einheit 5
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Wiederholung: Spannungen<br />
Arten von Spannungen:<br />
σ = σ + σ + σ<br />
MECH T I<br />
Mechanische Spannung:<br />
σ MECH<br />
Thermische Spannung:<br />
σ<br />
T<br />
=<br />
E<br />
S<br />
( α<br />
S<br />
− α<br />
U<br />
)(T<br />
B<br />
−<br />
T<br />
E S<br />
... E-Modul Schicht<br />
α S<br />
... Ausdehnungskoeff. Schicht<br />
α U<br />
... Ausdehnungskoef. Substrat<br />
T B<br />
... Beschichtungstemperatur<br />
T M<br />
... Messtemperatur<br />
M<br />
)<br />
Erzeugt durch Einspannung des<br />
Substrates und nachfolgendes<br />
Entspannen<br />
Erzeugt durch verschiedene<br />
thermische Ausdehnungskoeffizienten<br />
von Substrat und<br />
Schicht
Wiederholung: Spannungen/Schichtstruktur<br />
Intrinsische Spannung:<br />
σ I<br />
Intrinsische Spannungen sind eine direkte Folge der<br />
Schichtstruktur und der Depositionsbedingeungen.<br />
Zugspannug<br />
Druckspannug<br />
Variabel<br />
Druckspannug<br />
Zugspannug
Wiederholung: Messung-Grundlagen<br />
Gekrümmtes Substrat:<br />
Zugspannug<br />
Druckspannug<br />
Gesamtspannung σ einer dünnen Schicht:<br />
σ =<br />
Esd<br />
6(1 − ν<br />
2<br />
s<br />
s<br />
)d<br />
F<br />
⎛<br />
⎜<br />
⎝<br />
1<br />
R<br />
s1<br />
−<br />
1<br />
R<br />
s2<br />
⎞<br />
⎟<br />
⎠<br />
a) Substrat<br />
b) Schicht<br />
c) Referenzplättchen<br />
E S<br />
... E-Modul Substrat<br />
ν S<br />
... Poisson-Konstante Substrat<br />
d S<br />
... Dicke des Substrates<br />
d F<br />
... Schichtdicke<br />
R S1<br />
, R S2<br />
... Krümmungsradius vor bzw. nach der Beschichtung
Wiederholung: Biegearm (Cantilever)<br />
Geometrie:<br />
Prinzip:<br />
α<br />
tan(2α)<br />
≅<br />
∆<br />
H<br />
Substrat<br />
Schicht<br />
Druckspannung<br />
Zugspannung<br />
l<br />
l<br />
R S<br />
δ<br />
α ≅<br />
1<br />
2<br />
⎛ ∆<br />
a tan⎜<br />
⎝ H<br />
l<br />
sin α ≅ α =<br />
R S<br />
⎞<br />
⎟<br />
⎠<br />
R S<br />
≅<br />
l<br />
2<br />
⎛ ∆<br />
a tan⎜<br />
⎝ H<br />
⎞<br />
⎟<br />
⎠<br />
≅<br />
2lH<br />
∆<br />
H<br />
2α<br />
∆<br />
Vernachlässigungen und Voraussetzungen:<br />
a) laterale Versetzung des Biegebalkens<br />
b) vertikale Versetzung des Biegebalkens (δ)<br />
c) geringe Verhältnisse ∆/H
Spannungen und Schichtwachstum I<br />
In-Situ-Messungen mittels Biegearmmethode:<br />
Durchbiegung<br />
Zugspannung<br />
t BESCHICHTUNG<br />
Type I:<br />
T gross, Mobilität klein<br />
M<br />
Druckspannung<br />
0<br />
Koaleszenz<br />
Type II:<br />
T klein, Mobilität gross<br />
M<br />
t<br />
Volumsverringerung durch<br />
Rekristallisation nach der<br />
Beschichtung führt zu<br />
Zugspannungen<br />
Einfluss der Schichtdicke auf σ I
Wiederholung: röntgenograph. Messung<br />
Prinzip:<br />
Messung der globalen Verzerrung der<br />
Elementarzelle durch:<br />
+ Zwischengitteratome<br />
+ Fehlstellen<br />
Vorteile:<br />
+ Zerstöringsfrei<br />
+ In Situ möglich<br />
Nachteile:<br />
Zahlreiche Einflussgrössen:<br />
+ Gitterdefekte<br />
+ Versetzungen<br />
+ Verunreinigungen<br />
+ Fremdphasen
Wiederholung: Spannungen und Wachstum<br />
Stranski-Krastanov-Wachstum:<br />
+ Gitterfehlanpassung (Misfit)<br />
+ Fehlanpassungsversetzungen (Misfit-Dislocations)<br />
+ Inseln<br />
Inseln<br />
Benetzungsschicht<br />
Substrat
Wiederholung: Gitterfehlanpassung<br />
Detaillierter Mechanismus:<br />
Gitterfehlanpassung (Lattice Mismatch) ∆:<br />
∆ =<br />
a<br />
−<br />
a<br />
b<br />
⋅100[%]<br />
b<br />
Schicht, Gitterkonstante b<br />
Pseudomorphe Übergangszone<br />
Substrat, Gitterkonstante a<br />
a
Schichtvorbehandlung und Haftung<br />
Wesentliche Voraussetzungen für eine optimalen<br />
Verbund zwischen Schicht und Substrat:<br />
Anforderungen an das Substrat:<br />
+ partikelfrei, staubfrei<br />
+ fettfrei<br />
+ trocken<br />
+ frei von stark adsorbierten Verunreinigungen<br />
Anforderungen an die Schicht:<br />
+ mittlere Teilchenenergien beim Aufprall<br />
+ weitgehende Spannungsfreiheit<br />
+ Abschirmung schädlicher Umwelteinflüsse
Schichtvorbehandlung: Partikelfreiheit<br />
Partikel entstehen durch:<br />
+ Sägen<br />
+ Brechen<br />
+ Schleifen/Polieren<br />
+ andere Bearbeitungsmethoden<br />
Partikelentfernung und Vermeidung durch:<br />
+ Abspülen<br />
+ Wischen<br />
+ Abblasen mit Pressluft oder Kaltgas<br />
+ bearbeiten im Reinraum<br />
Zu achten ist auf:<br />
+ sorgfältiges Handling (Handschuhe)<br />
+ Partikel von Spülmittel/Wischtüchern<br />
+ Verunreinigungen in Pressluft/Kaltgas
Schichtvorbehandlung: Entfettung<br />
Ultraschallreinigung<br />
Ultraschalbad mit<br />
organischem Lösungsmittel<br />
befüllt<br />
Reinigungsprinzip<br />
Kavitation<br />
Achtung:<br />
Ultraschallreinigung<br />
kann zur Bildung von<br />
Partikelklumpen führen<br />
(stehende Wellen!)
Schichtvorbehandlung: Entfettung, Trocknung<br />
Dampf- oder Gasphasenreinigung<br />
kaltes Reinigungsgut<br />
Dampfsäule<br />
Lösungsmittel<br />
T R<br />
T LM<br />
kondensiertes<br />
Lösungsmittel<br />
warmes, trockenes<br />
Reinigungsgut<br />
Dampfsäule<br />
Lösungsmittel<br />
T R < TLM T R = T<br />
= Temperatur Reinigungsgut<br />
= Temperatur Lösungsmitteldampf<br />
LM<br />
Lösungsmittel:<br />
Aceton<br />
Chem. Formel:<br />
CH 3<br />
(CO) CH 3<br />
Siedepunkt:<br />
56,5°C<br />
Ethanol<br />
Chem. Formel:<br />
C 2<br />
H 5<br />
OH<br />
Siedepunkt:<br />
78,5°C<br />
Methanol<br />
Chem. Formel:<br />
CH 3<br />
OH<br />
Siedepunkt:<br />
64,7°C
Schichtvorbehandlung: Trocknung<br />
Lagerung im Trockenschrank<br />
Bei der Lagerung im<br />
Trockenschrank ist zu<br />
beachten, dass es bei<br />
oxidationsanfälligen Proben<br />
nicht zur Bildung von<br />
Oxidschichten kommt.<br />
Optimal ist eine Lagerung in<br />
der Umgebung des<br />
Kochpunktes von Wasser.<br />
Das verhindert die<br />
Kondensation von Wasser.
Schichtvorbehandlung im Vakuum<br />
Im Vakuum kann das Substrat endgültig<br />
gereinigt werden:<br />
+ Ausheizen<br />
+ Sputterreinigen mit Inertgas<br />
+ Chemische Aktivierung mit Reaktivplasmen<br />
Sputterreinigung:<br />
Ionenätzen einer<br />
Röntgenanode<br />
+<br />
Substratoberfläche<br />
+ Loslösung locker gebundener Verunreinigungen<br />
+ Endgültiges Abtragen adsorbierter Wasserfilme
Schichthaftungsmechanismen<br />
a) Mechanische Verzahnung<br />
b) Monoschicht/Monoschicht<br />
c) Chemische Bindung<br />
d) Diffusion<br />
e) Pseudodiffusion durch erhöhten Energieeintrag
Haftungsmessung: Klebeband<br />
Beim Klebebandtest sind<br />
die Abzugskraft F sowie er<br />
Klebebandtyp genormt.
Haftungsmessung: Gitterschnitt
Haftungsmessung: Abziehtest<br />
a) Substrat<br />
b) Schicht<br />
c) Aufgeklebter Stempel<br />
Achtung: folgende Unwägbarkeiten<br />
können auftreten:<br />
+ Reaktion Kleber/Schicht<br />
+ Eindiffusion des Klebers in die Schicht<br />
+ Nach Eindiffusion: Reaktion Kleber/<br />
Substrat<br />
+ Mangelnde Haftung Kleber/Schicht
Haftungsmessung: Ultrazentrifuge<br />
Rotor<br />
Schicht<br />
Abzugskraft A:<br />
A =<br />
4π<br />
2<br />
N<br />
2<br />
Rρd<br />
Vorteile:<br />
+ Quantitative Abzugskräfte<br />
+ Keine Klebungen<br />
R = Rotorradius<br />
d = Schichtdicke<br />
N = Umdrehungen pro s<br />
ρ = Dichte der Schicht<br />
Nachteile:<br />
+ Nur rotationsymmetrische Substrate<br />
+ Übertragbarkeit auf andere Geometrien fraglich<br />
+ Schichtdickengleichmässigkeit fraglich<br />
+ Mechanische Eigenschaften des Grundkörpers<br />
nicht frei wählbar
Haftungsmessung: Scratch Test<br />
Akustisches Signal<br />
L C<br />
L<br />
Vorteile:<br />
+ Hoher Informationsgehalt<br />
+ Quantitative Werte für L C<br />
Nachteile:<br />
+ Nicht zerstörungsfrei<br />
+ Schicht muss spröde sein, um Brüche zu ermöglichen
Reibung und Verschleiss<br />
Reibung:<br />
Kein Oberflächenabtrag<br />
F=µFg<br />
r<br />
F=mg<br />
g<br />
F g<br />
F g<br />
F g<br />
µ = Reibungskoeffizient<br />
0 < µ < 4 - 5(!); µ ist nicht auf<br />
Werte kleiner 1 beschränkt<br />
F = µ F<br />
r<br />
Keine Abhängigkeit<br />
von der Auflagefläche!<br />
=>mikroskopische WW<br />
ist nicht klar!<br />
n<br />
Verschleiss:<br />
Oberflächenabtrag und damit Gewichtsverlust
Reibung und Verschleiss: Messung<br />
Reibung:<br />
+ Lineare Belastung (Scratch-Test)<br />
+ Pin on Disc<br />
+ Disc on Disc<br />
+ Speziell gefertigte Tribometer<br />
Verschleiss:<br />
+ Alle obigen Methoden mit Analyse von Transferund<br />
Abrasivschichten<br />
+ Abrasivmessung mit Schichtdickenkontrolle<br />
+ Slurry-Abrasion<br />
+ Speziell gefertigte Prüfstände