Spectrum 161
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Ausgabe <strong>161</strong> | Mai 2021<br />
Das Hitachi FlexSEM1000II – eine cleveres Kompakt-REM<br />
mit hoher Flexibilität (Teil 1)<br />
Tabletop-REM wie die TM4000 Modelle<br />
von Hitachi haben im Verlauf des letzten<br />
Jahrzehnts eine bemerkenswerte<br />
Entwicklung genommen. Sie sind vor<br />
allem für Nutzer wertvoll, die analytische<br />
Möglichkeiten jenseits der<br />
FlexSEM in freistehender Installation<br />
lichtmikroskopischen Auflösung und<br />
Tiefenschärfe oder gar chemische Informationen<br />
über Ihre Materialien<br />
suchen.<br />
Technische Miniaturisierung und<br />
günstige Bauweise bei Tabletop-<br />
Instrumenten (Einstieg bei unter<br />
50.000 €) führen jedoch zu einer Reihe<br />
von Kompromissen hinsichtlich<br />
der Abbildungsqualität, Flexibilität<br />
oder untersuchbarer Probengröße.<br />
Wer Strukturen im Nanometerbereich<br />
oberflächensensitiv unter<br />
besten Vakuumbedingungen und<br />
zudem aus verschiedenen Blickrichtungen<br />
betrachten möchte, stößt<br />
mit diesen Geräten u.U. an die Grenzen.<br />
In früheren Zeiten blieb dann<br />
lediglich die Aufrüstung zum raumfüllenden<br />
und von einem Experten<br />
zu bedienenden Großgerät.<br />
Wir möchten an dieser Stelle und in<br />
den nächsten Ausgaben des <strong>Spectrum</strong><br />
eine Lösung vorstellen, die Preis,<br />
kompakte Maße, einfache Bedienung<br />
(Autofunktionen, Navigationskamera,<br />
etc.), einfachste Wartung und Installation<br />
mit der Leistungsfähigkeit<br />
eines Großgerätes verbindet: Das Flex-<br />
SEM1000II.<br />
Das FlexSEM ermöglicht die Installation<br />
auf dem Tisch oder auf justierbaren<br />
Füßen auf dem Fußboden. Mittels<br />
der angebrachten Rollen ist es sogar<br />
mobil. Bis auf ein wenig Platz für die<br />
Seite 2<br />
Partikelcharakteristik jetzt auch in<br />
Gemischen bestimmen<br />
Effective Optical Solitions, kurz<br />
EOS, ist ein innovativer Anbieter für<br />
Lösungen im Bereich der Partikelcharakteristik.<br />
EOS hat sich auf die<br />
Entwicklung von Messgeräten spezialisiert,<br />
die Partikel mit der neuartigen<br />
patentierten Methode SPES<br />
analysieren.<br />
SPES (Single Particle Extinction and<br />
Scattering) basiert auf der interferometrischen<br />
Analyse einer in Vorwärtsrichtung<br />
durch ein einzelnes<br />
Partikel gestreuten Wellenfront. Teilchen<br />
werden dafür in einer Flüssigkeit<br />
dispergiert und in einem laminaren<br />
Strom durch eine Durchflusszelle<br />
geführt. Dort werden die vereinzelten<br />
Partikel von einem fokussierten<br />
Laserstrahl getroffen. Die Partikel erzeugen<br />
dabei ein Interferenzmuster<br />
zwischen dem Laserstrahl und dem<br />
vorwärts gestreuten Licht, welches in<br />
einer Fotodiode aufgezeichnet wird.<br />
Seite 3<br />
Inhalt<br />
Elektronenmikroskopie 2, 5 - 8<br />
Imaging 9, 12<br />
Licht & Laser 7<br />
Life Science 10<br />
Materialwissenschaften 3, 4<br />
Magnetismus 11<br />
Spektroskopie 3, 4<br />
Über uns 5, 12<br />
EUROPE
Elektronenmikroskopie<br />
Das Hitachi FlexSEM1000II – eine cleveres Kompakt-REM<br />
mit hoher Flexibilität (Teil 1)<br />
Vorvakuumpumpe, PC, Monitore Das FlexSEM kann mit 30 mm 2<br />
und einige Steckdosen Compact mit 230 V and SDD-EDX-Detektoren flexible layout und Analysesystemen<br />
gibt es keine Voraussetzungen<br />
der führenden EDX-Her-<br />
zur Installation. Compact design that can be steller installed Bruker, in small Oxford space. oder The EDAX/ main unit can be placed either<br />
on a power box or tabletop, AMETEK and observation ausgestattet can be werden. done as a part of routine work,<br />
Dennoch ermöglicht without sitting die down Bauweise<br />
in a chair.<br />
die Abbildung mittels ei-<br />
Eine Reihe von Optionen ähnlich<br />
ner Wolframkathodenbasierten oder gleich von solchen in Großgeräten<br />
combined komplettiert das Instru-<br />
Hochleistungselektronenoptik<br />
■Main unit & power box<br />
mit bis zu 20 kV Beschleunigungsspannung,<br />
ment. SE- und BSE-Abbildungen<br />
echtem Hoch-<br />
sind im kompletten Druckbe-<br />
Suggested layout<br />
vakuum für höchste Auflösung<br />
(SE: 4 nm bei 20 kV an Gold, 15 nm<br />
reich zugänglich. Der Niedervakuum-SE-Detektor<br />
ermöglicht gar<br />
200<br />
bei 1 kV, BSE: 5 nm bei 20 kV), aber<br />
auch einem feinteilig einstellbaren<br />
Kathodolumineszenzmessungen.<br />
Steuerungspanel, Trackball, Joyräteinstallation.<br />
Weight<br />
Niedervakuummodus bis zu stick, STEM-Detektor, Chamber-<br />
100 Pa Kammerdruck. Damit sind scope, 3D-Rauhigkeits-, Partikel-,<br />
nicht nur elektrisch isolierende Faseranalysen u.v.m. sind optional<br />
erhältlich.<br />
Main unit and<br />
power box<br />
Proben ohne Bedampfung mit einer<br />
leitfähigen Schicht, sondern<br />
in Kombination mit der optionalen<br />
Peltier Cooling Stage z.B. auch<br />
biologische Proben untersuchbar.<br />
Das System wird lediglich angeschaltet,<br />
wenn es auch benutzt<br />
wird. Nach dem Einschalten ist<br />
500 or more<br />
450<br />
Der standardmäßig vorhandene es sofort verfügbar und benötigt<br />
Minimum frontage 500 or more<br />
5-Achsen-Tisch mit euzentrischer noch etwa 2 Minuten bis zum<br />
1,700 or more<br />
Rotation und Kippung erlaubt<br />
eine Betrachtung der Proben von<br />
-15° bis +90° bei Probengrößen<br />
von bis zu 153 mm und Höhen<br />
von 40 mm.<br />
※Scereen shows simulated image.<br />
Hochvakuum-SE- oder BSE-Bild.<br />
Bei jedem Neustart wird vom System<br />
die optimale Kathodenheizung<br />
ermittelt und so die Lebenszeit<br />
der Kathoden um bis zu 50 %<br />
■Main unit & power box separated<br />
Suggested layout<br />
verlängert. Übrigens, die ersten 11<br />
Power cable (2.5 m)<br />
Kathoden sind Teil einer jeden 414 Ge-<br />
500 or more<br />
Weitere Highlights sind der 5-Quadranten<br />
BSE-Detektor, die parallele<br />
Aufnahme von BSE- und SE-Bild,<br />
640<br />
die Stitching-Funktion und eine<br />
Elektronenoptik die Beschleunigungsspannungen<br />
von 300 V bis<br />
zu 20 kV ermöglicht. Damit sind<br />
auch strahlempfindliche Proben<br />
hochauflösend untersuchbar.<br />
795<br />
Power Single-phase AC 100 to 240 V (±10%) 50/60 Hz 1KVA outlet<br />
Sind Sie neugierig geworden? In<br />
den nächsten Artikeln werden wir<br />
uns mit den Details zum FlexSEM<br />
beschäftigen. Aufgrund welcher<br />
Überlegungen wurde die Elektronenoptik<br />
entwickelt und wie<br />
schnell ist ein Wechsel der vorzentrierten<br />
Wolframkathode möglich?<br />
Was leisten die Detektoren?<br />
Wir stellen außerdem die Benutzeroberfläche<br />
vor.<br />
Power cable (2.5 m)<br />
160<br />
PC<br />
Pump<br />
155<br />
Monitor<br />
Desk<br />
Unit: mm<br />
Power Single-phase AC 100 to 240 V (±10%) 50/60 Hz 1KVA outlet<br />
200<br />
160<br />
414<br />
155<br />
2.300 or more<br />
500 or more<br />
640<br />
Power box<br />
Weight<br />
Falls Sie nicht so lange warten<br />
wollen, besuchen Sie uns in Darmstadt<br />
oder schalten Sie sich bequem<br />
in eine Remotesession Monitor ein.<br />
Main unit<br />
Last but not least: Unser nächstes<br />
Online-Seminar im Juni wird einen<br />
Teil seiner Zeit ebenfalls dem<br />
FlexSEM widmen.<br />
Desk<br />
640<br />
795<br />
Pump<br />
PC<br />
900 or more 推 奨<br />
2.300 or more<br />
500 or more 450 350 450<br />
Minimum frontage 500 or more<br />
2,500 or more<br />
FlexSEM im Desktop-Setup<br />
※Scereen shows simulated image.<br />
Note 1: Minimum load weight of the desk must be 200 kg.<br />
Note 2: Relocation of the main unit to the desk should be handled by service engineers.<br />
Dr. Dominic Vogt<br />
06151 8806-557<br />
vogt@qd-europe.com<br />
Unit: mm<br />
2
Materialwissenschaften/Spektroskopie<br />
Partikelcharakteristik jetzt auch in Gemischen bestimmen<br />
Dieses Interferenzmuster zeigt dunkle<br />
und helle Ringe, die von Partikelart<br />
zu Partikelart unterschiedlich sind,<br />
da sie durch die spezifischen optischen<br />
Eigenschaften der jeweiligen<br />
Einzelteilchen beeinflusst werden.<br />
A.U.<br />
A.U.<br />
Eine dedizierte Pulsformanalyse bewertet<br />
die Streulichtsignale und ermittelt<br />
jeweils zwei voneinander unabhängige<br />
optische Parameter, den<br />
realen und den imaginären Teil des<br />
vorwärts gestreuten Feldes und bestimmt<br />
zusätzlich die Anzahl der<br />
Partikel. Innerhalb weniger Minuten<br />
erzeugt die SPES-Technologie die sogenannten<br />
EOS CLOUDs. Dabei handelt<br />
es sich um 2D-Histogramme, die<br />
einen optischen Fingerabdruck der<br />
Probe darstellen.<br />
SPES erlaubt nicht nur die Messung<br />
von Proben aus einem Material. Eine<br />
Mischung als Probe erzeugt simultan<br />
“Clouds” für die einzelne Partikelpopulationen,<br />
die dann individuell<br />
ausgewählt und analysiert werden<br />
können.<br />
Anzahl Partikelgrößenverteilung<br />
25<br />
22<br />
20<br />
18<br />
15<br />
12<br />
10<br />
7,5<br />
5<br />
2,5<br />
0<br />
0,1 1 10 50<br />
d (µm)<br />
Anzahl kumulative Partikelgrößenverteilung<br />
1<br />
0,9<br />
0,8<br />
0,7<br />
0,6<br />
0,5<br />
0,4<br />
0,3<br />
0,2<br />
0,1<br />
0<br />
0,1 1 10 50<br />
d (µm)<br />
Der Anwender kann also einzelne Partikelpopulation<br />
in Mischungen detektieren<br />
und in der EOS CLOUD darstellen.<br />
Partikelgrößenverteilung, Anzahl,<br />
Konzentration, Überkorn oder statistische<br />
Werte können entsprechend<br />
zur Beschreibung von einzelnen Fraktionen<br />
oder der Gesamtprobe gewählt<br />
werden. Mit diesen Daten können<br />
nicht nur Größenverteilungen sondern<br />
auch Formfaktoren, Stabilitäten<br />
und Benetzungsverhalten sowie Verunreinigungen<br />
bestimmt werden.<br />
Das EOS Messsystem Classizer One<br />
kann Partikel im Größenbereich von<br />
0,1 - 20 μm in Flüssigkeiten messen.<br />
Die Proben liegen in einer Partikelkonzentration<br />
von etwa 10 -6 Teilchen<br />
pro Milliliter vor, Gemische sind dabei<br />
genauso analysierbar, wie Proben<br />
einer Partikelart. Typische Messzeiten<br />
sind im Bereich von 10 Minuten.<br />
Der Classizer One ist High Tech für das<br />
Labor und den Prozess zur Analyse anspruchsvoller<br />
Proben, die anderweitig<br />
nicht gemessen werden können.<br />
Stefan Wittmer<br />
06151 8806-63<br />
wittmer@qd-europe.com<br />
Freistehende Drahtgitter-Polarisatoren für<br />
FIR - und Terahertz-Anwendungen<br />
Diese Polarisatoren bestehen aus<br />
einer Anordnung von parallelen<br />
5 μm- oder 10 μm-Wolframdrähten,<br />
die an einem Montagerahmen mit<br />
einem Drahtabstand von 12,5 μm<br />
oder 25 μm befestigt sind. Diese<br />
Drähte reflektieren die elektrische<br />
Feldkomponente der einfallenden<br />
Strahlung parallel zur Richtung der<br />
Drähte und übertragen die elektrische<br />
Feldkomponente senkrecht<br />
zu den Drähten. Die Betriebswellenlängen<br />
liegen zwischen 20 μm und<br />
10 mm.<br />
Dr. Joachim Weiss<br />
06151 8806-72<br />
weiss@qd-europe.com<br />
3 <strong>Spectrum</strong> <strong>161</strong> | Mai 2021
Materialwissenschaften/Spektroskopie<br />
Elektrische Messungen neu gedacht<br />
Kennen Sie das? Ein Kollege zeigt<br />
Ihnen einen Aufbau für eine elektrische<br />
Messaufgabe. Ein Turm<br />
aus verschiedenen Komponenten:<br />
AC-Lock-In Verstärker der Firma<br />
A, Stromquelle der Firma B, Spannungsmesser<br />
der Firma C und ein<br />
Picoampermeter der Firma D. Alle<br />
Komponenten und die Probe („Device<br />
under Test“, DUT) sind mit handelsüblichen<br />
Kabeln verbunden.<br />
Das Ganze könnte bald der Vergangenheit<br />
angehören, denn unser<br />
Partner Lake Shore hat mit der Serie<br />
M81 ein neues Konzept für elektrische<br />
Messungen auf die Beine gestellt.<br />
Man sieht schnell die Vorteile:<br />
alle Komponenten stammen aus<br />
einer Hand, Modularität und Flexibilität,<br />
optimierte Verkabelung, einsetzbar<br />
von DC bis 100 kHz und drei<br />
Kanäle, die untereinander synchronisiert<br />
sind.<br />
Doch der Reihe nach. Die M81-Serie<br />
firmiert unter dem Namen „Synchronous<br />
Source Measure System“.<br />
Das M81-Instrument ist das Herzstück<br />
und Sie können als Anwender<br />
bis zu drei Module sowohl quellen-<br />
als auch messseitig anbinden.<br />
Selbstredend stehen Strom und<br />
Spannung auf beiden Seiten zur<br />
Verfügung. Man bestückt sich also<br />
seinen elektrischen Messaufbau<br />
ganz nach Messbedarf und kann<br />
später einfach ändern oder ausbauen.<br />
Das moderne, kippbare Touch Display<br />
ermöglicht eine einfache und<br />
intuitive Bedienung, selbst wenn<br />
Sie das Gerät hochkant stellen. Sie<br />
wollen die Daten im PC? Kein Problem.<br />
Die mitgelieferte Basisversion<br />
der Software MeasureLink erledigt<br />
das für Sie und übernimmt auch<br />
noch die Verbindung z.B. zu Lake<br />
Shores Temperatur-Controllern<br />
und Magnetsystemen oder stellt<br />
einen allgemeinen SCPI-Treiber zur<br />
Verfügung.<br />
Mögliche Anwendungen sind DC-<br />
Transport (Strom-Spannungskurven,<br />
4-Kontaktmessungen),<br />
AC-Transport (AC-Widerstand,<br />
AC-Hall Effekt) und elektrische<br />
Charakterisierungen (Photodioden,<br />
Transitoren, Bauteile).<br />
Dr. Marc Kunzmann<br />
06151 8806-46<br />
kunzmann@qd-europe.com<br />
Arrow – Pfeilschnelle ATR-Analysen im FTIR<br />
Das Quest ATR-Zubehör namens<br />
„Arrow“ ermöglicht die schnelle<br />
(Reihen-)Messung von flüssigen<br />
Analyten bzw. bietet Vorteile bei<br />
aushärtenden oder trocknenden<br />
Proben. Ganze Chargen können<br />
außerhalb des Spektrometers auf<br />
Einweg-Probenträgern vorbereitet<br />
werden. Das eigentliche Messelement<br />
ist ein ultra-dünner Silizium-ATR-Kristall<br />
im Probenträger.<br />
Die Arrow-Träger werden mittels<br />
eines einfachen Aluminium-<br />
Pucks, der anstelle der üblichen<br />
ATR-Kristallplatte in die Quest eingesetzt<br />
wird, gehaltert. Dieses Einweg-System<br />
ist nachrüstbar für<br />
alle bestehenden Quest-Einheiten.<br />
http://www.qd-europe.com/arrow<br />
Dr. Joachim Weiss<br />
06151 8806-72<br />
weiss@qd-europe.com<br />
4
Elektronenmikroskopie/Über uns<br />
Vorvakuumbeschichter Q150R ES Plus zu verkaufen –<br />
Wir schaffen Platz in unserem Labor<br />
Wir verkaufen unseren sehr gut gepflegten<br />
Quorum Sputter Coater<br />
Q150R ES Plus. Hierbei handelt es<br />
sich um das Vorvakuum-Kombigerät<br />
aus Sputter Coater und Kohleverdampfer.<br />
Er eignet sich optimal zum<br />
Sputtern und Verdampfen von leitfähigen<br />
Schichten für Anwendungen<br />
in der Rasterelektronenmikroskopie<br />
mit Tabletop- oder Wolframkathodengeräten.<br />
Typischerweise ist mit<br />
Goldschichten eine bis zu 50.000-fache<br />
Vergrößerung möglich. Mit dem<br />
Platinupgrade, welches wir Ihnen<br />
ebenfalls anbieten können, kann<br />
das Gerät auch Platin sputtern und<br />
somit können (unter optimalen Bedingungen)<br />
auch Vergrößerungen<br />
bis 100.000-fach realisiert werden.<br />
Mit dem Kohlefadeneinsatz können<br />
Sie leitfähige Kohlenstoffschichten<br />
für analytische Untersuchungen wie<br />
EDX oder WDX aufbringen.<br />
Der Q150R ES Plus kommt ausgestattet<br />
mit einem Sputtereinsatz inkl.<br />
Goldtarget (bei Platinupgrade mit<br />
Platintarget), einem Kohlefadenkopf<br />
für die thermische Verdampfung<br />
von Kohlenstofffäden sowie einem<br />
Schichtdickenmonitor.<br />
Wir bieten den Vorvakuum Sputter<br />
Coater zu einem sehr attraktiven<br />
Preis mit einer Gewährleistung von<br />
12 Monaten an.<br />
Mehr zum Q150R ES Plus:<br />
https://qd-europe.com/Q150r<br />
Mehr zu Sputter Coatern und<br />
Kohlebeschichtern:<br />
https://qd-europe.com/sputtercoater-kohlebeschichter/<br />
Anne Kast<br />
06151 8806-456<br />
kast@qd-europe.com<br />
Darf ich mich vorstellen?<br />
Mein Name ist Matthias Müller. Seit<br />
einem Jahr bin ich Ihr Ansprechpartner<br />
für Kryotechnologie und Magnetismus.<br />
Vor meiner Zeit bei Quantum Design<br />
habe ich mein Physik- und Mathematikstudium<br />
an der Freien Universität<br />
Berlin absolviert und war im<br />
Anschluss in der Gruppe Quantum<br />
an der Universität Mainz und habe<br />
dort an Ionen- und Atomfallen gearbeitet.<br />
Die dort durchgeführten<br />
Experimente stellen eine Grundlage<br />
für eine mögliche Quantencomputerplattform<br />
dar.<br />
Neben meiner Arbeit bin ich seit<br />
über 20 Jahren im Turniertanz aktiv<br />
und kann auf viele nationale Erfolge<br />
zurückblicken. In den letzten Jahren<br />
engagiere ich mich zudem ehrenamtlich<br />
abseits des Parketts.<br />
Bei Quantum Design freue ich mich<br />
mit Ihnen nach Lösungen für Ihre<br />
kryotechnischen Projekte zu suchen,<br />
so betreue ich seit Beginn dieses<br />
Jahrs die Produkte der Firma Janis. Zu<br />
meinen weiteren Verantwortungsbereichen<br />
gehören die Probe Stations<br />
und Komponenten von Lake Shore<br />
sowie die Indenter von MicroMaterials.<br />
Gerne stehe ich Ihnen auch bei<br />
Fragen zu diesen Produkten zur Verfügung.<br />
Viele Grüße<br />
Matthias Müller<br />
Matthias Müller<br />
06151 8806-554<br />
mueller@qd-europe.com<br />
5 <strong>Spectrum</strong> <strong>161</strong> | Mai 2021
Elektronenmikroskopie<br />
Virtual Roadshow – Moderne Methoden<br />
der Elektronenmikroskopie<br />
Im November letzten Jahres veranstalteten<br />
wir unsere erste virtuelle<br />
Elektronenmikroskopie-Roadshow,<br />
und das mit riesigem Erfolg!<br />
Wir konnten uns über ausgebuchte<br />
Sessions und reges Feedback an deren<br />
Anschluss freuen. Das Seminar<br />
zum Thema „Korrelative AFM- und<br />
REM-Analyse“ hatte gar eine Teilnahmequote<br />
von 100%. An dieser<br />
Stelle also nochmal ein herzliches<br />
Dankeschön an alle Teilnehmer für<br />
Ihr Interesse und Engagement. Eindrücke<br />
hierzu finden Sie auf den<br />
Bildern.<br />
Vom 07. - 09. Juni 2021 werden wir<br />
dieses Format wiederholen und laden<br />
Sie erneut herzlich ein teilzunehmen!<br />
In ca. 45 - 60 minütigen<br />
Sessions präsentieren wir Ihnen<br />
die breiten Möglichkeiten elektronenmikroskopischer<br />
Analytik zur<br />
Oberflächenuntersuchung,<br />
PROGRAMM<br />
Montag, 07. Juni 2021, Anne Kast<br />
■ 10.30 Uhr: Vortrag „Probenpräparation<br />
für die Rasterelektronenmikroskopie“<br />
■ 13.00 Uhr: Live-Vorführung der<br />
Quorum Sputter Coater/Kohlebeschichter<br />
Dienstag, 08. Juni 2021, Dominic Vogt<br />
■ 9.00 Uhr: Grundlagen der Rasterelektronenmikroskopie<br />
■ 10.30 Uhr: Energiedispersive<br />
Röntgenspektroskopie<br />
■ 13.00 Uhr: Tabletop- und Kompakt-<br />
REM von Hitachi, Live Vorführung<br />
(Ende ca. 14.30 Uhr)<br />
Mittwoch, 09. Juni 2021<br />
■ AFSEM von GeTec – korrelative<br />
AFM- und REM-Analyse<br />
■ In-situ-EM & µCT von DEBEN<br />
Die Teilnahme ist kostenlos. Registrieren<br />
Sie sich unter<br />
https://qd-europe.com/em-onlineseminar/<br />
Nach jeder Session stehen wir für Fragen<br />
und Anregungen zur Verfügung.<br />
Wir freuen uns auf Sie. Ihr Quantum<br />
Design Elektronenmikroskopie-<br />
Team.<br />
www.qd-europe.com<br />
Dr. Dominic Vogt<br />
06151 8806-557<br />
vogt@qd-europe.com<br />
6
Elektronenmikroskopie/Licht&Laser<br />
Kombination von Dehnungsmessung und AFM im SEM<br />
Die Untersuchung von Bruchstellen<br />
und Materialermüdung wird<br />
routinemäßig in der Schadens-<br />
Abb. 1: Kombination von AFSEM und In-situ-Zugund<br />
Kompressionssystem von Deben für korrelierte<br />
Dehnungsmessungen im SEM.<br />
Abb. 2: Korrelierte In-situ-AFM & SEM-Dehnungsmessung<br />
an einem Kupferdraht.<br />
und Fehleranalyse eingesetzt. Dabei<br />
stellt insbesondere die Analyse<br />
von Bruchstellen auf der Nanoskala<br />
eine Herausforderung dar und<br />
ist ein aktiver Forschungsbereich<br />
in den Materialwissenschaften.<br />
Durch die intelligente Integration<br />
von AFM und Dehnungsmessung<br />
in einem SEM können die<br />
komplementären Stärken beider<br />
Mikroskopiemethoden perfekt<br />
kombiniert werden. Der optikfreie<br />
Messaufbau des AFSEM ermöglicht<br />
es dabei, den Cantilever<br />
direkt auf der Zugstage im SEM zu<br />
positionieren (Abb.1).<br />
Als Beispiel für eine korrelierte<br />
In-situ-AFM & SEM-Dehnungsmessung<br />
ist in Abb. 2 die Dehnung<br />
eines Kupferdrahtes mit einem<br />
Durchmesser von 250 µm gezeigt.<br />
Der Draht wurde dabei um bis zu<br />
Abb. 3: Rauigkeit der Drahtoberfläche als Funktion<br />
der Dehnung.<br />
29% gedehnt. Mit Hilfe der hohen<br />
Auflösung des SEM kann immer<br />
exakt die gleiche Stelle für unterschiedliche<br />
Dehnungsstadien identifiziert<br />
und die Rauigkeitsänderung<br />
der Drahtoberfläche mit<br />
Nanometergenauigkeit analysiert<br />
werden (siehe Abb. 3).<br />
Die Kombination von AFSEM mit<br />
einem Zug- und Kompressionssystem<br />
bietet damit vielseitige<br />
Anwendungen bei der Untersuchung<br />
von Materialermüdung oder<br />
Bruchstellen.<br />
https://www.qd-europe.com/AFSEM<br />
Dr. Andreas Bergner<br />
06151 8806-12<br />
bergner@qd-europe.com<br />
Neues Spektroradiometer ILT960 (180-1100 nm)<br />
Das neue ILT960 Spektroradiometer<br />
ist in drei Versionen mit unterschiedlichen<br />
Wellenlängenbereichen<br />
verfügbar.<br />
In Kombination mit verschiedenen<br />
Eingangsoptiken (z.B. Ulbrichtkugeln,<br />
rechtwinkligen „Kosinus-Adapter“,<br />
RAA4, usw.) und Kalibrierungen<br />
können photometrische und radiometrische<br />
Messungen in dem jeweiligen<br />
Wellenlängenbereich durchgeführt<br />
werden.<br />
Seine Leistungsfähigkeit wurde im<br />
Vergleich zum ILT950 durch eine<br />
überarbeitete optische Strahlführung<br />
für reduziertes Streulicht und<br />
bessere thermische Stabilität, verändert.<br />
Die Spektroradiometer der<br />
ILT960 Serie haben einen COMOS-<br />
Linearsensor.<br />
https://www.qd-europe.com/ILT960<br />
Uwe Schmidt<br />
06151 8806-15<br />
schmidt@qd-europe.com<br />
7 <strong>Spectrum</strong> <strong>161</strong> | Mai 2021
Elektronenmikroskopie<br />
Die Vielseitigkeit des Sputter Coaters –<br />
Patterning für die Grauwertkorrelation<br />
Abb. 1: Schematische Darstellung des fibDAC-Verfahrens<br />
Die häufigste Anwendung eines<br />
Desktopbeschichters ist es, leitfähige<br />
Schichten auf nichtleitenden<br />
Proben aufzubringen.<br />
Folgende Parameter beeinflussen<br />
dabei die Feinheit dieser<br />
Schichten. Zum einen können<br />
wir unterschiedliche Sputtermaterialien<br />
wählen, die verschiedene<br />
Eigenschaften haben. Zum<br />
anderen spielt das Vakuum, das<br />
der Beschichter erreichen kann,<br />
sowie auch der Sputterstrom eine<br />
entscheidende Rolle. Je besser der<br />
Basiskammerdruck, umso feinkörniger<br />
ist auch die Schicht. Für<br />
möglichst hohe Auflösungen haben<br />
wir also das Ziel, die Schicht<br />
so fein wie möglich zu Sputtern,<br />
damit wir nicht diese, sondern<br />
eben unsere Probe selbst analysieren.<br />
Frau Auerswald vom Fraunhofer<br />
ENAS in Chemnitz und ihre Kollegen<br />
Frau Kowol und Herr Rittrich<br />
vom Zentrum für Mikrotechnologien<br />
der TU Chemnitz haben<br />
neben der hochauflösenden Abbildung<br />
ihrer Proben noch eine<br />
andere Anwendung für den Sputter<br />
Coater Q150V ES Plus in ihrem<br />
Labor und beschreiben diese in<br />
einem Anwenderbericht für uns.<br />
Sie verwenden das vom Fraunhofer<br />
IZM entwickelte Verfahren<br />
fibDAC (engl.: Focused-Ion-Beam<br />
based Deformation Analysis by<br />
Correlation) [1] um Eigenspannungen<br />
anhand von Slot-(Graben)-Geometrien,<br />
die mittels fokussiertem<br />
Ionenstrahl (FIB) in<br />
das Probenmaterial gemillt wurden,<br />
zu analysieren. Abb. 1 zeigt<br />
eine solche Beispielmessung. Um<br />
mittel Grauwertkorrelation die<br />
experimentellen Verschiebungsfelder<br />
zu bestimmen, bedarf es<br />
aber einer zufälligen Struktur -<br />
ein sog. Patterning - auf der Probenoberfläche.<br />
Wenn diese nicht<br />
schon selbst eine solche Struktur<br />
aufweist, muss sie nachträglich<br />
hergestellt werden. Während bekannte<br />
Methoden dafür z.B. das<br />
Aufbringen kleiner Punkte (Dots)<br />
mittels Gasinjektion der FIB [2]<br />
oder gezieltes Abtragen von Oberflächenmaterial<br />
durch Einziehen<br />
eines FIB-Bildes sind, wurde hier<br />
versucht eine solche Struktur im<br />
Sputter Coater zu erzeugen.<br />
Das Basisvakuum des Q150V Plus<br />
wurde absichtlich niedrig im Bereich<br />
von 10 -5 mbar gehalten (also<br />
ein vergleichsweise hoher Druck zu<br />
den üblichen 10 -6 mbar dieses Beschichters),<br />
damit die Struktur der<br />
Goldschicht sichtbar bleibt. Dazu<br />
wurden dann verschiedene Parameter<br />
wie Sputterstrom und Schichtdicke<br />
variiert, bis ein vielversprechendes<br />
Ergebnis erzielt werden konnte.<br />
Abb. 2 zeigt beispielhaft die Versuche<br />
bei denen mit 2 mA einmal<br />
10 nm und einmal 5 nm Gold auf<br />
polierte, unstrukturierte Si-Waferstücke<br />
gesputtert wurden. Man sieht,<br />
dass mit geringerer Dicke bei diesem<br />
Strom eine vielversprechende<br />
Struktur für die Grauwertkorrelation<br />
hergestellt werden kann.<br />
Die rein optische Begutachtung<br />
ist aufgrund subjektiver Einflüsse<br />
nicht ausreichend für die Bewertung,<br />
ob die Oberfläche für die Grauwertkorrelation<br />
geeignet ist. Deshalb<br />
wurden als Testmethode zwei<br />
REM-Bilder mit einem definierten<br />
Beam Shift-Versatz aufgenommen.<br />
Diese beiden Bilder wurden mit<br />
Hilfe der Software VEDDAC 7 der<br />
Chemnitzer Werkstoffmechanik<br />
GmbH (CWM Chemnitz) korreliert.<br />
Die Daten wurden mittels Medianund<br />
Gaussfilter geglättet. Generell<br />
ist nun für das Eigenspannungsmessverfahren<br />
von Bedeutung,<br />
bis zu welcher Vergrößerung die<br />
Eigenstruktur, die mit dem Sputter<br />
Coater erzeugt wurde, verwendet<br />
werden kann. Als Korrelationsmethode<br />
wurde zunächst der klassische<br />
Kreuzkorrelationsalgorithmus<br />
(Default) angewendet [3]. Abb. 3 zeigt<br />
die Korrelationskoeffizienten nachdem<br />
eine Haar-Wavelet-Korrelation<br />
(Noisy) eingesetzt wurde um die<br />
Streubreite zu verringern.<br />
Abb. 2: Vergleich verschiedener Dicken der Goldschicht bei gleichem Sputterstrom (2mA).<br />
Durch diese Experimente sind<br />
Frau Auerswald und ihre Kollegen<br />
zu dem Schluss gekommen, dass<br />
Seite 9<br />
8
Elektronenmikroskopie/Imaging<br />
sich die gesputterten Schichten<br />
als zufällige Struktur für die Grauwertkorrelation<br />
eignen. Durch das<br />
Variieren der Sputterparameter<br />
konnten Strukturen hergestellt<br />
werden, die sich für Vergrößerungen<br />
ab 25-tausendfach einsetzen<br />
lassen.<br />
Es darf nicht außer Acht gelassen<br />
werden, dass bei diesem Verfahren<br />
noch weitere Einflussfaktoren auf<br />
die Eigenspannungsanalyse wirken.<br />
Jedoch kann durch eine gute<br />
Strukturierung der Probenoberfläche<br />
der Messfehler minimiert werden.<br />
Abb. 3: Vergleich der Korrelationskoeffizienten für Vergrößerungen 25 kx und 100 kx<br />
https://qd-europe.com/apvielseitigkeit-coater/<br />
[1] N Sabaté et al 2006 J. Micromech.<br />
Microeng. 16 254<br />
[3] Handbuch VEDDAC 7, Chemnitzer<br />
Werkstoffmechanik GmbH.<br />
Lesen Sie alle Details hierzu im vollständigen<br />
Anwenderbericht von<br />
Frau Auerswald und Ihren Kollegen.<br />
[2] Good Practice Guide No. 143, National<br />
Physical Laboratory. Hampton<br />
Road, Teddingenton, ISSN: 1368-6550<br />
Anne Kast<br />
06151 8806-456<br />
kast@qd-europe.com<br />
Specim IQ – Hyperspectral Imaging einfach und hochwertig<br />
Die Hyperspektralkamera IQ von<br />
Specim verbindet die hohe örtliche<br />
und spektrale Auflösung<br />
eines ortsauflösenden Spektrographen<br />
mit der Handlichkeit und<br />
einfachen Bedienbarkeit einer<br />
modernen Kamera. Hyperspektralanalysen<br />
sind damit direkt vor<br />
Ort, unabhängig von einem Rechner<br />
und festem Arbeitsplatz möglich!<br />
Alle Komponenten, die dafür notwendig<br />
sind, sind in der IQ an Bord.<br />
Sie ist mit Wechselakku, Speicherkarte<br />
und Monitor ausgestattet, ebenso<br />
ist ein GPS-Sensor eingebaut. Weiterhin<br />
ist eine Kamera für das sichtbare<br />
Bild integriert, so dass ein Overlay<br />
des Spektralbildes mit dem sichtbaren<br />
Bild auf dem Display der Kamera<br />
gezeigt werden kann.<br />
Spektralanalysen können direkt in<br />
der Kamera vorgenommen werden.<br />
Die mitgelieferte Specim IQ Studio<br />
Software ist in der Lage, spektrale<br />
Informationen zu jedem Punkt auf<br />
dem Bild zu liefern. Es können Klassifizierungsmodelle<br />
erstellt oder<br />
vorab erzeugte Modelle geladen<br />
und zu einem späteren Zeitpunkt<br />
ausgeführt werden. Daher kann die<br />
Specim IQ direkt auf dem Feld oder<br />
im Labor bei „Gut/Schlecht-Entscheidungen“<br />
helfen. Die gewonnenen<br />
Daten können später auch auf dem<br />
Laborrechner analysiert werden.<br />
Specim IQ öffnet die Tür zu Anwendungen,<br />
für die das Hyperspectral-<br />
Imaging aufgrund seiner Komplexität<br />
bisher ungeeignet schien. Sie<br />
findet z. B. Verwendung in Vegetationsanalysen,<br />
Gemäldeuntersuchungen,<br />
der Lebensmitteltechnologie,<br />
Pharmazie, Kosmetik und Forensik.<br />
Stefan Wittmer<br />
06151 8806-63<br />
wittmer@qd-europe.com<br />
9 <strong>Spectrum</strong> <strong>161</strong> | Mai 2021
Life Science<br />
Schnell und flexibel – Der neue DUOS2 von SCREEN eröffnet<br />
neue Wege beim High-Throughput Screening<br />
Durch neueste Entwicklungen in<br />
der Imaging-Technologie gelingt<br />
es immer besser, zelluläre Prozesse<br />
und ihre Auswirkungen zu<br />
verstehen. Imaging wird häufig<br />
eingesetzt, um Zellstrukturen zu<br />
charakterisieren und morphologische<br />
und interzelluläre Veränderungen<br />
zu analysieren. Biologische<br />
Prozesse können dadurch besser<br />
verstanden werden. Imaging hat<br />
sich außerdem beim High-Contentund<br />
High-Throughput-Screening<br />
in Anwendungen der Wirkstoffentdeckung<br />
bewährt. Zellbasierte<br />
Analysen sind in den letzten Jahren<br />
stark verbessert worden, so dass in<br />
vitro Untersuchungen jetzt physiologisch<br />
relevante Daten für die<br />
Untersuchung und Beschreibung<br />
von morphologischen und zellulären<br />
Veränderungen liefern können.<br />
Daher werden 3D-Zellkulturen-Systeme<br />
heute häufig für in vitro und<br />
ex vivo Untersuchungen verwendet<br />
– nicht nur in den Bereichen Wirkstoffentdeckung<br />
und investigative<br />
Toxikologie, sondern auch um Veränderungen<br />
auf phänotypischer<br />
und molekularer Ebene zu analysieren.<br />
Die neue Imaging-Plattform Cell3imager<br />
DUOS2 von SCREEN kann<br />
sowohl 3D- als auch 2D-Zellkulturen<br />
abbilden und eignet sich für<br />
die unterschiedlichsten Therapieansätze<br />
im Bereich der regenerativen<br />
Medizin. Mit der Möglichkeit<br />
zur Fluoreszenz ermöglicht DUOS2<br />
auch Multiparameter-Untersuchungen<br />
(2D und 3D), mit denen sich<br />
Veränderungen auf morphologischer,<br />
zellulärer und molekularer<br />
Ebene beobachten lassen, die im<br />
Time-Lapse-Modus kultiviert werden.<br />
Damit lassen sich Neuriten-<br />
Auswuchs-Assays bestimmen und<br />
quantifizieren, Sphäroide und Organoide<br />
nicht-invasiv beobachten,<br />
sowie Multifluoreszenz-Färbungen<br />
vornehmen, um quantitative Informationen<br />
über Proteine/Biomarker<br />
zu erhalten. Die einzigartige,<br />
schnelle Hellfeld-Imaging-Tauglichkeit<br />
des Systems ermöglicht<br />
nicht-invasive, zellbasierte Untersuchungen.<br />
DUOS2 bietet eine sehr hohe Auflösung<br />
und ultraschnelles Scanning,<br />
mit der Möglichkeit zur Integration<br />
in bestehende Robotiksysteme.<br />
Die folgenden zwei Anwendungsbeispiele<br />
zeigen die Flexibilität des<br />
Systems. Im ersten Beispiel wurden<br />
intestinale Organoide in Mikrotiterplatten<br />
kultiviert und ihr Wachstum<br />
mit Hilfe von markierungsfreiem<br />
Hellfeld-Imaging untersucht.<br />
Am Ende der Kultivierungszeit<br />
wurde das Wachstum mit der neuen<br />
Deep-Learning Software von<br />
SCREEN extrapoliert (Abb. 1).<br />
High-Speed Scanning erlaubt markierungsfreies<br />
Imaging von multizellulären,<br />
hepatitischen 3D-Sphäroiden,<br />
die für Anwendungen in der<br />
Qualitätskontrolle in Mikrowells<br />
kultiviert werden. Anwendbar auf<br />
die Bewertung, Evaluierung und<br />
Bestimmung von potenziell nicht-<br />
Tag 1 Tag 2<br />
Tag 3 Tag 4<br />
Durchmesser (µm)<br />
300<br />
200<br />
100<br />
0<br />
1 2 3 4<br />
Tage<br />
SQ96<br />
R824<br />
SQ-Typ<br />
mit Objekterkennung<br />
RB-Typ<br />
SQ-Typ<br />
(Fluoreszenz)<br />
1<br />
0,8<br />
Zirkularität<br />
0,6<br />
0,2<br />
1<br />
SQ96<br />
R824<br />
0<br />
1 2 3 4<br />
Tage<br />
Abb. 1<br />
Seite 11<br />
10
Life Science/Magnetismus<br />
toxischen Verbindungen für weitere<br />
vorklinische Entwicklungen.<br />
Neue Zell- und Molekulartechnologien<br />
haben dazu geführt, dass<br />
Stammzellen heute verwendet werden,<br />
um die Pathogenese von verschiedenen<br />
Krankheiten zu untersuchen.<br />
In diesem Zusammenhang<br />
hat die induzierte Pluripotente<br />
Stammzellen (iPS) Technologie viel<br />
für die regenerative Medizin und<br />
die neurodegenerative Therapienlandschaft<br />
geleistet. Mit ihrer Hilfe<br />
lassen sich die zellulären Aspekte<br />
von Krankheiten untersuchen.<br />
Dazu werden in vitro Assay-Systeme<br />
verwendet, um Zusammensetzungen<br />
durch Vermessen der<br />
Neuriten-Auswuchs-Endpunkte zu<br />
bestimmen. Wie in Abb. 2 zu sehen,<br />
wurden IPSC-Zellen über einen gewissen<br />
Zeitraum kultiviert und hinsichtlich<br />
des Neuriten-Auswuchses<br />
beobachtet. Die Neuritenlängen<br />
können quantifiziert werden, um<br />
den Effekt der unterschiedlichen<br />
Zusammensetzungen zu messen.<br />
Abb. 2 Beobachtung von Neuriten-Auswuchs-Immunfärbung von sympathischen Neuronen in iPS-Zellen<br />
Die neuronalen Zellen wurden mit<br />
TUJ1 (Tubulin beta III) und PHOX 2B<br />
gefärbt, um die Zellkörper und Neuritenlängen<br />
zu quantifizieren.<br />
Die vom Cell 3imager DUOS 2 verwendete<br />
Technologie ist robust,<br />
schnell und flexibel anpassbar für<br />
ein breites Spektrum an Anwendungen<br />
der zellbasierten Analyse<br />
in regenerativer Medizin und anderen<br />
Therapieansätzen.<br />
Dr. Raimund Sauter<br />
06151 8806-24<br />
sauter@qd-europe.com<br />
VSM – Magnetische Messungen ganz einfach<br />
Lake Shore hat mit dem VSM Modell<br />
8600 einen großen Sprung gemacht.<br />
Vergleicht man das aktuelle Modell<br />
mit dem Vorgänger, so findet man<br />
viele Verbesserungen: deutlich bessere<br />
Empfindlichkeit, schnellere<br />
Messpunkte, einfachere Handhabung<br />
z.B. schnellerer Wechsel der<br />
Temperatur-Option. In den beiden<br />
Modellen 8604 (bis zu 2,7 Tesla Magnetfeld)<br />
und dem größeren 8607 (bis<br />
zu 3,2 Tesla Magnetfeld) sieht man<br />
daher die jahrelange Erfahrung<br />
von Lake Shore auf dem Gebiet der<br />
Vibrating Sample Magnetometer<br />
mit einem<br />
Elektromagneten. Im<br />
Gegensatz zu den Magnetometern<br />
mit einem<br />
supraleitenden Magneten<br />
wird weder Flüssig-<br />
Helium benötigt noch<br />
ein Kaltkopf der dieses<br />
erzeugt. Neu bei den<br />
VSMs ist die Messoption<br />
Magneto-Widerstand.<br />
Verschaffen Sie sich<br />
selbst einen Eindruck.<br />
Auf Youtube finden Sie<br />
eine Einführung mit unserem Vorführ-VSM<br />
in der Hauptrolle.<br />
Hier geht es zum Video:<br />
https://bit.ly/2RT2F35<br />
Dr. Marc Kunzmann<br />
06151 8806-46<br />
kunzmann@qd-europe.com<br />
11 <strong>Spectrum</strong> <strong>161</strong> | Mai 2021
Imaging/Über uns<br />
Mit AOS können Sie rechnen!<br />
AOS Technologies in der Schweiz,<br />
unser Lieferant für Highspeedund<br />
Streaming Kameras,<br />
bietet eine<br />
Lösung für (fast)<br />
alle Anwendungsfragen<br />
im Bereich<br />
schneller Bildfolgen.<br />
Für eine erfolgreiche<br />
Anwendung<br />
gilt es, die bestmögliche<br />
Konfiguration<br />
zu finden, oder bei<br />
einer bereits vorhandenen<br />
Highspeed-Kamera<br />
das<br />
richtige „Window<br />
of Interest“ zu erkennen, so dass<br />
die Kamera die gewünschte Bildrate<br />
und Aufnahmelänge zur Verfügung<br />
stellt.<br />
Bei 30 Kameras und über 100 Varianten<br />
kann man im Portfolio von<br />
AOS aber durchaus den Überblick<br />
verlieren. AOS hat nun ein Werkzeug<br />
entwickelt, das exakt dabei<br />
hilft, entweder die Wunschkamera<br />
oder das benötigte „Window of Interest“<br />
zur Bildrate zu finden, den<br />
Kalkulator. Er ist über die Webpage<br />
von AOS unter „Resources“ zu finden<br />
und kann dort heruntergeladen<br />
werden. Alternativ findet man<br />
diesen auch als Handy-App in den<br />
Stores von Google und Apple.<br />
Mit dem Kalkulator können Sie eine<br />
Kamera auswählen, Sequenzlängen<br />
berechnen und Bildraten unter Berücksichtigung<br />
unterschiedlicher<br />
Pixelzahlen ermitteln. Dazu können<br />
Sie ein passendes Objektiv auswählen,<br />
wenn Sie die Distanz zum Objekt<br />
und/oder dessen Größe kennen.<br />
Der Kalkulator von AOS hilft Ihnen<br />
also nicht nur dabei, die richtige Kamera<br />
zu finden, sondern auch vor Ort<br />
das Bestmögliche aus der Kamera zum<br />
Gelingen Ihrer Aufnahmen herauszuholen.<br />
Stefan Wittmer<br />
06151 8806-63<br />
wittmer@qd-europe.com<br />
Quantum Design auf LinkedIn<br />
Seit August letzten Jahren posten wir<br />
wieder regelmäßig auf LinkedIn. Einige<br />
von Ihnen haben uns vielleicht<br />
schon entdeckt und folgen uns bereits.<br />
Alle anderen sind herzlich dazu<br />
eingeladen! Natürlich ist es auch für<br />
uns spannend zu sehen, welche unserer<br />
Posts die Spitzenreiter sind. Die<br />
ersten beiden Plätze können Sie den<br />
Abbildungen entnehmen. Neu sind<br />
die Showcase-Seiten, die auf unsere<br />
Themenfelder fokussieren.<br />
Erfahren Sie auch hier mehr über<br />
Elektronenmikroskopie, Imaging,<br />
Kryotechnologie und Magnetismus.<br />
Folgen Sie uns und verpassen Sie keine<br />
Neuigkeiten mehr.<br />
Platz<br />
1<br />
Platz<br />
2<br />
http://www.linkedin.com/quantumdesign-europe<br />
Marlene Fontan<br />
06151 8806-493<br />
fontan@qd-europe.com<br />
Quantum Design –<br />
Ihr Partner in Europa<br />
Quantum Design GmbH<br />
Im Tiefen See 58<br />
D-64293 Darmstadt<br />
Telefon 06151 8806-0<br />
Fax 06151 8806-920<br />
E-Mail germany@qd-europe.com<br />
Quantum Design AG Suisse<br />
Telefon 021 8699033<br />
Fax 021 869908<br />
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Die deutsche Ausgabe des <strong>Spectrum</strong> erscheint viermal jährlich. Für den Inhalt verantwortlich: Dr. Joachim Weiss<br />
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