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1. Kenngrößen von Meßgeräten

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Kenngrößen, Statistik und Meßbrücken Kapitel 5/8<br />

http://www.pegasus-sys.net/FheServices.htm<br />

<strong>1.</strong> Kenngrößen <strong>von</strong> Meßgeräten<br />

Im folgenden sollen die wichtigsten Begriffe für die Beschreibung und Charakterisierung <strong>von</strong> Meßgeräten<br />

und Meßvorgängen dargelegt und erläutert werden. Prinzipiell werden die meßtechnischen Eigenschaften<br />

eines Meßgerätes 1 durch seine statischen und dynamischen Eigenschaften bestimmt. Im allgemeinen wird<br />

der Meßwert heute in digitaler Form angezeigt, (z.B. 3½ bis 8 stellige Anzeige) und oftmals durch eine<br />

Bargraph- oder simulierte Analoganzeige 2 ergänzt.<br />

Die am Eingang eines Meßgerätes vorhandene physikalische Meßgröße soll im folgenden als die<br />

Eingangsgröße X E des Meßprozesses verstanden werden. Hierbei sei es unerheblich, in welcher<br />

physikalischen Form die Eingangsgröße X E vorliegt (z.B.: Strom, Spannung, Temperatur, Druck). Das<br />

Meßgerät stellt funktional eine „Umwandlungseinrichtung“ dar, es formt die Eingangsgröße X E nach einem<br />

funktionalen Zusammenhang in die Ergebnis- oder Ausgangsgröße X A um.<br />

In welcher Form die Ausgangsgröße X A vom Meßgerät zur Verfügung gestellt wird, ist in erster Linie <strong>von</strong><br />

der Anwendung abhängig. Soll X A direkt <strong>von</strong> einem Beobachter oder Bediener interpretierbar sein, so ist die<br />

klassische Form des Zeigerausschlages oder die Darstellung durch einen numerischen Zahlenwert<br />

gebräuchlich. Soll die Ausgangsgröße X A einen Prozeß steuerten, so wird X A in einer für Maschinen einfach<br />

zu verarbeitbaren Form, z.B. als Spannung oder binärer Zahlencode vorliegen.<br />

X = f ( X ) E<br />

A<br />

Für einen linearen Zusammenhang gilt:<br />

X<br />

A<br />

= k 0<br />

⋅ X mit k 0 als Meßkoeffizient.<br />

E<br />

Abb. <strong>1.</strong> Blockschema eines Meßprozeß mit inneren und äußeren Störeinflüssen<br />

Der funktionale Zusammenhang zwischen Eingangs- X E und Ausgangsgröße X A kann einem beliebigen<br />

mathematischen Zusammenhang folgen, wobei für Meßgeräte im allgemeinen ein linearer Zusammenhang<br />

angestrebt wird.<br />

In Zusammenhang mit der Meßwertaufnahme stellt sich auch oft die Frage nach der Repräsentativität des<br />

Meßergebnisses. Klassisches Beispiel ist die Messung der Raumtemperatur - wieviele Sensoren sind nötig<br />

1 Der Begriff Meßgerät bezieht sich hierbei nicht ausschließlich auf die „vom Beobachter abzulesende Anzeigeeinheit“,<br />

sondern soll hier als die gesamte Meßkette vom Meßwertaufnehmer, Meßverstärker bis hin zu einem PC als<br />

Meßwertverarbeitungseinheit und vorgeschaltenem Analog Digital Wandler (ADC) verstanden werden.<br />

2 Soll der Trend eines Eingangssignals X E verfolgt werden, so ist dies nur über eine Analoganzeige in Form eines<br />

Balkens oder manchmal auch eines simulierten Zeigers möglich.<br />

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um diese repräsentativ zu erfassen. Wo und wie werden diese angeordnet. Die Frage nach der<br />

Repräsentativität ist vor allem bei der Messung <strong>von</strong> Feldgrößen <strong>von</strong> Interesse (z.B.<br />

Strömungsgeschwindigkeit, Konzentration, Feldstärke, o.ä.).<br />

Der funktionale Zusammenhang X A /X E wird durch die Meßcharakteristik dargestellt. Diese kann durch ein<br />

Polynom n-ten Grades beschrieben werden. In der Meßtechnik ist man aber bestrebt einen linearen X A /X E<br />

Zusammenhang zu erreichen.<br />

Abb. 2. Idealisierter Meßprozeß mit Kennlinie, rechts: verschiedene lineare Übertragungsverhalten<br />

Obige Kennlinien stellen den stationären Zusammenhang (d.h. alle Einschwing- oder Ausgleichsvorgänge<br />

sind bereits abgeklungen) zwischen Eingangs- X E und Ausgangsgröße X A für ein beliebiges Meßgerät dar.<br />

Links: Nicht lineare Kennlinie – der funktionale Verlauf kann durch beliebig komplizierte mathematische<br />

Funktionen beschrieben werden, Rechts: Lineare Kennlinien mit natürlichem Nullpunkt (A), unterdrücktem<br />

Nullpunkt 3 (B) und verschobenem oder lebendem 4 (C) Nullpunkt. Aus den Kennlinien kann direkt die<br />

Empfindlichkeit ε des Meßgerätes bestimmt werden. Diese ist durch die erste Ableitung der Ausgangsgröße<br />

X A nach der Eingangsgröße X E gegeben.<br />

Empfindlichkeit ε :<br />

ε =<br />

dX<br />

dX<br />

A<br />

E<br />

Für den Fall einer linearen Kennlinie ist die Empfindlichkeit ε somit eine Konstante, anderenfalls kann die<br />

Empfindlichkeit im jeweiligen Arbeitspunkt durch die Tangente an die Kennlinie genähert werden.<br />

<strong>1.</strong><strong>1.</strong> Meßcharakteristik<br />

Für die folgenden Ausführungen soll ein linearer Zusammenhang zwischen X E und X A vorausgesetzt<br />

werden. Die verschiedenen Einflußgrößen, die eine Verzerrung der linearen Kennlinie bewirken, sollen<br />

3 Als Beispiel für einen unterdrückten Nullpunkt kann die Temperaturmessung über die °C Skala gesehen werden, alle<br />

absoluten Temperaturen unter 273,15 °K resultieren in einer Ausgangsgröße X A = 00°C. Ein anderer Anwendungsfall<br />

wäre die Luftdruckmessung. Eine Messbereich <strong>von</strong> 000 ... 1100 mbar ist nicht sinnvoll, da im allgemeinen<br />

Luftdruckwerte unter 900mbar für Meeresniveau nie erreicht werden.<br />

4 Ein lebender Nullpunkt bietet in all jenen Anwendungsfällen Vorteile, bei denen auch bei einer Eingangsgröße X E =<br />

00 eine Ausgangsgröße X A ≠ 00 vorhanden sein sollte, um die korrekte Funktion des Meßgerätes überprüfen zu können<br />

(z.B. ein klassisches Beispiel hierfür ist das 4 .. 20mA Stromschleifen Interface für remote Meßstellen. Der<br />

Meßwertgeber arbeitet über einen eingeprägten Strom <strong>von</strong> 4 ... 20mA. Ein Wert <strong>von</strong> 00mA würde sinngemäß einer<br />

Stromschleifenunterbrechung gleichkommen).<br />

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vorgestellt werden. Die unverzerrte lineare X A /X E Kennlinie wird als Sollcharakteristik C soll , die durch die<br />

realen Eigenschaften des Meßgerätes und andere Einflüsse (Temperaturkoeffizient, Offset und Drift)<br />

verzerrte X A /X E Kennlinie wird als Istcharakteristik C ist bezeichnet.<br />

Hat das Meßgerät einen natürlichen Nullpunkt, C soll geht durch den Koordinatennullpunkt, so kann die<br />

Sollcharakteristik C soll durch den Meßkoeffizient MK ersetzt werden.<br />

<strong>1.</strong> Analoge Meßwertverarbeitung<br />

Eine lineare Meßcharakteristik ist bei analogen Meßgeräten durch eine Gerade darstellbar. Aus der Differenz<br />

zwischen C soll und C ist ergibt sich der Fehler der Messung oder die Abweichung.<br />

Abb. 3. Beispiel einer analogen Meßcharakteristik, Soll C SOLL - und Istverläufe C IST mit Fehlerkurve F<br />

Bei bekannter Istcharakteristik C IST des Meßgerätes kann somit die Ausgangsgröße X A um den Fehler F<br />

korrigiert werden 5 . Für den Fehler F gilt somit:<br />

F X ) = C ( X ) − C ( X )<br />

(<br />

E IST E SOLL E<br />

Entsprechend stellt der Begriff des Meßfehlers F die Differenz der tatsächlich erzeugten Meßgröße X A_real<br />

und der idealen Ausgangsgröße X A_ideal eines Meßgerätes (oder Prozesses) dar.<br />

2. Digitale Meßwertverarbeitung<br />

Die analoge Meßwertverarbeitung ist durch eine „subjektive Meßwertquantifizierung“ durch den Beobachter<br />

gekennzeichnet. Dieser ordnet dem Zeigerausschlag α über einer Skala einen Zahlenwert zu und führt somit<br />

die Digitalisierung des Meßwertes durch. Im Gegensatz hierzu ist die digitale Meßwertverarbeitung durch<br />

eine objektive Quantifizierung der analogen Information durch das Meßgerät selbst gekennzeichnet 6 .<br />

5 Es sei hier angemerkt, daß diese Korrektur natürlich nur die systematisch erfaßbaren Fehlerquellen beinhalten kann.<br />

Statistische Fehler und Umwelteinflüsse sind natürlich keiner Korrektur zugänglich. Der obige Meßfehler F wird<br />

deshalb auch als systematischer Meßfehler bezeichnet. Siehe auch Kapitel <strong>1.</strong>3. Meßfehler.<br />

6 Es liegt in der Natur der Sache, daß beim Ablesen <strong>von</strong> digitalen Meßgeräten keinerlei Ablesefehler mehr auftreten<br />

können, da das Ergebnis bereits in Form eines digitalen Zahlenwertes vorliegt.<br />

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Wie bei jeder Digitalisierung wird durch das Quantisieren der analogen Meßwerte ein Informationsverlust<br />

bedingt, der eine verlustfreie Umkehrung des Digitalisierungsprozesses unmöglich macht. Bei der<br />

Digitalisierung wird ein Bereich analoger Information, das so genannte Quantisierungsintervall IB, auf<br />

einen digitalen Zahlenwert 7 abgebildet. Dies führt zu einem stufenförmigen Verlauf der X A /X E Kennlinie.<br />

Abb. 4. Beispiel einer unstetigen Meßcharakteristik, Soll C SOLL - und Istverläufe C IST mit Fehlerkurve<br />

Die Quantisierungsintervalle IB 8 werden im allgemeinen so gelegt, daß für den Intervallmittenwert der<br />

auftretende Quantisierungsfehler F zu Null wird. Dies hat den Vorteil, daß der Quantisierungsfehler F<br />

symmetrisch zur Nullinie liegt und die maximale Größe +/⎯ ½ LSB 9 (Least Significant Bit) nicht<br />

übersteigt (ideale Stufencharakteristik vorausgesetzt). Es sind aber auch Realisierungen mit einseitigem<br />

Quantisierungsfehler F gebräuchlich, dieser läuft <strong>von</strong> 0 ... 1 LSB.<br />

7 Die Abbildung auf einen binären Zahlenwert wird wieder durch den Anwendungsfall bestimmt. Im einfachsten Fall<br />

können aufeinanderfolgende Quantisierungsintervalle durch eine binäre Zahlenfolge codiert werden, die Gewichtung<br />

ist durch das binäre Zahlensystem vorgegeben und als 8–4–2–1 Code bekannt. Andere Codeformen mit<br />

unterschiedlicher Gewichtung wären z.B. 6–3–1–1, 2 out of 5, Gray- oder Huffmancode.<br />

Eine weitere sehr weit verbreitete Kodeform ist der Binary Coded Decimal – BCD Code. Hierbei werden die einzelnen<br />

Digits der dezimalen Zahl binär kodiert, es werden also für jede Stelle im Dezimalsystem 4 bits verwendet. Die<br />

Codierung der Zahl „987“ würde somit 12 bits benötigen. Im Binärsystem wären hingegen 10 bits ausreichend.<br />

8 Zusätzlich wird durch die Quantisierung dem ursprünglich amplitudenkontinuierlichen Signal ein Rauschanteil<br />

hinzugefügt. Dieses Quantisierungsrauschen entsteht durch die Zuordnung der abgetastet Werte zu einem bestimmten<br />

Quantisierungsintervall IB N . Die Rauschleistung N Q ist gleich verteilt und läßt sich folgendermaßen berechnen:<br />

2<br />

IB<br />

N Q<br />

=<br />

12<br />

Das Quantifizierungsrauschen N Q steigt somit quadratisch mit dem Quantisierungsintervall IB an.<br />

9 Die Bezeichnung LSB resultiert aus der Zahlendarstellung allgemein. Beim dualen Zahlensystem gibt es zusätzlich<br />

nur zwei mögliche Ziffern 0 oder 1, und die einzelnen Ziffern werden als bit bezeichnet. Die letzte Stelle (am<br />

weitesten rechts stehende Ziffer) leistet den geringsten Beitrag für die Wertigkeit der Zahl und wird deshalb als least<br />

significant bit bezeichnet. Im Gegensatz hierzu, wird die am weitesten links stehende Ziffer als MSB oder most<br />

significant bit bezeichnet.<br />

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Über die Skalierung des Quantisierungsfehlers F hinausgehend wird der Ausdruck LSB ebenfalls für die<br />

Charakterisierung der Auflösung des Meßgerätes (kleinste nachweisbare Änderung des Meßwertes)<br />

verwendet. Wird z.B. für die Darstellung des Meßwertes eine 8-bit Zahl verwendet, so lassen sich mit dieser<br />

Zahl 2 8 = 256 verschiedene Stufen codieren. Dies bedeutet für einen Eingangssignalbereich X E <strong>von</strong> 0 – 10V<br />

eine notwendige minimale Spannungsänderung <strong>von</strong> 10V / 256 = 39mV, um eine Änderung der<br />

Ausgangsgröße X A zu erreichen 10 .<br />

Der Quantisierungsfehlers F ist im eigentlichen Sinne des Wortes kein Fehler, da er eine notwendige<br />

Konsequenz der Quantisierung der Ausgangsgröße X A darstellt. Er sollte deshalb besser als<br />

Quantifizierungsunsicherheit bezeichnet werde. Der Ausdruck Quantisierungsfehler ist jedoch in der<br />

Literatur so weit verbreitet, daß er auch hier verwendet werden soll.<br />

Ein weiterer, durch die Unstetigkeit der Stufencharakteristik bedingter, Effekt ist das Springen der letzten<br />

Stelle bei digitalen Anzeigen. Diese sogenannte Bewertungsunsicherheit ergibt sich bei einem ideal<br />

arbeitenden Gerät aus den Unstetigkeitsstellen der X A /X E Kennlinie, die eine eindeutige Zuordnung für den<br />

Fall, daß X E an einer Intervallgrenze 11 liegt, unmöglich macht.<br />

<strong>1.</strong>2. Meßbereiche und Definitionen<br />

Reale Meßgeräte werden immer für einen bestimmten Meßbereich MB spezifiziert, wobei vielfach durch ein<br />

vorhandenes auto-ranging dieser Meßbereich automatisch umgeschalten und auch ausgewählt wird.<br />

Meßbereiche können je nach Anwendung symmetrisch zum Nullpunkt (z.B. Spannungsmessung) oder auch<br />

asymmetrisch (z.B. Temperaturmessung in Kelvin K oder absoluter Druck in Pascal P oder mbar - Negative<br />

Werte wären physikalisch sinnlos ) liegen.<br />

Oftmals wird der Nullpunkt auch unterdrückt um eine größere Auflösung im interessierenden Bereich zu<br />

erreichen. Eine Anwendung hierfür wäre die Luftdruckmessung in mbar. Die Skalierung des Gerätes wird<br />

hier nicht bei Null beginnen, sondern einen gewissen Bereich um 1000mbar umfassen. Hierdurch kann im<br />

relevanten Bereich eine wesentlich größere Auflösung erreicht werden. Ein ähnlicher Anwendungsfall wäre<br />

die Raumtemperaturmessung in °K für techn. – wissenschaftliche Zwecke.<br />

Abb. 5. Asymmetrischer MB (links), symmetrischer MB 12 (Mitte) und unterdrückter Nullpunkt (rechts)<br />

10 Abschließend sei noch einmal darauf hingewiesen, daß die Quantisierung der Eingangsgröße X E eine nicht<br />

umkehrbare Transformation ist. Es ist nicht möglich <strong>von</strong> der Ausgangsgröße X A auf den ursprünglichen Wert <strong>von</strong> X E<br />

zurück zuschließen. Die Lage <strong>von</strong> X E innerhalb des Quantisierungsintervalls geht durch die Digitalisierung<br />

unwiederbringlich verloren. Dies ist nicht auf eine nicht-ideale Funktionsweise <strong>von</strong> Baugruppen, Umgebungseinflüsse<br />

oder statistische Fehler zurückzuführen, sondern ist eine notwendige Eigenschaft der Quantisierung.<br />

11 Liegt X E exakt an einer Intervallgrenze so fällt der digitalisierte Wert X A , bedingt durch das stets vorhanden<br />

Rauschen, statistisch in das rechte oder linke Quantisierungsintervall IB + oder IB ⎯ . Hierdurch ist das statistische<br />

Schwanken des LSBs bedingt.<br />

12 Ein typischer Anwendungsbereich für einen symmetrischen MB stellen die Nullpunktsindikatoren dar. Dies sind<br />

Meßgeräte die nicht für das Messen absoluter Werte ausgelegtt sind, sondern lediglich für die Detektion eines<br />

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Die Fehlerangaben <strong>von</strong> Meßgeräten werden im allgemeinen auf den Meßbereichsendwert (Full Scale Range<br />

/ Reading FSR) bezogen (in %). Für hochauflösende digitale Multimeter wird der Meßfehler getrennt für<br />

den Meßwert MW und den Meßbereich MB spezifiziert, z.B. für die Effektivwertmessung bei<br />

Wechselspannung im Frequenzbereich 10 Hz ... 20kHz: ∆F = 0,06 + 0,04. Der Gesamtfehler ergibt sich<br />

somit aus 0,06% vom MW plus 0,04% vom MB.<br />

Für MG Spezifikationen siehe auch http://www.tm.agilent.com (früher HP)<br />

http://www.fluke.com<br />

Auflösung Analog: Für analoge Meßgeräte definiert sich die Auflösung aus der Bedingung einer<br />

reproduzierbaren oder nachweisbaren Änderung der Ausgangsgröße X A (z.B. des<br />

Zeigerausschlages bei klassischen Geräten ) für eine gegebene Skalierung. Das<br />

bedeutet im Gegenzug, daß all jene Änderungen der Eingangsgröße X E nicht mehr<br />

aufgelöst werden können, die keine detektierbare Änderung der Ausgangsgröße X A<br />

bewirken.<br />

Auflösung Digital: Für digitale Meßgeräte und im speziellen für Digital to Analog Converter DAC ist<br />

die erreichbare Auflösung nur <strong>von</strong> der Breite des verwendet binären Datenwortes<br />

abhängig, wobei gilt, daß bei Verwendung <strong>von</strong> n bits der Meßbereich in 2 n<br />

Intervalle 13 unterteilt werden kann und somit einer Auflösung <strong>von</strong> FSR / 2 n erreicht<br />

wird. Die Auflösung entspricht somit dem LSB.<br />

Die Definition der Auflösung basiert für analoge als auch digitale MG auf dem identen Prinzip einer<br />

detektierbaren Änderung der Ausgangsgröße X A .<br />

Genauigkeit: Im Zusammenhang mit der Genauigkeit <strong>von</strong> Meßgeräten sind keinerlei quantitative<br />

oder absolut bewertbare Maße definiert. Die Genauigkeits-angaben können lediglich<br />

für vergleichende Zwecke herangezogen werden 14 .<br />

Empfindlichkeit: Die Empfindlichkeit ε ist im allgemeinen über die notwendige Änderung der<br />

Eingangsgröße X E für das Erreichen einer gewissen Änderung der Ausgangsgröße<br />

X A definiert. Dies entspricht dem Differentialquotienten.<br />

ε =<br />

lim<br />

∆X<br />

E →0<br />

∆X<br />

∆X<br />

A<br />

E<br />

dX<br />

=<br />

dX<br />

A<br />

E<br />

Für die unstetige Stufencharakteristik ist die Kennlinie natürlich nicht mehr<br />

differenzierbar. Die Empfindlichkeit ε muß über den Differenzenquotienten<br />

angegeben werden 15 :<br />

stromlosen oder leistungslosen Zustands verwendet werden. Dies zeigen somit um den Nullpunkt die maximale<br />

Empfindlichkeit.<br />

13 In der Meßtechnik wird in den allermeisten Fällen das MSB des ADC für die Darstellung des Vorzeichens<br />

verwendet. Die Auflösung im MB reduziert sich hiermit auf n–1 bit. Die Auflösung des Wandlers bleibt natürlich<br />

unverändert, da sich durch das Vorzeichenbit der Eingangsbereich des Wandlers ja verdoppelt (symmetrisch zu Null).<br />

14 Oft werden die Begriffe Genauigkeit und Auflösung im gleichen Sinne verwendet, dies ist jedoch grundsätzlich nicht<br />

richtig. Vor allem im Bereich hochauflösender ADCs (24-bit) ist die absolute Genauigkeit des Wandlungsergebnisses<br />

wesentlich schlechter als die Auflösung (LSB). Der Einsatz dieser hochauflösenden Wandler für Messungen <strong>von</strong><br />

relativen Änderungen ist aber durchaus sinnvoll.<br />

15 Hierbei wird vorausgesetzt, daß die Intervallbreite IB und die Stufenhöhe X a (n+1) – X a (n) für die gesamte<br />

Stufencharakteristik konstant ist.<br />

C.Brunner - Elektrische Messtechnik Seite 6/27


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ε =<br />

∆X<br />

∆X<br />

X<br />

( n + 1) − X<br />

IB<br />

( n<br />

A A<br />

A<br />

)<br />

E<br />

=<br />

Größte Bedeutung hat die Empfindlichkeit in Zusammenhang mit Meßbrücken bei Nulldetektoren. Diese<br />

Meßgeräte zeigen einen symmetrischen MB, die Genauigkeit hat keine Bedeutung und die Empfindlichkeit<br />

im Nullpunkt wird maximiert.<br />

Eichung:<br />

Unter dem Begriff Eichung wird die <strong>von</strong> einer zuständigen Eichbehörde<br />

durchgeführte Prüfung verstanden. Zweck der Prüfung ist die Bestimmung, ob ein<br />

Gerät innerhalb der spezifizierten Eichfehlergrenzen liegt.<br />

Kalibrierung: Als Kalibrierung wird die Vergleichsmessung mit einem Eichmeßgerät (oder<br />

geeichtem MG) verstanden. Sie dient zur Bestimmung der Istcharakteristik C IST aus<br />

der ebenfalls der systematische Meßfehler F bestimmt werden kann.<br />

<strong>1.</strong>3. Meßfehler<br />

Das theoretischer Ziel jeder Messung ist natürlich die exakte Bestimmung des wahren Wertes X w einer<br />

Meßgröße. Dies ist jedoch praktisch unmöglich, da die zu bestimmende Meßgröße oder der Prozeß durch das<br />

Einbringen des Meßgerätes, durch den Beobachter oder auch durch Umwelteinflüsse gestört wird. Die<br />

hierdurch bewirkte Abweichung oder der Meßfehler F kann durch den absoluten Fehler F ABS oder relativen<br />

Fehler f REL charakterisiert werden. Mit X A als Ausgangsgröße oder angezeigter Wert gilt:<br />

F<br />

ABS<br />

= X − X<br />

oder<br />

A<br />

W<br />

X<br />

− X<br />

A W<br />

f<br />

REL<br />

= =<br />

XW<br />

Eine weitere typische Fehlerquelle ist der Betrieb der Meßgeräte in einem nicht spezifizierten Temperaturoder<br />

Frequenzbereich 16 , somit eine unsachgemäße Anwendung der Geräte.<br />

Die durch Störungen bewirkten Meßabweichungen lassen sich in systematische Abweichungen und<br />

statistische Abweichungen einteilen. Erstere sind ihrer Natur nach bekannt und folgedessen einer Korrektur<br />

zugänglich. So bewirkt z.B. das Einschalten eines realen Strommeßgerätes in einen Stromkreis durch die<br />

Erhöhung des Kreiswiderstandes immer eine Verminderung des zu bestimmenden Stromes. Diese<br />

Beeinflussung des Kreises ist aber im allgemeinen berechenbar und somit auch korrigierbar. Es treten aber<br />

auch systematische Abweichungen auf, die ihrer Natur nach kausal, aber in ihrer exakten Größe nicht<br />

bestimmbar sind (z.B. Alterung der Meßgeräte, Temperaturdrifts). Diese Abweichungen sind nicht exakt<br />

korrigierbar. Die Korrekturwerte können hier nur geschätzt werden.<br />

Die statistischen Abweichungen sind, wie bereits der Namen andeutet, in ihrer Größe nicht erfaßbar, nicht<br />

gerichtet und rein zufälliger Natur. Eine Beschreibung dieser Fehler ist aber mit Mitteln der Statistik<br />

möglich. Im Rahmen einer Meßreihe werden für eine Meßgröße mehrere Einzelmessung durchgeführt. Aus<br />

dieser Meßreihe lassen sich dann für die Meßgröße sogenannte Schätzwerte für den Mittelwert µ und<br />

Standardabweichung σ bestimmen (Siehe Kapitel <strong>1.</strong>4 Grundlagen der Statistik).<br />

F<br />

X<br />

ABS<br />

W<br />

16 Ein klassisches Beispiel für die unsachgemäße Verwendung <strong>von</strong> Meßgeräten ist die Bestimmung <strong>von</strong> Effektivwerten<br />

<strong>von</strong> nicht sinusförmigen Wechselsignale oder außerhalb des spezifizierten Frequenzbereiches. Einfache Meßgeräte<br />

leiten den Effektivwert aus dem Gleichrichtwert über eine Berechnung auf der Grundlage des Formfaktors für<br />

sinusförmige Signale ab. Werden diese Geräte für Messungen bei nicht sinusförmigen Größen eingesetzt, so beinhaltet<br />

der angezeigte Wert natürliche einen systematischen Fehler.<br />

C.Brunner - Elektrische Messtechnik Seite 7/27


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<strong>1.</strong> Systematische Abweichungen bei analogen Meßgeräten<br />

Die systematischen Abweichungen sind einerseits in der Beeinflussung des Prozesses durch das Einbringen<br />

eines nicht idealen Meßgerätes begründet. Durch die konstruktiven Mängel des Meßgerätes werden sich<br />

andererseits auch Abweichungen in der X A /X E Kennlinie des Meßgerätes ergeben. Die ideale<br />

Sollcharakteristik C soll wird hierdurch zur realen Istcharakteristik C ist verzerrt. Die wichtigsten Fehlerarten<br />

sollen im folgenden kurz erläutert werden.<br />

Abb. 6. Systematische Fehler eines Meßgerätes, Nullpunktsfehler (A), Verstärkungsfehler (B), integraler<br />

Linearitätsfehler (C), differentieller Linearitätsfehler (D)<br />

Nullpunktsfehler: Der Nullpunktsfehler (A) ergibt sich durch eine Verschiebung der idealen Kennlinie<br />

C soll . Er ist in erster Linie durch Offsetdrifts innerhalb des Meßgerätes bedingt und<br />

kann im allgemeinen einfach kompensiert werden 17 .<br />

Verstärkungsfehler: Der Verstärkungs- oder Steigungsfehler (B) ergibt sich durch eine Drehung der<br />

idealen Kennlinie C soll . Er kann im allgemeinen durch einfaches Ändern der<br />

Verstärkung oder des Meßkoeffizienten MK kompensiert werden 18 .<br />

Integraler Linearitätsfehler: Als integraler Linearitätsfehler (C) wird üblicherweise die<br />

maximale Abweichung der Istcharakteristik C ist <strong>von</strong> der<br />

Sollcharakteristik C soll bezeichnet.<br />

Wird der Abgleich des Meßgerätes nicht auf Fehlerfreiheit im Nullpunkt und Meßbereichsendwert, sondern<br />

auf minimale Fehlerquadrate durchgeführt, so ergibt sich im allgemeinen ein wesentlich kleinerer integraler<br />

Linearitätsfehler.<br />

Differentieller Linearitätsfehler:<br />

Der differentielle Linearitätsfehler (D) stellt den maximalen<br />

Unterschied der <strong>1.</strong> Ableitung <strong>von</strong> Istcharakteristik C ist und<br />

Sollcharakteristik C soll dar. Er beschreibt somit den Linearitätsfehler<br />

der Meßcharakteristik im jeweiligen Arbeitspunkt.<br />

17 Typische Ursache für das Auftreten <strong>von</strong> Nullpunktsfehlern bei klassischen Zeigerinstrumenten ist eine falsche<br />

Betriebslage oder fehlender Nullabgleich der Zeigerposition. Bei modernen elektronischen MG kann der Nullpunktsfehler<br />

durch Offsetspannungen der Meßverstärker bedingt sein.<br />

18 Durch Änderung der Federkonstante zufolge der Alterung bei klassischen Zeigerinstrumenten. Durch Alterung <strong>von</strong><br />

Bauelementen im Signalfluß der Meßverstärker (z.B. Widerstände des Gegenkopplungsnetzwerkes) oder durch den<br />

Drift <strong>von</strong> Referenzspannungen der ADCs im MG.<br />

C.Brunner - Elektrische Messtechnik Seite 8/27


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Neben den oben erläuterten Fehlergrößen können auch noch Hysteresefehler auftreten, z.B. durch Meßgerät<br />

mit magnetischen Wandlern oder bei klassischen Zeigerinstrumenten durch Lagerreibungskräfte.<br />

2. Systematische Abweichungen bei digitalen Meßgeräten<br />

Neben den bei analogen Meßgeräten erläuterten Fehlergrößen können bei digitaler Meßwertverarbeitung<br />

noch zusätzliche, durch die Quantisierung der analogen Information bedingte, Fehler auftreten.<br />

Abb. 7. Systematische Fehler bei der Quantisierung, variierende Intervallbreite (A), missing code (B), nicht monotone,<br />

nicht eindeutige Wandlung (C)<br />

Differentieller Linearitätsfehler: Eine veränderliche Größe der Intervallbreite IB führt auf einen<br />

differentiellen Linearitätsfehler (A). Dieser kann bei unstetigen<br />

Charakteristiken nicht mehr aus dem Unterschied der <strong>1.</strong> Ableitungen<br />

<strong>von</strong> Istcharakteristik C ist und Sollcharakteristik C soll berechnet<br />

werden, sondern muß über den Differenzenquotienten bestimmt<br />

werden.<br />

Missing code: Werden die Verschiebungen der Intervallgrenzen so groß, daß diese über ein<br />

benachbartes Intervall hinausgeschoben werden, so tritt der Digitalcode für das<br />

entsprechende Intervall überhaupt nicht mehr auf (B). In diesem Fall zeigt die<br />

Wandlung einen missing code Fehler. Dieser Fehler ist vor allem bei sehr<br />

hochauflösenden Wandlern verbreitet.<br />

Monotonie: Wird die Eingangsgröße X E monoton vergrößert und steigt die Wertigkeit der<br />

entsprechenden Digitalwerte <strong>von</strong> X A nicht ebenfalls stetig an, so spricht man <strong>von</strong><br />

einem nicht monotonen Wandler (C). Zusätzlich kann in diesem Fall das<br />

Wandlungsergebnis auch mehrdeutig sein, da X E Werte aus verschiedenen<br />

Quantisierungsintervallen auf den gleichen X A Wert abgebildet werden.<br />

<br />

3. Fehlerklassen<br />

Die Fehlerklassen wurden im Zusammenhang mit den klassischen elektromagnetischen / mechanischen<br />

Zeigerinstrumenten definiert. Die Fehlerklasse wurde auf den Meßbereich MB spezifiziert und gibt den<br />

maximalen Fehler für den Meßbereichsendwert MBE an. Da der Klassenfehler in % vom MBE angegeben<br />

ist, wird der Meßfehler für Messungen im unteren Bereich des Meßbereiches MB dementsprechend größer.<br />

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Klassische Fehlerklassen: 1,5 / 1,0 / 0,5 / 0,2 / 0,1<br />

<br />

Für die heute üblichen elektronischen Meßgeräte wird der Meßfehler meist als Summe eines<br />

Nullpunktsfehlers (ist über den gesamten MB konstant) und eines Steigungsfehlers angegeben. Für<br />

Präzisionsmeßgeräte ist es auch üblich die Einflußgrößen getrennt zu spezifizieren, so z.B. Temperaturdrift,<br />

Alterung, Netzspannungseinfluß, etc..<br />

Heutige digitale Spannungsmeßgeräte zeigen Fehler im Bereich <strong>von</strong> 0,1% bis 1ppm 19 . Der relative Fehler ist<br />

in einem Bereich <strong>von</strong> 10% bis 100% des MB annähernd konstant, sodaß nahezu für den gesamten MB<br />

gleiche Fehlerbedingungen gelten.<br />

Für eine genaue Spezifizierung der Meßfehler bei verschiedene Herstellern siehe auch:<br />

http://www.fluke.com/products/sections.aspAGID=6&SID=9<br />

http://www.tm.agilent.com/classes/MasterServletview=ProductandSolution&pgr-ItemID=1000000684&language=eng&locale=US<br />

4. Dynamische Meßfehler<br />

Im allgemeinen kann die Ausgangsgröße X A eines Meßgerätes der Eingangsgrößenänderung dX E nicht<br />

beliebig schnell folgen. Für die vorangegangenen Betrachtungen wurde aber da<strong>von</strong> ausgegangen, daß die<br />

zeitlichen Änderungen der Meßgröße wesentlich langsamer sind als die inneren Einschwing- oder<br />

Ausgleichsvorgänge. Ist diese Annahme nicht mehr gerechtfertigt, so muß zusätzlich zu dem bereits<br />

vorhandenen statischen Meßfehler, ein dynamischer Meßfehler ∆x(t) berücksichtigt werden.<br />

∆ x( t)<br />

= X ( t)<br />

− kX ( t)<br />

mit k als Meßkoeffizient<br />

A<br />

E<br />

Bei der Messung zeitlich veränderlicher Meßgrößen oder bei zeitlich diskontinuierlichen Messungen wird<br />

die Beziehung zwischen Ausgangs- X A und Eingangsgröße X E durch eine Differentialgleichung n-ter<br />

Ordnung beschrieben. In den meisten Fällen läßt sich das dynamische Verhalten des Meßgerätes aber einer<br />

der folgenden Kategorien zuordnen:<br />

Verzögerungsglied <strong>1.</strong> Ordnung – enthält einen Energiespeicher, z.B. Temperaturfühler, Hall<br />

Generatoren oder Bandbegrenzung im allgemeinen. Tiefpässe sind in nahezu jeder<br />

Übertragungskette enthalten, z.B. Quelle wird über ein Kabel an die nächste Eingangsstufe<br />

angekoppelt 20 .<br />

Verzögerungsglied 2. Ordnung – enthält zwei gekoppelte Energiespeicher, z.B. Drehspulmeßgerät,<br />

Operationsverstärker und harmonische Oszillatoren.<br />

Totzeitglieder – Das Ausgangssignal folgt dem Eingangssignal unverändert, aber mit einer<br />

gewissen zeitliche Verzögerung T D der Totzeit, z.B. Verzögerungsleitung oder Signallaufzeiten im<br />

Gerät im allgemeinen.<br />

Xa( t)<br />

= Xe(<br />

t − TD<br />

)<br />

19 Parts per million oder ppm<br />

20 Durch den Ausgangswiderstand der Quelle und Kapazität des Kabels wird ein Tiefpaß erster Ordnung gebildet. Die<br />

Kapazität eines Kabels wird vom Hersteller durch den Kapazitätsbelag spezifiziert, z.B. 100pF/m.<br />

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Abb. 8. Zeitlicher Zusammenhang zwischen Eingangs- X e (σ(t)) und Ausgangsgröße X a , Sprungantwort des<br />

Meßgerätes<br />

Für die oben angeführten Systeme kann die Identifizierung des Übertragungsverhaltens des Meßgerätes mit<br />

einfachsten Mitteln erfolgen. Als Eingangsgröße X e (t) wird hierbei eine Sprungfunktion σ(t) verwendet. Aus<br />

der sogenannten Sprungantwort X a (t) des Systems lassen sich die Koeffizienten der Übertragungsfunktion<br />

bestimmen.<br />

5. Fehlerfortpflanzung<br />

Als Ausgangspunkt für die Überlegungen zur Fehlerfortpflanzung soll die Ausgangsgröße X A dienen. Diese<br />

ist im folgenden nicht nur <strong>von</strong> einer Eingangsgröße X E abhängig, sondern zeigt eine Abhängigkeit <strong>von</strong> n<br />

Variablen. Es gilt also<br />

X = y = f x , x , x ,... x ) = f ( x , x , x ,... x )<br />

A<br />

(<br />

E1 E 2 E3<br />

En<br />

1 2 3 n<br />

wobei die einzelnen Eingangsvariablen X i wieder mit den Einzelfehlern ∆x i behaftet sind. Die Abhängigkeit<br />

<strong>von</strong> fehlerbehafteten Eingangsvariablen X i führt natürlich auch bei der Ausgangsgröße X A zu einem<br />

gewissen Fehler. Die Berechnung dieses Fehlers soll im folgenden versucht werden. Für die wahren Werte<br />

der Eingangsgrößen X iW gilt:<br />

x<br />

iW<br />

= x − ∆x<br />

i<br />

i<br />

Mit x i als Meßgröße und ∆x i als Meßfehler ist die Ausgangsgröße X A folgendermaßen darstellbar:<br />

X = y = f x + ∆x<br />

, x + ∆x<br />

, x + ∆x<br />

,... x + ∆x<br />

)<br />

A<br />

(<br />

1 1 2 2 3 3 n n<br />

Für die Ausgangsgröße X A gilt analog zur Eingangsgröße X E :<br />

y W<br />

=<br />

y − ∆y<br />

∆ y =<br />

y − y<br />

W<br />

=<br />

f ( x1 + ∆x1,<br />

x2<br />

+ ∆x2,<br />

x3<br />

+ ∆x3,...<br />

xn<br />

+ ∆xn)<br />

− f ( x1,<br />

x2,<br />

x3,...<br />

xn)<br />

Unter der Annahme ∆x


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Voraussetzung für die Reihenentwicklung ist, daß die Funktion in x analytisch ist, und somit im betrachteten<br />

Entwicklungspunkt x beliebig oft differenzierbar ist. Hierbei stellt x den Entwicklungs-punkt der Reihe dar<br />

und ∆x die Abweichungen vom Entwicklungspunkt 21 . Wird die Reihenentwicklung nach dem linearen Glied<br />

abgebrochen 22 und die partiellen Ableitungen nach den n Variablen berücksichtigt (X A hat n Dimensionen),<br />

so ergibt sich für ∆y:<br />

∆ y =<br />

∆y<br />

=<br />

f<br />

n<br />

∑<br />

∂f<br />

( x<strong>1.</strong>.<br />

xn)<br />

x , x2,<br />

x3,...<br />

xn)<br />

+ ∆x<br />

∂x1<br />

∂f<br />

( x<strong>1.</strong>.<br />

xn)<br />

+ ∆x<br />

∂x2<br />

∂f<br />

( x<strong>1.</strong>.<br />

xn)<br />

+ ... + ∆x<br />

∂xn<br />

( 1 1<br />

2<br />

n<br />

3 n<br />

i=<br />

1<br />

∂f<br />

( x .. x<br />

∂xn<br />

1 n)<br />

∆x<br />

n<br />

für ∆x i


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n<br />

1<br />

∆y<br />

= ∑<br />

i=<br />

1<br />

y = a x1<br />

+ a2x2<br />

+ ... + a n<br />

x n<br />

a i<br />

⋅ ∆x i<br />

Läßt sich die Ausgangsgröße X A als Produkt der Eingangsgrößen X Ei darstellen, so addieren sich die<br />

relativen Fehler ∆x i /x i .<br />

n<br />

1<br />

x1<br />

⋅ a2x2<br />

⋅ ⋅ a n<br />

x n<br />

n<br />

= ∑<br />

y i=<br />

1<br />

y = a ...<br />

∆y<br />

∆xi<br />

x<br />

i<br />

6. Statistische Abweichungen<br />

Kennzeichnend für die statistischen Abweichungen ist, daß für wiederholende Messungen ein und derselben<br />

Meßgröße X E unterschiedlich streuende Meßwerte X A auftreten. Für die Berechnung der statistischen<br />

Kenngrößen wird <strong>von</strong> einer Zufallsgröße X ausgegangen. Diese Zufallsgröße X kann durch mehrere<br />

Realisierungen x i dargestellt werden, die die aktuellen Einzelmessungen der Meßserie repräsentieren. Die<br />

Verteilung der Realisierungen x i kann durch zwei Parameter, den Erwartungswert µ und die<br />

Standardabweichung σ, vollständig beschrieben werden. Dieser Ansatz geht da<strong>von</strong> aus, daß für die<br />

Realisierung der Zufallsgröße X beliebig viele Realisierungen x i vorhanden sind, somit die Anzahl N der<br />

Realisierungen <strong>von</strong> x i gegen ∞ geht (N→∞).<br />

Dies ist bei einer reale Meßserie natürlich nicht gegeben. Es können daher für den Erwartungswert µ und<br />

die Standardabweichung σ nur Schätzwerte angegeben werden, die für eine steigende Anzahl N der<br />

Realisierungen beliebig nahe an die wahren Werte kommen können. Der Schätzwert für µ errechnet sich aus<br />

dem arithmetischen Mittelwert x der Realisierungen x i . Unter Zugrundelegung eines bestimmten<br />

Verteilungstyps 23 der Realisierungen kann ein Intervall um den Mittelwert x definiert werden, welches mit<br />

einer gewissen Wahrscheinlichkeit, dem so genannten Vertrauensniveau 24 (1-α), den Erwartungswert µ<br />

einschließt. Dieses Intervall wird auch als Konfidenzintervall bezeichnet.<br />

<strong>1.</strong>4. Grundlagen der Statistik<br />

Ausgangspunkt für die statistischen Betrachtungen sei eine Zufallsvariable X, deren Realisierungen x i durch<br />

die Einzelmessungen X Ai dargestellt werden können. Die einzelnen Realisierungen x i werden zufällige<br />

Abweichungen ∆x vom wahren Wert der Meßgröße X W zeigen, sie werden um den wahren Wert X W streuen.<br />

x = X + ∆x<br />

mit ∆x als Streuung der Meßwerte um den wahren Wert X W<br />

i<br />

W<br />

Aufgrund der Unsicherheit oder Streuung der Meßergebnisses und damit der Realisierungen x i ergibt sich<br />

eine Häufigkeitsverteilung der Meßergebnisse. Unter der Annahme, daß genügend (theoretisch unendlich<br />

viele) Einzelmessungen oder Realisierungen x i vorliegen, kann die Wahrscheinlichkeit p(x) für das Auftreten<br />

eines bestimmten Wertes <strong>von</strong> x i über X aufgetragen werden. Wirken viele <strong>von</strong>einander unabhängige, gleich<br />

verteilte (rein zufällige) Einflußgrößen auf die Messung ein, so liegt eine Normalverteilung 25 oder<br />

Gaußverteilung vor.<br />

23 In den meisten praktische Fällen kann immer mit der Gauß’schen Normalverteilung gerechnet werden. Neben der<br />

Normalverteilung sind auch noch Binominal- und Poissonverteilung gebräuchlich.<br />

24 Im allgemeinen wird mit einem Vertrauensniveau <strong>von</strong> 95% gearbeitet.<br />

25 Die große praktische Relevanz der Gaußverteilung wird durch den zentralen Grenzwertsatz erklärt. Wird eine<br />

physikalische Größe als Resultierende mehrere Einflußgrößen betrachtet und kann diese somit als Linearkombination<br />

mehrerer Zufallsvariablen geschrieben werden so gilt:<br />

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Abb. 9. Gaußsche Verteilungsfunktion für die Zufallsvariable x<br />

Die Wahrscheinlichkeitsdichtefunktion p(x) für die Normalverteilung kann folgendermaßen beschrieben<br />

werden:<br />

2<br />

1 ⎞<br />

⎜<br />

⎛ x−µ<br />

− ⋅ ⎟<br />

2 ⎝ σ ⎠<br />

1<br />

p ( x)<br />

= ⋅e<br />

mit µ als Erwartungswert und σ als Standardabweichung.<br />

σ 2π<br />

Wie aus der Verteilung ersichtlich ist, treten negative und positive Abweichungen gleich häufig oder<br />

wahrscheinlich auf, und die Wahrscheinlichkeit für deren Auftreten geht mit steigenden Abstand vom<br />

Erwartungswert µ rasch gegen Null. Als wichtige Kenngrößen in Zusammenhang mit der<br />

Standardabweichung σ gilt, daß 68% aller Werte innerhalb einer Intervalles <strong>von</strong> +/- σ um den<br />

Erwartungswert µ liegen (99,7% innerhalb +/- 3σ).<br />

Soll die Wahrscheinlichkeit für das Auftreten eines Wertes x i innerhalb eines Intervalls x 1 < x i < x 2 berechnet<br />

werden, so erfolgt dies über die Integration der Wahrscheinlichkeitsdichtefunktion p(x).<br />

P =<br />

x 2<br />

∫<br />

x1<br />

p(<br />

x)<br />

dx =<br />

1<br />

σ 2π<br />

x 2<br />

∫<br />

x1<br />

⋅e<br />

x ⎞<br />

⎜<br />

⎛ 2<br />

1 −µ<br />

− ⋅ ⎟<br />

2 ⎝ σ ⎠<br />

dx =<br />

1<br />

σ 2π<br />

x 2<br />

∫<br />

0<br />

⋅e<br />

x ⎞<br />

⎜<br />

⎛ 2<br />

1 −µ<br />

− ⋅ ⎟<br />

2 ⎝ σ ⎠<br />

1<br />

dx −<br />

σ 2π<br />

x1<br />

∫<br />

0<br />

⋅e<br />

x ⎞<br />

⎜<br />

⎛ 2<br />

1 −µ<br />

− ⋅ ⎟<br />

2 ⎝ σ ⎠<br />

dx<br />

Da das Integral einer analytischen Lösung nicht zugänglich ist, kann die Lösung nur über die tabellierte<br />

error function erf(x) erfolgen. Diese kann im entsprechenden Tabellenwerk nachgeschlagen werden.<br />

Die Normalverteilung wird durch die beiden Größen Erwartungswertes µ und Standard-abweichung σ<br />

vollständig beschrieben. Der Erwartungswert µ berechnet sich hierbei zum arithmetischen Mittelwert aller<br />

Einzelwerte x i und ist auch mit dem gesuchten wahren Wert der Meßgröße x w identisch.<br />

Z<br />

n<br />

=<br />

N<br />

∑<br />

n=<br />

1<br />

an<br />

⋅ Xn<br />

Der zentrale Grenzwertsatz besagt jetzt, daß für N → ∞ die Zufallsvariable Z n Gausverteilt wird. Voraussetzung hierfür<br />

ist lediglich, daß keiner der Prozesse vorherrschend ist, die statistische Unabhängigkeit der einzelnen Zufallsvariablen<br />

gewährleistet ist und die Endlichkeit ihrer Varianz.<br />

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x<br />

w<br />

=<br />

µ = lim ∑ xi<br />

für praktische Anwendungen gilt: xˆ<br />

= ∑<br />

N →∞<br />

1<br />

N<br />

N<br />

i=<br />

1<br />

Für den Erwartungswert µ gilt, daß die Summe aller linearen Abweichungen (x i - µ) Null ergibt und die<br />

Summe aller quadratischen Abweichungen (x i - µ) 2 ein Minimum ist.<br />

N<br />

∑<br />

i=<br />

1<br />

2<br />

( x i − µ ) = 0<br />

( xi − µ ) = Min<br />

N<br />

∑<br />

i=1<br />

1<br />

N<br />

N<br />

i=<br />

1<br />

xi<br />

Für praktische Anwendungen stehen natürlich nur endliche viele Meßwerte zur Verfügung es kann der<br />

Erwartungswert µ daher nur geschätzt werden, dieser Schätzwert wird mit xˆ bezeichnet. Als Maß für die<br />

Abweichungen der Einzelwerte x i vom Erwartungswert µ wird die Standard-abweichung σ oder deren<br />

Quadrat σ 2 , die Varianz 26 , verwendet.<br />

1<br />

N<br />

2<br />

σ = lim ∑(<br />

xi<br />

− µ ) für praktische Anwendungen gilt:<br />

N→∞<br />

N i=<br />

1<br />

s =<br />

1 N<br />

∑(<br />

N −1<br />

i=<br />

1<br />

− ˆ)<br />

xi x<br />

2<br />

Stehen nur endlich viele Messungen zur Verfügung, so können für Standardabweichung σ und Varianz σ 2<br />

wieder nur Schätzwerte angegeben werden. Diese werden als Schwankung s oder mittlerer quadratischer<br />

Fehler und Streuung s 2 bezeichnet. Bei wiederholenden Messungen ist darauf zu achten, daß diese unter<br />

möglichst unveränderten Randbedingungen und natürlich mit denselben Mitteln durchgeführt werden.<br />

Ähnlich der Fehlerfortpflanzung bei systematischen Fehlern tritt auch bei statistischen Größen eine<br />

Fehlerfortpflanzung auf. Der resultierende Gesamtfehler wird durch das Gauß’sche<br />

Fehlerfortpflanzungsgesetz beschrieben, auf dessen Ableitung hier verzichtet werden soll. Die resultierende<br />

Standardabweichung σ y wird ähnlich, dem bereits bekannten Fehlerfort-pflanzungsgesetz bei systematischen<br />

Fehlern, aus der geometrischen Summe der Standardabweichungen der Einzelgrößen σ i bestimmt:<br />

N<br />

2<br />

2 ⎛ ∂f<br />

( x1 , x2,...<br />

xn)<br />

⎞ 2<br />

σy<br />

= ∑⎜<br />

⎟ ⋅σi<br />

i=<br />

1 dxi<br />

⎝<br />

⎠<br />

oder<br />

s<br />

2<br />

y<br />

N<br />

⎛ ∂f<br />

( x x<br />

= ∑⎜<br />

i=<br />

1 ⎝ dxi<br />

1 , 2,...<br />

n)<br />

x<br />

2<br />

⎞<br />

⎟<br />

⎠<br />

⋅ s<br />

2<br />

i<br />

Ein einfaches Beispiel soll dies illustrieren. Es soll der mittlere quadratische Fehler s der<br />

Serienschaltung zweier Widerstände bestimmt werden. Aus dem Fertigungsprozeß ist bekannt, daß<br />

die Widerstände Toleranzen <strong>von</strong> 5% aufweisen.<br />

R 1 = 220E 5% s 1 = 11 R 2 = 470E 5% s 2 = 23,5<br />

R ges = R 1 + R 2<br />

26 Werden die Größen Erwartungswert und Varianz auf stochastische Signale angewandt, so entspricht die Größe des<br />

Erwartungswertes µ x dem Gleichanteil des Signals x(t). Die Standardabweichung σ x stellt den Effektivwert des<br />

Wechselanteils dar. Unter der Voraussetzung einer Normalverteilung der Signalamplituden läßt sich somit eine<br />

Aussage über die Wahrscheinlichkeitsdichtefunktion p(x) des Signals treffen. Der Effektivwert ρ x des Signales läßt<br />

sich somit folgendermaßen berechnen:<br />

2<br />

2<br />

ρ x = µ x +<br />

σ<br />

2<br />

x<br />

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Die Schwankung s ist hier durch den relativen Fehler des Produktionsprozesses gegeben und<br />

errechnet sich aus dem relativen Fehler bezogen auf den Wert des Widerstandes.<br />

2<br />

2<br />

2<br />

N<br />

2 ⎛ ∂Rges<br />

⎞ 2<br />

∂Rges<br />

2 ∂Rges<br />

2 2 2 2 2<br />

sges = ∑⎜<br />

⎟ ⋅ si<br />

= ⋅ s1<br />

+ ⋅ s2<br />

= 1 ⋅11<br />

+ 1 ⋅ 23,5 = 673,25 s = 25,947<br />

i=<br />

1 ⎝ dxi<br />

⎠ ∂R1<br />

∂R2<br />

Der Gesamtwiderstand R = 690 +/- 25,9 Ω oder 690 Ω +/- 3,76%<br />

Wie zu erwarten war ist der mittlere quadratische Fehler der Serienschaltung geringer als der<br />

systematische Fehler der Serienschaltung (dieser wäre wieder 5%).<br />

***<br />

Aus der laufenden Fertigung eines Widerstandes mit dem Normwert 100E werden 20 Stichproben<br />

genommen. Es sollen die Schätzwerte für den Erwartungswert µ und der Standardabweichung σ berechnet<br />

werden. Weiters soll die Häufigkeitsverteilung angegeben werden.<br />

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Stichproben dX sqr(dX) Klassifizierung Klasse Häufigkeit<br />

99,48 -0,49 0,237 99,5 99,3 2<br />

100,06 0,09 0,009 100,1 99,4 0<br />

100,27 0,30 0,092 100,3 99,5 1<br />

100,09 0,12 0,015 100,1 99,6 0<br />

100,10 0,13 0,018 100,1 99,7 0<br />

99,87 -0,10 0,009 99,9 99,8 2<br />

99,34 -0,63 0,393 99,3 99,9 1<br />

100,30 0,33 0,111 100,3 100 8<br />

100,40 0,43 0,187 100,4 100,1 6<br />

100,02 0,05 0,003 100,0 100,2 0<br />

99,91 -0,06 0,003 100,0 100,3 2<br />

99,77 -0,20 0,039 99,8 100,4 1<br />

100,01 0,04 0,002 100,0 100,5 1<br />

99,80 -0,17 0,028 99,8 100,6 1<br />

100,13 0,16 0,027 100,1 100,7 0<br />

99,64 -0,33 0,107 100,0<br />

99,82 -0,15 0,022 100,0 25<br />

100,01 0,04 0,002 100,0<br />

100,07 0,10 0,011 100,1<br />

Häufigkeitsverteilung H<br />

99,58 -0,39 0,150 100,0<br />

100,48 0,51 0,263 100,5<br />

10<br />

99,33 -0,64 0,406 99,3<br />

9<br />

100,63 0,66 0,439 100,6<br />

8<br />

100,13 0,16 0,027 100,1<br />

99,94 -0,03 0,001 100,0<br />

7<br />

6<br />

2499,18 2,599<br />

99,97 0,108<br />

5<br />

4<br />

Schätzwert für Erwartungswert x: 99,967<br />

3<br />

Schätzwert für Varianz s2: 0,108<br />

Schätzwert für Standardabweichung s: 0,329<br />

2<br />

Absolute Häufigkeit / Klasse<br />

1<br />

Häufigkeit<br />

0<br />

99,3 99,5 99,7 99,9 100,1 100,3 100,5 100,7<br />

Klasse<br />

***<br />

2. Meßbrücken<br />

Allen Ausschlagsverfahren gemeinsam ist die notwendige Belastung der Meßgröße (oder des zu<br />

beobachtenden Prozesses) durch die Bürde 27 des Meßgerätes. Moderne elektronische Meßgeräte mit<br />

Innenwiderständen R i >> 1MΩ kommen dem Ideal eines unbelasteten Meßobjekts schon sehr nahe, doch<br />

wird stets eine nicht verschwindende Belastung und somit auch Rückwirkung auf den Meßprozeß vorhanden<br />

sein.<br />

Ein vom Ansatzpunkt gänzlich verschiedenes Meßprinzip verfolgen die im nächsten Abschnitt vorgestellten<br />

Meßbrücken. Bei diesem Meßprinzip wird die Beeinflussung des Meßprozesses zufolge der endlichen<br />

27 Als Bürde wird allgemein die Rückwirkung des Meßvorganges auf den zu messenden Prozeß verstanden. Der für die<br />

Erfassung der Meßgröße dienende Fühler beeinflußt in mehr oder weniger starker Weise den Prozeß. Die resultierende<br />

Fehlanzeige ist somit <strong>von</strong> der gegebenen äußeren Belastung durch das Meßgerät, der Bürde, abhängig.<br />

C.Brunner - Elektrische Messtechnik Seite 17/27


Kenngrößen, Statistik und Meßbrücken Kapitel 5/8<br />

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Innenimpedanz Z i des Meßgerätes vollständig eliminiert. Dies wird dadurch erreicht, daß der zu messenden<br />

physikalischen Größe eine gleichartige und ihrem Betrag nach gleiche Größe gegenübergestellt wird.<br />

Hieraus leitet sich auch der Name Kompensationsmeßmethode 28 ab. Der „Zustand der Gleichheit“ der<br />

beiden gegenübergestellten Größen wird mit sogenannten Nulldetektoren bestimmt. Wie der Name<br />

Nulldetektor bereits nahelegt, wird die Detektion des „Zustand der Gleichheit“ leistungslos, also ohne<br />

jeglichen Energiefluß vom Meßobjekt oder Prozeß zum Meßgerät realisiert.<br />

Die Kompensationsmeßmethoden sind prinzipiell mit mehr oder weniger großem Aufwand für alle<br />

physikalischen Größen anwendbar. Im weiteren sollen aber ausschließlich Methoden zur Strom- und<br />

Spannungskompensation vorgestellt werden.<br />

Abb. <strong>1.</strong> Spannungs- und Stromkompensation mittels Spannungs- und Stromquellen<br />

Entsprechend dem Kompensationsprinzip werden den unbekannten Größen U x und I x , bekannte Größen U h<br />

und I h gegenübergestellt und deren absolute Größe solange variiert, bis der Ausschlag am Galvanometer Null<br />

erreicht. Als Anzeigeinstrumente wurden klassischerweise Zeigerinstrumente verwendet, deren Nullposition<br />

in Skalenmitte ist und deren Empfindlichkeit im Nullpunkt ein Maximum erreicht. Es werden keinerlei<br />

Forderungen an die Linearität und Genauigkeit des Nullinstruments gestellt. Im abgeglichenen Zustand<br />

werden durch den Innenwiderstand R i der Spannungsquelle, bzw. den Innenleitwert G i der Stromquelle<br />

keinerlei Fehler verursacht, da U h stromlos und I h spannungslos ist – die Quellen sind somit leistungslos.<br />

Die Kompensationsschaltungen werden allgemein als Vorstufe zu den, im zweiten Teil diese Kapitels<br />

besprochenen, Brückenschaltungen betrachtet und sollen deshalb kurz vorgestellt werden.<br />

2.<strong>1.</strong> Gleichgrößenkompensation<br />

Die vollständige Kompensation wird im allgemeinen nicht durch Variation der Hilfsenergiequelle U h oder I h<br />

erreicht, sondern durch Teilung oder Anpassung der konstanten Hilfsenergie an die unbekannte Größe ( z.B.<br />

über Widerstandsteiler). Aus dem Teilungsverhältnis im abgeglichenen Zustand läßt sich auf die unbekannte<br />

Größe rückschließen.<br />

<strong>1.</strong> Gleichspannungskompensation<br />

Nachfolgende Abbildung zeigt des Kompensationsprinzip für Gleichspannung. Es wird der<br />

Widerstandsabgriff R an R 0 so lange variiert bis U h = U x gilt und das Galvanometer hiermit stromlos wird.<br />

28 Neben der vollständigen Kompensation der Meßgrößen findet im Zusammenhang mit Meßbrücken auch noch die<br />

Teilkompensation Anwendung. Hier wird die unbekannte Größe nur teilweise durch Gegenüberstellung einer<br />

konstanten Größe kompensiert, der verbleibende Differenzbetrag kann aber mit größerer Auflösung bestimmt werden.<br />

Überdies werden Drift und andere Störeinflüsse ebenfalls teilweise kompensiert. Die Teilkompensation ist natürlich<br />

nicht mehr leistungslos.<br />

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Abb. 2. Spannungskompensation mittels Spannungsquelle und verstellbarem Widerstandsteiler<br />

Sind die Größen U h der Spannungsquelle und das Widerstandsteilerverhältnis R/R 0 bekannt, so kann die<br />

unbekannte Größe U x ohne Fehler berechnet werden, das Galvanometer ist ja stromloß und zeigt daher auch<br />

bei endlichem Innenwiderstand R m keinen Spannungsabfall.<br />

R<br />

Ux<br />

= Uk<br />

= Uh<br />

⋅<br />

R +<br />

= U ⋅<br />

R<br />

h<br />

( R0 − R)<br />

R0<br />

Die vollständige Gleichspannungskompensation wird vor allem bei Präzisionmessungen mit<br />

Spannungsnormalen angewandt. Obige Schaltung ist nur für U x < U h geeignet, für U x > U h wird der<br />

Widerstandsteiler auf der Seite der unbekannten Größe U x eingeschalten, die Messung erfolgt dann aber<br />

nicht mehr leistungslos.<br />

Praktisch ist die Gleichspannungskompensation durch den Einsatz <strong>von</strong> hochohmigen Meßverstärkern (R i >><br />

1MΩ) weitgehend verdrängt worden.<br />

2. Gleichstromkompensation<br />

Nachfolgende Schaltung führt die Stromkompensation wieder auf eine Spannungskompensation zurück. Der<br />

durch I x an R 1 erzeugte Spannungsabfall wird durch einen gleich großen entgegengesetzten Spannungsabfall<br />

an R kompensiert. Hierdurch wird der Spannungsabfall am Galvanometer für die Masche R m -R-R 1 zu Null.<br />

Der abgeglichen Zustand wird wieder durch Variation des Widerstandsteilerverhältnisses R/R 0 erreicht.<br />

Abb. 3. Stromkompensation mittels Spannungsquelle und verstellbarem Widerstandsteiler<br />

Mit positivem Umlaufsinn in der Masche R m -R-R 1 gilt:<br />

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−Ug − ( Ih<br />

− Ix)<br />

R + IxR1 = 0 oder mit U g = 0<br />

I<br />

I<br />

h = x ⋅<br />

R + R<br />

R<br />

1<br />

Gl.1<br />

Für die äußere Masche mit der Hilfsspannungsquelle gilt:<br />

( I h − Ix)<br />

R + Ih(<br />

R0 − R)<br />

−Uh<br />

= 0<br />

oder Ih R0<br />

= Uh<br />

+ IxR<br />

Gl.2<br />

Nach Einsetzten <strong>von</strong> Gl.1 in Gl.2 kann I x direkt bestimmt werden:<br />

R<br />

Ix<br />

= Uh<br />

⋅<br />

2<br />

R0 ⋅( R1<br />

+ R)<br />

− R<br />

Als Nulldetektoren werden in der Praxis hochempfindliche Galvanometer (bis 100nV) oder<br />

Spannungsverstärker mit sehr geringer Offsetspannung verwendet.<br />

2.2. Widerstandsmeßbrücken<br />

Beim Betrieb <strong>von</strong> Meßbrücken unterscheidet man je nach Systematik der Anwendung zwischen<br />

Ausschlagsverfahren, bei denen die Brückendiagonalspannung mit hochohmigen Meßverstärkern gemessen<br />

wird, und Abgleich- oder Nullverfahren. Bei letzteren wird die Brückendiagonal-spannung durch Variation<br />

eines Brückenzweiges zu Null abgeglichen, und diese entsprechen somit den obigen<br />

Kompensationsverfahren. Durch Parallelschaltung zweier Widerstandsteiler an einer gemeinsamen<br />

Speisespannung U o entsteht die einfachste aller Brückenschaltung.<br />

Diese erstmals <strong>von</strong> Wheatstone 1834 zur Messung <strong>von</strong> Widerstandswerten eingesetzte Brückenschaltung<br />

wird dem entsprechend auch Wheatstone Brücke genannt. Sie wird zur Bestimmung <strong>von</strong> ohmschen<br />

Widerständen eingesetzt. Für das Folgende sei R x = R 2 der zu bestimmende Widerstand.<br />

Abb. 4. Widerstandsmeßbrücke nach Wheatsstone<br />

Die Diagonalspannung der Brücke berechnet sich aus der Differenz der Teilspannungen U R2 und U R4 der<br />

beiden Spannungsteiler R 1 -R 2 und R 3 -R 4 .<br />

und damit zu<br />

R<br />

R + R<br />

2<br />

UR 2 = U 0 ⋅<br />

und<br />

1 2<br />

UR 4<br />

= U<br />

0<br />

R4<br />

⋅<br />

R3<br />

+ R<br />

4<br />

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Ud<br />

⎛ R2<br />

= U 0 ⋅⎜<br />

⎝ R1<br />

+ R2<br />

R4<br />

⎞<br />

− ⎟ = U ⋅<br />

R3<br />

+ R4<br />

⎠<br />

R2R3<br />

− R1R4<br />

R + R2)<br />

⋅(<br />

R3<br />

+ R )<br />

0<br />

( 1<br />

4<br />

Daraus ergibt sich für die Abgleichbedingung U d = 0 der Brücke zu<br />

0 R R R R<br />

Ud = = 2 3 − 1 4 und somit<br />

Rx<br />

= R<br />

2<br />

R<br />

= R1⋅<br />

R<br />

4<br />

3<br />

Eine wichtige Größe für die Abgleichbarkeit <strong>von</strong> Meßbrücken ist die Empfindlichkeit ε im Abgleichspunkt.<br />

Als Empfindlichkeit ε soll die Änderung der Brückendiagonalspannung U d bei Veränderung des<br />

unbekannten Widerstandes R x verstanden werden.<br />

∆Ud<br />

∆Rx<br />

ε = mit δ Rx<br />

= als relative Widerstandsänderung.<br />

δRx<br />

Rx<br />

Die Empfindlichkeit ε erreicht ein Maximum 29 , wenn die Brücke so dimensioniert wird, daß im Abgleich gilt<br />

R x = R 2 = R 1 . Die Spannung U o sollte sich also auf den oberen und unteren Brückenwiderstand gleich<br />

aufteilen.<br />

Als einfaches Anwendungsbeispiel für den Einsatz einer Widerstandsmeßbrücke bietet sich die<br />

Temperaturmessung über PT 1000 Temperaturfühler an.<br />

Abb. 5. Widerstandsmeßbrücke mit PT 1000 und Differenzverstärker für die Temperaturmessung<br />

Als Betriebsspannung der Brücke sollen 5V dc angenommen werden. Aus dem Ansatz für die<br />

Brückendiagonalspannung ergibt sich für den Fall R 1 = R 2 = R 3 = 1kΩ.<br />

⎛ 1 RPT<br />

1000 ⎞<br />

U d = U 0 ⋅⎜<br />

− ⎟ mit R PT1000 in kΩ<br />

⎝ 2 1+<br />

RPT<br />

1000 ⎠<br />

29 Neben der Spannungsempfindlichkeit ε ist für die Genauigkeit des Abgleichs natürlich noch die Empfindlichkeit des<br />

Nullinstruments <strong>von</strong> Bedeutung.<br />

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Temp Res PT 1000 U PT1000 Ud Ua<br />

-40 842,7 2,287 0,21 -2,13<br />

-30 882,2 2,344 0,16 -1,56<br />

-20 921,6 2,398 0,10 -1,02<br />

-10 960,9 2,450 0,05 -0,50<br />

0 1000,0 2,500 0,00 0,00<br />

10 1039,0 2,548 -0,05 0,48<br />

20 1077,9 2,594 -0,09 0,94<br />

30 1116,7 2,638 -0,14 1,38<br />

40 1155,4 2,680 -0,18 1,80<br />

50 1194,0 2,721 -0,22 2,21<br />

60 1232,4 2,760 -0,26 2,60<br />

70 1270,7 2,798 -0,30 2,98<br />

80 1308,9 2,834 -0,33 3,34<br />

90 1347,0 2,870 -0,37 3,70<br />

100 1385,0 2,904 -0,40 4,04<br />

110 1422,9 2,936 -0,44 4,36<br />

120 1460,6 2,968 -0,47 4,68<br />

130 1498,2 2,999 -0,50 4,99<br />

140 1535,8 3,028 -0,53 5,28<br />

Ausgang [V]<br />

5,00<br />

4,00<br />

3,00<br />

2,00<br />

1,00<br />

0,00<br />

-1,00<br />

-2,00<br />

Ausgangsspannung Ua<br />

Ua<br />

-3,00<br />

-40 -20 0 20 40 60 80 100 120 140<br />

Temperatur [C]<br />

Für den temperaturabhängigen Widerstandswert des PT 1000 Elementes gilt:<br />

−3<br />

−6<br />

2<br />

R = R0 ⋅(1<br />

+ 3,908⋅10<br />

⋅ϑ<br />

− 0,5802⋅10<br />

⋅ϑ<br />

−....)<br />

mit R o = 1kΩ und ϑ in °C<br />

ϑ<br />

Wie aus der U a /T Kennlinie ersichtlich ist, würden bei der Temperaturmessung über die PT 1000 Meßbrücke<br />

starke Nicht-Linearitäten auftreten. Diese Nicht-Linearitäten sind jedoch nicht durch das PT 1000 Element<br />

bedingt sondern resultieren aus der Änderung des Brückenquerstromes im Zweig des PT 1000 Elementes.<br />

Ändert sich die Temperatur ändert sich auch der Widerstand des PT 1000 Elementes und somit auch der<br />

Längswiderstand des linken Brückenzweiges. Mit der Änderung des Längswiderstandes ändert sich auch der<br />

Querstrom und bedingt hierdurch die Nicht- Linearität. Diese müssen für eine praktische Realisierung<br />

kompensiert werden.<br />

Eine einfache Möglichkeit die Nicht- Linearitäten zu umgehen besteht darin die Brückenzweige mit<br />

Konstantstrom zu betreiben. Hierfür werden die beiden oberen Brückenelemente durch<br />

Konstantstromquellen ersetzt.<br />

<br />

Durch den Einbau des PT 1000 in eine Brückenanordnung wird die Meßanordnung unabhängig <strong>von</strong><br />

Versorgungsspannungsschwankungen, da diese beide Brückenzweige betrifft und sich die Drifts gegenseitig<br />

kompensieren.<br />

Weiters sollte die Eigenerwärmung des Pt 1000 Elements zufolge des Querstromes der Meßbrücke<br />

berücksichtigt werden (P v ~ 6mW).<br />

Die PT 1000 Brücke wird durch den nachfolgenden Differenzverstärker belastet. Für Präzision- messungen<br />

empfiehlt es sich den Differenzverstärker durch einen Instrumentation-Verstärker zu ersetzten (siehe Kapitel<br />

Operationsverstärker).<br />

***<br />

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Neben Platinelementen (PT 100 , PT 1000 ) können auch noch Heißleiter NTC 30 oder Kaltleiter PTC zur<br />

Temperaturmessung eingesetzt werden. Diese zeigen wesentlich stärkere Nicht-Linearitäten, sind aber<br />

preisgünstiger.<br />

Ein anderer wichtiger Anwendungsfall <strong>von</strong> Gleichstrommeßbrücken ist die Messung <strong>von</strong> Kraft oder<br />

Beschleunigung über Dehnungsmesstreifen. Hier werden in die vier Brückenzweige Dehnungsmess-streifen<br />

geschalten und am Meßobjekt physikalisch im Quadrat angeordnet. Hierdurch kann der Temperatureinfluß<br />

weitestgehend kompensiert werden.<br />

Für die Messung sehr kleiner Widerstandswerte (R x


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Die Abgleichbedingung kann <strong>von</strong> der schon bekannten Abgleichbedingung für Gleichstrommeß-brücken<br />

einfach hergeleitet werden, die Beziehung muß nur auf Impedanzen umgeschrieben werden. Für<br />

Gleichstrommeßbrücken gilt:<br />

R<br />

2 R3<br />

= R1⋅<br />

R4<br />

⋅ und somit: Z 2 ⋅ Z 3 = Z1⋅<br />

Z 4<br />

Die Abgleichbedingung muß sowohl für den Betrag als auch die Phasenlage erfüllt sein. Das bedeutet aber<br />

auch, daß sie für Real- und Imaginärteil erfüllt sein muß. Wird Z als R + jX angesetzt, so ergeben sich<br />

folgende Bedingungen für den Abgleich der Brücke:<br />

aus dem Realteil: R2 ⋅ R3<br />

− X 2 ⋅ X 3 = R1⋅<br />

R4<br />

− X 1⋅<br />

X 4<br />

aus dem Imaginärteil: R3⋅<br />

X 2 + R2<br />

⋅ X 3 = R4<br />

⋅ X 1 + R1⋅<br />

X 4<br />

Da für den Brückenabgleich zwei Bedingungen zu erfüllen sind, müssen auch zwei unabhängig <strong>von</strong>einander<br />

verstellbare Abgleichelemente vorhanden sein. Diese werden meistens als variable Kapazitäten oder<br />

Widerstände ausgeführt. Als Beispiele sollen im weiteren je eine Meßbrücke für die Kapazitäts- und<br />

Induktivitätsmessung vorgestellt werden.<br />

<strong>1.</strong> Wien Brücke<br />

Die Meßbrücke nach Wien wird für die Kapazitätsbestimmung eingesetzt. Über die Wien Brücke kann<br />

nicht nur die Kapazität, sondern auch der Serien- oder Parallelersatzwiderstand der unbekannten Kapazität<br />

bestimmt werden. Die Brücke kann in zwei Modifikationen aufgebaut werden, je nachdem, ob der Serienoder<br />

Parallelersatzwiderstand der Kapazität ermittelt werden soll. Da im allgemeinen für Kapazitäten das<br />

Parallelersatzschaltbild Verwendung findet, soll diese Modifikation im folgenden besprochen werden.<br />

Abb. 7. Wien Brücke zur Messung <strong>von</strong> Kapazität und Parallelersatzwiderstand<br />

Aus der Abgleichbedingung für die Brückenimpedanzen Z 1 ... Z 4 ergibt sich:<br />

R2<br />

⋅ R3<br />

Rx<br />

⋅ R<br />

=<br />

1+<br />

jω C 2R2<br />

1+<br />

jω<br />

4<br />

CxRx<br />

Nach dem getrennten Gleichsetzten <strong>von</strong> Real- und Imaginärteil ergibt sich für den Parallelwiderstand R p und<br />

die verlustlose Kapazität C x :<br />

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Rxp<br />

R3<br />

= R2<br />

⋅<br />

R4<br />

Cx<br />

R4<br />

= C 2 ⋅<br />

R3<br />

Der Verlustwinkel des Kondensators errechnet sich hiermit zu:<br />

tan δ =<br />

1<br />

ωRxpCx<br />

Über die Bestimmung <strong>von</strong> Kapazitäten hinausgehend wird die Wienbrücke in Zusammenhang mit<br />

kapazitiven Sensoren eingesetzt. Hier wird die Sensorkapazität jedoch nicht kompensiert sondert die Brücke<br />

wird als Ausschlagsbrücke betrieben (z.B. Messung der Luftfeuchte 33 , Gassensoren).<br />

2. Maxwell-Wien Brücke<br />

Die klassische Meßbrücke zur Bestimmung <strong>von</strong> Induktivitäten nach Maxwell verwendet ein<br />

Induktivitätsnormal als Vergleichselement. Da dieses im allgemeinen schwer herzustellen ist wird oft die<br />

Brücke nach Maxwell-Wien eingesetzt. Diese Brückenanordnung arbeitet mit einer variablen Kapazität<br />

analog zur Wien Brücke.<br />

Abb. 8. Maxwell-Wien Brücke zur Messung <strong>von</strong> Induktivität und Serienersatzwiderstand<br />

Aus der Abgleichbedingung für die Brückenimpedanzen Z 1 ... Z 4 ergibt sich:<br />

R4<br />

R2<br />

⋅ R3<br />

= ( Rxs + jωLxs)<br />

⋅<br />

1+<br />

jωC<br />

4R4<br />

Nach dem getrennten Gleichsetzten <strong>von</strong> Real- und Imaginärteil ergibt sich für den Serienersatz-widerstand<br />

R s und die verlustlose Induktivität L x :<br />

Rxs<br />

R<br />

R<br />

3<br />

= R2<br />

⋅<br />

Lx = C 4 ⋅ R2<br />

⋅ R3<br />

4<br />

Der Verlustwinkel der Induktivität errechnet sich hiermit zu:<br />

tan δ =<br />

Rxs<br />

ωL<br />

x<br />

33 Die Luftfeuchte wird über die Veränderung der Dielektrizitätskonstante und damit der Kapazität, bei Eintritt <strong>von</strong><br />

Wasser in das Dielektrikum eines Plattenkondensators bestimmt. Die Sensorkapazität ist mit einer porösen Elektrode<br />

aufgebaut, sodaß die in der Umgebungsluft enthaltenen Luftfeuchte ins Dielektrikum eindringen kann. Die<br />

Dielektrizitätskonstante <strong>von</strong> Wasser ist mit ε r = 81, viel größer als die der meisten anderen Stoffe.<br />

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Die immer steigende Leistungsfähigkeit elektronischer Meßgeräte (R i >> 1MΩ) und die Fortschritte der<br />

digitalen Meßtechnik haben Brückenschaltungen mit vollständiger Kompensation immer mehr in den<br />

Hintergrund gedrängt. Meßverfahren mit Teilkompensation (Ausschlagsbrücken) haben hingegen an<br />

Bedeutung gewonnen, da hier Störeinflüsse und Drifterscheinungen vom Prinzip her schon teilweise<br />

kompensiert werden können (z.B. Temperaturmessung in Wheatstone Brücke mit PT 100 Element oder Kraft<br />

und Beschleunigungsmessung mit Dehnungsmeßstreifen).<br />

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3. Literatur:<br />

/1/ H. Weinrichter, F. Hlawatsch, Stochastische Grundlagen nachrichtentechnischer Signale, Springer<br />

Verlag, Wien 1991<br />

/2/ I.N. Bronstein, K.A. Semendjajew, Taschenbuch der Mathematik, Verlag Nauka Moskau, Teubner<br />

Leipzig 1985<br />

/3/ H. Hofmann, Das elektromagnetische Feld – Theorie und grundlegende Anwendungen, Verlag<br />

Springer, Wien New York1982<br />

/4/ G. Heyne, Elektronische Meßtechnik – Eine Einführung für angehende Wissenschaftler, Verlag R.<br />

Oldenbourg, München Wien 1999<br />

/5/ E. Herter, W. Röcker, Nachrichtentechnik, Übertragung und Verarbeitung, Verlag C. Hanser,<br />

München Wien 1982<br />

/6/ M. Stöckl, K. H. Winterling, Elektrische Meßtechnik, B. G. Teubner, Stuttgart Wien 1978<br />

/7/ R. P. Patzelt, H. Schweinzer, Elektrische Meßtechnik, Zweite Auflage, Verlag Springer, Wien New<br />

York1996<br />

/8/ R. Lerch, Elektrische Meßtechnik - analog und digitale Verfahren, Verlag Springer, Wien New<br />

York1996<br />

/9/ R. Parthier, Messtechnik – Grundlagen für technische Fachrichtungen, Vieweg Verlag, Wiesbaden<br />

2001, ISBN 3-528-03941-8<br />

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