RAZVOJVrstični elektronskimikroskopSEM posnetek TiO2(200000-kratna povečava)V začetku leta 2011 smo v Cinkarni <strong>Celje</strong> izvedli prve analize na novemvrstičnem elektronskem mikroskopu (SEM) Zeiss Sigma VP. Elektronskimikroskop je last Centra odličnosti nizkoogljične tehnologije (CO-NOT),možnost uporabe pa imajo poleg Cinkarne <strong>Celje</strong>, ki je skrbnik sistema,tudi drugi partnerji Centra odličnosti.Strokovnjaki Cinkarne <strong>Celje</strong> sov preteklem letu namenili velikoenergije pri iskanju in izbiri ustreznekonfiguracije elektronskegamikroskopa in dobavitelja opreme.Veliko aktivnosti je bilo namenjenihtudi ureditvi prostora v stavbiSlužbe za raziskave in razvoj, kjerse elektronski mikroskop nahaja.Elektronski mikroskop je prispel vCinkarno <strong>Celje</strong> konec decembra 2010.Montaži mikroskopa v januarju 2011je sledilo dvodnevno izobraževanje,na katerem smo vsi bodoči uporabnikielektronskega mikroskopa v Cinkarni<strong>Celje</strong> pridobili osnovna znanja odelovanju elektronskega mikroskopain rokovanju z njim. S tem se jezačelo novo poglavje na področjuanaliziranja vzorcev, saj lahko sedaj znajsodobnejšim aparatom opazujemopovršino delcev velikosti od 10-2 m do10-9 m. Poleg opazovanja površine zelomajhnih delcev pa aparat omogočatudi elementno mikroanalizo.Po analizi prvih vzorcev in nekajpridobljenih izkušnjah smo elektronskimikroskop predstavili Upravi,poslovnim enotam in strokovnimslužbam Cinkarne.Elektronska mikroskopija je danesena ključnih analitskih metod priproučevanju delcev, ki segajo vnanometerski velikostni razred.Začetki razvoja te metode segajo vleto 1931, ko je Ernst Ruska sestavilprvi elektronski mikroskop. Dve letikasneje je z njim posnel fotografije,ki so bile kvalitetnejše od fotografijposnetih z optičnim mikroskopom.To je pomenilo začetek razvojaelektronskega mikroskopa, ki pa je dodanes zelo napredoval. [1]Elektronski mikroskop v primerjavi zoptičnim omogoča boljšo resolucijo,večji razpon povečave in velikoglobinsko ostrino. Razlike izhajajo iztega, da pri elektronskem mikroskopuna vzorec vodimo snop elektronov,pri optičnem pa snop svetlobe(fotoni). Posledično je drugačna tudidetekcija slike. Interakcije snoviin elektromagnetnega valovanjapri optični mikroskopiji zaznamo zočesom, pri elektronski mikroskopijipa odbite (sipane), presevne insekundarne elektrone zaznamoz ustreznimi detektorji. Elektronein vidno svetlobo definiramo kotelektromagnetno valovanje, razlikamed njima pa je v valovni dolžinivalovanja. Valovna dolžina vidnesvetlobe je od 400 do 700 nanometrov,valovna dolžina elektronov pa le nekajpikometrov (10-12 m). Večja resolucijain povečava elektronskega mikroskopaso posledica dejstva, da je valovnadolžina elektrona veliko manjša odvalovne dolžine vidne svetlobe. [2,3]Elektronski mikroskop je sestavljen izvzajemnih sistemov, ki tvorijo celoto.To so: elektronska puška, sistemelektromagnetnih leč za usmerjanjecurka elektronov, komora za vzorec,detektorji in vakuumske črpalke.Elektroni oziroma primarni curekelektronov v elektronskem mikroskopuPredstavitev elektronskega mikroskopa članomUprave CCnastane v elektronski puški. V njejmora biti vzpostavljen zelo visokvakuum, da lahko elektroni neoviranopotujejo do površine vzorca. Obprisotnosti molekul zraka bi, zaraditrkov elektronov z molekulami zraka,prišlo do zelo neželenega sipanjaelektronov že v elektronski puški incurek elektronov sploh ne bi dosegelpovršine vzorca ali pa bi bila slikazelo popačena. Interakcije medprimarnim curkom elektronov invzorcem so različne. Zaradi razlik mednjimi obstaja več tipov detektorjev,ki interakcije zaznajo. V vrstičnemelektronskem mikroskopu (SEM)Zeiss Sigma VP imamo nameščeneštiri različne detektorje za elektrone(InLens, SE, BsE, STEM) in en detektorza rentgenske žarke (EDXS).Detektorji elektronov so naprave, kizaznajo elektrone in električne signalepretvorijo v svetlobne. Rezultat jeslika vzorca, ki jo vidimo na zaslonu.Detektorji rentgenskih žarkov pa sonaprave, ki zaznajo fotone in njihovointenziteto pretvorijo v merljiveelektrične impulze.InLens in SE detektorja uporabljamo6 <strong>Cinkarna</strong>r 1/<strong>313</strong>
OD TU IN TAMElektronski mikroskop v CCza zaznavanje sekundarnih elektronov.To so elektroni, ki jih primarni curekelektronov izbije iz vzorca. Z njimapridobimo podatke o površinskihlastnostih vzorca.BsE detektor zaznava povratno sipaneelektrone. To so elektroni primarnegacurka, ki se od površine vzorca odbijejo.Količina povratno sipanih elektronov jeodvisna od vrstnega števila elementa(kjer je prisoten element z večjimvrstnim številom je področje na slikisvetlejše). Informacije o sestavi vzorcalahko pridobimo na osnovi različnegakontrasta področij.STEM detektor uporabljamo zazaznavanje presevnih elektronov. To soelektroni primarnega curka, ki preidejovzorec. Ta detektor uporabljamo prizelo tankih vzorcih, ki jih nanesemona ustrezen nosilec. STEM detektor jenepogrešljiv pri analiziranju oplaščenihmaterialov.EDXS detektor služi za mikroanalizovzorcev. Rezultat mikroanalize sovrednosti masnih deležev kemijskihelementov v vzorcu (najnižja zaznavnakoncentracija je 0.1 ut%).Z vrstičnim elektronskim mikroskopomShematični prikaz signalov, kinastanejo pri trku primarnegasnopa elektronov z vzorcemlahko analiziramo trdne in praškastevzorce, ki morajo biti čim bolj električnoprevodni in ne smejo vsebovati hlapnihkomponent.Rezultati mikroskopiranja so črno-belefotografije, rezultati EDXS analiz pavrednosti masnih deležev elementovv vzorcu. Kvaliteta fotografije je močnoodvisna od nastavitev elektronskegamikroskopa (faktor povečave, vrednostpospeševalne napetosti, kontrast,osvetljenost, fokus) in same naravevzorca. Pravilnost rezultatov EDXSanalize pa zavisi od poznavanjamatrice vzorca.•Domen LAPORNIKFoto: Zoran Pevec, Mira GorenšekViri:[1] http://web.bf.uni-lj.si/bi/mikroskopija/mikroskop-sem.php, dostop do strani5.5.2011.[2] J. Goldstein, D. Newbury, D. Joy,Scanning Electron Microscopy and X-RayMicroanalysis; Springer, New York, 2003,21–97.[3] http://issuu.com/fei-company/docs/introto-em?mode=embed&layout=http://www.fei.com/issuu/white/layout.xml, dostop dostrani 12.5.2011Sodelovanje Službe kakovostiz Inštitutom za fiziologijoMedicinske fakultete Univerzev LjubljaniV letu 2010 smo se v Službi kakovostiodločili, da bomo na spletni straniCinkarne <strong>Celje</strong> ponudili tudi storitevstatističnih obdelav. Izkazalo se je, da prinas obstaja zanimanje za takšne storitve,saj smo že jeseni dobili naročilo Inštitutaza fizologijo MF Univerze v Ljubljani. Zamlado raziskovalko s področja veterineMajo Špiljak, ki pripravlja doktorskodizertacijo na področju kardiologijemalih živali pri profesorju Vitu Starcu,smo rezultate naprednih ultrazvočnih inelektrokardiografskih meritev statističnoobdelali in modelirali napovedi različnihbolezni. Za redukcijo spremenljivk inpostavitev modela smo uporabili vrstostatističnih metod in tehnik: analizo variancein kovarince (ANOVA in ANCOVA), faktorskoanalizo z metodo glavnih komponent(PCA), multiplo linearno regresijo (MLR),binarno logistično regresijo (LOGIT) ter ROC(receiver operating characteristic) krivuljo– diagnostično analizo za napoved bolezni.Članek je objavljen v vodilni reviji iz tegapodročja Journal of Veterinary InternalMedicine, poster pa je bil predstavljenna kongresu ACVIM (American College ofVeterinary Internal Medicine) v Denverju.•Alenka StepančičUrejeno delovno okoljeKer je delovno okolje pomembno, in ker jedobro, da se na delovnem mestu počutimosproščeni, se čuvaji na odlagališčih trudijokar se da najbolje poskrbeti za urejenookolje in stik z naravo. Okoli čuvajnicepridno sadijo in skrbijo za balkonskocvetje, sadno in okrasno drevje. Družbo jimobčasno delajo divje živali, pa tudi žabe,ki regljajo v bližnjem zbiralniku. Vsakoleto čuvaji skrbijo tudi za prijazno mucko zmladički, ki si je tam našla svoj pravi domin kjer ji hrane po njihovi zaslugi nikoli neprimanjkuje.•Igor CERAR<strong>Cinkarna</strong>r 1/<strong>313</strong> 7