INFOTEHNOLOOGIA TEADUSKONDTagel, M., Jervan, G. Deterministic traffic generator for network-on-chip simulator //Info- ja kommunikatsioonitehnoloogia doktorikooli IKTDK teise aastakonverentsiartiklite kogumik : 11.–12. mai <strong>2007</strong>, Viinistu kunstimuuseum. [Tallinn : <strong>Tallinna</strong>Tehnikaülikool, <strong>2007</strong>]. lk. 72-75.* Tagel, M., Jervan, G. Deterministic traffic generator for network-on-chip simulator// Workshop Digest. Diagnostic Services in Network-on-Chips – Test, Debug, andOn-Line Monitoring : DATE <strong>2007</strong> : Nice, France, 16–20 April, <strong>2007</strong>, <strong>2007</strong>. p. 288-290.Tagel, M., Reinsalu, U., Jervan, G. DATE <strong>2007</strong> konverentsi ülevaade // A & A(<strong>2007</strong>) 3, lk. 59-61.Tammemäe, K., Neudorf, R. IT-Kolledž pole pelgalt "patsiga poiste" jaoks :[intervjuu] // Arvutimaailm (<strong>2007</strong>) 5, lk. 66-70.Tammemäe, K. Hierarhilis-temporaalse mälu printsiip // A & A (<strong>2007</strong>) 3, lk. 9-19.Tammemäe, K. Intellekt meie ümber // A & A (<strong>2007</strong>) 2, lk. 8-13.Tammemäe, K. Skype ja kaos // Arvutimaailm (<strong>2007</strong>) 7, lk. 17.Tammemäe, K. Teelahkmel it-huvilisele // Edasiõppija <strong>2007</strong> : teatmik gümnaasiumilõpetajale,[<strong>2007</strong>]. lk. 34-35.Tammet, T., Haav, H.-M., Kadarpik, V., Kääramees, M. Using a rule language forcapturing semantics in web-based systems // Databases and Information Systems IV :selected papers from the Seventh International Conference DB&IS'2006. Amsterdam: IOS Press, <strong>2007</strong>. p. 249-259. (Frontiers in artificial intelligence and applications ;155).Tammet, T. Veebiteenused reeglite ikkes // Arvutimaailm (<strong>2007</strong>) 1, lk. 14-18.* Tepandi, J., Vassiljev, S. Conflict expansion in an information rich society :feasibility of corrective actions // Proceedings of the International Conference onSystems, Computing Sciences and Software Engineering. [S.l.] : Springer, <strong>2007</strong>.Tepandi, J. Mida võtta aluseks infotehnoloogia auditeerimisel? // A & A (<strong>2007</strong>) 4, lk.19-22.Tepandi, J. Programmeerimine – kunst ja standardid // A & A (<strong>2007</strong>) 4, lk. 3-4.Toomsalu, A. Integraallülituste hind // A & A (<strong>2007</strong>) 3, lk. 20-32.Toomsalu, A. Juhuvead lausintegraallülitustes // A & A (<strong>2007</strong>) 1, lk. 8-21.Toomsalu, A. Nööpmälu iButton // A & A (<strong>2007</strong>) 5, lk. 8-17.* Trump, T. A robust detector for impulsive noise environment // Proceedings of theForty-first Asilomar Conference on Signals, Systems and Computers : Asilomar,USA, November 4–7, <strong>2007</strong>. [S.l.] : IEEE, <strong>2007</strong>.Tränkler, H.-R., Kanoun, O., Min, M., Rist, M. Smart sensor systems usingimpedance spectroscopy // Proceedings of the Estonian Academy of Sciences.Engineering. 13 (<strong>2007</strong>) 4, p. 455-478.46
<strong>PUBLIKATSIOONID</strong>* Tšahhirov, I., Laud, P. Application of dependency graphs to security protocolanalysis // Symposium on Trustworthy Global Computing : Sophia-Antipolis, France,November 5–6, <strong>2007</strong>.Tšertov, A. Triple-triple redundant 777 primary flight computer // A & A (<strong>2007</strong>) 5, p.38-47.Ubar, R.-J., Devadze, S., Raik, J., Jutman, A. Ultra fast parallel fault analysis onstructurally synthesized BDDs // Proceedings 12 th IEEE European Test Symposium :ETS <strong>2007</strong> : 20–24 May <strong>2007</strong>, Freiburg, Germany. Los Alamitos : IEEE ComputerSociety Press, <strong>2007</strong>. p. 131-136.Ubar, R.-J., Devadze, S., Raik, J., Jutman, A. Parallel fault backtracing for calculationof fault coverage // 43 rd International Conference on Microelectronics, Devices andMaterials and the Workshop on Electronic Testing : September 12. – September14.<strong>2007</strong>, Bled, Slovenia : MIDEM conference <strong>2007</strong> proceedings. Ljubljana :MIDEM, <strong>2007</strong>. p. 165-170.* Ubar, R.-J., Evartson, T., Lensen, H., Aarna, M. Hierarchical fault diagnosis inembedded digital systems with multi-level decision diagrams // Proceedings 5 thInternational Conference on Industrial Automation. Guebec : University of Quebec,<strong>2007</strong>. [6] p.Ubar, R.-J., Jervan, G., Raik, J., Jenihhin, M., Ellervee, P. Dependability evaluationin fault-tolerant systems with high-level decision diagrams // Computer ScienceMeets Automation : 10–13 September <strong>2007</strong> : proceedings. Volume II. Ilmenau :Technische Universität Ilmenau, <strong>2007</strong>. p. 147-152. (InternationalesWissenschaftliches Kolloquium = International Scientific Colloquium / TechnischeUniversität Ilmenau ; 52).Ubar, R.-J., Jutman, A., Kruus, M., Orasson, E., Devadze, S., Wuttke, H.-D. Learningdigital test and diagnostics via internet // International journal of online engineering. 3(<strong>2007</strong>) 1, [9] p.Ubar, R.-J., Kostin, S., Raik, J., Evartson, T., Lensen, H. Fault diagnosis in integratedcircuits with BIST // Proceedings 10 th Euromicro Conference on Digital SystemDesign Architectures, Methods and Tools : DSD <strong>2007</strong> : 29–31 August <strong>2007</strong>, Lübeck,Germany. Los Alamitos : IEEE, <strong>2007</strong>. p. 604-610.Ubar, R.-J., Kostin, S., Raik, J., Kruus, M. Experimental comparison of differentdiagnosis algorithms in the BIST environment // Proceedings of the 16 th IASTEDInternational Conference on Applied Simulation and Modelling : August 29–31,<strong>2007</strong>, Palma de Mallorca, Spain. Anaheim : ACTA Press, <strong>2007</strong>. p. 271-276.Ubar, R.-J., Kostin, S., Raik, J. Fault diagnosis in the BIST environment based onbisection of detected faults // LATW<strong>2007</strong> : 8 th IEEE Latin-American Test Workshop :March 11–14, <strong>2007</strong>, Cuzco, Peru. [S.l.], <strong>2007</strong>. [6] p.* Ubar, R.-J., Kruus, M., Rang, T. Electronics design and test // Public service review: European Union. 13. Brussels : European Comission, Directorate-General XII forScience, <strong>2007</strong>. p. 52-53.47
- Page 6 and 7: EHITUSTEADUSKOND* Kalamees, T., Kur
- Page 8 and 9: EHITUSTEADUSKOND* Lapimaa, T. Envir
- Page 10 and 11: EHITUSTEADUSKONDNational Congress o
- Page 13 and 14: PUBLIKATSIOONIDRisthein, E. (koost.
- Page 15 and 16: PUBLIKATSIOONIDBolgov, V., Järvik,
- Page 17 and 18: PUBLIKATSIOONIDKallaste, A., Kilk,
- Page 19 and 20: PUBLIKATSIOONIDMägi, M. Analysis o
- Page 21 and 22: PUBLIKATSIOONID* Roasto, I., Vinnik
- Page 23 and 24: PUBLIKATSIOONIDTimm, U., Niitlaan,
- Page 25 and 26: PUBLIKATSIOONIDVästrik, A. EMC 200
- Page 27 and 28: PUBLIKATSIOONID* Ilvest, J.jr, Teic
- Page 29 and 30: PUBLIKATSIOONIDMäeltsemees, S. Vis
- Page 31 and 32: PUBLIKATSIOONIDUudelepp, A. Propaga
- Page 33 and 34: PUBLIKATSIOONIDProcessing : ICICS 2
- Page 35 and 36: PUBLIKATSIOONIDGordon, R., Väisän
- Page 37 and 38: PUBLIKATSIOONIDJervan, G., Orasson,
- Page 39 and 40: PUBLIKATSIOONIDConference on Applie
- Page 41 and 42: PUBLIKATSIOONIDLumiste, Ü., Võhan
- Page 43 and 44: PUBLIKATSIOONID* Petlenkov, E. NN-A
- Page 45: PUBLIKATSIOONID* Robal, T., Kalja,
- Page 49 and 50: PUBLIKATSIOONIDaastakonverentsi art
- Page 51 and 52: PUBLIKATSIOONIDAnnuste, T., Laos, K
- Page 53 and 54: PUBLIKATSIOONIDGrossberg, M., Krust
- Page 55 and 56: PUBLIKATSIOONID(COD) of phenolic wa
- Page 57 and 58: PUBLIKATSIOONIDLuik, H., Luik, L.,
- Page 59 and 60: PUBLIKATSIOONIDOja Acik, I., Madara
- Page 61 and 62: PUBLIKATSIOONIDSuurpere, A., Saks,
- Page 63 and 64: PUBLIKATSIOONIDVaher, K., Laos, K.,
- Page 65 and 66: PUBLIKATSIOONIDKerem, K., Randveer,
- Page 67 and 68: PUBLIKATSIOONIDAlver, J., Alver, L.
- Page 69 and 70: PUBLIKATSIOONIDAlver, L. Rahvusvahe
- Page 71 and 72: PUBLIKATSIOONIDKallaste, K. Kas fü
- Page 73 and 74: PUBLIKATSIOONIDKristjuhan, Ü. Vist
- Page 75 and 76: PUBLIKATSIOONID* McGee, R.W., Alver
- Page 77 and 78: PUBLIKATSIOONIDReinhold, K., Tint,
- Page 79 and 80: PUBLIKATSIOONIDTepp, M. Organisatsi
- Page 81 and 82: PUBLIKATSIOONIDPais, E. Inverse pro
- Page 83 and 84: PUBLIKATSIOONIDEhala, S., Vaher, M.
- Page 85 and 86: PUBLIKATSIOONIDIlmarinen, K., Allik
- Page 87 and 88: PUBLIKATSIOONID* Komissarova, T., K
- Page 89 and 90: PUBLIKATSIOONID* Makarõtševa, N.,
- Page 91 and 92: PUBLIKATSIOONIDPuusemp, P. Ants Sä
- Page 93 and 94: PUBLIKATSIOONIDSinivee, V. F-PIC, e
- Page 95 and 96: PUBLIKATSIOONIDValmsen, K., Boeglin
- Page 97 and 98:
PUBLIKATSIOONIDLillepea, L. (tlk.)
- Page 99 and 100:
PUBLIKATSIOONIDconcentration in dim
- Page 101 and 102:
PUBLIKATSIOONIDInternational Confer
- Page 103 and 104:
PUBLIKATSIOONIDKüttner, R., Karjus
- Page 105 and 106:
PUBLIKATSIOONIDon Clean Steel, Hung
- Page 107 and 108:
PUBLIKATSIOONIDRose, V., Podgurski,
- Page 109 and 110:
PUBLIKATSIOONIDGallagher, T. ; (tlk