GSI - HZDR
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JTAG - Boundary-Scan<br />
Motivation:<br />
Vereinfachung der Tests von Modulen' durch Integration<br />
von Testmöglichkeiten in Bausteinen.<br />
JTAG<br />
Joint Test Action Group (1985)<br />
IEEE 1149.1<br />
IEEE Standard Test Access Port and Boundary-Scan<br />
Architecture<br />
(1149.1 : l99O,ll49.l a : 1993)<br />
Anwendungsgebiete<br />
Statische Tests an digitalen Schaltungen:<br />
unterbrochene Verbindungen<br />
Kurzschlüsse<br />
interne Funktionstests von Bauteilen<br />
Programmierung von FPGAs<br />
vollständige Fehlererkennung nur wenn alle Teile JTAG haben<br />
sonst: Clusteranalyse
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