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2. Waferbonden

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<strong>2.</strong> <strong>Waferbonden</strong><br />

(a) (b) (c)<br />

Abbildung <strong>2.</strong>5.: Ausbreitung der Bondwelle in einem 100 mm Siliziumwaferpaar (a)<br />

Auslösen der Bondwelle durch Initialdruck, (b) gleichmäßige Ausbreitung<br />

und (c) komplett gebondetes Waferpaar [2]<br />

Bondprozeß auch ohne den oben beschriebenen Spülprozeß durchgeführt, so auch für<br />

einige Experimente in dieser Arbeit. Neben der Mikroreinraum-Bondmaschine, die ihren<br />

Einsatz wegen ihrer Flexibilität vorzugsweise in der Forschung findet, werden heutzutage<br />

bereits verschiedene kommerzielle Bondmaschinen angeboten, die im wesentlichen den<br />

gleichen Ablauf vollziehen, jedoch durch spezielle Entwicklungen eine Vielzahl weiterer<br />

Möglichkeiten durch die Variation der Randbedingungen, wie etwa das Bonden unter<br />

verschiedenen Atmosphären bis hin zum Vakuum ( 10 mbar) oder bei unterschiedlichen<br />

Temperaturen und Drücken, bieten. Diese Bondmaschinen werden hauptsächlich in der<br />

Industrie eingesetzt.<br />

Für die meisten Anwendungen bzw. mechanischen Beanspruchungen bei einer Weiterverarbeitung<br />

ist die Bondenergie der raumtemperaturgebondeten Waferpaare nicht<br />

ausreichend. In einer nach dem Bonden folgenden Wärmebehandlung (Temperung) ändert<br />

sich die chemische Struktur der Bondgrenzfläche bis hin zur Bildung stabiler kovalenter<br />

Bindungen, was eine Steigerung der Raumtemperatur-Bondenergie um ein Vielfaches nach<br />

sich zieht. Üblicherweise erfolgt die Wärmebehandlung in einer definierten Atmosphäre<br />

bei Temperaturen zwischen 100 und 1100 Æ Cfür eine Dauer von wenigen Minuten bis<br />

zu mehreren Stunden. Je nach Art des Bondverbandes und dessen chemischen und physikalischen<br />

Eigenschaften (etwa beschichtete Wafer oder Bondpaare aus verschiedenen<br />

Ausgangswafern) müssen bei der Temperung spezifische Randbedingungen eingehalten<br />

werden. So ist es oft erforderlich, die Wärmebehandlung bei niedrigen Temperaturen<br />

durchzuführen, um die Zerstörung bereits prozessierter Strukturen auf den Waferoberflächen<br />

zu verhindern oder die Aufheizrate auf Grund unterschiedlicher Wärmeausdehnungskoeffizienten<br />

der gebondeten Materialien drastisch zu reduzieren [39]. In den hier vorgestellten<br />

Untersuchungen wurden üblicherweise Wärmebehandlungen in Umgebungsatmosphäre<br />

im Bereich von 100 bis 500 Æ Cfür 0,5 bis 10 h bei einer Aufheizrate von etwa 10 Æ C/min<br />

gewählt.<br />

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