitung<br />
V(λ) – Spektraler Hellempfindlichkeitsgrad<br />
für Tagsehen<br />
“Relative sensitivity” = V()<br />
Commission International de l‘Eclairage (CIE)<br />
max. bei 555nm<br />
Strahlungsphysikalische vs.<br />
Lichttechnische Größen<br />
[Foley et al., “Computer Graphics”]<br />
Axel Pinz WS 2013/14 Optische Methoden 2<br />
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Institut für Elektrische Meßtechnik und Meßsignalverarbeitung<br />
Strahlungsphysikalische<br />
(radiometrische)<br />
–<br />
Lichttechnische Größen<br />
(fotometrische)<br />
[Hoffmann, TB d. Messtechnik]<br />
Axel Pinz WS 2013/14 Optische Methoden 2<br />
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Institut für Elektrische Meßtechnik und Meßsignalverarbeitung<br />
Strahlungsenergie (-menge), Strahlungsfluss …<br />
Strahlungsenergie Q e<br />
Strahlungsfluss Φ e = dQ e<br />
dt<br />
Gesamte von einer Quelle<br />
emittierte Energie<br />
Gesamte von einer Quelle<br />
emittierte Leistung<br />
[Q e ] = J = Ws [ e ] = W<br />
Index e … „energetisch“<br />
Strahlungsphysikalische/radiometrische Grundgrößen<br />
Axel Pinz WS 2013/14 Optische Methoden 2<br />
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Institut für Elektrische Meßtechnik und Meßsignalverarbeitung<br />
… je Wellenlänge <br />
Spektrale<br />
Strahlungsenergie Q e<br />
Spektraler<br />
Strahlungsfluss e<br />
[Q e ] = J = Ws/m [ e ] = W/m<br />
Gesamte von einer Quelle emittierte<br />
Energie<br />
Leistung<br />
einer bestimmten Wellenlänge <br />
Axel Pinz WS 2013/14 Optische Methoden 2<br />
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Institut für Elektrische Meßtechnik und Meßsignalverarbeitung<br />
[Pedrotti et al.]<br />
Axel Pinz WS 2013/14 Optische Methoden 2<br />
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Institut für Elektrische Meßtechnik und Meßsignalverarbeitung<br />
Fluss pro Raumwinkel<br />
Strahlstärke I e<br />
I e = dΦ e<br />
dΩ<br />
[I e ] = W sr<br />
[Pedrotti et al.]<br />
Axel Pinz WS 2013/14 Optische Methoden 2<br />
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Institut für Elektrische Meßtechnik und Meßsignalverarbeitung<br />
Strahldichte L e<br />
Strahlstärke der projizierten Quellenfläche (effektive<br />
Senderfläche) senkrecht zur Beobachtungsrichtung<br />
L e =<br />
dI e<br />
dA 1 cos ε =<br />
d 2 Φ e<br />
dΩ dA 1 cos ε<br />
Sonderfall Lambert‘scher Strahler:<br />
I e = I e0 cos ε ⇒ L e = I e0<br />
= const.<br />
A 1<br />
L e = W<br />
sr m 2<br />
Strahldichte ist unabhängig vom Betrachtungswinkel<br />
Sonderfall Kugelstrahler: I e ()= const.<br />
Axel Pinz WS 2013/14 Optische Methoden 2<br />
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Institut für Elektrische Meßtechnik und Meßsignalverarbeitung<br />
I e = I e0 cos <br />
[Pedrotti et al.]<br />
Axel Pinz WS 2013/14 Optische Methoden 2<br />
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Institut für Elektrische Meßtechnik und Meßsignalverarbeitung<br />
Strahlcharakteristik<br />
Richtungsabhängigkeit der Strahlstärke I e ():<br />
• Kugelstrahler<br />
I e =<br />
Φ e<br />
4π sr = const.<br />
• Lambert- (Cosinus-)strahler<br />
I e = I e0 cos ε<br />
• Keulencharakteristik<br />
I e = I e (ε)<br />
(Öffnungswinkel: Abfall von I e auf 50%)<br />
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Institut für Elektrische Meßtechnik und Meßsignalverarbeitung<br />
Spezifische Ausstrahlung M e<br />
Strahlungsflussdichte einer Quelle die den Strahlungsfluss<br />
d e,H vom Flächenelement dA 1 in den Halbraum strahlt:<br />
M e = dΦ e,H<br />
dA 1<br />
[M e ]= W m 2<br />
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Institut für Elektrische Meßtechnik und Meßsignalverarbeitung<br />
Bestrahlungsstärke E e , Bestrahlung H e<br />
Strahlungsflussdichte auf einer Empfängerflache dA 2 :<br />
E e = dΦ e<br />
dA 2<br />
[E e ]= W m 2<br />
über einen Zeitraum:<br />
H e = ∫ E e dt<br />
[H e ]= Ws<br />
m 2<br />
Axel Pinz WS 2013/14 Optische Methoden 2<br />
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Institut für Elektrische Meßtechnik und Meßsignalverarbeitung<br />
[Pedrotti et al.]<br />
Axel Pinz WS 2013/14 Optische Methoden 2<br />
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Institut für Elektrische Meßtechnik und Meßsignalverarbeitung<br />
Wie misst man strahlungsphysikalische Größen?<br />
[Pedrotti et al.]<br />
Axel Pinz WS 2013/14 Optische Methoden 2<br />
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Institut für Elektrische Meßtechnik und Meßsignalverarbeitung<br />
Strahlungsdetektion<br />
• Wechselwirkung Photon/Strahlung Detektor<br />
• Photonendetektion, Beispiel Photodiode<br />
• Schwarzkörper Absorption, Beispiel Bolometer<br />
• Immer nur in einem bestimmten Energiebereich!<br />
z.B.:<br />
λ 2<br />
E eλ dλ<br />
λ 1<br />
• Spektrale Empfindlichkeit berücksichtigen!<br />
z.B.:<br />
λ 2<br />
η(λ)E eλ dλ<br />
λ 1<br />
()<br />
z.B. Quanteneffizienz (), z.B. für Silizium<br />
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Institut für Elektrische Meßtechnik und Meßsignalverarbeitung<br />
Beispiel Photodiode<br />
BS520E0F von Sharp<br />
Im Sperrbetrieb (III. Quadrant):<br />
Sperrstrom streng proportional zu<br />
Bestrahlungsstärke und Fläche<br />
Lineare KL (I/E e )<br />
E e ∝ I<br />
H e ∝ ∫ I dt<br />
[Hoffmann, TB d. MT]<br />
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Institut für Elektrische Meßtechnik und Meßsignalverarbeitung<br />
Beispiel Bolometer<br />
a. Absorber E e Erwärmung d. Membran<br />
b. Temperatur der Membran (z.B. piezoresistiv)<br />
[Hoffmann, TB d. MT]<br />
Perfekt schwarze Membran: Allgemein:<br />
Spektrale Albedo ρ()=0<br />
E e (1-ρ())<br />
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Institut für Elektrische Meßtechnik und Meßsignalverarbeitung<br />
Strahlungsphysikalisch Lichttechnisch<br />
Viele wellenlängen-abhängige Gewichtungen:<br />
(), ρ(), … , V()<br />
Spektraler Hellempfindlichkeitsgrad<br />
für Tagsehen<br />
“Relative sensitivity” = V()<br />
Lichtstrom φ = K m ∫<br />
780nm<br />
380nm<br />
V(λ)φ eλ dλ<br />
[Foley et al.,<br />
“Computer Graphics”]<br />
K m = 683 lm/W … fotometrisches Strahlungsäquivalent<br />
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Institut für Elektrische Meßtechnik und Meßsignalverarbeitung<br />
[Pedrotti et al.]<br />
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Institut für Elektrische Meßtechnik und Meßsignalverarbeitung<br />
Radiometrie Fotometrie<br />
Allgemein:<br />
Fotometrische Größe, z.B. φ, φ v , φ vis<br />
Index „visible“ für „sichtbares“ Licht<br />
Fotometrische Größe = K() Radiometrische Größe<br />
K λ<br />
= K m V λ mit K m = 683 lm W<br />
Es gibt die gleiche Berechnung auch für Nachtsehen:<br />
K′ λ<br />
= K ′ mV′ λ mit K′ m = 1699 lm W<br />
Axel Pinz WS 2013/14 Optische Methoden 2<br />
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Institut für Elektrische Meßtechnik und Meßsignalverarbeitung<br />
Nachtsehen<br />
Tagsehen<br />
650<br />
[Pedrotti et al.]<br />
Axel Pinz WS 2013/14 Optische Methoden 2<br />
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Institut für Elektrische Meßtechnik und Meßsignalverarbeitung<br />
Axel Pinz WS 2013/14 Optische Methoden 2<br />
0,2<br />
[Pedrotti et al.]<br />
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Institut für Elektrische Meßtechnik und Meßsignalverarbeitung<br />
Praxis-Beispiel: 3D-PITOTI Projekt (1)<br />
Benötigt der Scanner eine Abdunkelung?<br />
Kann unter Tageslicht-Bedingungen gearbeitet werden?<br />
• Labor-Anordnung:<br />
• Tageslicht (Fenster)<br />
• Pico-DLP mit 100 lm<br />
Axel Pinz WS 2013/14 Optische Methoden 2<br />
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Institut für Elektrische Meßtechnik und Meßsignalverarbeitung<br />
Praxis-Beispiel: 3D-PITOTI Projekt (2)<br />
Benötigt der Scanner eine Abdunkelung?<br />
Kann unter Tageslicht-Bedingungen gearbeitet werden?<br />
• Tageslicht:<br />
• Solarkonstante gerade ausserhalb der Atmosphäre: E e = 1355 W/m 2<br />
• Erdoberfläche, Sonne im Zenith: E e = 1120 W/m 2<br />
• Wikipedia: E vis,Tageslicht = [1 … 100.000 lx]<br />
• Mitteleuropa, Mittag: Sommer: E vis = 70.000 lx Winter: E vis = 6.000 lx<br />
• Im Schatten (kein direktes Sonnenlicht), Sommer: E vis = 10.000 lx<br />
• W/m 2 lx ? ( K m V(λ))<br />
• DLP mit 100 ANSI Lumen lx ? (lx = lm/m 2 )<br />
~20 × 15cm = 0,03 m 2 ⟹ 100lm /0,03m 2 = 3.000 lx <br />
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Institut für Elektrische Meßtechnik und Meßsignalverarbeitung<br />
Praxis-Beispiel: 3D-PITOTI Projekt (3)<br />
Benötigt der Scanner eine Abdunkelung?<br />
Nein !<br />
Kann unter Tageslicht-Bedingungen gearbeitet werden?<br />
Ja !<br />
Tageslicht + DLP<br />
- =<br />
Tageslicht<br />
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Institut für Elektrische Meßtechnik und Meßsignalverarbeitung<br />
Wie misst man lichttechnische Größen?<br />
[Pedrotti et al.]<br />
Axel Pinz WS 2013/14 Optische Methoden 2<br />
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Institut für Elektrische Meßtechnik und Meßsignalverarbeitung<br />
Beleuchtungsstärke Luxmeter<br />
E = dΦ<br />
Bekannte Empfängerfläche A<br />
dA<br />
Si-Photodiode, Farbfilter mit V()-Charakteristik E ∝ I<br />
Luxmeter im<br />
EMT-Bildmesslabor<br />
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Institut für Elektrische Meßtechnik und Meßsignalverarbeitung<br />
Lichtstrom Fotometerkugel nach Ulbricht<br />
„Ulbrichtkugel“<br />
Indirekter, gesamter im Inneren der Kugel erzeugter<br />
Lichtstrom: E ind = φC k C k … Kugelkonstante<br />
[Hoffmann, TB d. MT]<br />
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Zum Abschluss<br />
Strahlungsphysikalische Lichttechnische Größen<br />
Si-Einheiten W lm … Lumen<br />
W/sr cd … Candela = lm/sr<br />
W/m 2 lx … Lux = lm/m 2<br />
Lichttechnische Si-Basiseinheit: Candela<br />
Und noch ein Gewicht …<br />
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„Responsivity“ – Relative spektrale Antwort<br />
[Jähne et al.]<br />
Einfach: R λ<br />
U … Spannung am Detektor<br />
= U(λ)<br />
Vollständig: R λ, f = U(λ,f)<br />
φ λ φ λ (f)<br />
f … Abtastfrequenz<br />
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Institut für Elektrische Meßtechnik und Meßsignalverarbeitung<br />
Detektoren<br />
• Photonen-Detektoren<br />
• Äußerer Photoeffekt<br />
• Innerer Photoeffekt<br />
• Thermische Detektoren<br />
R λ = η(λ)λqG<br />
hc<br />
e p = hc<br />
… Photonenenergie<br />
q<br />
G … photoconductive gain<br />
R λ = U dark − U light<br />
= S<br />
φ eλ φ eλ<br />
φ eλ ≈ const. ⇔ R λ ≈ const.<br />
Potonen-Detektor<br />
Thermischer Detektor<br />
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