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Handout zur Vorlesung "Rastermethoden" - Teil 1

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AFM - Aufbau<br />

AFM - Aufbau<br />

• Lateral: ca.100nm (Tip-abhängig)<br />

• Axial: ca.1nm<br />

Cantilever: AFM Spitzen<br />

• Lateral: ca.100nm – 120µm<br />

• Tiefe: ca.1nm – 1µm<br />

Tisch/Scanner: Piezo-Keram ik<br />

Blei–Zirkonium-Titan Verbindungen<br />

Messaufbau<br />

Messaufbau<br />

Klaus Meer holz, Raster m ethoden 1 19<br />

Klaus Meer holz, Raster m ethoden 1 20<br />

AFM - Messprinzip<br />

AFM –Modes<br />

Input<br />

Signal<br />

Cantilever<br />

deflection<br />

Photodiode,<br />

Gitter<br />

Messung der Tastenspitzen-Auslenkung<br />

Feedback Loop<br />

Laser<br />

X,Y<br />

Z<br />

Feedback<br />

Electronics<br />

Feedback Loop<br />

Output Signal<br />

Adjusts Z position<br />

Contact<br />

Non-contact<br />

Contact<br />

Modes<br />

Vibrating<br />

Modes<br />

Mode<br />

Contact (Topography)<br />

Lateral Force (Friction)<br />

Lithography (engraving)<br />

Scanning Thermal<br />

Tapping (Topography)<br />

Magnetic Force<br />

Elec tric Forc e<br />

Kelvin Probe<br />

Electrochemistry<br />

Wechselwirkungspotential U:<br />

R Kugelradius, A Hamakerkonstante<br />

Contact mode<br />

Vibrating mode<br />

Klaus Meer holz, Raster m ethoden 1 21<br />

Klaus Meer holz, Raster m ethoden 1 22<br />

AFM: Tapping mode<br />

AFM: Contact-Force mode<br />

Beispiel: Chrom auf oxidiertem Si-Wafer (<strong>zur</strong> Eichung des AFM)<br />

Topogr aphi e<br />

S ignal<br />

(sensitiv<br />

Phasen Signal<br />

auf “Här te” des Mater ials)<br />

Van-der-Waals Kräfte<br />

- Repulsion<br />

- Attraktion<br />

Hook’s Law: F = -k Z<br />

10µm 10µm<br />

Sample<br />

Kratfkonstante<br />

(Cantilever)<br />

Abstand<br />

Hexadezimale Kodierung des Ortes<br />

Stufenhöhe ca. 100 nm<br />

Sprung des Signals an allen Kanten (Artefact)<br />

“Bananenschale n”: Morphologie des SiO2<br />

Klaus Meer holz, Raster m ethoden 1 23<br />

Klaus Meer holz, Raster m ethoden 1 24<br />

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