Test de CIs Test de CIs Defectos Test de CIs: Faltas
Test de CIs Test de CIs Defectos Test de CIs: Faltas
Test de CIs Test de CIs Defectos Test de CIs: Faltas
¡Convierta sus PDFs en revista en línea y aumente sus ingresos!
Optimice sus revistas en línea para SEO, use backlinks potentes y contenido multimedia para aumentar su visibilidad y ventas.
DMII Introducció al test <strong>de</strong> <strong>CIs</strong> – A. Diéguez<br />
DMII Introducció al test <strong>de</strong> <strong>CIs</strong> – A. Diéguez<br />
<strong>Test</strong> <strong>de</strong> <strong>CIs</strong><br />
<strong>Defectos</strong><br />
DMII Introducció al test <strong>de</strong> <strong>CIs</strong> – A. Diéguez<br />
DMII Introducció al test <strong>de</strong> <strong>CIs</strong> – A. Diéguez<br />
<strong>Test</strong> <strong>de</strong> <strong>CIs</strong><br />
<strong>Test</strong> <strong>de</strong> <strong>CIs</strong>: <strong>CIs</strong>:<br />
<strong>Faltas</strong>
DMII Introducció al test <strong>de</strong> <strong>CIs</strong> – A. Diéguez<br />
DMII Introducció al test <strong>de</strong> <strong>CIs</strong> – A. Diéguez<br />
ATEs (Automatic <strong>Test</strong> Equipment)<br />
Single Stuck-at Stuck at Fault<br />
DMII Introducció al test <strong>de</strong> <strong>CIs</strong> – A. Diéguez<br />
DMII Introducció al test <strong>de</strong> <strong>CIs</strong> – A. Diéguez<br />
ATEs (Automatic <strong>Test</strong> Equipment)<br />
Delay Fault
Concurrent Fault Sim.<br />
DMII Introducció al test <strong>de</strong> <strong>CIs</strong> – A. Diéguez<br />
DMII<br />
DMII Introducció al test <strong>de</strong> <strong>CIs</strong> – A. Diéguez<br />
Simulación Simulaci <strong>de</strong> faltas en un proceso <strong>de</strong> diseño dise VLSI<br />
Deductive Fault Sim.<br />
Equivalencia <strong>de</strong> faltas<br />
Serial Fault Sim.<br />
Parallel Fault Sim.<br />
DMII Introducció al test <strong>de</strong> <strong>CIs</strong> – A. Diéguez<br />
DMII Introducció al test <strong>de</strong> <strong>CIs</strong> – A. Diéguez<br />
Detección Detecci y enmarcaramiento <strong>de</strong> faltas<br />
Activación Activaci <strong>de</strong> faltas
DMII Introducció al test <strong>de</strong> <strong>CIs</strong> – A. Diéguez<br />
DMII Introducció al test <strong>de</strong> <strong>CIs</strong> – A. Diéguez<br />
Otros mo<strong>de</strong>los stuck<br />
Diseño Dise para el test (DFT)<br />
Ejemplo Stuck-Open<br />
Ejemplo Stuck-Short<br />
DMII Introducció al test <strong>de</strong> <strong>CIs</strong> – A. Diéguez<br />
DMII Introducció al test <strong>de</strong> <strong>CIs</strong> – A. Diéguez<br />
Principio básico sico <strong>de</strong>l test IDDQ<br />
DFT: Scan test
DMII Introducció al test <strong>de</strong> <strong>CIs</strong> – A. Diéguez<br />
DFT: Scan Flip-Flop Flip Flop (master-slave)<br />
(master slave)<br />
<br />
<br />
DMII Introducció al test <strong>de</strong> <strong>CIs</strong> – A. Diéguez<br />
DFT: Scan test<br />
<br />
<br />
DMII Introducció al test <strong>de</strong> <strong>CIs</strong> – A. Diéguez<br />
DMII Introducció al test <strong>de</strong> <strong>CIs</strong> – A. Diéguez<br />
DFT: Scan test<br />
DFT: Built-In Built In Self <strong>Test</strong>
DMII Introducció al test <strong>de</strong> <strong>CIs</strong> – A. Diéguez<br />
DMII Introducció al test <strong>de</strong> <strong>CIs</strong> – A. Diéguez<br />
DFT: Linear Feed-Back Feed Back Shift Registers (LFSR)<br />
DFT: BIST<br />
DMII Introducció al test <strong>de</strong> <strong>CIs</strong> – A. Diéguez<br />
DMII Introducció al test <strong>de</strong> <strong>CIs</strong> – A. Diéguez<br />
DFT: BIST<br />
DFT: BIST
Cambiar idioma