26.10.2012 Aufrufe

5 Herstellung und Charakterisierung der Matrix

5 Herstellung und Charakterisierung der Matrix

5 Herstellung und Charakterisierung der Matrix

MEHR ANZEIGEN
WENIGER ANZEIGEN

Erfolgreiche ePaper selbst erstellen

Machen Sie aus Ihren PDF Publikationen ein blätterbares Flipbook mit unserer einzigartigen Google optimierten e-Paper Software.

<strong>Herstellung</strong> <strong>und</strong> <strong>Charakterisierung</strong> <strong>der</strong> <strong>Matrix</strong> Seite 50<br />

p - auf Quecksilber wirken<strong>der</strong> Druck (max. 4000 bar)<br />

θ - Kontaktwinkel (meist 141 °)<br />

Zunächst wurden Messungen an <strong>und</strong>otierten SiO2-Materialien durchgeführt. Abbildung<br />

6 zeigt die Adsorptions- <strong>und</strong> Desorptionsprofile für reines SiO2 nach Vorbehandlung bei<br />

120 °C, 600 °C <strong>und</strong> 800 °C. Die Hysterese verläuft in allen drei Fällen ähnlich <strong>und</strong><br />

weist ein Profil des Typs III nach Brunauer auf, was typisch für SiO2 ist [51]. Die Größe<br />

<strong>der</strong> aus einem linearisierten Kurvenabschnitt berechneten spezifischen Oberfläche ver-<br />

än<strong>der</strong>t sich im untersuchten Temperaturbereich kontinuierlich. Sie sinkt von 30 m 2 /g<br />

(120 °C) über 23 m 2 /g (600 °C) auf 17 m 2 /g (800 °C). Die theoretische Oberfläche des<br />

SiO2-Materials bei einer Kugelgröße von 170 nm <strong>und</strong> einer Dichte von 2,2 g/cm 3 ohne<br />

Berücksichtigung eventueller Poren berechnete sich zu 16 m 2 /g <strong>und</strong> entspricht damit in<br />

etwa <strong>der</strong> experimentell bestimmten Oberfläche bei 800 °C. Die größeren Oberflächen-<br />

werte bei Trocknungstemperaturen unter 800 °C zeugen von <strong>der</strong> Existenz von Mikropo-<br />

ren.<br />

Volumen [cm3/g]<br />

80<br />

60<br />

40<br />

20<br />

Adsorption/Desorption 120 °C<br />

Adsorption/Desorption 600 °C<br />

Adsorption/Desorption 800 °C<br />

0<br />

0,0 0,2 0,4 0,6 0,8 1,0<br />

p/p0<br />

Abbildung 6: Adsorptions-/Desorptionsprofile reiner SiO2-Materialien nach unterschiedlichen<br />

Vorbehandlungstemperaturen

Hurra! Ihre Datei wurde hochgeladen und ist bereit für die Veröffentlichung.

Erfolgreich gespeichert!

Leider ist etwas schief gelaufen!