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Spectrum 161

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Ausgabe <strong>161</strong> | Mai 2021<br />

Das Hitachi FlexSEM1000II – eine cleveres Kompakt-REM<br />

mit hoher Flexibilität (Teil 1)<br />

Tabletop-REM wie die TM4000 Modelle<br />

von Hitachi haben im Verlauf des letzten<br />

Jahrzehnts eine bemerkenswerte<br />

Entwicklung genommen. Sie sind vor<br />

allem für Nutzer wertvoll, die analytische<br />

Möglichkeiten jenseits der<br />

FlexSEM in freistehender Installation<br />

lichtmikroskopischen Auflösung und<br />

Tiefenschärfe oder gar chemische Informationen<br />

über Ihre Materialien<br />

suchen.<br />

Technische Miniaturisierung und<br />

günstige Bauweise bei Tabletop-<br />

Instrumenten (Einstieg bei unter<br />

50.000 €) führen jedoch zu einer Reihe<br />

von Kompromissen hinsichtlich<br />

der Abbildungsqualität, Flexibilität<br />

oder untersuchbarer Probengröße.<br />

Wer Strukturen im Nanometerbereich<br />

oberflächensensitiv unter<br />

besten Vakuumbedingungen und<br />

zudem aus verschiedenen Blickrichtungen<br />

betrachten möchte, stößt<br />

mit diesen Geräten u.U. an die Grenzen.<br />

In früheren Zeiten blieb dann<br />

lediglich die Aufrüstung zum raumfüllenden<br />

und von einem Experten<br />

zu bedienenden Großgerät.<br />

Wir möchten an dieser Stelle und in<br />

den nächsten Ausgaben des <strong>Spectrum</strong><br />

eine Lösung vorstellen, die Preis,<br />

kompakte Maße, einfache Bedienung<br />

(Autofunktionen, Navigationskamera,<br />

etc.), einfachste Wartung und Installation<br />

mit der Leistungsfähigkeit<br />

eines Großgerätes verbindet: Das Flex-<br />

SEM1000II.<br />

Das FlexSEM ermöglicht die Installation<br />

auf dem Tisch oder auf justierbaren<br />

Füßen auf dem Fußboden. Mittels<br />

der angebrachten Rollen ist es sogar<br />

mobil. Bis auf ein wenig Platz für die<br />

Seite 2<br />

Partikelcharakteristik jetzt auch in<br />

Gemischen bestimmen<br />

Effective Optical Solitions, kurz<br />

EOS, ist ein innovativer Anbieter für<br />

Lösungen im Bereich der Partikelcharakteristik.<br />

EOS hat sich auf die<br />

Entwicklung von Messgeräten spezialisiert,<br />

die Partikel mit der neuartigen<br />

patentierten Methode SPES<br />

analysieren.<br />

SPES (Single Particle Extinction and<br />

Scattering) basiert auf der interferometrischen<br />

Analyse einer in Vorwärtsrichtung<br />

durch ein einzelnes<br />

Partikel gestreuten Wellenfront. Teilchen<br />

werden dafür in einer Flüssigkeit<br />

dispergiert und in einem laminaren<br />

Strom durch eine Durchflusszelle<br />

geführt. Dort werden die vereinzelten<br />

Partikel von einem fokussierten<br />

Laserstrahl getroffen. Die Partikel erzeugen<br />

dabei ein Interferenzmuster<br />

zwischen dem Laserstrahl und dem<br />

vorwärts gestreuten Licht, welches in<br />

einer Fotodiode aufgezeichnet wird.<br />

Seite 3<br />

Inhalt<br />

Elektronenmikroskopie 2, 5 - 8<br />

Imaging 9, 12<br />

Licht & Laser 7<br />

Life Science 10<br />

Materialwissenschaften 3, 4<br />

Magnetismus 11<br />

Spektroskopie 3, 4<br />

Über uns 5, 12<br />

EUROPE


Elektronenmikroskopie<br />

Das Hitachi FlexSEM1000II – eine cleveres Kompakt-REM<br />

mit hoher Flexibilität (Teil 1)<br />

Vorvakuumpumpe, PC, Monitore Das FlexSEM kann mit 30 mm 2<br />

und einige Steckdosen Compact mit 230 V and SDD-EDX-Detektoren flexible layout und Analysesystemen<br />

gibt es keine Voraussetzungen<br />

der führenden EDX-Her-<br />

zur Installation. Compact design that can be steller installed Bruker, in small Oxford space. oder The EDAX/ main unit can be placed either<br />

on a power box or tabletop, AMETEK and observation ausgestattet can be werden. done as a part of routine work,<br />

Dennoch ermöglicht without sitting die down Bauweise<br />

in a chair.<br />

die Abbildung mittels ei-<br />

Eine Reihe von Optionen ähnlich<br />

ner Wolframkathodenbasierten oder gleich von solchen in Großgeräten<br />

combined komplettiert das Instru-<br />

Hochleistungselektronenoptik<br />

■Main unit & power box<br />

mit bis zu 20 kV Beschleunigungsspannung,<br />

ment. SE- und BSE-Abbildungen<br />

echtem Hoch-<br />

sind im kompletten Druckbe-<br />

Suggested layout<br />

vakuum für höchste Auflösung<br />

(SE: 4 nm bei 20 kV an Gold, 15 nm<br />

reich zugänglich. Der Niedervakuum-SE-Detektor<br />

ermöglicht gar<br />

200<br />

bei 1 kV, BSE: 5 nm bei 20 kV), aber<br />

auch einem feinteilig einstellbaren<br />

Kathodolumineszenzmessungen.<br />

Steuerungspanel, Trackball, Joyräteinstallation.<br />

Weight<br />

Niedervakuummodus bis zu stick, STEM-Detektor, Chamber-<br />

100 Pa Kammerdruck. Damit sind scope, 3D-Rauhigkeits-, Partikel-,<br />

nicht nur elektrisch isolierende Faseranalysen u.v.m. sind optional<br />

erhältlich.<br />

Main unit and<br />

power box<br />

Proben ohne Bedampfung mit einer<br />

leitfähigen Schicht, sondern<br />

in Kombination mit der optionalen<br />

Peltier Cooling Stage z.B. auch<br />

biologische Proben untersuchbar.<br />

Das System wird lediglich angeschaltet,<br />

wenn es auch benutzt<br />

wird. Nach dem Einschalten ist<br />

500 or more<br />

450<br />

Der standardmäßig vorhandene es sofort verfügbar und benötigt<br />

Minimum frontage 500 or more<br />

5-Achsen-Tisch mit euzentrischer noch etwa 2 Minuten bis zum<br />

1,700 or more<br />

Rotation und Kippung erlaubt<br />

eine Betrachtung der Proben von<br />

-15° bis +90° bei Probengrößen<br />

von bis zu 153 mm und Höhen<br />

von 40 mm.<br />

※Scereen shows simulated image.<br />

Hochvakuum-SE- oder BSE-Bild.<br />

Bei jedem Neustart wird vom System<br />

die optimale Kathodenheizung<br />

ermittelt und so die Lebenszeit<br />

der Kathoden um bis zu 50 %<br />

■Main unit & power box separated<br />

Suggested layout<br />

verlängert. Übrigens, die ersten 11<br />

Power cable (2.5 m)<br />

Kathoden sind Teil einer jeden 414 Ge-<br />

500 or more<br />

Weitere Highlights sind der 5-Quadranten<br />

BSE-Detektor, die parallele<br />

Aufnahme von BSE- und SE-Bild,<br />

640<br />

die Stitching-Funktion und eine<br />

Elektronenoptik die Beschleunigungsspannungen<br />

von 300 V bis<br />

zu 20 kV ermöglicht. Damit sind<br />

auch strahlempfindliche Proben<br />

hochauflösend untersuchbar.<br />

795<br />

Power Single-phase AC 100 to 240 V (±10%) 50/60 Hz 1KVA outlet<br />

Sind Sie neugierig geworden? In<br />

den nächsten Artikeln werden wir<br />

uns mit den Details zum FlexSEM<br />

beschäftigen. Aufgrund welcher<br />

Überlegungen wurde die Elektronenoptik<br />

entwickelt und wie<br />

schnell ist ein Wechsel der vorzentrierten<br />

Wolframkathode möglich?<br />

Was leisten die Detektoren?<br />

Wir stellen außerdem die Benutzeroberfläche<br />

vor.<br />

Power cable (2.5 m)<br />

160<br />

PC<br />

Pump<br />

155<br />

Monitor<br />

Desk<br />

Unit: mm<br />

Power Single-phase AC 100 to 240 V (±10%) 50/60 Hz 1KVA outlet<br />

200<br />

160<br />

414<br />

155<br />

2.300 or more<br />

500 or more<br />

640<br />

Power box<br />

Weight<br />

Falls Sie nicht so lange warten<br />

wollen, besuchen Sie uns in Darmstadt<br />

oder schalten Sie sich bequem<br />

in eine Remotesession Monitor ein.<br />

Main unit<br />

Last but not least: Unser nächstes<br />

Online-Seminar im Juni wird einen<br />

Teil seiner Zeit ebenfalls dem<br />

FlexSEM widmen.<br />

Desk<br />

640<br />

795<br />

Pump<br />

PC<br />

900 or more 推 奨<br />

2.300 or more<br />

500 or more 450 350 450<br />

Minimum frontage 500 or more<br />

2,500 or more<br />

FlexSEM im Desktop-Setup<br />

※Scereen shows simulated image.<br />

Note 1: Minimum load weight of the desk must be 200 kg.<br />

Note 2: Relocation of the main unit to the desk should be handled by service engineers.<br />

Dr. Dominic Vogt<br />

06151 8806-557<br />

vogt@qd-europe.com<br />

Unit: mm<br />

2


Materialwissenschaften/Spektroskopie<br />

Partikelcharakteristik jetzt auch in Gemischen bestimmen<br />

Dieses Interferenzmuster zeigt dunkle<br />

und helle Ringe, die von Partikelart<br />

zu Partikelart unterschiedlich sind,<br />

da sie durch die spezifischen optischen<br />

Eigenschaften der jeweiligen<br />

Einzelteilchen beeinflusst werden.<br />

A.U.<br />

A.U.<br />

Eine dedizierte Pulsformanalyse bewertet<br />

die Streulichtsignale und ermittelt<br />

jeweils zwei voneinander unabhängige<br />

optische Parameter, den<br />

realen und den imaginären Teil des<br />

vorwärts gestreuten Feldes und bestimmt<br />

zusätzlich die Anzahl der<br />

Partikel. Innerhalb weniger Minuten<br />

erzeugt die SPES-Technologie die sogenannten<br />

EOS CLOUDs. Dabei handelt<br />

es sich um 2D-Histogramme, die<br />

einen optischen Fingerabdruck der<br />

Probe darstellen.<br />

SPES erlaubt nicht nur die Messung<br />

von Proben aus einem Material. Eine<br />

Mischung als Probe erzeugt simultan<br />

“Clouds” für die einzelne Partikelpopulationen,<br />

die dann individuell<br />

ausgewählt und analysiert werden<br />

können.<br />

Anzahl Partikelgrößenverteilung<br />

25<br />

22<br />

20<br />

18<br />

15<br />

12<br />

10<br />

7,5<br />

5<br />

2,5<br />

0<br />

0,1 1 10 50<br />

d (µm)<br />

Anzahl kumulative Partikelgrößenverteilung<br />

1<br />

0,9<br />

0,8<br />

0,7<br />

0,6<br />

0,5<br />

0,4<br />

0,3<br />

0,2<br />

0,1<br />

0<br />

0,1 1 10 50<br />

d (µm)<br />

Der Anwender kann also einzelne Partikelpopulation<br />

in Mischungen detektieren<br />

und in der EOS CLOUD darstellen.<br />

Partikelgrößenverteilung, Anzahl,<br />

Konzentration, Überkorn oder statistische<br />

Werte können entsprechend<br />

zur Beschreibung von einzelnen Fraktionen<br />

oder der Gesamtprobe gewählt<br />

werden. Mit diesen Daten können<br />

nicht nur Größenverteilungen sondern<br />

auch Formfaktoren, Stabilitäten<br />

und Benetzungsverhalten sowie Verunreinigungen<br />

bestimmt werden.<br />

Das EOS Messsystem Classizer One<br />

kann Partikel im Größenbereich von<br />

0,1 - 20 μm in Flüssigkeiten messen.<br />

Die Proben liegen in einer Partikelkonzentration<br />

von etwa 10 -6 Teilchen<br />

pro Milliliter vor, Gemische sind dabei<br />

genauso analysierbar, wie Proben<br />

einer Partikelart. Typische Messzeiten<br />

sind im Bereich von 10 Minuten.<br />

Der Classizer One ist High Tech für das<br />

Labor und den Prozess zur Analyse anspruchsvoller<br />

Proben, die anderweitig<br />

nicht gemessen werden können.<br />

Stefan Wittmer<br />

06151 8806-63<br />

wittmer@qd-europe.com<br />

Freistehende Drahtgitter-Polarisatoren für<br />

FIR - und Terahertz-Anwendungen<br />

Diese Polarisatoren bestehen aus<br />

einer Anordnung von parallelen<br />

5 μm- oder 10 μm-Wolframdrähten,<br />

die an einem Montagerahmen mit<br />

einem Drahtabstand von 12,5 μm<br />

oder 25 μm befestigt sind. Diese<br />

Drähte reflektieren die elektrische<br />

Feldkomponente der einfallenden<br />

Strahlung parallel zur Richtung der<br />

Drähte und übertragen die elektrische<br />

Feldkomponente senkrecht<br />

zu den Drähten. Die Betriebswellenlängen<br />

liegen zwischen 20 μm und<br />

10 mm.<br />

Dr. Joachim Weiss<br />

06151 8806-72<br />

weiss@qd-europe.com<br />

3 <strong>Spectrum</strong> <strong>161</strong> | Mai 2021


Materialwissenschaften/Spektroskopie<br />

Elektrische Messungen neu gedacht<br />

Kennen Sie das? Ein Kollege zeigt<br />

Ihnen einen Aufbau für eine elektrische<br />

Messaufgabe. Ein Turm<br />

aus verschiedenen Komponenten:<br />

AC-Lock-In Verstärker der Firma<br />

A, Stromquelle der Firma B, Spannungsmesser<br />

der Firma C und ein<br />

Picoampermeter der Firma D. Alle<br />

Komponenten und die Probe („Device<br />

under Test“, DUT) sind mit handelsüblichen<br />

Kabeln verbunden.<br />

Das Ganze könnte bald der Vergangenheit<br />

angehören, denn unser<br />

Partner Lake Shore hat mit der Serie<br />

M81 ein neues Konzept für elektrische<br />

Messungen auf die Beine gestellt.<br />

Man sieht schnell die Vorteile:<br />

alle Komponenten stammen aus<br />

einer Hand, Modularität und Flexibilität,<br />

optimierte Verkabelung, einsetzbar<br />

von DC bis 100 kHz und drei<br />

Kanäle, die untereinander synchronisiert<br />

sind.<br />

Doch der Reihe nach. Die M81-Serie<br />

firmiert unter dem Namen „Synchronous<br />

Source Measure System“.<br />

Das M81-Instrument ist das Herzstück<br />

und Sie können als Anwender<br />

bis zu drei Module sowohl quellen-<br />

als auch messseitig anbinden.<br />

Selbstredend stehen Strom und<br />

Spannung auf beiden Seiten zur<br />

Verfügung. Man bestückt sich also<br />

seinen elektrischen Messaufbau<br />

ganz nach Messbedarf und kann<br />

später einfach ändern oder ausbauen.<br />

Das moderne, kippbare Touch Display<br />

ermöglicht eine einfache und<br />

intuitive Bedienung, selbst wenn<br />

Sie das Gerät hochkant stellen. Sie<br />

wollen die Daten im PC? Kein Problem.<br />

Die mitgelieferte Basisversion<br />

der Software MeasureLink erledigt<br />

das für Sie und übernimmt auch<br />

noch die Verbindung z.B. zu Lake<br />

Shores Temperatur-Controllern<br />

und Magnetsystemen oder stellt<br />

einen allgemeinen SCPI-Treiber zur<br />

Verfügung.<br />

Mögliche Anwendungen sind DC-<br />

Transport (Strom-Spannungskurven,<br />

4-Kontaktmessungen),<br />

AC-Transport (AC-Widerstand,<br />

AC-Hall Effekt) und elektrische<br />

Charakterisierungen (Photodioden,<br />

Transitoren, Bauteile).<br />

Dr. Marc Kunzmann<br />

06151 8806-46<br />

kunzmann@qd-europe.com<br />

Arrow – Pfeilschnelle ATR-Analysen im FTIR<br />

Das Quest ATR-Zubehör namens<br />

„Arrow“ ermöglicht die schnelle<br />

(Reihen-)Messung von flüssigen<br />

Analyten bzw. bietet Vorteile bei<br />

aushärtenden oder trocknenden<br />

Proben. Ganze Chargen können<br />

außerhalb des Spektrometers auf<br />

Einweg-Probenträgern vorbereitet<br />

werden. Das eigentliche Messelement<br />

ist ein ultra-dünner Silizium-ATR-Kristall<br />

im Probenträger.<br />

Die Arrow-Träger werden mittels<br />

eines einfachen Aluminium-<br />

Pucks, der anstelle der üblichen<br />

ATR-Kristallplatte in die Quest eingesetzt<br />

wird, gehaltert. Dieses Einweg-System<br />

ist nachrüstbar für<br />

alle bestehenden Quest-Einheiten.<br />

http://www.qd-europe.com/arrow<br />

Dr. Joachim Weiss<br />

06151 8806-72<br />

weiss@qd-europe.com<br />

4


Elektronenmikroskopie/Über uns<br />

Vorvakuumbeschichter Q150R ES Plus zu verkaufen –<br />

Wir schaffen Platz in unserem Labor<br />

Wir verkaufen unseren sehr gut gepflegten<br />

Quorum Sputter Coater<br />

Q150R ES Plus. Hierbei handelt es<br />

sich um das Vorvakuum-Kombigerät<br />

aus Sputter Coater und Kohleverdampfer.<br />

Er eignet sich optimal zum<br />

Sputtern und Verdampfen von leitfähigen<br />

Schichten für Anwendungen<br />

in der Rasterelektronenmikroskopie<br />

mit Tabletop- oder Wolframkathodengeräten.<br />

Typischerweise ist mit<br />

Goldschichten eine bis zu 50.000-fache<br />

Vergrößerung möglich. Mit dem<br />

Platinupgrade, welches wir Ihnen<br />

ebenfalls anbieten können, kann<br />

das Gerät auch Platin sputtern und<br />

somit können (unter optimalen Bedingungen)<br />

auch Vergrößerungen<br />

bis 100.000-fach realisiert werden.<br />

Mit dem Kohlefadeneinsatz können<br />

Sie leitfähige Kohlenstoffschichten<br />

für analytische Untersuchungen wie<br />

EDX oder WDX aufbringen.<br />

Der Q150R ES Plus kommt ausgestattet<br />

mit einem Sputtereinsatz inkl.<br />

Goldtarget (bei Platinupgrade mit<br />

Platintarget), einem Kohlefadenkopf<br />

für die thermische Verdampfung<br />

von Kohlenstofffäden sowie einem<br />

Schichtdickenmonitor.<br />

Wir bieten den Vorvakuum Sputter<br />

Coater zu einem sehr attraktiven<br />

Preis mit einer Gewährleistung von<br />

12 Monaten an.<br />

Mehr zum Q150R ES Plus:<br />

https://qd-europe.com/Q150r<br />

Mehr zu Sputter Coatern und<br />

Kohlebeschichtern:<br />

https://qd-europe.com/sputtercoater-kohlebeschichter/<br />

Anne Kast<br />

06151 8806-456<br />

kast@qd-europe.com<br />

Darf ich mich vorstellen?<br />

Mein Name ist Matthias Müller. Seit<br />

einem Jahr bin ich Ihr Ansprechpartner<br />

für Kryotechnologie und Magnetismus.<br />

Vor meiner Zeit bei Quantum Design<br />

habe ich mein Physik- und Mathematikstudium<br />

an der Freien Universität<br />

Berlin absolviert und war im<br />

Anschluss in der Gruppe Quantum<br />

an der Universität Mainz und habe<br />

dort an Ionen- und Atomfallen gearbeitet.<br />

Die dort durchgeführten<br />

Experimente stellen eine Grundlage<br />

für eine mögliche Quantencomputerplattform<br />

dar.<br />

Neben meiner Arbeit bin ich seit<br />

über 20 Jahren im Turniertanz aktiv<br />

und kann auf viele nationale Erfolge<br />

zurückblicken. In den letzten Jahren<br />

engagiere ich mich zudem ehrenamtlich<br />

abseits des Parketts.<br />

Bei Quantum Design freue ich mich<br />

mit Ihnen nach Lösungen für Ihre<br />

kryotechnischen Projekte zu suchen,<br />

so betreue ich seit Beginn dieses<br />

Jahrs die Produkte der Firma Janis. Zu<br />

meinen weiteren Verantwortungsbereichen<br />

gehören die Probe Stations<br />

und Komponenten von Lake Shore<br />

sowie die Indenter von MicroMaterials.<br />

Gerne stehe ich Ihnen auch bei<br />

Fragen zu diesen Produkten zur Verfügung.<br />

Viele Grüße<br />

Matthias Müller<br />

Matthias Müller<br />

06151 8806-554<br />

mueller@qd-europe.com<br />

5 <strong>Spectrum</strong> <strong>161</strong> | Mai 2021


Elektronenmikroskopie<br />

Virtual Roadshow – Moderne Methoden<br />

der Elektronenmikroskopie<br />

Im November letzten Jahres veranstalteten<br />

wir unsere erste virtuelle<br />

Elektronenmikroskopie-Roadshow,<br />

und das mit riesigem Erfolg!<br />

Wir konnten uns über ausgebuchte<br />

Sessions und reges Feedback an deren<br />

Anschluss freuen. Das Seminar<br />

zum Thema „Korrelative AFM- und<br />

REM-Analyse“ hatte gar eine Teilnahmequote<br />

von 100%. An dieser<br />

Stelle also nochmal ein herzliches<br />

Dankeschön an alle Teilnehmer für<br />

Ihr Interesse und Engagement. Eindrücke<br />

hierzu finden Sie auf den<br />

Bildern.<br />

Vom 07. - 09. Juni 2021 werden wir<br />

dieses Format wiederholen und laden<br />

Sie erneut herzlich ein teilzunehmen!<br />

In ca. 45 - 60 minütigen<br />

Sessions präsentieren wir Ihnen<br />

die breiten Möglichkeiten elektronenmikroskopischer<br />

Analytik zur<br />

Oberflächenuntersuchung,<br />

PROGRAMM<br />

Montag, 07. Juni 2021, Anne Kast<br />

■ 10.30 Uhr: Vortrag „Probenpräparation<br />

für die Rasterelektronenmikroskopie“<br />

■ 13.00 Uhr: Live-Vorführung der<br />

Quorum Sputter Coater/Kohlebeschichter<br />

Dienstag, 08. Juni 2021, Dominic Vogt<br />

■ 9.00 Uhr: Grundlagen der Rasterelektronenmikroskopie<br />

■ 10.30 Uhr: Energiedispersive<br />

Röntgenspektroskopie<br />

■ 13.00 Uhr: Tabletop- und Kompakt-<br />

REM von Hitachi, Live Vorführung<br />

(Ende ca. 14.30 Uhr)<br />

Mittwoch, 09. Juni 2021<br />

■ AFSEM von GeTec – korrelative<br />

AFM- und REM-Analyse<br />

■ In-situ-EM & µCT von DEBEN<br />

Die Teilnahme ist kostenlos. Registrieren<br />

Sie sich unter<br />

https://qd-europe.com/em-onlineseminar/<br />

Nach jeder Session stehen wir für Fragen<br />

und Anregungen zur Verfügung.<br />

Wir freuen uns auf Sie. Ihr Quantum<br />

Design Elektronenmikroskopie-<br />

Team.<br />

www.qd-europe.com<br />

Dr. Dominic Vogt<br />

06151 8806-557<br />

vogt@qd-europe.com<br />

6


Elektronenmikroskopie/Licht&Laser<br />

Kombination von Dehnungsmessung und AFM im SEM<br />

Die Untersuchung von Bruchstellen<br />

und Materialermüdung wird<br />

routinemäßig in der Schadens-<br />

Abb. 1: Kombination von AFSEM und In-situ-Zugund<br />

Kompressionssystem von Deben für korrelierte<br />

Dehnungsmessungen im SEM.<br />

Abb. 2: Korrelierte In-situ-AFM & SEM-Dehnungsmessung<br />

an einem Kupferdraht.<br />

und Fehleranalyse eingesetzt. Dabei<br />

stellt insbesondere die Analyse<br />

von Bruchstellen auf der Nanoskala<br />

eine Herausforderung dar und<br />

ist ein aktiver Forschungsbereich<br />

in den Materialwissenschaften.<br />

Durch die intelligente Integration<br />

von AFM und Dehnungsmessung<br />

in einem SEM können die<br />

komplementären Stärken beider<br />

Mikroskopiemethoden perfekt<br />

kombiniert werden. Der optikfreie<br />

Messaufbau des AFSEM ermöglicht<br />

es dabei, den Cantilever<br />

direkt auf der Zugstage im SEM zu<br />

positionieren (Abb.1).<br />

Als Beispiel für eine korrelierte<br />

In-situ-AFM & SEM-Dehnungsmessung<br />

ist in Abb. 2 die Dehnung<br />

eines Kupferdrahtes mit einem<br />

Durchmesser von 250 µm gezeigt.<br />

Der Draht wurde dabei um bis zu<br />

Abb. 3: Rauigkeit der Drahtoberfläche als Funktion<br />

der Dehnung.<br />

29% gedehnt. Mit Hilfe der hohen<br />

Auflösung des SEM kann immer<br />

exakt die gleiche Stelle für unterschiedliche<br />

Dehnungsstadien identifiziert<br />

und die Rauigkeitsänderung<br />

der Drahtoberfläche mit<br />

Nanometergenauigkeit analysiert<br />

werden (siehe Abb. 3).<br />

Die Kombination von AFSEM mit<br />

einem Zug- und Kompressionssystem<br />

bietet damit vielseitige<br />

Anwendungen bei der Untersuchung<br />

von Materialermüdung oder<br />

Bruchstellen.<br />

https://www.qd-europe.com/AFSEM<br />

Dr. Andreas Bergner<br />

06151 8806-12<br />

bergner@qd-europe.com<br />

Neues Spektroradiometer ILT960 (180-1100 nm)<br />

Das neue ILT960 Spektroradiometer<br />

ist in drei Versionen mit unterschiedlichen<br />

Wellenlängenbereichen<br />

verfügbar.<br />

In Kombination mit verschiedenen<br />

Eingangsoptiken (z.B. Ulbrichtkugeln,<br />

rechtwinkligen „Kosinus-Adapter“,<br />

RAA4, usw.) und Kalibrierungen<br />

können photometrische und radiometrische<br />

Messungen in dem jeweiligen<br />

Wellenlängenbereich durchgeführt<br />

werden.<br />

Seine Leistungsfähigkeit wurde im<br />

Vergleich zum ILT950 durch eine<br />

überarbeitete optische Strahlführung<br />

für reduziertes Streulicht und<br />

bessere thermische Stabilität, verändert.<br />

Die Spektroradiometer der<br />

ILT960 Serie haben einen COMOS-<br />

Linearsensor.<br />

https://www.qd-europe.com/ILT960<br />

Uwe Schmidt<br />

06151 8806-15<br />

schmidt@qd-europe.com<br />

7 <strong>Spectrum</strong> <strong>161</strong> | Mai 2021


Elektronenmikroskopie<br />

Die Vielseitigkeit des Sputter Coaters –<br />

Patterning für die Grauwertkorrelation<br />

Abb. 1: Schematische Darstellung des fibDAC-Verfahrens<br />

Die häufigste Anwendung eines<br />

Desktopbeschichters ist es, leitfähige<br />

Schichten auf nichtleitenden<br />

Proben aufzubringen.<br />

Folgende Parameter beeinflussen<br />

dabei die Feinheit dieser<br />

Schichten. Zum einen können<br />

wir unterschiedliche Sputtermaterialien<br />

wählen, die verschiedene<br />

Eigenschaften haben. Zum<br />

anderen spielt das Vakuum, das<br />

der Beschichter erreichen kann,<br />

sowie auch der Sputterstrom eine<br />

entscheidende Rolle. Je besser der<br />

Basiskammerdruck, umso feinkörniger<br />

ist auch die Schicht. Für<br />

möglichst hohe Auflösungen haben<br />

wir also das Ziel, die Schicht<br />

so fein wie möglich zu Sputtern,<br />

damit wir nicht diese, sondern<br />

eben unsere Probe selbst analysieren.<br />

Frau Auerswald vom Fraunhofer<br />

ENAS in Chemnitz und ihre Kollegen<br />

Frau Kowol und Herr Rittrich<br />

vom Zentrum für Mikrotechnologien<br />

der TU Chemnitz haben<br />

neben der hochauflösenden Abbildung<br />

ihrer Proben noch eine<br />

andere Anwendung für den Sputter<br />

Coater Q150V ES Plus in ihrem<br />

Labor und beschreiben diese in<br />

einem Anwenderbericht für uns.<br />

Sie verwenden das vom Fraunhofer<br />

IZM entwickelte Verfahren<br />

fibDAC (engl.: Focused-Ion-Beam<br />

based Deformation Analysis by<br />

Correlation) [1] um Eigenspannungen<br />

anhand von Slot-(Graben)-Geometrien,<br />

die mittels fokussiertem<br />

Ionenstrahl (FIB) in<br />

das Probenmaterial gemillt wurden,<br />

zu analysieren. Abb. 1 zeigt<br />

eine solche Beispielmessung. Um<br />

mittel Grauwertkorrelation die<br />

experimentellen Verschiebungsfelder<br />

zu bestimmen, bedarf es<br />

aber einer zufälligen Struktur -<br />

ein sog. Patterning - auf der Probenoberfläche.<br />

Wenn diese nicht<br />

schon selbst eine solche Struktur<br />

aufweist, muss sie nachträglich<br />

hergestellt werden. Während bekannte<br />

Methoden dafür z.B. das<br />

Aufbringen kleiner Punkte (Dots)<br />

mittels Gasinjektion der FIB [2]<br />

oder gezieltes Abtragen von Oberflächenmaterial<br />

durch Einziehen<br />

eines FIB-Bildes sind, wurde hier<br />

versucht eine solche Struktur im<br />

Sputter Coater zu erzeugen.<br />

Das Basisvakuum des Q150V Plus<br />

wurde absichtlich niedrig im Bereich<br />

von 10 -5 mbar gehalten (also<br />

ein vergleichsweise hoher Druck zu<br />

den üblichen 10 -6 mbar dieses Beschichters),<br />

damit die Struktur der<br />

Goldschicht sichtbar bleibt. Dazu<br />

wurden dann verschiedene Parameter<br />

wie Sputterstrom und Schichtdicke<br />

variiert, bis ein vielversprechendes<br />

Ergebnis erzielt werden konnte.<br />

Abb. 2 zeigt beispielhaft die Versuche<br />

bei denen mit 2 mA einmal<br />

10 nm und einmal 5 nm Gold auf<br />

polierte, unstrukturierte Si-Waferstücke<br />

gesputtert wurden. Man sieht,<br />

dass mit geringerer Dicke bei diesem<br />

Strom eine vielversprechende<br />

Struktur für die Grauwertkorrelation<br />

hergestellt werden kann.<br />

Die rein optische Begutachtung<br />

ist aufgrund subjektiver Einflüsse<br />

nicht ausreichend für die Bewertung,<br />

ob die Oberfläche für die Grauwertkorrelation<br />

geeignet ist. Deshalb<br />

wurden als Testmethode zwei<br />

REM-Bilder mit einem definierten<br />

Beam Shift-Versatz aufgenommen.<br />

Diese beiden Bilder wurden mit<br />

Hilfe der Software VEDDAC 7 der<br />

Chemnitzer Werkstoffmechanik<br />

GmbH (CWM Chemnitz) korreliert.<br />

Die Daten wurden mittels Medianund<br />

Gaussfilter geglättet. Generell<br />

ist nun für das Eigenspannungsmessverfahren<br />

von Bedeutung,<br />

bis zu welcher Vergrößerung die<br />

Eigenstruktur, die mit dem Sputter<br />

Coater erzeugt wurde, verwendet<br />

werden kann. Als Korrelationsmethode<br />

wurde zunächst der klassische<br />

Kreuzkorrelationsalgorithmus<br />

(Default) angewendet [3]. Abb. 3 zeigt<br />

die Korrelationskoeffizienten nachdem<br />

eine Haar-Wavelet-Korrelation<br />

(Noisy) eingesetzt wurde um die<br />

Streubreite zu verringern.<br />

Abb. 2: Vergleich verschiedener Dicken der Goldschicht bei gleichem Sputterstrom (2mA).<br />

Durch diese Experimente sind<br />

Frau Auerswald und ihre Kollegen<br />

zu dem Schluss gekommen, dass<br />

Seite 9<br />

8


Elektronenmikroskopie/Imaging<br />

sich die gesputterten Schichten<br />

als zufällige Struktur für die Grauwertkorrelation<br />

eignen. Durch das<br />

Variieren der Sputterparameter<br />

konnten Strukturen hergestellt<br />

werden, die sich für Vergrößerungen<br />

ab 25-tausendfach einsetzen<br />

lassen.<br />

Es darf nicht außer Acht gelassen<br />

werden, dass bei diesem Verfahren<br />

noch weitere Einflussfaktoren auf<br />

die Eigenspannungsanalyse wirken.<br />

Jedoch kann durch eine gute<br />

Strukturierung der Probenoberfläche<br />

der Messfehler minimiert werden.<br />

Abb. 3: Vergleich der Korrelationskoeffizienten für Vergrößerungen 25 kx und 100 kx<br />

https://qd-europe.com/apvielseitigkeit-coater/<br />

[1] N Sabaté et al 2006 J. Micromech.<br />

Microeng. 16 254<br />

[3] Handbuch VEDDAC 7, Chemnitzer<br />

Werkstoffmechanik GmbH.<br />

Lesen Sie alle Details hierzu im vollständigen<br />

Anwenderbericht von<br />

Frau Auerswald und Ihren Kollegen.<br />

[2] Good Practice Guide No. 143, National<br />

Physical Laboratory. Hampton<br />

Road, Teddingenton, ISSN: 1368-6550<br />

Anne Kast<br />

06151 8806-456<br />

kast@qd-europe.com<br />

Specim IQ – Hyperspectral Imaging einfach und hochwertig<br />

Die Hyperspektralkamera IQ von<br />

Specim verbindet die hohe örtliche<br />

und spektrale Auflösung<br />

eines ortsauflösenden Spektrographen<br />

mit der Handlichkeit und<br />

einfachen Bedienbarkeit einer<br />

modernen Kamera. Hyperspektralanalysen<br />

sind damit direkt vor<br />

Ort, unabhängig von einem Rechner<br />

und festem Arbeitsplatz möglich!<br />

Alle Komponenten, die dafür notwendig<br />

sind, sind in der IQ an Bord.<br />

Sie ist mit Wechselakku, Speicherkarte<br />

und Monitor ausgestattet, ebenso<br />

ist ein GPS-Sensor eingebaut. Weiterhin<br />

ist eine Kamera für das sichtbare<br />

Bild integriert, so dass ein Overlay<br />

des Spektralbildes mit dem sichtbaren<br />

Bild auf dem Display der Kamera<br />

gezeigt werden kann.<br />

Spektralanalysen können direkt in<br />

der Kamera vorgenommen werden.<br />

Die mitgelieferte Specim IQ Studio<br />

Software ist in der Lage, spektrale<br />

Informationen zu jedem Punkt auf<br />

dem Bild zu liefern. Es können Klassifizierungsmodelle<br />

erstellt oder<br />

vorab erzeugte Modelle geladen<br />

und zu einem späteren Zeitpunkt<br />

ausgeführt werden. Daher kann die<br />

Specim IQ direkt auf dem Feld oder<br />

im Labor bei „Gut/Schlecht-Entscheidungen“<br />

helfen. Die gewonnenen<br />

Daten können später auch auf dem<br />

Laborrechner analysiert werden.<br />

Specim IQ öffnet die Tür zu Anwendungen,<br />

für die das Hyperspectral-<br />

Imaging aufgrund seiner Komplexität<br />

bisher ungeeignet schien. Sie<br />

findet z. B. Verwendung in Vegetationsanalysen,<br />

Gemäldeuntersuchungen,<br />

der Lebensmitteltechnologie,<br />

Pharmazie, Kosmetik und Forensik.<br />

Stefan Wittmer<br />

06151 8806-63<br />

wittmer@qd-europe.com<br />

9 <strong>Spectrum</strong> <strong>161</strong> | Mai 2021


Life Science<br />

Schnell und flexibel – Der neue DUOS2 von SCREEN eröffnet<br />

neue Wege beim High-Throughput Screening<br />

Durch neueste Entwicklungen in<br />

der Imaging-Technologie gelingt<br />

es immer besser, zelluläre Prozesse<br />

und ihre Auswirkungen zu<br />

verstehen. Imaging wird häufig<br />

eingesetzt, um Zellstrukturen zu<br />

charakterisieren und morphologische<br />

und interzelluläre Veränderungen<br />

zu analysieren. Biologische<br />

Prozesse können dadurch besser<br />

verstanden werden. Imaging hat<br />

sich außerdem beim High-Contentund<br />

High-Throughput-Screening<br />

in Anwendungen der Wirkstoffentdeckung<br />

bewährt. Zellbasierte<br />

Analysen sind in den letzten Jahren<br />

stark verbessert worden, so dass in<br />

vitro Untersuchungen jetzt physiologisch<br />

relevante Daten für die<br />

Untersuchung und Beschreibung<br />

von morphologischen und zellulären<br />

Veränderungen liefern können.<br />

Daher werden 3D-Zellkulturen-Systeme<br />

heute häufig für in vitro und<br />

ex vivo Untersuchungen verwendet<br />

– nicht nur in den Bereichen Wirkstoffentdeckung<br />

und investigative<br />

Toxikologie, sondern auch um Veränderungen<br />

auf phänotypischer<br />

und molekularer Ebene zu analysieren.<br />

Die neue Imaging-Plattform Cell3imager<br />

DUOS2 von SCREEN kann<br />

sowohl 3D- als auch 2D-Zellkulturen<br />

abbilden und eignet sich für<br />

die unterschiedlichsten Therapieansätze<br />

im Bereich der regenerativen<br />

Medizin. Mit der Möglichkeit<br />

zur Fluoreszenz ermöglicht DUOS2<br />

auch Multiparameter-Untersuchungen<br />

(2D und 3D), mit denen sich<br />

Veränderungen auf morphologischer,<br />

zellulärer und molekularer<br />

Ebene beobachten lassen, die im<br />

Time-Lapse-Modus kultiviert werden.<br />

Damit lassen sich Neuriten-<br />

Auswuchs-Assays bestimmen und<br />

quantifizieren, Sphäroide und Organoide<br />

nicht-invasiv beobachten,<br />

sowie Multifluoreszenz-Färbungen<br />

vornehmen, um quantitative Informationen<br />

über Proteine/Biomarker<br />

zu erhalten. Die einzigartige,<br />

schnelle Hellfeld-Imaging-Tauglichkeit<br />

des Systems ermöglicht<br />

nicht-invasive, zellbasierte Untersuchungen.<br />

DUOS2 bietet eine sehr hohe Auflösung<br />

und ultraschnelles Scanning,<br />

mit der Möglichkeit zur Integration<br />

in bestehende Robotiksysteme.<br />

Die folgenden zwei Anwendungsbeispiele<br />

zeigen die Flexibilität des<br />

Systems. Im ersten Beispiel wurden<br />

intestinale Organoide in Mikrotiterplatten<br />

kultiviert und ihr Wachstum<br />

mit Hilfe von markierungsfreiem<br />

Hellfeld-Imaging untersucht.<br />

Am Ende der Kultivierungszeit<br />

wurde das Wachstum mit der neuen<br />

Deep-Learning Software von<br />

SCREEN extrapoliert (Abb. 1).<br />

High-Speed Scanning erlaubt markierungsfreies<br />

Imaging von multizellulären,<br />

hepatitischen 3D-Sphäroiden,<br />

die für Anwendungen in der<br />

Qualitätskontrolle in Mikrowells<br />

kultiviert werden. Anwendbar auf<br />

die Bewertung, Evaluierung und<br />

Bestimmung von potenziell nicht-<br />

Tag 1 Tag 2<br />

Tag 3 Tag 4<br />

Durchmesser (µm)<br />

300<br />

200<br />

100<br />

0<br />

1 2 3 4<br />

Tage<br />

SQ96<br />

R824<br />

SQ-Typ<br />

mit Objekterkennung<br />

RB-Typ<br />

SQ-Typ<br />

(Fluoreszenz)<br />

1<br />

0,8<br />

Zirkularität<br />

0,6<br />

0,2<br />

1<br />

SQ96<br />

R824<br />

0<br />

1 2 3 4<br />

Tage<br />

Abb. 1<br />

Seite 11<br />

10


Life Science/Magnetismus<br />

toxischen Verbindungen für weitere<br />

vorklinische Entwicklungen.<br />

Neue Zell- und Molekulartechnologien<br />

haben dazu geführt, dass<br />

Stammzellen heute verwendet werden,<br />

um die Pathogenese von verschiedenen<br />

Krankheiten zu untersuchen.<br />

In diesem Zusammenhang<br />

hat die induzierte Pluripotente<br />

Stammzellen (iPS) Technologie viel<br />

für die regenerative Medizin und<br />

die neurodegenerative Therapienlandschaft<br />

geleistet. Mit ihrer Hilfe<br />

lassen sich die zellulären Aspekte<br />

von Krankheiten untersuchen.<br />

Dazu werden in vitro Assay-Systeme<br />

verwendet, um Zusammensetzungen<br />

durch Vermessen der<br />

Neuriten-Auswuchs-Endpunkte zu<br />

bestimmen. Wie in Abb. 2 zu sehen,<br />

wurden IPSC-Zellen über einen gewissen<br />

Zeitraum kultiviert und hinsichtlich<br />

des Neuriten-Auswuchses<br />

beobachtet. Die Neuritenlängen<br />

können quantifiziert werden, um<br />

den Effekt der unterschiedlichen<br />

Zusammensetzungen zu messen.<br />

Abb. 2 Beobachtung von Neuriten-Auswuchs-Immunfärbung von sympathischen Neuronen in iPS-Zellen<br />

Die neuronalen Zellen wurden mit<br />

TUJ1 (Tubulin beta III) und PHOX 2B<br />

gefärbt, um die Zellkörper und Neuritenlängen<br />

zu quantifizieren.<br />

Die vom Cell 3imager DUOS 2 verwendete<br />

Technologie ist robust,<br />

schnell und flexibel anpassbar für<br />

ein breites Spektrum an Anwendungen<br />

der zellbasierten Analyse<br />

in regenerativer Medizin und anderen<br />

Therapieansätzen.<br />

Dr. Raimund Sauter<br />

06151 8806-24<br />

sauter@qd-europe.com<br />

VSM – Magnetische Messungen ganz einfach<br />

Lake Shore hat mit dem VSM Modell<br />

8600 einen großen Sprung gemacht.<br />

Vergleicht man das aktuelle Modell<br />

mit dem Vorgänger, so findet man<br />

viele Verbesserungen: deutlich bessere<br />

Empfindlichkeit, schnellere<br />

Messpunkte, einfachere Handhabung<br />

z.B. schnellerer Wechsel der<br />

Temperatur-Option. In den beiden<br />

Modellen 8604 (bis zu 2,7 Tesla Magnetfeld)<br />

und dem größeren 8607 (bis<br />

zu 3,2 Tesla Magnetfeld) sieht man<br />

daher die jahrelange Erfahrung<br />

von Lake Shore auf dem Gebiet der<br />

Vibrating Sample Magnetometer<br />

mit einem<br />

Elektromagneten. Im<br />

Gegensatz zu den Magnetometern<br />

mit einem<br />

supraleitenden Magneten<br />

wird weder Flüssig-<br />

Helium benötigt noch<br />

ein Kaltkopf der dieses<br />

erzeugt. Neu bei den<br />

VSMs ist die Messoption<br />

Magneto-Widerstand.<br />

Verschaffen Sie sich<br />

selbst einen Eindruck.<br />

Auf Youtube finden Sie<br />

eine Einführung mit unserem Vorführ-VSM<br />

in der Hauptrolle.<br />

Hier geht es zum Video:<br />

https://bit.ly/2RT2F35<br />

Dr. Marc Kunzmann<br />

06151 8806-46<br />

kunzmann@qd-europe.com<br />

11 <strong>Spectrum</strong> <strong>161</strong> | Mai 2021


Imaging/Über uns<br />

Mit AOS können Sie rechnen!<br />

AOS Technologies in der Schweiz,<br />

unser Lieferant für Highspeedund<br />

Streaming Kameras,<br />

bietet eine<br />

Lösung für (fast)<br />

alle Anwendungsfragen<br />

im Bereich<br />

schneller Bildfolgen.<br />

Für eine erfolgreiche<br />

Anwendung<br />

gilt es, die bestmögliche<br />

Konfiguration<br />

zu finden, oder bei<br />

einer bereits vorhandenen<br />

Highspeed-Kamera<br />

das<br />

richtige „Window<br />

of Interest“ zu erkennen, so dass<br />

die Kamera die gewünschte Bildrate<br />

und Aufnahmelänge zur Verfügung<br />

stellt.<br />

Bei 30 Kameras und über 100 Varianten<br />

kann man im Portfolio von<br />

AOS aber durchaus den Überblick<br />

verlieren. AOS hat nun ein Werkzeug<br />

entwickelt, das exakt dabei<br />

hilft, entweder die Wunschkamera<br />

oder das benötigte „Window of Interest“<br />

zur Bildrate zu finden, den<br />

Kalkulator. Er ist über die Webpage<br />

von AOS unter „Resources“ zu finden<br />

und kann dort heruntergeladen<br />

werden. Alternativ findet man<br />

diesen auch als Handy-App in den<br />

Stores von Google und Apple.<br />

Mit dem Kalkulator können Sie eine<br />

Kamera auswählen, Sequenzlängen<br />

berechnen und Bildraten unter Berücksichtigung<br />

unterschiedlicher<br />

Pixelzahlen ermitteln. Dazu können<br />

Sie ein passendes Objektiv auswählen,<br />

wenn Sie die Distanz zum Objekt<br />

und/oder dessen Größe kennen.<br />

Der Kalkulator von AOS hilft Ihnen<br />

also nicht nur dabei, die richtige Kamera<br />

zu finden, sondern auch vor Ort<br />

das Bestmögliche aus der Kamera zum<br />

Gelingen Ihrer Aufnahmen herauszuholen.<br />

Stefan Wittmer<br />

06151 8806-63<br />

wittmer@qd-europe.com<br />

Quantum Design auf LinkedIn<br />

Seit August letzten Jahren posten wir<br />

wieder regelmäßig auf LinkedIn. Einige<br />

von Ihnen haben uns vielleicht<br />

schon entdeckt und folgen uns bereits.<br />

Alle anderen sind herzlich dazu<br />

eingeladen! Natürlich ist es auch für<br />

uns spannend zu sehen, welche unserer<br />

Posts die Spitzenreiter sind. Die<br />

ersten beiden Plätze können Sie den<br />

Abbildungen entnehmen. Neu sind<br />

die Showcase-Seiten, die auf unsere<br />

Themenfelder fokussieren.<br />

Erfahren Sie auch hier mehr über<br />

Elektronenmikroskopie, Imaging,<br />

Kryotechnologie und Magnetismus.<br />

Folgen Sie uns und verpassen Sie keine<br />

Neuigkeiten mehr.<br />

Platz<br />

1<br />

Platz<br />

2<br />

http://www.linkedin.com/quantumdesign-europe<br />

Marlene Fontan<br />

06151 8806-493<br />

fontan@qd-europe.com<br />

Quantum Design –<br />

Ihr Partner in Europa<br />

Quantum Design GmbH<br />

Im Tiefen See 58<br />

D-64293 Darmstadt<br />

Telefon 06151 8806-0<br />

Fax 06151 8806-920<br />

E-Mail germany@qd-europe.com<br />

Quantum Design AG Suisse<br />

Telefon 021 8699033<br />

Fax 021 869908<br />

E-Mail dumouchel@qd-europe.com<br />

Quantum Design Benelux<br />

Tel. +32 23084324<br />

Mobil +32 495 797175<br />

E-Mail struyve@qd-europe.com<br />

Die deutsche Ausgabe des <strong>Spectrum</strong> erscheint viermal jährlich. Für den Inhalt verantwortlich: Dr. Joachim Weiss<br />

klimaneutral<br />

natureOffice.com | DE-617-226SY2T<br />

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